Artykuły w czasopismach na temat „Characterization techniques for microelectroniq”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „Characterization techniques for microelectroniq”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Klymko, N. R., J. A. Casey, L. Tai, J. A. Fitzsimmons i F. Adar. "Role of Raman Microprobe Spectroscopy in the Characterization of Microelectronic Materials". Microscopy and Microanalysis 7, S2 (sierpień 2001): 150–51. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600026829.
Pełny tekst źródłaBusch, Brett W., Olivier Pluchery, Yves J. Chabal, David A. Muller, Robert L. Opila, J. Raynien Kwo i Eric Garfunkel. "Materials Characterization of Alternative Gate Dielectrics". MRS Bulletin 27, nr 3 (marzec 2002): 206–11. http://dx.doi.org/10.1557/mrs2002.72.
Pełny tekst źródłaZhou, Shenglin, Zhaohui Yang i Xiaohua Zhang. "Characterization tools of thin polymer films". International Journal of Modern Physics B 32, nr 18 (15.07.2018): 1840007. http://dx.doi.org/10.1142/s0217979218400076.
Pełny tekst źródłaHuang, Zhiheng, Ziyan Liao, Kaiwen Zheng, Xin Zeng, Yuezhong Meng, Hui Yan i Yang Liu. "Microstructural Hierarchy Descriptor Enabling Interpretative AI for Microelectronic Failure Analysis". EDFA Technical Articles 26, nr 2 (1.05.2024): 10–18. http://dx.doi.org/10.31399/asm.edfa.2024-2.p010.
Pełny tekst źródłaMouro, João, Rui Pinto, Paolo Paoletti i Bruno Tiribilli. "Microcantilever: Dynamical Response for Mass Sensing and Fluid Characterization". Sensors 21, nr 1 (27.12.2020): 115. http://dx.doi.org/10.3390/s21010115.
Pełny tekst źródłaMurray, Conal E., A. J. Ying, S. M. Polvino, I. C. Noyan i Z. Cai. "Nanoscale strain characterization in microelectronic materials using X-ray diffraction". Powder Diffraction 25, nr 2 (czerwiec 2010): 108–13. http://dx.doi.org/10.1154/1.3394205.
Pełny tekst źródłaJansen, K. M. B., V. Gonda, L. J. Ernst, H. J. L. Bressers i G. Q. Zhang. "State-of-the-Art of Thermo-Mechanical Characterization of Thin Polymer Films". Journal of Electronic Packaging 127, nr 4 (22.12.2004): 530–36. http://dx.doi.org/10.1115/1.2070092.
Pełny tekst źródłaGuégan, Hervé. "Use of a Nuclear Microprobe in Electronic Device Characterization". EDFA Technical Articles 9, nr 4 (1.11.2007): 14–19. http://dx.doi.org/10.31399/asm.edfa.2007-4.p014.
Pełny tekst źródłaRuales, Mary, i Kinzy Jones. "Characterization of silicate sensors on Low Temperature Cofire Ceramic (LTCC) substrates using DSC and XRD techniques". International Symposium on Microelectronics 2012, nr 1 (1.01.2012): 000598–603. http://dx.doi.org/10.4071/isom-2012-wa31.
Pełny tekst źródłaNguyen, T. K., L. M. Landsberger, V. Logiudice i C. Jean. "Electrical characterization of fluorine-implanted gate oxide structures". Canadian Journal of Physics 74, S1 (1.12.1996): 74–78. http://dx.doi.org/10.1139/p96-836.
Pełny tekst źródłaCoppola, Giuseppe, i Maria Antonietta Ferrara. "Polarization-Sensitive Digital Holographic Imaging for Characterization of Microscopic Samples: Recent Advances and Perspectives". Applied Sciences 10, nr 13 (29.06.2020): 4520. http://dx.doi.org/10.3390/app10134520.
Pełny tekst źródłaDrouin, D., J. Beauvais i R. Gauvin. "Characterization of Variations in Schottky Barrier Height in Semiconductor Devices using EBIC Technique". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 501–2. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600009399.
Pełny tekst źródłaMalisz, Klaudia, Beata Świeczko-Żurek i Alina Sionkowska. "Preparation and Characterization of Diamond-like Carbon Coatings for Biomedical Applications—A Review". Materials 16, nr 9 (27.04.2023): 3420. http://dx.doi.org/10.3390/ma16093420.
