Artykuły w czasopismach na temat „Electrons – Diffraction”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „Electrons – Diffraction”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Qin, L. C., A. J. Garratt-Reed i L. W. Hobbs. "Theory and practice of energy-filtered electron diffraction using the HB5 STEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, nr 1 (sierpień 1992): 350–51. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100122150.
Pełny tekst źródłaLyman, Charles. "Diffraction". Microscopy Today 20, nr 2 (28.02.2012): 7. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929512000107.
Pełny tekst źródłaSchröder, Rasmus R., i Christoph Burmester. "Improvements in electron diffraction of frozen hydrated crystals by energy filtering and large-area single-electron detection". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (1.08.1993): 666–67. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100149167.
Pełny tekst źródłaBauer, R., W. Probst i W.I. Miller. "Elemental imaging of thin specimens with an energy filtering electron microscope (EFEM)". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 46 (1988): 524–25. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100104686.
Pełny tekst źródłaBarckhaus, R. H., I. Fromm, H. J. Höhling i L. Reimer. "Advantage of Electron Spectroscopic Diffraction on Calcified Tissue Sections". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 2 (12.08.1990): 362–63. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100135411.
Pełny tekst źródłaVALERI, SERGIO, i ALESSANDRO di BONA. "MODULATED ELECTRON EMISSION BY SCATTERING-INTERFERENCE OF PRIMARY ELECTRONS". Surface Review and Letters 04, nr 01 (luty 1997): 141–60. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x9700016x.
Pełny tekst źródłaLynch, D. F., i A. E. Smith. "Electron diffraction phenomena for very low energy electrons". Acta Crystallographica Section A Foundations of Crystallography 43, a1 (12.08.1987): C246. http://dx.doi.org/10.1107/s0108767387078887.
Pełny tekst źródłaYang, Jie, Markus Guehr, Theodore Vecchione, Matthew S. Robinson, Renkai Li, Nick Hartmann, Xiaozhe Shen i in. "Femtosecond gas phase electron diffraction with MeV electrons". Faraday Discussions 194 (2016): 563–81. http://dx.doi.org/10.1039/c6fd00071a.
Pełny tekst źródłaVincent, R. "Quantitative energy-filtered electron diffraction". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994): 992–93. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100172693.
Pełny tekst źródłaWang, Z. L. "Coupled thermal diffuse-atomic inner shell scattering in electron diffraction". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994): 994–95. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010017270x.
Pełny tekst źródłaYao, Nan, i J. M. Cowley. "Acceleration voltage effect on electron surface channeling". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6.08.1989): 530–31. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100154627.
Pełny tekst źródłaPeng, L. M., i J. M. Cowley. "Reflection monolayer scattering and RHEED diffraction conditions". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 46 (1988): 962–63. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100106879.
Pełny tekst źródłaEades, Alwyn. "Insights on Diffraction". Microscopy Today 10, nr 2 (marzec 2002): 34–35. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500057874.
Pełny tekst źródłaMoodie, A. F., i J. C. H. Spence. "John Maxwell Cowley 1923 - 2004". Historical Records of Australian Science 17, nr 2 (2006): 227. http://dx.doi.org/10.1071/hr06012.
Pełny tekst źródłaIssanova, M. K., S. K. Kodanova, T. S. Ramazanov, N. Kh Bastykova, Zh A. Moldabekov i C. V. Meister. "Classical scattering and stopping power in dense plasmas: the effect of diffraction and dynamic screening". Laser and Particle Beams 34, nr 3 (27.06.2016): 457–66. http://dx.doi.org/10.1017/s026303461600032x.
Pełny tekst źródłaRen, S. X., E. A. Kenik, K. B. Alexander i A. Goyal. "Exploring Spatial Resolution in Electron Back-Scattered Diffraction Experiments via Monte Carlo Simulation". Microscopy and Microanalysis 4, nr 1 (luty 1998): 15–22. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927698980011.
Pełny tekst źródłaReimer, L. "Electron Spectroscopic Imaging and Diffraction in TEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 2 (12.08.1990): 66–67. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100133928.
Pełny tekst źródłaMayer, J. "Electron spectroscopic imaging and diffraction: applications II materials science". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, nr 2 (sierpień 1992): 1198–99. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100130626.
Pełny tekst źródłaLatychevskaia, Tatiana. "Holography and Coherent Diffraction Imaging with Low-(30–250 eV) and High-(80–300 keV) Energy Electrons: History, Principles, and Recent Trends". Materials 13, nr 14 (10.07.2020): 3089. http://dx.doi.org/10.3390/ma13143089.
