Artykuły w czasopismach na temat „Electron microscope”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „Electron microscope”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Möller, Lars, Gudrun Holland i Michael Laue. "Diagnostic Electron Microscopy of Viruses With Low-voltage Electron Microscopes". Journal of Histochemistry & Cytochemistry 68, nr 6 (21.05.2020): 389–402. http://dx.doi.org/10.1369/0022155420929438.
Pełny tekst źródłaGauvin, Raynald, i Steve Yue. "The Observation of NBC Precipitates In Steels In The Nanometer Range Using A Field Emission Gun Scanning Electron Microscope". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 1243–44. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600013106.
Pełny tekst źródłaRoss, Frances M. "Materials Science in the Electron Microscope". MRS Bulletin 19, nr 6 (czerwiec 1994): 17–21. http://dx.doi.org/10.1557/s0883769400036691.
Pełny tekst źródłaKordesch, Martin E. "Introduction to emission electron microscopy for the in situ study of surfaces". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (1.08.1993): 506–7. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100148368.
Pełny tekst źródłaO'Keefe, Michael A., John H. Turner, John A. Musante, Crispin J. D. Hetherington, A. G. Cullis, Bridget Carragher, Ron Jenkins i in. "Laboratory Design for High-Performance Electron Microscopy". Microscopy Today 12, nr 3 (maj 2004): 8–17. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500052093.
Pełny tekst źródłaKONNO, Mitsuru, Toshie YAGUCHI i Takahito HASHIMOTO. "Transmission Electron Microscop and Scanning Transmission Electron Microscope". Journal of the Japan Society of Colour Material 79, nr 4 (2006): 147–51. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai1937.79.147.
Pełny tekst źródłaWatson, John H. L. "In the beginning there were electrons". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, nr 2 (sierpień 1992): 1068–69. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100129978.
Pełny tekst źródłaAi, R. "A Microscope-Compatible Auger Electron Spectrometer". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (sierpień 1991): 992–93. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100089275.
Pełny tekst źródłaKersker, M., C. Nielsen, H. Otsuji, T. Miyokawa i S. Nakagawa. "The JSM-890 ultra high resolution Scanning Electron Microscope". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6.08.1989): 88–89. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100152410.
Pełny tekst źródłaSchatten, G., J. Pawley i H. Ris. "Integrated microscopy resource for biomedical research at the university of wisconsin at madison". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (sierpień 1987): 594–97. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100127451.
Pełny tekst źródłaGraef, M. De, N. T. Nuhfer i N. J. Cleary. "Implementation Of A Digital Microscopy Teaching Environment". Microscopy and Microanalysis 5, S2 (sierpień 1999): 4–5. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600013349.
Pełny tekst źródłaYAMAMOTO, Shinji, Kyohei UMEMOTO i Ken-ichir YAMASHITA. "Electron Microscope". Journal of The Institute of Electrical Engineers of Japan 133, nr 5 (2013): 298–301. http://dx.doi.org/10.1541/ieejjournal.133.298.
Pełny tekst źródłaSATO, Mitsugu. "Electron Microscope". Journal of the Society of Mechanical Engineers 117, nr 1144 (2014): 142–43. http://dx.doi.org/10.1299/jsmemag.117.1144_142.
Pełny tekst źródłaOikawa, Tetsuo. "Electron Microscope". Zairyo-to-Kankyo 41, nr 10 (1992): 690–97. http://dx.doi.org/10.3323/jcorr1991.41.690.
Pełny tekst źródłaKersker, Michael M. "A History of ESEM in 2.5 Chapters". Microscopy and Microanalysis 7, S2 (sierpień 2001): 774–75. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600029949.
Pełny tekst źródłaDahmen, Ulrich, Rolf Erni, Velimir Radmilovic, Christian Ksielowski, Marta-Dacil Rossell i Peter Denes. "Background, status and future of the Transmission Electron Aberration-corrected Microscope project". Philosophical Transactions of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences 367, nr 1903 (28.09.2009): 3795–808. http://dx.doi.org/10.1098/rsta.2009.0094.
Pełny tekst źródłaBAUM, RUDY. "Light microscope rivals electron microscope". Chemical & Engineering News 71, nr 35 (30.08.1993): 22–23. http://dx.doi.org/10.1021/cen-v071n035.p022.
