Gotowa bibliografia na temat „Electron microscope”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Spis treści
Zobacz listy aktualnych artykułów, książek, rozpraw, streszczeń i innych źródeł naukowych na temat „Electron microscope”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Artykuły w czasopismach na temat "Electron microscope"
Möller, Lars, Gudrun Holland i Michael Laue. "Diagnostic Electron Microscopy of Viruses With Low-voltage Electron Microscopes". Journal of Histochemistry & Cytochemistry 68, nr 6 (21.05.2020): 389–402. http://dx.doi.org/10.1369/0022155420929438.
Pełny tekst źródłaGauvin, Raynald, i Steve Yue. "The Observation of NBC Precipitates In Steels In The Nanometer Range Using A Field Emission Gun Scanning Electron Microscope". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 1243–44. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600013106.
Pełny tekst źródłaRoss, Frances M. "Materials Science in the Electron Microscope". MRS Bulletin 19, nr 6 (czerwiec 1994): 17–21. http://dx.doi.org/10.1557/s0883769400036691.
Pełny tekst źródłaKordesch, Martin E. "Introduction to emission electron microscopy for the in situ study of surfaces". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (1.08.1993): 506–7. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100148368.
Pełny tekst źródłaO'Keefe, Michael A., John H. Turner, John A. Musante, Crispin J. D. Hetherington, A. G. Cullis, Bridget Carragher, Ron Jenkins i in. "Laboratory Design for High-Performance Electron Microscopy". Microscopy Today 12, nr 3 (maj 2004): 8–17. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500052093.
Pełny tekst źródłaKONNO, Mitsuru, Toshie YAGUCHI i Takahito HASHIMOTO. "Transmission Electron Microscop and Scanning Transmission Electron Microscope". Journal of the Japan Society of Colour Material 79, nr 4 (2006): 147–51. http://dx.doi.org/10.4011/shikizai1937.79.147.
Pełny tekst źródłaWatson, John H. L. "In the beginning there were electrons". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, nr 2 (sierpień 1992): 1068–69. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100129978.
Pełny tekst źródłaAi, R. "A Microscope-Compatible Auger Electron Spectrometer". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (sierpień 1991): 992–93. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100089275.
Pełny tekst źródłaKersker, M., C. Nielsen, H. Otsuji, T. Miyokawa i S. Nakagawa. "The JSM-890 ultra high resolution Scanning Electron Microscope". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6.08.1989): 88–89. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100152410.
Pełny tekst źródłaSchatten, G., J. Pawley i H. Ris. "Integrated microscopy resource for biomedical research at the university of wisconsin at madison". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (sierpień 1987): 594–97. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100127451.
Pełny tekst źródłaRozprawy doktorskie na temat "Electron microscope"
Morgan, Scott Warwick. "Gaseous secondary electron detection and cascade amplification in the environmental scanning electron microscope /". Electronic version, 2005. http://adt.lib.uts.edu.au/public/adt-NTSM20060511.115302/index.html.
Pełny tekst źródłaMartin, Geoffrey Clive. "Virtual Scanning Electron Microscope : a web-based teaching and training solution for the Scanning Electron Microscope". Thesis, University of Cambridge, 2008. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.611878.
Pełny tekst źródłaDuckett, Gordon Richard. "Electron microscope studies of organic pigments". Thesis, University of Glasgow, 1987. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.305588.
Pełny tekst źródłaSkoupý, Radim. "Quantitative Imaging in Scanning Electron Microscope". Doctoral thesis, Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství, 2020. http://www.nusl.cz/ntk/nusl-432610.
Pełny tekst źródłaLöfgren, André. "Detection of electron vortex beams : Using a scanning transmission electron microscope". Thesis, Uppsala universitet, Materialteori, 2015. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-255330.
Pełny tekst źródłaElektronvirvelstrålar (EVS) är elektronstrålar med en munk-liknande intensitetsprofil. Dessa bär på rörelsemängdsmoment på grund av sin fasdistribution. När de används i ett elektronmikroskop förväntas de vara effektiva för detektering av magnetiska signaler. I denna uppsats har jag undersökt high angle annular dark field (HAADF) bilder som erhållits med hjälp av EVS. Detta gjordes för 300 K och 5K. För 5 K, jämförde jag även HAADF bilder från en vanlig elektronstråle med HAADF bilder från en elektronvirvelstråle. Vad jag fann var att EVS producerade en munkformad intensitetsfördelning runt atomerna. Men när hänsyn till storleken på elektronkällan togs i beaktande kunde inte detta fenomen observeras längre. När bilder från EVS jämfördes med bilder från vanliga elektronstrålar, fann jag att intensiteten av spridda elektroner runt atomkolumnerna var bredare för EVS. Detta kunde observeras även efter att jag tagit hänsyn till elektronkällans storlek.
Chen, Li. "Fabrication of electron sources for a miniature scanning electron microscope". Thesis, University of York, 1999. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.313904.
Pełny tekst źródłaJohnson, Lars. "Nanoindentation in situ a Transmission Electron Microscope". Thesis, Linköping University, Department of Physics, Chemistry and Biology, 2007. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-8333.
