Artykuły w czasopismach na temat „Dual-beam FIB-SEM”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „Dual-beam FIB-SEM”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Gu, Lixin, Nian Wang, Xu Tang i H. G. Changela. "Application of FIB-SEM Techniques for the Advanced Characterization of Earth and Planetary Materials". Scanning 2020 (25.07.2020): 1–15. http://dx.doi.org/10.1155/2020/8406917.
Pełny tekst źródłaGiannuzzi, Lucille A. "FIB/SEM Dual Beam Instrumentation: Slicing, Dicing, Imaging, and More". Microscopy and Microanalysis 7, S2 (sierpień 2001): 796–97. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030051.
Pełny tekst źródłaLee, E., R. Williams, G. B. Viswanathan, R. Banerjee i H. L. Fraser. "3D Materials Characterization using Dual-Beam FIB/SEM Techniques". Microscopy and Microanalysis 10, S02 (sierpień 2004): 1128–29. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927604884204.
Pełny tekst źródłaSIVEL, V. G. M., J. VAN DEN BRAND, W. R. WANG, H. MOHDADI, F. D. TICHELAAR, P. F. A. ALKEMADE i H. W. ZANDBERGEN. "Application of the dual-beam FIB/SEM to metals research". Journal of Microscopy 214, nr 3 (czerwiec 2004): 237–45. http://dx.doi.org/10.1111/j.0022-2720.2004.01329.x.
Pełny tekst źródłaCarl, Matthew, Chris A. Smith i Marcus L. Young. "Dual-Beam Scanning Electron Microscope (SEM) and Focused Ion Beam (FIB): A Practical Method for Characterization of Small Cultural Heritage Objects". MRS Proceedings 1656 (15.09.2014): 355–69. http://dx.doi.org/10.1557/opl.2014.873.
Pełny tekst źródłaMahmoud, Morsi M. "Characterization of the Native Oxide Shell of Copper Metal Powder Spherical Particles". Materials 15, nr 20 (17.10.2022): 7236. http://dx.doi.org/10.3390/ma15207236.
Pełny tekst źródłaGrandfield, Kathryn, i Håkan Engqvist. "Focused Ion Beam in the Study of Biomaterials and Biological Matter". Advances in Materials Science and Engineering 2012 (2012): 1–6. http://dx.doi.org/10.1155/2012/841961.
Pełny tekst źródłaLin, Jui-Ching, William Heeschen, John Reffner i John Hook. "Three-Dimensional Characterization of Pigment Dispersion in Dried Paint Films Using Focused Ion Beam–Scanning Electron Microscopy". Microscopy and Microanalysis 18, nr 2 (1.02.2012): 266–71. http://dx.doi.org/10.1017/s143192761101244x.
Pełny tekst źródłaRepetto, Luca, Renato Buzio, Carlo Denurchis, Giuseppe Firpo, Emanuele Piano i Ugo Valbusa. "Fast three-dimensional nanoscale metrology in dual-beam FIB–SEM instrumentation". Ultramicroscopy 109, nr 11 (październik 2009): 1338–42. http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2009.06.009.
Pełny tekst źródłaKotula, Paul G., Michael R. Keenan i Joseph R. Michael. "Tomographic Spectral Imaging with a Dual-Beam FIB/SEM: 3D Microanalysis". Microscopy and Microanalysis 10, S02 (sierpień 2004): 1132–33. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927604880619.
Pełny tekst źródłaUchic, Michael D., Michael Groeber, Robert Wheeler IV, Frank Scheltens i Dennis M. Dimiduk. "Augmenting the 3D Characterization Capability of the Dual Beam FIB-SEM". Microscopy and Microanalysis 10, S02 (sierpień 2004): 1136–37. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927604886859.
Pełny tekst źródłaMiller, M. K., i K. F. Russell. "Atom probe specimen preparation with a dual beam SEM/FIB miller". Ultramicroscopy 107, nr 9 (wrzesień 2007): 761–66. http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2007.02.023.
Pełny tekst źródłaWEST, G. D., i R. C. THOMSON. "Combined EBSD/EDS tomography in a dual-beam FIB/FEG-SEM". Journal of Microscopy 233, nr 3 (marzec 2009): 442–50. http://dx.doi.org/10.1111/j.1365-2818.2009.03138.x.
Pełny tekst źródłaYao, Bao Yin, Hu Luo, Li Shuang Feng, Zhen Zhou, Rong Ming Wang i Yuan Yuan Chi. "Fabrication of Nano-Grating by Focused Ion Beam / Scanning Electron Microscopy Dual-Beam System". Key Engineering Materials 483 (czerwiec 2011): 66–69. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.483.66.