Pełny tekst źródłaSciuto, Emanuele Luigi, Corrado Bongiorno, Antonino Scandurra, Salvatore Petralia, Tiziana Cosentino, Sabrina Conoci, Fulvia Sinatra i Sebania Libertino. "Functionalization of Bulk SiO2 Surface with Biomolecules for Sensing Applications: Structural and Functional Characterizations". Chemosensors 6, nr 4 (30.11.2018): 59. http://dx.doi.org/10.3390/chemosensors6040059.
Pełny tekst źródłaBeers, Kimberly, Andrew E. Hollowell i G. Bahar Basim. "Thin Film Characterization on Cu/SnAg Solder Interface for 3D Packaging Technologies". MRS Advances 5, nr 37-38 (2020): 1929–35. http://dx.doi.org/10.1557/adv.2020.309.
Pełny tekst źródłaHoummada, Khalid, Dominique Mangelinck i Alain Portavoce. "Kinetic of Formation of Ni and Pd Silicides: Determination of Interfacial Mobility and Interdiffusion Coefficient by In Situ Techniques". Solid State Phenomena 172-174 (czerwiec 2011): 640–45. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.172-174.640.
Pełny tekst źródłaCara, Eleonora, Irdi Murataj, Gianluca Milano, Natascia De Leo, Luca Boarino i Federico Ferrarese Lupi. "Recent Advances in Sequential Infiltration Synthesis (SIS) of Block Copolymers (BCPs)". Nanomaterials 11, nr 4 (13.04.2021): 994. http://dx.doi.org/10.3390/nano11040994.
Pełny tekst źródłaKumar, Ashok. "Functional Nanomaterials: From Basic Science to Emerging Applications". Solid State Phenomena 201 (maj 2013): 1–19. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.201.1.
Pełny tekst źródłaGauvin, Raynald, Mario Caron, Vincent Fortin i John F. Currie. "Characterization of Multilayered Structures Using a FEGSEM and X-Ray Microanalysis". Microscopy and Microanalysis 3, S2 (sierpień 1997): 463–64. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760000920x.
Pełny tekst źródłaTrulli, Susan, Craig Armiento, Christopher Laighton, Elicia Harper, Mahdi Haghzadeh i Alkim Akyurtlu. "Additive Packaging for Microwave Applications". International Symposium on Microelectronics 2017, nr 1 (1.10.2017): 000768–72. http://dx.doi.org/10.4071/isom-2017-thp53_148.
Pełny tekst źródłaPagan, Darren C., Md A. J. Rasel, Rachel E. Lim, Dina Sheyfer, Wenjun Liu i Aman Haque. "Non-destructive depth-resolved characterization of residual strain fields in high electron mobility transistors using differential aperture x-ray microscopy". Journal of Applied Physics 132, nr 14 (14.10.2022): 144503. http://dx.doi.org/10.1063/5.0109606.
Pełny tekst źródłaPortavoce, Alain, Khalid Hoummada i Lee Chow. "Coupling Secondary Ion Mass Spectrometry and Atom Probe Tomography for Atomic Diffusion and Segregation Measurements". Microscopy and Microanalysis 25, nr 2 (30.01.2019): 517–23. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927618015623.
Pełny tekst źródłaMustafa, M. K., U. Majeed i Y. Iqbal. "Effect on Silicon Nitride thin Films Properties at Various Powers of RF Magnetron Sputtering". International Journal of Engineering & Technology 7, nr 4.30 (30.11.2018): 39. http://dx.doi.org/10.14419/ijet.v7i4.30.22000.
Pełny tekst źródłaBooth, James C., Nathan Orloff, Christian Long, Aaron Hagerstrom, Angela Stelson, Nicholas Jungwirth i Luckshitha Suriyasena Liyanage. "(Invited, Digital Presentation) Nonlinear and Electro-Thermo-Mechanical Effects in Heterogeneous Electronics at Microwave Frequencies". ECS Meeting Abstracts MA2022-02, nr 17 (9.10.2022): 862. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-0217862mtgabs.
Pełny tekst źródłaYoungman, R. A. "The Critical Role of Microscopy and Spectroscopy in the Development of New Materials for Microelectronics Packaging". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 54 (11.08.1996): 634–35. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010016563x.