Pełny tekst źródłaO’Keefe, M. A., J. Taylor, D. Owen, B. Crowley, K. H. Westmacott, W. Johnston i U. Dahmen. "Remote On-Line Control of a High-Voltage in situ Transmission Electron Microscope with A Rational User Interface". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 54 (11.08.1996): 384–85. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100164386.
Pełny tekst źródłaJ. H., Youngblom, Wilkinson J. i Youngblom J.J. "Telepresence Confocal Microscopy". Microscopy and Microanalysis 6, S2 (sierpień 2000): 1164–65. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600038319.
Pełny tekst źródłaRuska, Ernst. "The development of the electron microscope and of electron microscopy". Reviews of Modern Physics 59, nr 3 (1.07.1987): 627–38. http://dx.doi.org/10.1103/revmodphys.59.627.
Pełny tekst źródłaRuska, Ernst. "The development of the electron microscope and of electron microscopy". Bioscience Reports 7, nr 8 (1.08.1987): 607–29. http://dx.doi.org/10.1007/bf01127674.
Pełny tekst źródłaBrama, Elisabeth, Christopher J. Peddie, Gary Wilkes, Yan Gu, Lucy M. Collinson i Martin L. Jones. "ultraLM and miniLM: Locator tools for smart tracking of fluorescent cells in correlative light and electron microscopy". Wellcome Open Research 1 (13.12.2016): 26. http://dx.doi.org/10.12688/wellcomeopenres.10299.1.
Pełny tekst źródłaLiu, J., i J. R. Ebner. "Nano-Characterization of Industrial Heterogeneous Catalysts". Microscopy and Microanalysis 4, S2 (lipiec 1998): 740–41. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600023825.
Pełny tekst źródłavan der Krift, Theo, Ulrike Ziese, Willie Geerts i Bram Koster. "Computer-Controlled Transmission Electron Microscopy: Automated Tomography". Microscopy and Microanalysis 7, S2 (sierpień 2001): 968–69. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030919.
Pełny tekst źródłaGauvin, Raynald, i Pierre Hovington. "On the Microanalysis of Small Precipitates at Low Voltage with a FE-SEM". Microscopy and Microanalysis 5, S2 (sierpień 1999): 308–9. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600014860.
Pełny tekst źródłaWilliams, Nicola. "Do Microscopes Have Politics? Gendering the Electron Microscope in Laboratory Biological Research". Technology and Culture 64, nr 4 (październik 2023): 1159–83. http://dx.doi.org/10.1353/tech.2023.a910999.
Pełny tekst źródłaKremer, James R., Paul S. Furcinitti, Eileen O’Toole i J. Richard McIntosh. "Analysis of photographic emulsions for High-Voltage Electron Microscopy". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (1.08.1993): 452–53. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100148095.
Pełny tekst źródłaVidyavati i G. Sathaiah. "Cell division in desmids under scanning electron microscope". Archiv für Hydrobiologie 105, nr 2 (2.05.1989): 239–49. http://dx.doi.org/10.1127/archiv-hydrobiol/105/1989/239.
Pełny tekst źródłaYoungblom, J. H., J. Wilkinson i J. J. Youngblom. "Telepresence Confocal Microscopy". Microscopy Today 8, nr 10 (grudzień 2000): 20–21. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500054146.
Pełny tekst źródłaKenik, Edward A., i Karren L. More. "SHaRE: Collaborative materials science research". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 46 (1988): 804–5. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100106089.
Pełny tekst źródłaSuga, Hiroshi, Takafumi Fujiwara, Nobuhiro Kanai i Masatoshi Kotera. "Secondary Electron Image Contrast in the Scanning Electron Microscope". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 1 (12.08.1990): 410–11. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010018080x.
Pełny tekst źródłaPrutton, M., M. M. El Gomati, J. C. Greenwood, P. G. Kennyr, I. R. Barkshire i J. C. Dee. "Multispectral Surface Analytical Microscopy: A Third-Generation Scanning Auger Electron Microscope". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, nr 2 (12.08.1990): 384–85. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100135526.
Pełny tekst źródłaPan, M., K. Ishizuka, C. E. Meyer, O. L. Krivanek, J. Sasakit i Y. Kimurat. "Progress in Computer Assisted Electron Microscopy". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 1093–94. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600012356.