Pełny tekst źródłaYoung, Richard J. "Site-Specific Analysis of Advanced Packaging Enabled by Focused Ion Beams". EDFA Technical Articles 13, nr 1 (1.02.2011): 12–19. http://dx.doi.org/10.31399/asm.edfa.2011-1.p012.
Pełny tekst źródłaJeanvoine, Nicolas, Christian Holzapfel, Flavio Soldera i Frank Mücklich. "3D Investigations of Plasma Erosion Craters using FIB/SEM Dual-Beam Techniques". Practical Metallography 43, nr 9 (wrzesień 2006): 470–82. http://dx.doi.org/10.3139/147.100314.
Pełny tekst źródłaIwai, Hiroshi, Naoki Shikazono, Toshiaki Matsui, Hisanori Teshima, Masashi Kishimoto, Ryo Kishida, Daisuke Hayashi i in. "Quantification of SOFC anode microstructure based on dual beam FIB-SEM technique". Journal of Power Sources 195, nr 4 (luty 2010): 955–61. http://dx.doi.org/10.1016/j.jpowsour.2009.09.005.
Pełny tekst źródłaUchic, MD, i PA Shade. "Serial Sectioning of Deformed Microcrystals using a Dual-Beam FIB-SEM Microscope". Microscopy and Microanalysis 15, S2 (lipiec 2009): 610–11. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927609099498.
Pełny tekst źródłaJeanvoine, N., C. Holzapfel, F. Soldera i F. Mücklich. "Microstructure Characterisation of Electrical Discharge Craters using FIB/SEM Dual Beam Techniques". Advanced Engineering Materials 10, nr 10 (październik 2008): 973–77. http://dx.doi.org/10.1002/adem.200800108.
Pełny tekst źródłaReagan, Brandon C., Paul J. Y. Kim, Preston D. Perry, John R. Dunlap i Tessa M. Burch-Smith. "Spatial distribution of organelles in leaf cells and soybean root nodules revealed by focused ion beam-scanning electron microscopy". Functional Plant Biology 45, nr 2 (2018): 180. http://dx.doi.org/10.1071/fp16347.
Pełny tekst źródłaDravid, Vinayak P., Steven Kim i Luke N. Brewer. "Focused Ion Beam (FIB): More than Just a Fancy Ion Beam Thinner". Microscopy and Microanalysis 6, S2 (sierpień 2000): 504–5. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600035017.
Pełny tekst źródłaGrünewald, Lukas, Daniel Nerz, Marco Langer, Sven Meyer, Nico Beisig, Pablo Cayado, Ruslan Popov, Jens Hänisch, Bernhard Holzapfel i Dagmar Gerthsen. "Analysis of superconducting thin films in a modern FIB/SEM dual-beam instrument". Microscopy and Microanalysis 27, S1 (30.07.2021): 1056–58. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927621003986.
Pełny tekst źródłaIwai, Hiroshi, Naoki Shikazono, Toshiaki Matsui, Hisanori Teshima, Masashi Kishimoto, Ryo Kishida, Daisuke Hayashi i in. "Quantification of Ni-YSZ Anode Microstructure Based on Dual Beam FIB-SEM Technique". ECS Transactions 25, nr 2 (17.12.2019): 1819–28. http://dx.doi.org/10.1149/1.3205723.
Pełny tekst źródłaIgnatov, A., A. Komissar i R. Geurts. "On-line Scanned Probe Microscopy Transparently Integrated with Dual Beam SEM/FIB Systems". Microscopy and Microanalysis 18, S2 (lipiec 2012): 640–41. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927612005053.
Pełny tekst źródłaUchic, M. "How to use the Dual Beam FIB-SEM to Characterize Microstructure in 3D". Microscopy and Microanalysis 12, S02 (31.07.2006): 122–23. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927606069054.
Pełny tekst źródłaYang, G. Y., P. J. Moses, E. C. Dickey i C. A. Randall. "Local impedance and microchemical analysis of electrical heterogeneities in multilayer electroceramic devices". Journal of Materials Research 22, nr 12 (grudzień 2007): 3507–15. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2007.0443.
Pełny tekst źródłaJakubéczyová, Dagmar, i Beáta Ballóková. "The Analyse of Nanocomposite Thin Coatings Using Specimens Prepared by Focused Ion Beam Milling". Materials Science Forum 891 (marzec 2017): 579–85. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.891.579.