Pełny tekst źródłaArikpo, John U., i Michael U. Onuu. "Graphene Growth and Characterization: Advances, Present Challenges and Prospects". Journal of Materials Science Research 8, nr 4 (30.09.2019): 37. http://dx.doi.org/10.5539/jmsr.v8n4p37.
Pełny tekst źródłaHu, Xiao-Yu, Jun Ouyang, Guo-Chang Liu, Meng-Juan Gao, Lai-Bo Song, Jianfeng Zang i Wei Chen. "Synthesis and Characterization of the Conducting Polymer Micro-Helix Based on the Spirulina Template". Polymers 10, nr 8 (7.08.2018): 882. http://dx.doi.org/10.3390/polym10080882.
Pełny tekst źródłaSzocinski, Michal. "AFM-assisted investigation of conformal coatings in electronics". Anti-Corrosion Methods and Materials 63, nr 4 (6.06.2016): 289–94. http://dx.doi.org/10.1108/acmm-09-2014-1426.
Pełny tekst źródłaPantel, R., G. Mascarin i G. Auvert. "Defect Analysis and Process Development of Microelectronics Devices Using Focused Ion Beam and Energy Filtering Transmission Electron Microscopy." Microscopy and Microanalysis 5, S2 (sierpień 1999): 900–901. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600017827.
Pełny tekst źródłaFritz, Mathias, Christian Elieser Hoess, Finn-Merlin Deckert i Andreas Bund. "Light-Induced Platinum Deposition on Silicon-Based Semiconductor Devices". ECS Meeting Abstracts MA2023-02, nr 20 (22.12.2023): 1217. http://dx.doi.org/10.1149/ma2023-02201217mtgabs.
Pełny tekst źródłaLamia, Zarral, Djahli Farid i Ndagijimana Fabien. "Technique of Coaxial Frame in Reflection for the Characterization of Single and Multilayer Materials with Correction of Air Gap". International Journal of Antennas and Propagation 2014 (2014): 1–9. http://dx.doi.org/10.1155/2014/324727.
Pełny tekst źródłaBaczyński, Szymon, Piotr Sobotka, Kasper Marchlewicz, Artur Dybko i Katarzyna Rutkowska. "Low-cost, widespread and reproducible mold fabrication technique for PDMS-based microfluidic photonic systems". Photonics Letters of Poland 12, nr 1 (31.03.2020): 22. http://dx.doi.org/10.4302/plp.v12i1.981.
Pełny tekst źródłaWarczak, Magdalena, Marianna Gniadek, Kamil Hermanowski i Magdalena Osial. "Well-defined polyindole–Au NPs nanobrush as a platform for electrochemical oxidation of ethanol". Pure and Applied Chemistry 93, nr 4 (1.04.2021): 497–507. http://dx.doi.org/10.1515/pac-2020-1101.
Pełny tekst źródłaBasit, M., M. Aslam, M. Ahmad i Z. A. Raza. "Structural, thermal and optoelectrical study of PVA/iron oxide nanocomposite films". Materialwissenschaft und Werkstofftechnik 55, nr 4 (kwiecień 2024): 455–65. http://dx.doi.org/10.1002/mawe.202300075.
Pełny tekst źródłaStefani, G. G., N. S. Goel i D. B. Jenks. "An Efficient Numerical Technique for Thermal Characterization of Printed Wiring Boards". Journal of Electronic Packaging 115, nr 4 (1.12.1993): 366–72. http://dx.doi.org/10.1115/1.2909345.
Pełny tekst źródłaDas, Rabindra, Steven Rosser i Frank Egitto. "Advanced Microelectronics Packaging Solutions for Miniaturized Medical Devices". Additional Conferences (Device Packaging, HiTEC, HiTEN, and CICMT) 2013, DPC (1.01.2013): 001963–76. http://dx.doi.org/10.4071/2013dpc-tha24.
Pełny tekst źródłaCruz-Quesada, Guillermo, Maialen Espinal-Viguri, María Victoria López-Ramón i Julián J. Garrido. "Novel Silica Hybrid Xerogels Prepared by Co-Condensation of TEOS and ClPhTEOS: A Chemical and Morphological Study". Gels 8, nr 10 (20.10.2022): 677. http://dx.doi.org/10.3390/gels8100677.
