Książki na temat „CMOS device”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych książek naukowych na temat „CMOS device”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj książki z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Simon, Deleonibus, red. Electronic device architectures for the nano-CMOS era: From ultimate CMOS scaling to beyond CMOS devices. Singapore: Pan Stanford, 2009.
Znajdź pełny tekst źródłaSimon, Deleonibus, red. Electronic device architectures for the nano-CMOS era: From ultimate CMOS scaling to beyond CMOS devices. Singapore: Pan Stanford, 2009.
Znajdź pełny tekst źródłaIncorporated, Advanced Micro Devices. PAL device data book: Bipolar and CMOS. [Sunnyvale, CA]: Advanced Micro Devices Inc., 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaYtterdal, Trond, Yuhua Cheng i Tor A. Fjeldly. Device Modeling for Analog and RF CMOS Circuit Design. Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd, 2003. http://dx.doi.org/10.1002/0470863803.
Pełny tekst źródłaDevice modeling for analog and RF CMOS circuit design. Chichester: John Wiley & Sons, 2004.
Znajdź pełny tekst źródłaSemenov, Oleg, Hossein Sarbishaei i Manoj Sachdev. ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies. Dordrecht: Springer Netherlands, 2008. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8301-3.
Pełny tekst źródłaHossein, Sarbishaei, i Sachdev Manoj, red. ESD protection device and circuit design for advanced CMOS technologies. [Dordrecht]: Springer, 2008.
Znajdź pełny tekst źródłaMadrid, Philip E. Device design and process window analysis of a deep submicron CMOS VLSI technology. Reading, Mass: Addison-Wesley, 1992.
Znajdź pełny tekst źródłaUnited States. National Aeronautics and Space Administration., red. Application of linear response theory to experimental data of simultasneous radiation and annealing response of a CMOS device. [Washington, DC: National Aeronautics and Space Administration, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaL, Helms Harry, red. CMOS devices: 1987 source book. Englewood Cliffs, N.J: Technipubs, 1987.
Znajdź pełny tekst źródłaCMOS devices and technology for VLSI. Englewood Cliffs, N.J: Prentice Hall, 1990.
Znajdź pełny tekst źródłaWu, Yung-Chun, i Yi-Ruei Jhan. 3D TCAD Simulation for CMOS Nanoeletronic Devices. Singapore: Springer Singapore, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-3066-6.
Pełny tekst źródłaShin, Changhwan. Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM. Dordrecht: Springer Netherlands, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-017-7597-7.
Pełny tekst źródłaIniewski, Krzysztof. CMOS processors and memories. Dordrecht: Springer, 2010.
Znajdź pełny tekst źródłaKuo, James B., i Shih-Chia Lin. Low-Voltage SOI CMOS VLSI Devices and Circuits. New York, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2002. http://dx.doi.org/10.1002/0471221562.
Pełny tekst źródłaSenthinathan, Ramesh, i John L. Prince. Simultaneous Switching Noise of CMOS Devices and Systems. Boston, MA: Springer US, 1994. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4615-3204-0.
Pełny tekst źródła1941-, Prince John L., red. Simultaneous switching noise of CMOS devices and systems. Boston: Kluwer Academic, 1994.
Znajdź pełny tekst źródłaZhao, Yi. Wafer level reliability of advanced CMOS devices and processes. New York: Nova Science Publishers, 2008.
Znajdź pełny tekst źródłaBallan, Hussein, i Michel Declercq. High Voltage Devices and Circuits in Standard CMOS Technologies. Boston, MA: Springer US, 1999. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-5404-9.
Pełny tekst źródłaBallan, Hussein. High Voltage Devices and Circuits in Standard CMOS Technologies. Boston, MA: Springer US, 1999.
Znajdź pełny tekst źródłaBallan, Hussein. High voltage devices and circuits in standard CMOS technologies. Boston: Kluwer Academic, 1999.
Znajdź pełny tekst źródłaHolst, Gerald C. CMOS/CCD sensors and camera systems. Bellingham, Wash: The International Society for Optical Engineering, 2007.
Znajdź pełny tekst źródłaS, Lomheim Terrence, red. CMOS/CCD sensors and camera systems. Wyd. 2. Winter Park, FL: JCD Publishing, 2011.
Znajdź pełny tekst źródłaHaraszti, Tegze P. CMOS memory circuits. Boston: Kluwer Academic, 2000.
Znajdź pełny tekst źródłaCMOS memory circuits. Boston: Kluwer Academic, 2000.