Pełny tekst źródłaCao, Shan Shan, Minoru Nishida i Dominique Schryvers. "FIB/SEM Applied to Quantitative 3D Analysis of Precipitates in Ni-Ti". Solid State Phenomena 172-174 (czerwiec 2011): 1284–89. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.172-174.1284.
Pełny tekst źródłaDravid, Vinayak P. "Focused Ion Beam (FIB): More than Just a Fancy Ion Beam Thinner". Microscopy and Microanalysis 7, S2 (sierpień 2001): 926–27. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030701.
Pełny tekst źródłaKazak, Andrey, Kirill Simonov i Victor Kulikov. "Machine-Learning-Assisted Segmentation of Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscopy Images with Artifacts for Improved Void-Space Characterization of Tight Reservoir Rocks". SPE Journal 26, nr 04 (8.03.2021): 1739–58. http://dx.doi.org/10.2118/205347-pa.
Pełny tekst źródłaLiu, Mei Hua, Di Feng, Yan Li, Bao Yin Yao, Shuai Zhong i Li Shuang Feng. "The Experiment Research of Gas-Assisted Ion Etching Nanograting". Key Engineering Materials 609-610 (kwiecień 2014): 32–38. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.609-610.32.
Pełny tekst źródłaJang, Seungsoo, Kyung Taek Bae, Dongyeon Kim, Hyeongmin Yu, Seeun Oh, Ha-Ni Im i Kang Taek Lee. "Microstructural Analysis of Solid Oxide Electrochemical Cells via 3D Reconstruction Using a FIB-SEM Dual Beam System". ECS Transactions 111, nr 6 (19.05.2023): 1265–69. http://dx.doi.org/10.1149/11106.1265ecst.
Pełny tekst źródłaChen, Yi Qing, Feng Zai Tang i Liang Chi Zhang. "A Preparation Method of Diamond Specimens Using an Advanced FIB Microscopy for Micro and Nanoanalysis". Key Engineering Materials 531-532 (grudzień 2012): 592–95. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.531-532.592.
Pełny tekst źródłaTseluyko, S. S., V. Ya Shklover, V. A. Kurushin i P. R. Kazanskiy. "3D-RECONSTRUCTION OF THE MUCOUS MEMBRANE OF THE TRACHEA WITH THE USE OF DUAL BEAM FIB/ SEM QUANTA 3D FEG". Amur Medical Journal, nr 15-16 (2016): 112–15. http://dx.doi.org/10.22448/amj.2016.15-16.112-115.
Pełny tekst źródłaUchic, Michael D., Michael A. Groeber, Dennis M. Dimiduk i J. P. Simmons. "3D microstructural characterization of nickel superalloys via serial-sectioning using a dual beam FIB-SEM". Scripta Materialia 55, nr 1 (lipiec 2006): 23–28. http://dx.doi.org/10.1016/j.scriptamat.2006.02.039.
Pełny tekst źródłaGoto, Toichiro, Nahoko Kasai, Rick Lu, Roxana Filip i Koji Sumitomo. "Scanning Electron Microscopy Observation of Interface Between Single Neurons and Conductive Surfaces". Journal of Nanoscience and Nanotechnology 16, nr 4 (1.04.2016): 3383–87. http://dx.doi.org/10.1166/jnn.2016.12311.
Pełny tekst źródłaZhang, G. P., Bin Zhang, Q. Y. Yu i J. Tan. "In Situ Thermal-Mechanical Fatigue Testing of Thin Au Lines". Key Engineering Materials 353-358 (wrzesień 2007): 2916–19. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.353-358.2916.
Pełny tekst źródłaOllivier, Maelig, Laurence Latu-Romain, Edwige Bano, Arnaud Mantoux i Thierry Baron. "Conversion of Si Nanowires into SiC Nanotubes". Materials Science Forum 717-720 (maj 2012): 1275–78. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.717-720.1275.
Pełny tekst źródłaOliveira, Marcos L. S., Diana Pinto, Maria Eliza Nagel-Hassemer, Leila Dal Moro, Giana de Vargas Mores, Brian William Bodah i Alcindo Neckel. "Brazilian Coal Tailings Projects: Advanced Study of Sustainable Using FIB-SEM and HR-TEM". Sustainability 15, nr 1 (23.12.2022): 220. http://dx.doi.org/10.3390/su15010220.
