Artykuły w czasopismach na temat „Electron microscopy”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „Electron microscopy”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Schatten, G., J. Pawley i H. Ris. "Integrated microscopy resource for biomedical research at the university of wisconsin at madison". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (sierpień 1987): 594–97. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100127451.
Pełny tekst źródłaMöller, Lars, Gudrun Holland i Michael Laue. "Diagnostic Electron Microscopy of Viruses With Low-voltage Electron Microscopes". Journal of Histochemistry & Cytochemistry 68, nr 6 (21.05.2020): 389–402. http://dx.doi.org/10.1369/0022155420929438.
Pełny tekst źródłaRoss, Frances M. "Materials Science in the Electron Microscope". MRS Bulletin 19, nr 6 (czerwiec 1994): 17–21. http://dx.doi.org/10.1557/s0883769400036691.
Pełny tekst źródłaTromp, Ruud M. "Low-Energy Electron Microscopy". MRS Bulletin 19, nr 6 (czerwiec 1994): 44–46. http://dx.doi.org/10.1557/s0883769400036757.
Pełny tekst źródłaMartone, Maryann E. "Bridging the Resolution Gap: Correlated 3D Light and Electron Microscopic Analysis of Large Biological Structures". Microscopy and Microanalysis 5, S2 (sierpień 1999): 526–27. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600015956.
Pełny tekst źródłaYoungblom, J. H., J. Wilkinson i J. J. Youngblom. "Telepresence Confocal Microscopy". Microscopy Today 8, nr 10 (grudzień 2000): 20–21. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500054146.
Pełny tekst źródłaO'Keefe, Michael A., John H. Turner, John A. Musante, Crispin J. D. Hetherington, A. G. Cullis, Bridget Carragher, Ron Jenkins i in. "Laboratory Design for High-Performance Electron Microscopy". Microscopy Today 12, nr 3 (maj 2004): 8–17. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500052093.
Pełny tekst źródłaMcMorran, Benjamin J., Peter Ercius, Tyler R. Harvey, Martin Linck, Colin Ophus i Jordan Pierce. "Electron Microscopy with Structured Electrons". Microscopy and Microanalysis 23, S1 (lipiec 2017): 448–49. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927617002926.
Pełny tekst źródłaKordesch, Martin E. "Introduction to emission electron microscopy for the in situ study of surfaces". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (1.08.1993): 506–7. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100148368.
Pełny tekst źródłaJ. H., Youngblom, Wilkinson J. i Youngblom J.J. "Telepresence Confocal Microscopy". Microscopy and Microanalysis 6, S2 (sierpień 2000): 1164–65. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600038319.
Pełny tekst źródłaGraef, M. De, N. T. Nuhfer i N. J. Cleary. "Implementation Of A Digital Microscopy Teaching Environment". Microscopy and Microanalysis 5, S2 (sierpień 1999): 4–5. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600013349.
Pełny tekst źródłaGauvin, Raynald, i Steve Yue. "The Observation of NBC Precipitates In Steels In The Nanometer Range Using A Field Emission Gun Scanning Electron Microscope". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 1243–44. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600013106.
Pełny tekst źródłaIsoda, Seiji, Kimitsugu Saitoh, Sakumi Moriguchi i Takashi Kobayashi. "Application of Imaging Plate to High-Voltage Electron Microscopy". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 1 (12.08.1990): 168–69. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100179592.
Pełny tekst źródłaWatson, John H. L. "In the beginning there were electrons". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, nr 2 (sierpień 1992): 1068–69. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100129978.
Pełny tekst źródłaChen, Xiaodong, Bin Zheng i Hong Liu. "Optical and Digital Microscopic Imaging Techniques and Applications in Pathology". Analytical Cellular Pathology 34, nr 1-2 (2011): 5–18. http://dx.doi.org/10.1155/2011/150563.
Pełny tekst źródłaNagata, Tetsuji. "Application of electron microscopic radioautography to clinical electron microscopy". Medical Electron Microscopy 27, nr 3-4 (grudzień 1994): 191–212. http://dx.doi.org/10.1007/bf02349658.
Pełny tekst źródłaKOMOTO, Tadashi. "Electron Microscopy". Journal of the Japan Society of Colour Material 69, nr 3 (1996): 191–97. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai1937.69.191.
Pełny tekst źródłaHODSON, N. P., i J. A. WRIGHT. "Electron microscopy". Journal of Small Animal Practice 28, nr 5 (maj 1987): 381–86. http://dx.doi.org/10.1111/j.1748-5827.1987.tb01430.x.