Pełny tekst źródłaVölkl, E., L. F. Allard, B. Frost i T. A. Nolan. "Quanitative aspects of electron diffraction using electron holography". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13.08.1995): 616–17. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100139457.
Pełny tekst źródłaMarch, N. H., i M. P. Tosi. "Diffraction and transport in dense plasmas: Especially liquid metals". Laser and Particle Beams 16, nr 1 (marzec 1998): 71–81. http://dx.doi.org/10.1017/s0263034600011782.
Pełny tekst źródłaSlouf, Miroslav, Radim Skoupy, Ewa Pavlova i Vladislav Krzyzanek. "Powder Nano-Beam Diffraction in Scanning Electron Microscope: Fast and Simple Method for Analysis of Nanoparticle Crystal Structure". Nanomaterials 11, nr 4 (9.04.2021): 962. http://dx.doi.org/10.3390/nano11040962.
Pełny tekst źródłaMichael, J. R., M. E. Schlienger i R. P. Goehner. "Electron Backscatter Diffraction In The Sem: Is Electron Diffraction In The Tem Obsolete?" Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 879–80. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600011284.
Pełny tekst źródłaBeeby, J. L. "Plasmon emission by electrons in reflection high energy electron diffraction". Surface Science 565, nr 2-3 (wrzesień 2004): 129–43. http://dx.doi.org/10.1016/j.susc.2004.06.175.
Pełny tekst źródłaWinkelmann, Aimo, Koceila Aizel i Maarten Vos. "Electron energy loss and diffraction of backscattered electrons from silicon". New Journal of Physics 12, nr 5 (5.05.2010): 053001. http://dx.doi.org/10.1088/1367-2630/12/5/053001.
Pełny tekst źródłaKatsap, Victor. "A novel thermionic crystal electron emission effect similar to Kikuchi lines". Journal of Vacuum Science & Technology B 41, nr 1 (styczeń 2023): 010602. http://dx.doi.org/10.1116/6.0002375.
Pełny tekst źródłaLi, Huawang. "Double-slit interference and single-slit diffraction experiments on electrons". Physics Essays 35, nr 3 (3.09.2022): 313–19. http://dx.doi.org/10.4006/0836-1398-35.3.313.
Pełny tekst źródłaReimer, L., i I. Fromm. "Electron spectroscopic diffraction at (111) silicon foils". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6.08.1989): 382–83. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100153889.
Pełny tekst źródłaWang, Z. L. "Diffraction theory of phonon-scattered electrons". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (sierpień 1991): 788–89. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100088257.
Pełny tekst źródłaAscolani, H., R. O. Barrachina, M. M. Guraya i G. Zampieri. "Diffraction of electrons at intermediate energies". Physical Review B 46, nr 8 (15.08.1992): 4899–908. http://dx.doi.org/10.1103/physrevb.46.4899.
Pełny tekst źródłaLehman, J. L., J. Mayer i W. Probst. "Application of the Omega spectrometer TEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, nr 2 (sierpień 1992): 1042–43. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010012984x.
Pełny tekst źródłaFant, G. Y. "Multislice calculation of Kikuchi patterns". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6.08.1989): 52–53. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100152239.
Pełny tekst źródłaTivol, W. F., J. N. Turner i D. L. Dorset. "Ab initio structure analysis of copper perbromophthalocyanine". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, nr 2 (sierpień 1992): 1446–47. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100131863.
Pełny tekst źródłaMei, Kaili, Kejia Zhang, Jungu Xu i Zhengyang Zhou. "The Application of 3D-ED to Distinguish the Superstructure of Sr1.2Ca0.8Nb2O7 Ignored in SC-XRD". Crystals 13, nr 6 (8.06.2023): 924. http://dx.doi.org/10.3390/cryst13060924.
Pełny tekst źródłaQin, L. C., i L. D. Marks. "Electron diffraction contrast of fluxons". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (sierpień 1991): 1102–3. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100089822.
Pełny tekst źródłaVincent, R. "Analysis of multiple diffraction contrast". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (sierpień 1987): 48–51. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100125270.
Pełny tekst źródłaSakakura, Terutoshi, Takahiro Nakano, Hiroyuki Kimura, Yukio Noda, Yoshihisa Ishikawa, Yasuyuki Takenaka, Kiyoaki Tanaka, Shunji Kishimoto, Yoshinori Tokura i Shigeki Miyasaka. "Importance of multiple diffraction avoidance for charge density observation". Acta Crystallographica Section A Foundations and Advances 70, a1 (5.08.2014): C280. http://dx.doi.org/10.1107/s2053273314097198.