Pełny tekst źródłaAlves, L. C., V. Corregidor, T. Pinheiro i L. Ferreira. "Ion Beam Microscopy: a Tool for Materials". Microscopy and Microanalysis 19, S4 (sierpień 2013): 95–96. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927613001098.
Pełny tekst źródłaBennett, N. S., i N. E. B. Cowern. "Doping characterization for germanium-based microelectronics and photovoltaics using the differential Hall technique". Applied Physics Letters 100, nr 17 (23.04.2012): 172106. http://dx.doi.org/10.1063/1.4705293.
Pełny tekst źródłaMaraj, Mudassar, Ghulam Nabi, Khurram Usman, Engui Wang, Wenwang Wei, Yukun Wang i Wenhong Sun. "High Quality Growth of Cobalt Doped GaN Nanowires with Enhanced Ferromagnetic and Optical Response". Materials 13, nr 16 (11.08.2020): 3537. http://dx.doi.org/10.3390/ma13163537.
Pełny tekst źródłaPulici, Andrea, Stefano Kuschlan, Gabriele Seguini, Fabiana Taglietti, Marco Fanciulli, Riccardo Chiarcos, Michele Laus i Michele Perego. "Electrical Characterization of Ultra-Thin Silicon-on-Insulator Films Doped By Means of Phosphorus End-Terminated Polymers". ECS Meeting Abstracts MA2023-02, nr 30 (22.12.2023): 1552. http://dx.doi.org/10.1149/ma2023-02301552mtgabs.
Pełny tekst źródłaDittman, Timothy, David Ebner i Alex Bailey. "Design of Experiments Approach to Evaluating the Reliability of System-in-Package Assemblies". International Symposium on Microelectronics 2017, nr 1 (1.10.2017): 000619–23. http://dx.doi.org/10.4071/isom-2017-tha52_063.
Pełny tekst źródłaTuttle, Bruce A. "Electronic Ceramic Thin Films: Trends in Research and Development". MRS Bulletin 12, nr 7 (listopad 1987): 40–46. http://dx.doi.org/10.1557/s0883769400066938.
Pełny tekst źródłaLeofanti, G., G. Tozzola, M. Padovan, G. Petrini, S. Bordiga i A. Zecchina. "Catalyst characterization: characterization techniques". Catalysis Today 34, nr 3-4 (luty 1997): 307–27. http://dx.doi.org/10.1016/s0920-5861(96)00056-9.
Pełny tekst źródłaEckert, Hellmut, i Manfred Rühle. "Characterization techniques". Current Opinion in Solid State and Materials Science 5, nr 2-3 (kwiecień 2001): 193–94. http://dx.doi.org/10.1016/s1359-0286(01)00018-3.
Pełny tekst źródłaFischer, John E., i Hellmut Eckert. "Characterization techniques". Current Opinion in Solid State and Materials Science 1, nr 4 (sierpień 1996): 463–64. http://dx.doi.org/10.1016/s1359-0286(96)80059-3.
Pełny tekst źródłaEckert, Hellmut, i Manfred Rühle. "Characterization techniques". Current Opinion in Solid State and Materials Science 2, nr 4 (sierpień 1997): 463–64. http://dx.doi.org/10.1016/s1359-0286(97)80090-3.
Pełny tekst źródłaStern, Edward A., i Richard W. Siegel. "Characterization techniques". Current Opinion in Solid State and Materials Science 4, nr 4 (sierpień 1999): 321–23. http://dx.doi.org/10.1016/s1359-0286(99)00042-x.
Pełny tekst źródłaFournel, Frank, Loic Sanchez, Brigitte Montmayeul, Gaëlle Mauguen, Laurent Bally, Vincent Larrey, Christophe Morales i in. "(Invited) Optoelectronic and 3D Applications with Die to Wafer Direct Bonding: From Mechanisms to Applications". ECS Meeting Abstracts MA2022-02, nr 17 (9.10.2022): 853. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-0217853mtgabs.
Pełny tekst źródłaRogers, John A., Martin Fuchs, Matthew J. Banet, John B. Hanselman, Randy Logan i Keith A. Nelson. "Optical system for rapid materials characterization with the transient grating technique: Application to nondestructive evaluation of thin films used in microelectronics". Applied Physics Letters 71, nr 2 (14.07.1997): 225–27. http://dx.doi.org/10.1063/1.119506.
Pełny tekst źródła