Pełny tekst źródłaGeiger, Dorin, Hannes Lichte, Martin Linck i Michael Lehmann. "Electron Holography with aCs-Corrected Transmission Electron Microscope". Microscopy and Microanalysis 14, nr 1 (21.12.2007): 68–81. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760808001x.
Pełny tekst źródłaTONOMURA, Akira. "Holography Electron Microscope." Journal of the Japan Society for Precision Engineering 57, nr 7 (1991): 1165–68. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.57.1165.
Pełny tekst źródłaShindo, Daisuke. "Transmission Electron Microscope". Materia Japan 44, nr 11 (2005): 932–35. http://dx.doi.org/10.2320/materia.44.932.
Pełny tekst źródłaMIYAKI, Atsushi. "Scanning Electron Microscope". Journal of the Japan Society of Colour Material 86, nr 4 (2013): 139–44. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai.86.139.
Pełny tekst źródłaWATANABE, Shunya. "Scanning Electron Microscope". Journal of the Japan Society of Colour Material 79, nr 3 (2006): 120–25. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai1937.79.120.
Pełny tekst źródłaTONOMURA, Akira. "Holography Electron Microscope". Journal of the Society of Mechanical Engineers 106, nr 1017 (2003): 661–64. http://dx.doi.org/10.1299/jsmemag.106.1017_661.
Pełny tekst źródłaShoukry, Youssef. "Scanning electron microscope". Egyptian Journal of Histology 34, nr 2 (czerwiec 2011): 179–81. http://dx.doi.org/10.1097/01.ehx.0000398103.69273.b3.
Pełny tekst źródłaSkoglund, Ulf, i Bertil Daneholt. "Electron microscope tomography". Trends in Biochemical Sciences 11, nr 12 (grudzień 1986): 499–503. http://dx.doi.org/10.1016/0968-0004(86)90077-0.
Pełny tekst źródłaKuokkala, V. T., i T. K. Lepistö. "TEMTUTOR - a Teaching Multimedia Program for TEM". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 1161–62. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600012691.
Pełny tekst źródłaGauvin, Raynald, i Paula Horny. "The Characterization of Nano Materials in the FE-SEM". Microscopy and Microanalysis 6, S2 (sierpień 2000): 744–45. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600036217.
Pełny tekst źródłaSchwarzer, Robert. "Orientation Microscopy Using the Analytical Scanning Electron Microscope". Practical Metallography 51, nr 3 (17.03.2014): 160–79. http://dx.doi.org/10.3139/147.110280.
Pełny tekst źródłaHetherington, Craig L., Connor G. Bischak, Claire E. Stachelrodt, Jake T. Precht, Zhe Wang, Darrell G. Schlom i Naomi S. Ginsberg. "Superresolution Fluorescence Microscopy within a Scanning Electron Microscope". Biophysical Journal 108, nr 2 (styczeń 2015): 190a—191a. http://dx.doi.org/10.1016/j.bpj.2014.11.1054.
Pełny tekst źródłaDingley, David J. "Orientation Imaging Microscopy for the Transmission Electron Microscope". Microchimica Acta 155, nr 1-2 (6.06.2006): 19–29. http://dx.doi.org/10.1007/s00604-006-0502-4.
Pełny tekst źródłaBattistella, Florent, Steven Berger i Andrew Mackintosh. "Scanning Optical Microscopy via a Scanning Electron Microscope". Journal of Electron Microscopy Technique 6, nr 4 (sierpień 1987): 377–84. http://dx.doi.org/10.1002/jemt.1060060408.
Pełny tekst źródłaMartone, Maryann E. "Bridging the Resolution Gap: Correlated 3D Light and Electron Microscopic Analysis of Large Biological Structures". Microscopy and Microanalysis 5, S2 (sierpień 1999): 526–27. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600015956.
Pełny tekst źródłaHansen, Douglas. "The Scanning Electron Microscope As A Precision Instrument". Microscopy Today 4, nr 6 (sierpień 1996): 30–34. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500060909.
Pełny tekst źródłaMcKeman, Stuart. "Ceramics in the environmental Scanning Electron Microscope". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (1.08.1993): 910–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100150381.
Pełny tekst źródła