Pełny tekst źródłaPan, M., K. Ishizuka, C. E. Meyer, O. L. Krivanek, J. Sasakit i Y. Kimurat. "Progress in Computer Assisted Electron Microscopy". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 1093–94. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600012356.
Pełny tekst źródłaRuska, Ernst. "The development of the electron microscope and of electron microscopy". Reviews of Modern Physics 59, nr 3 (1.07.1987): 627–38. http://dx.doi.org/10.1103/revmodphys.59.627.
Pełny tekst źródłaRuska, Ernst. "The development of the electron microscope and of electron microscopy". Bioscience Reports 7, nr 8 (1.08.1987): 607–29. http://dx.doi.org/10.1007/bf01127674.
Pełny tekst źródłaFrank, L., Š. Mikmeková, Z. Pokorná i I. Müllerová. "Scanning Electron Microscopy With Slow Electrons". Microscopy and Microanalysis 19, S2 (sierpień 2013): 372–73. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927613003851.
Pełny tekst źródłaMartone, Maryann E., Andrea Thor, Stephen J. Young i Mark H. Ellisman. "Correlated 3D Light and Electron Microscopy of Large, Complex Structures: Analysis of Transverse Tubules in Heart Failure". Microscopy and Microanalysis 4, S2 (lipiec 1998): 440–41. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600022327.
Pełny tekst źródłaSujata, K., i Hamlin M. Jennings. "Advances in Scanning Electron Microscopy". MRS Bulletin 16, nr 3 (marzec 1991): 41–45. http://dx.doi.org/10.1557/s0883769400057390.
Pełny tekst źródłaKondo, Y., K. Yagi, K. Kobayashi, H. Kobayashi i Y. Yanaka. "Construction Of UHV-REM-PEEM for Surface Studies". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 1 (12.08.1990): 350–51. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100180501.
Pełny tekst źródłaThomas, G. "Electron Microscopy of inorganic materials". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994): 558–59. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100170529.
Pełny tekst źródłaTivol, Bill. "Automated Functions in Electron Microscopy". Microscopy Today 12, nr 6 (listopad 2004): 14–19. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500065913.
Pełny tekst źródłaLiu, J., i J. R. Ebner. "Nano-Characterization of Industrial Heterogeneous Catalysts". Microscopy and Microanalysis 4, S2 (lipiec 1998): 740–41. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600023825.
Pełny tekst źródłaO’Keefe, M. A., J. Taylor, D. Owen, B. Crowley, K. H. Westmacott, W. Johnston i U. Dahmen. "Remote On-Line Control of a High-Voltage in situ Transmission Electron Microscope with A Rational User Interface". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 54 (11.08.1996): 384–85. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100164386.
Pełny tekst źródłaSun, Cheng, Erich Müller, Matthias Meffert i Dagmar Gerthsen. "On the Progress of Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Imaging in a Scanning Electron Microscope". Microscopy and Microanalysis 24, nr 2 (28.03.2018): 99–106. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927618000181.
Pełny tekst źródłaDvorachek, Michael, Amnon Rosenfeld i Avraham Honigstein. "Contaminations of geological samples in scanning electron microscopy". Neues Jahrbuch für Geologie und Paläontologie - Monatshefte 1990, nr 12 (16.01.1991): 707–16. http://dx.doi.org/10.1127/njgpm/1990/1991/707.
Pełny tekst źródłavan der Krift, Theo, Ulrike Ziese, Willie Geerts i Bram Koster. "Computer-Controlled Transmission Electron Microscopy: Automated Tomography". Microscopy and Microanalysis 7, S2 (sierpień 2001): 968–69. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030919.
Pełny tekst źródłaHenken, Deborah B., i Garry Chernenko. "Light Microscopic Autoradiography Followed by Electron Microscopy". Stain Technology 61, nr 5 (styczeń 1986): 319–21. http://dx.doi.org/10.3109/10520298609109960.
Pełny tekst źródłaCarmichael, Stephen W., i Jon Charlesworth. "Correlating Fluorescence Microscopy with Electron Microscopy". Microscopy Today 12, nr 1 (styczeń 2004): 3–7. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500051749.
Pełny tekst źródłaBrama, Elisabeth, Christopher J. Peddie, Gary Wilkes, Yan Gu, Lucy M. Collinson i Martin L. Jones. "ultraLM and miniLM: Locator tools for smart tracking of fluorescent cells in correlative light and electron microscopy". Wellcome Open Research 1 (13.12.2016): 26. http://dx.doi.org/10.12688/wellcomeopenres.10299.1.