Pełny tekst źródłaMancuso, James F., Leo A. Fama, William B. Maxwell, Jerry L. Lehman, Hasso Weiland i Ronald R. Biederman. "Effect of energy filtering on micro-diffraction in the SEM". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994): 604–5. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010017075x.
Pełny tekst źródłaLee, M. R. "Transmission electron microscopy (TEM) of Earth and planetary materials: A review". Mineralogical Magazine 74, nr 1 (luty 2010): 1–27. http://dx.doi.org/10.1180/minmag.2010.074.1.1.
Pełny tekst źródłaZHANG, S. Y., Y. K. HO, Z. CHEN, Y. J. XIE, Z. YAN i J. J. XU. "DYNAMIC TRAJECTORIES OF RELATIVISTIC ELECTRONS INJECTED INTO TIGHTLY-FOCUSED INTENSE LASER FIELDS". Journal of Nonlinear Optical Physics & Materials 13, nr 01 (marzec 2004): 103–12. http://dx.doi.org/10.1142/s0218863504001785.
Pełny tekst źródłaWang, Z. L. "Towards quantitative simulations of inelastic electron diffraction patterns and images". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, nr 2 (sierpień 1992): 1170–71. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100130481.
Pełny tekst źródłaHe, Y., L. M. Yu, P. A. Thiry i R. Caudano. "Negative Ion Resonance Evidenced by Vibrationally Resolved Electron Diffraction On the H/Si(111) Surface". Surface Review and Letters 05, nr 01 (luty 1998): 63–67. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x98000141.
Pełny tekst źródłaZou, Xiaodong, i Sven Hovmöller. "Structure Determination at Atomic Resolution by Electron Crystallography". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 1 (12.08.1990): 44–45. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100178975.
Pełny tekst źródłaTakubo, Kou, Samiran Banu, Sichen Jin, Misaki Kaneko, Wataru Yajima, Makoto Kuwahara, Yasuhiko Hayashi i in. "Generation of sub-100 fs electron pulses for time-resolved electron diffraction using a direct synchronization method". Review of Scientific Instruments 93, nr 5 (1.05.2022): 053005. http://dx.doi.org/10.1063/5.0086008.
Pełny tekst źródłaBONDARCHUCK, O., S. GOYSA, I. KOVAL, P. MEL'NIK i M. NAKHODKIN. "SHORT-RANGE ORDER OF DISORDERED SOLID SURFACES FROM ELASTICALLY SCATTERED ELECTRON SPECTRA". Surface Review and Letters 04, nr 05 (październik 1997): 965–67. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x97001139.
Pełny tekst źródłaLi, Pen-Xin, Ai-Yun Yang, Lang Xin, Biao Xue i Chun-Hao Yin. "Photocatalytic Activity and Mechanism of Cu2+ Doped ZnO Nanomaterials". Science of Advanced Materials 14, nr 10 (1.10.2022): 1599–604. http://dx.doi.org/10.1166/sam.2022.4363.
Pełny tekst źródłaYang, Jinfeng, Kazuki Gen, Nobuyasu Naruse, Shouichi Sakakihara i Yoichi Yoshida. "A Compact Ultrafast Electron Diffractometer with Relativistic Femtosecond Electron Pulses". Quantum Beam Science 4, nr 1 (20.01.2020): 4. http://dx.doi.org/10.3390/qubs4010004.
Pełny tekst źródłaGerchikov, Leonid G., Peotr V. Efimov, Valerii M. Mikoushkin i Andrey V. Solov'yov. "Diffraction of Fast Electrons on the FullereneC60Molecule". Physical Review Letters 81, nr 13 (28.09.1998): 2707–10. http://dx.doi.org/10.1103/physrevlett.81.2707.
Pełny tekst źródłaRan, Ke, Jian-Min Zuo, Qing Chen i Zujin Shi. "Electrons for single molecule diffraction and imaging". Ultramicroscopy 119 (sierpień 2012): 72–77. http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2011.11.007.
Pełny tekst źródłaPierce, Jordan, Cameron Johnson i Benjamin McMorran. "Corrected Off-axis Diffraction Holograms for Electrons". Microscopy and Microanalysis 26, S2 (30.07.2020): 426–27. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927620014634.
Pełny tekst źródła