Pełny tekst źródłaThe technique of Nanoindentation in situ Transmission Electron Microscope has been implemented on a Philips CM20. Indentations have been performed on Si and Sapphire (α-Al2O3) cut from wafers; Cr/Sc multilayers and Ti3SiC2 thin films. Different sample geometries and preparation methods have been evaluated. Both conventional ion and Focused Ion Beam milling were used, with different ways of protecting the sample during milling. Observations were made of bending and fracture of samples, dislocation nucleation and dislocation movement. Basal slip was observed upon unloading in Sapphire. Dislocation movement constricted along the basal planes were observed in Ti3SiC2. Post indentation electron microscopy revealed kink formation in Ti3SiC2 and layer rotation and slip across layers in Cr/Sc multilayer stacks. Limitations of the technique are presented and discussed.
Lyster, Martin. "Electron microscope studies of cadmium mercury telluride". Thesis, University of Oxford, 1989. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.238271.
Pełny tekst źródłaDellith, Meike. "Electron microscope investigations of defects in DRAMs". Thesis, University of Oxford, 1993. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.334379.
Pełny tekst źródłaChristensen, K. N. "Electron microscope studies of oxygen implanted silicon". Thesis, University of Oxford, 1990. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.292615.
Pełny tekst źródłaKsiążki na temat "Electron microscope"
Thomas, Mulvey, i Sheppard C. J. R, red. Advances inoptical and electron microscopy. London: Academic, 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaChampness, P. E. Electron diffraction in the transmission electron microscope. Oxford: BIOS Scientific Publishers, 2001.
Znajdź pełny tekst źródłaHayat, M. A. Basic techniques for transmission electron microscopy. Orlando: Academic Press, 1985.
Znajdź pełny tekst źródłaReimer, Ludwig. Scanning electron microscopy: Physics of image formation and microanalysis. Wyd. 2. Berlin: Springer, 1998.
Znajdź pełny tekst źródłaJ, Goodhew Peter, red. Thin foil preparation for electron microscopy. Amsterdam: Elsevier, 1985.
Znajdź pełny tekst źródłaTomb, Howard. Microaliens: Dazzling journeys with an electron microscope. New York: Farrar, Straus and Giroux, 1993.
Znajdź pełny tekst źródłaEgerton, Ray F. Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. Boston, MA: Springer US, 1995. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4615-6887-2.
Pełny tekst źródłaEgerton, R. F. Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. Boston, MA: Springer US, 1996. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-5099-7.
Pełny tekst źródłaEgerton, R. F. Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. Boston, MA: Springer US, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9583-4.
Pełny tekst źródłaEgerton, R. F. Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope. Wyd. 2. New York: Plenum Press, 1996.
Znajdź pełny tekst źródłaCzęści książek na temat "Electron microscope"
Gooch, Jan W. "Electron Microscope". W Encyclopedic Dictionary of Polymers, 889. New York, NY: Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6247-8_13623.
Pełny tekst źródłaWeik, Martin H. "electron microscope". W Computer Science and Communications Dictionary, 505. Boston, MA: Springer US, 2000. http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-0613-6_6014.
Pełny tekst źródłaSchmitt, Robert. "Scanning Electron Microscope". W CIRP Encyclopedia of Production Engineering, 1–5. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-35950-7_6595-4.
Pełny tekst źródłaStaufer, U., L. P. Muray, D. P. Kern i T. H. P. Chang. "Miniaturized Electron Microscope". W Nanosources and Manipulation of Atoms Under High Fields and Temperatures: Applications, 101–10. Dordrecht: Springer Netherlands, 1993. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-011-1729-6_9.
Pełny tekst źródłaDijkstra, Jeanne, i Cees P. de Jager. "Electron Microscope Serology". W Practical Plant Virology, 380–91. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1998. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-72030-7_59.
Pełny tekst źródłaSchmitt, Robert. "Scanning Electron Microscope". W CIRP Encyclopedia of Production Engineering, 1501–5. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-53120-4_6595.
Pełny tekst źródłaGooch, Jan W. "Scanning Electron Microscope". W Encyclopedic Dictionary of Polymers, 647. New York, NY: Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6247-8_10317.
Pełny tekst źródłaMitome, Masanori. "Transmission Electron Microscope". W Compendium of Surface and Interface Analysis, 775–81. Singapore: Springer Singapore, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_124.
Pełny tekst źródłaKinoshita, Toyohiko. "Photoemission Electron Microscope". W Compendium of Surface and Interface Analysis, 465–69. Singapore: Springer Singapore, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_76.
Pełny tekst źródłaSchmitt, Robert. "Scanning Electron Microscope". W CIRP Encyclopedia of Production Engineering, 1085–89. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-20617-7_6595.
Pełny tekst źródłaStreszczenia konferencji na temat "Electron microscope"
Yatagai, Toyohiko, Katsuyuki Ohmura i Shigeo Iwasaki. "Phase sensitive analysis of electron holograms". W Holography. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1986. http://dx.doi.org/10.1364/holography.1986.wb3.