Pełny tekst źródłaSingh, R., A. R. Akhgar, P. C. Sui, K. J. Lange i N. Djilali. "Dual-Beam FIB/SEM Characterization, Statistical Reconstruction, and Pore Scale Modeling of a PEMFC Catalyst Layer". Journal of The Electrochemical Society 161, nr 4 (2014): F415—F424. http://dx.doi.org/10.1149/2.036404jes.
Pełny tekst źródłaChee, K. W. A., R. Beanland, P. A. Midgley i C. J. Humphreys. "Site-selective dopant profiling of p-n junction specimens in the dual-beam FIB/SEM system". Journal of Physics: Conference Series 209 (1.02.2010): 012069. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/209/1/012069.
Pełny tekst źródłaZhou, Qinghua, Lechun Xie, Xueli Wang, Xiaoqing Jin, Zhanjiang Wang, Jiaxu Wang, Zhihong Jia, Leon M. Keer i Qian Wang. "Modeling rolling contact fatigue lives of composite materials based on the dual beam FIB/SEM technique". International Journal of Fatigue 83 (luty 2016): 201–8. http://dx.doi.org/10.1016/j.ijfatigue.2015.10.014.
Pełny tekst źródłaNovo, Sergi, Leonardo Barrios, Elena Ibáñez i Carme Nogués. "The Zona Pellucida Porosity: Three-Dimensional Reconstruction of Four Types of Mouse Oocyte Zona Pellucida Using a Dual Beam Microscope". Microscopy and Microanalysis 18, nr 6 (grudzień 2012): 1442–49. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927612013487.
Pełny tekst źródłaJang, Seungsoo, Kyung Taek Bae, Dongyeon Kim, Hyeongmin Yu, Seeun Oh, Ha-Ni Im i Kang Taek Lee. "Microstructural Analysis of Solid Oxide Electrochemical Cells via 3D Reconstruction Using a FIB-SEM Dual Beam System". ECS Meeting Abstracts MA2023-01, nr 54 (28.08.2023): 194. http://dx.doi.org/10.1149/ma2023-0154194mtgabs.
Pełny tekst źródłaLim, Seungmin, Han-Seung Lee i Shiho Kawashima. "Pore structure refinement of cement paste incorporating nanosilica: Study with dual beam scanning electron microscopy/focused ion beam (SEM/FIB)". Materials Characterization 145 (listopad 2018): 323–28. http://dx.doi.org/10.1016/j.matchar.2018.08.045.
Pełny tekst źródłaBae, Kyung Taek, Joonam Park, Dong Woo Joh, Jeong Hwa Park, Dohwan Kim, Wooyoung Jeong, Ji-Eun Nam i in. "Quantitative Analysis of Solid-State Energy Devices Via 3D Reconstruction Using a FIB/SEM Dual Beam System". ECS Meeting Abstracts MA2021-03, nr 1 (23.07.2021): 253. http://dx.doi.org/10.1149/ma2021-031253mtgabs.
Pełny tekst źródłaTordoff, B., C. Hartfield, S. Krauss, L. Abdellaoui, S. Kelly i H. Bale. "10 years of LaserFIB: The Latest Developments in a Dual Chamber, 3 Beam FIB-SEM for Large Volume Material Removal and Semi-Automated FIB Integration". Microscopy and Microanalysis 29, Supplement_1 (22.07.2023): 547. http://dx.doi.org/10.1093/micmic/ozad067.258.
Pełny tekst źródłaSchryvers, Dominique, Wim Tirry i Shan Shan Cao. "Advanced TEM and SEM Methods Applied to 3D Nano- and Microstructural Investigations of Ni4Ti3 Precipitates in Ni-Ti (SMA)". Solid State Phenomena 172-174 (czerwiec 2011): 229–35. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.172-174.229.
Pełny tekst źródłaZhao, Y. Z., Q. J. Wang, P. K. Tan, H. H. Yap, B. H. Liu, H. Feng, H. Tan i in. "Application of Fast Laser Deprocessing Techniques on large cross-sectional view area sample with FIB-SEM dual beam system". Microelectronics Reliability 64 (wrzesień 2016): 362–66. http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2016.07.060.
Pełny tekst źródłaClarke, James S., Michael B. Schmidt i Ndubuisi G. Orji. "Photoresist cross-sectioning with negligible damage using a dual-beam FIB-SEM: A high throughput method for profile imaging". Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures 25, nr 6 (2007): 2526. http://dx.doi.org/10.1116/1.2804516.
Pełny tekst źródła