Pełny tekst źródłaPerkins, J. M., D. A. Blom, D. W. McComb i L. F. Allard. "Functional Collaborative Remote Microscopy: Inter-Continental Atomic Resolution Imaging". Microscopy Today 16, nr 3 (maj 2008): 46–49. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500059277.
Pełny tekst źródłaLamvik, M. K. "The Role of Temperature in Limiting Radiation Damage to Organic Materials in Electron Microscopes". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 2 (12.08.1990): 404–5. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100135629.
Pełny tekst źródłaHassander, H. "Electron microscopy methods for studying polymer blends—comparison of scanning electron microscopy and transmission electron microscopy". Polymer Testing 5, nr 1 (1985): 27–36. http://dx.doi.org/10.1016/0142-9418(85)90029-7.
Pełny tekst źródłaTinti, G., H. Marchetto, C. A. F. Vaz, A. Kleibert, M. Andrä, R. Barten, A. Bergamaschi i in. "The EIGER detector for low-energy electron microscopy and photoemission electron microscopy". Journal of Synchrotron Radiation 24, nr 5 (9.08.2017): 963–74. http://dx.doi.org/10.1107/s1600577517009109.
Pełny tekst źródłaPrabhakar, Neeraj, Markus Peurla, Olga Shenderova i Jessica M. Rosenholm. "Fluorescent and Electron-Dense Green Color Emitting Nanodiamonds for Single-Cell Correlative Microscopy". Molecules 25, nr 24 (13.12.2020): 5897. http://dx.doi.org/10.3390/molecules25245897.
Pełny tekst źródłaUrchulutegui, M. "Scanning Electron-Acoustic Microscopy: Do You Know Its Capabilities?" MRS Bulletin 21, nr 10 (październik 1996): 42–46. http://dx.doi.org/10.1557/s0883769400031638.
Pełny tekst źródłaPrutton, M., M. M. El Gomati, J. C. Greenwood, P. G. Kennyr, I. R. Barkshire i J. C. Dee. "Multispectral Surface Analytical Microscopy: A Third-Generation Scanning Auger Electron Microscope". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 2 (12.08.1990): 384–85. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100135526.
Pełny tekst źródłaBaba-Kishi, K. Z. "Scanning reflection electron microscopy of surface topography by diffusely scattered electrons in the scanning electron microscope". Scanning 18, nr 4 (6.12.2006): 315–21. http://dx.doi.org/10.1002/sca.1996.4950180408.
Pełny tekst źródłaSchwarzer, Robert. "Orientation Microscopy Using the Analytical Scanning Electron Microscope". Practical Metallography 51, nr 3 (17.03.2014): 160–79. http://dx.doi.org/10.3139/147.110280.
Pełny tekst źródłaHetherington, Craig L., Connor G. Bischak, Claire E. Stachelrodt, Jake T. Precht, Zhe Wang, Darrell G. Schlom i Naomi S. Ginsberg. "Superresolution Fluorescence Microscopy within a Scanning Electron Microscope". Biophysical Journal 108, nr 2 (styczeń 2015): 190a—191a. http://dx.doi.org/10.1016/j.bpj.2014.11.1054.
Pełny tekst źródłaDingley, David J. "Orientation Imaging Microscopy for the Transmission Electron Microscope". Microchimica Acta 155, nr 1-2 (6.06.2006): 19–29. http://dx.doi.org/10.1007/s00604-006-0502-4.
Pełny tekst źródłaBattistella, Florent, Steven Berger i Andrew Mackintosh. "Scanning Optical Microscopy via a Scanning Electron Microscope". Journal of Electron Microscopy Technique 6, nr 4 (sierpień 1987): 377–84. http://dx.doi.org/10.1002/jemt.1060060408.
Pełny tekst źródłaWortmann, F. J., i G. Wortmann. "Quantitative Fiber Mixture Analysis by Scanning Electron Microscopy". Textile Research Journal 62, nr 7 (lipiec 1992): 423–31. http://dx.doi.org/10.1177/004051759206200710.
Pełny tekst źródłaChapman, George B., P. W. Hawkes i U. Valdre. "Biophysical Electron Microscopy". Transactions of the American Microscopical Society 111, nr 2 (kwiecień 1992): 167. http://dx.doi.org/10.2307/3226674.
Pełny tekst źródłaDyukov, V. G. "Scanning electron microscopy". Uspekhi Fizicheskih Nauk 152, nr 6 (1987): 357. http://dx.doi.org/10.3367/ufnr.0152.198706q.0357.
Pełny tekst źródła