Pełny tekst źródłaLarionov, Yu V., i Yu A. Novikov. "Virtual scanning electron microscope". W International Conference on Micro-and Nano-Electronics 2012, redaktor Alexander A. Orlikovsky. SPIE, 2013. http://dx.doi.org/10.1117/12.2016977.
Pełny tekst źródłaPostek, Michael T. "Scanning electron microscope metrology". W Critical Review Collection. SPIE, 1994. http://dx.doi.org/10.1117/12.187461.
Pełny tekst źródłaMačák, Martin. "Electrohydrodynamic Model Of Electron Microscope". W STUDENT EEICT 2021. Brno: Fakulta elektrotechniky a komunikacnich technologii VUT v Brne, 2021. http://dx.doi.org/10.13164/eeict.2021.209.
Pełny tekst źródłaKrysztof, Michał, Marcin Białas i Tomasz Grzebyk. "Imaging Using Mems Electron Microscope". W 2023 IEEE 36th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). IEEE, 2023. http://dx.doi.org/10.1109/ivnc57695.2023.10188948.
Pełny tekst źródłaKrysztof, Michal, Tomasz Grzebyk, Piotr Szyszka, Karolina Laszczyk, Anna Gorccka-Drzazza i Jan Dziuban. "Electron Transparent Anode for MEMS Transmission Electron Microscope". W 2018 XV International Scientific Conference on Optoelectronic and Electronic Sensors (COE). IEEE, 2018. http://dx.doi.org/10.1109/coe.2018.8435173.
Pełny tekst źródłaSimonaitis, John W., Maurice A. R. Krielaart, Stewart A. Koppell, Benjamin J. Slayton, Joseph Alongi, William P. Putnam, Karl K. Berggren i Phillip D. Keathley. "Electron-Photon Interactions in a Scanning Electron Microscope". W 2023 IEEE 36th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). IEEE, 2023. http://dx.doi.org/10.1109/ivnc57695.2023.10188999.
Pełny tekst źródłaDemarest, James, Chris Deeb, Thomas Murray i Hong-Ying Zhai. "Energy-Dispersive X-ray Spectrometry Performance on Multiple Transmission Electron Microscope Platforms". W ISTFA 2010. ASM International, 2010. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2010p0301.
Pełny tekst źródłaIvanov, S. N., S. N. Shilimanov i Sergei I. Shkuratov. "Design of field electron emission spectrometer, field ion microscope, and field electron emission microscope combination". W XVI International Symposium on Discharges and Electrical Insulation in Vacuum, redaktor Gennady A. Mesyats. SPIE, 1994. http://dx.doi.org/10.1117/12.174564.
Pełny tekst źródłaAksenov, Y. Y., E. G. I. Reinders, Jan Greve, C. van Blitterswijk, J. de Bruijn i Cees Otto. "Integration of a confocal Raman microscope in an electron microscope". W EOS/SPIE European Biomedical Optics Week, redaktorzy Karsten Koenig, Hans J. Tanke i Herbert Schneckenburger. SPIE, 2000. http://dx.doi.org/10.1117/12.410628.
Pełny tekst źródłaRaporty organizacyjne na temat "Electron microscope"
Crewe, A. V., i O. H. Kapp. Electron microscope studies. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), czerwiec 1991. http://dx.doi.org/10.2172/6000131.
Pełny tekst źródłaCrewe, A. V., i O. H. Kapp. Electron microscope studies. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), lipiec 1992. http://dx.doi.org/10.2172/7015892.
Pełny tekst źródłaKenik, E. (Intermediate voltage electron microscope). Office of Scientific and Technical Information (OSTI), listopad 1989. http://dx.doi.org/10.2172/5356814.
Pełny tekst źródłaRen, Z. F. Purchase of Transmission Electron Microscope. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, styczeń 2001. http://dx.doi.org/10.21236/ada392051.
Pełny tekst źródłaHadjipansyis, George C. DURIP 00 Scanning Electron Microscope (SEM). Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, marzec 2001. http://dx.doi.org/10.21236/ada388472.
Pełny tekst źródłaStirling, J. A. R., i G. J. Pringle. Tools of investigation: the electron microprobe and scanning electron microscope. Natural Resources Canada/ESS/Scientific and Technical Publishing Services, 1996. http://dx.doi.org/10.4095/210959.
Pełny tekst źródłaMarder, A., K. Barmak i D. Williams. Environmental scanning electron microscope (ESEM). Final report. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), listopad 1998. http://dx.doi.org/10.2172/676882.
Pełny tekst źródłaCollins, Kimberlee Chiyoko, Albert Alec Talin, David W. Chandler i Joseph R. Michael. Development of Scanning Ultrafast Electron Microscope Capability. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), listopad 2016. http://dx.doi.org/10.2172/1331925.
Pełny tekst źródłaFraser, Hamish L. Request for an Analytical Transmission Electron Microscope. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, październik 1987. http://dx.doi.org/10.21236/ada189111.
Pełny tekst źródłaRuggiero, S. T. Single-electron tunneling. [Microwave scanning tunneling microscope]. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), styczeń 1993. http://dx.doi.org/10.2172/6854553.
Pełny tekst źródła