Znajdź pełny tekst źródłaIncorporated, Advanced Micro Devices. MACH devices: High density EE CMOS programmable logic data book. [Sunnyvale, CA]: AdvancedMicro Devices, Inc., 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaR, Holberg Douglas, red. CMOS analog circuit design. Oxford: Oxford University Press Inc., 1987.
Znajdź pełny tekst źródłaAllen, P. E. CMOS analog circuit design. Wyd. 2. New York: Oxford University Press, 2002.
Znajdź pełny tekst źródłaIncorporated, Advanced Micro Devices. Mach devices: High density EE CMOS programmable logic 1991 Data book. Sunnyvale, CA: Advanced Micro Devices, 1991.
Znajdź pełny tekst źródłaTakeda, Eiji. Giga -scale CMOS technology: International electron devices meeting (IEDM) short course. Piscataway, NJ: Institute of Electrical and Electronic Engineers, 1997.
Znajdź pełny tekst źródłaKang, Moon Gi. Selected papers on CCD and CMOS imagers. Bellingham, Wash., USA: SPIE Press, 2003.
Znajdź pełny tekst źródłaWang, Jing. CMOS-Compatible Key Engineering Devices for High-Speed Silicon-Based Optical Interconnections. Singapore: Springer Singapore, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-13-3378-1.
Pełny tekst źródłaColomer-Farrarons, Jordi, i Pere Lluís Miribel-Català. A CMOS Self-Powered Front-End Architecture for Subcutaneous Event-Detector Devices. Dordrecht: Springer Netherlands, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-0686-6.
Pełny tekst źródłaDeleonibus, Simon, red. Electronic Device Architectures for the Nano-Cmos Era - From Ultimate CMOS Scaling to Beyond CMOS Devices. Pan Stanford Publishing, 2008. http://dx.doi.org/10.1142/9789814241298.
Pełny tekst źródłaElectronic device architectures for the nano-CMOS era: From ultimate CMOS scaling to beyond CMOS devices. Singapore: Pan Stanford, 2009.
Znajdź pełny tekst źródłaEl-Kareh, Badih. CMOS and BiCMOS Process Integration and Device Characterization. Springer, 2007.
Znajdź pełny tekst źródłaYtterdal, Trond, Yuhua Cheng i Tor A. Fjeldly. Device Modeling for Analog and RF CMOS Circuit Design. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2008.
Znajdź pełny tekst źródłaMangan, Alain Marc. Millimetre-wave device characterization for nano-CMOS IC design. 2005.
Znajdź pełny tekst źródłaYtterdal, Trond, Yuhua Cheng i Tor A. Fjeldly. Device Modeling for Analog and RF CMOS Circuit Design. Wiley, 2003.
Znajdź pełny tekst źródłaYtterdal, T., Tor Fjeldly, Trond Ytterdal i Yuhua Cheng. Device Modeling for Analog and RF CMOS Circuit Design. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2003.
Znajdź pełny tekst źródłaT. CHENG, YUHUA FJELDLY, TOR YTTERDAL. Device Modeling for Analog and RF CMOS Circuit Design. Not Avail, 2003.
Znajdź pełny tekst źródłaYtterdal, Trond, Yuhua Cheng i Tor A. Fjeldly. Device Modeling for Analog and RF CMOS Circuit Design. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2003.
Znajdź pełny tekst źródłaMahapatra, Santanu, i Adrian Mihai Ionescu. Hybrid CMOS Single-Electron-Transistor Device And Circuit Design. Artech House Publishers, 2006.
Znajdź pełny tekst źródłaHigh Performance CMOS Range Imaging: Device Technology and Systems Considerations. Taylor & Francis Group, 2016.
Znajdź pełny tekst źródłaSüss, Andreas. High Performance CMOS Range Imaging: Device Technology and Systems Considerations. Taylor & Francis Group, 2021.
Znajdź pełny tekst źródłaS�ss, Andreas. High Performance CMOS Range Imaging: Device Technology and Systems Considerations. Taylor & Francis Group, 2016.
Znajdź pełny tekst źródłaSüss, Andreas. High Performance CMOS Range Imaging: Device Technology and Systems Considerations. Taylor & Francis Group, 2016.
Znajdź pełny tekst źródłaS�ss, Andreas. High Performance CMOS Range Imaging: Device Technology and Systems Considerations. Taylor & Francis Group, 2016.
Znajdź pełny tekst źródłaSarbishaei, Hossein, Oleg Semenov i Manoj Sachdev. ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies. Springer, 2008.
Znajdź pełny tekst źródłaESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies. Springer Netherlands, 2010.
Znajdź pełny tekst źródła