Gotowa bibliografia na temat „Capacitors”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Spis treści
Zobacz listy aktualnych artykułów, książek, rozpraw, streszczeń i innych źródeł naukowych na temat „Capacitors”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Artykuły w czasopismach na temat "Capacitors"
Plesca, Adrian. "Considerations About Controlled Capacitors". Journal of Electrical Engineering 61, nr 3 (1.05.2010): 189–92. http://dx.doi.org/10.2478/v10187-010-0027-2.
Pełny tekst źródłaHardiyanto, Denny, Prabakti Endramawan, Ridho Nur Taufiqul Manan i Dyah Anggun Sartika. "Arduino Implementation for Development Digital Capacitance Meters as Laboratory Measurement Devices". SinkrOn 7, nr 3 (2.07.2022): 784–90. http://dx.doi.org/10.33395/sinkron.v7i3.11456.
Pełny tekst źródłaBărbulescu, Corneliu, Dadiana-Valeria Căiman i Toma-Leonida Dragomir. "Parameter Observer Useable for the Condition Monitoring of a Capacitor". Applied Sciences 12, nr 10 (12.05.2022): 4891. http://dx.doi.org/10.3390/app12104891.
Pełny tekst źródłaBarbulescu, Corneliu, i Toma-Leonida Dragomir. "Parameter estimation for a simplified model of an electrolytic capacitor in transient regimes". Journal of Physics: Conference Series 2090, nr 1 (1.11.2021): 012143. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/2090/1/012143.
Pełny tekst źródłaJeong, Sunwoo, Akeem Bayo Kareem, Sungwook Song i Jang-Wook Hur. "ANN-Based Reliability Enhancement of SMPS Aluminum Electrolytic Capacitors in Cold Environments". Energies 16, nr 16 (21.08.2023): 6096. http://dx.doi.org/10.3390/en16166096.
Pełny tekst źródłaButnicu, Dan. "A Derating-Sensitive Tantalum Polymer Capacitor’s Failure Rate within a DC-DC eGaN-FET-Based PoL Converter Workbench Study". Micromachines 14, nr 1 (15.01.2023): 221. http://dx.doi.org/10.3390/mi14010221.
Pełny tekst źródłaNaoi, K. "‘Nanohybrid Capacitor’: The Next Generation Electrochemical Capacitors". Fuel Cells 10, nr 5 (9.07.2010): 825–33. http://dx.doi.org/10.1002/fuce.201000041.
Pełny tekst źródłaANANDA MOHAN, P. V. "CAPACITOR FLOATATION SCHEME USING ONLY OTAs AND GROUNDED CAPACITORS". Journal of Circuits, Systems and Computers 05, nr 02 (czerwiec 1995): 181–97. http://dx.doi.org/10.1142/s021812669500014x.
Pełny tekst źródłaZhang, Xing Hai, Bo Wen Zhang, Wei Feng Han, Ji Xing Sun, Guang Ning Wu i Guo Qiang Gao. "Research on Overvoltage of Parallel Capacitors in 500kv Substation and its Protection Parameters". Applied Mechanics and Materials 303-306 (luty 2013): 1920–24. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.303-306.1920.
Pełny tekst źródłaDang, Hoang-Long, i Sangshin Kwak. "Review of Health Monitoring Techniques for Capacitors Used in Power Electronics Converters". Sensors 20, nr 13 (3.07.2020): 3740. http://dx.doi.org/10.3390/s20133740.
Pełny tekst źródłaRozprawy doktorskie na temat "Capacitors"
Wynne, Edward McFaddin. "Determination of the Shelf Life of Aluminum Electrolytic Capacitors". Thesis, University of North Texas, 2002. https://digital.library.unt.edu/ark:/67531/metadc3104/.
Pełny tekst źródłaBereza, Bill Carleton University Dissertation Engineering Electrical. "A switched-capacitor circuit technique used to measure capacitor mismatch and explore capacitor and opamp nonlinearity". Ottawa, 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaYang, Fan. "Characterization of HFO2 Capacitors". Fogler Library, University of Maine, 2003. http://www.library.umaine.edu/theses/pdf/YangF2003.pdf.
Pełny tekst źródłaCousins, Jesse. "Simulation of the Variability in Microelectronic Capacitors having Polycrystalline Dielectrics with Columnar Microstructure". Fogler Library, University of Maine, 2003. http://www.library.umaine.edu/theses/pdf/CousinsJL2003.pdf.
Pełny tekst źródłaDonahoe, Daniel Noel. "Moisture in multilayer ceramic capacitors". College Park, Md. : University of Maryland, 2005. http://hdl.handle.net/1903/2189.
Pełny tekst źródłaThesis research directed by: Mechanical Engineering. Title from t.p. of PDF. Includes bibliographical references. Published by UMI Dissertation Services, Ann Arbor, Mich. Also available in paper.
Larsson, Oscar. "Polyelectrolyte-Based Capacitors and Transistors". Doctoral thesis, Linköpings universitet, Institutionen för teknik och naturvetenskap, 2011. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-67852.
Pełny tekst źródłaWang, Tong. "Electrospun carbon nanofibers for electrochemical capacitor electrodes". Diss., Atlanta, Ga. : Georgia Institute of Technology, 2007. http://hdl.handle.net/1853/22563.
Pełny tekst źródłaCommittee Chair: Satish Kumar; Committee Member: Anselm Griffin; Committee Member: John D. Muzzy; Committee Member: Ravi Bellamkonda; Committee Member: Rina Tannenbaum.
Muthana, Prathap. "Design of high speed packages and boards using embedded decoupling capacitors". Diss., Available online, Georgia Institute of Technology, 2007, 2007. http://etd.gatech.edu/theses/available/etd-05102007-121240/.
Pełny tekst źródłaProf Madhavan Swaminathan, Committee Chair ; Prof Rao Tummala, Committee Co-Chair ; Prof David Keezer, Committee Member ; Dr. Mahadevan Iyer, Committee Member ; Prof Suresh Sitaraman, Committee Member ; Prof William A. Doolittle, Committee Member.
Száraz, Ildikó. "Chemical reactions in aluminium electrolytic capacitors /". Luleå, 2003. http://epubl.luth.se/1402-1544/2003/05.
Pełny tekst źródłaKrause, Andreas. "Ultrathin CaTiO3 Capacitors: Physics and Application". Doctoral thesis, Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden, 2014. http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-144522.
Pełny tekst źródłaDie Verkleinerung von elektronischen Bauelementen hin zu nanometerkleinen Strukturen beschreibt die unglaubliche Entwicklung der Computertechnologie in den letzten Jahrzehnten. In Ladungsspeicherkondensatoren, den größten Komponenten in Arbeitsspeichern, wurden dafür Dielektrika benötigt, die eine deutlich höhere Permittivität als SiO2 besitzen. ZrO2 wurde als geeignetes Dielektrikum eingeführt, um eine ausreichende Kapazität bei kleiner werdenen Strukturen sicherzustellen. Zur weiteren Verbesserung der Kapazitätsdichte pro Zellfläche konnten 3D Strukturen in die Chipherstellung integriert werden. Seit den 1990ern wurden parallel bedeutende Anstrengungen unternommen, um ZrO2 als Dielektrikum durch Materialien mit noch höherer Permittivität zu ersetzen. Nach Berechnungen stellt nun CaTiO3 eine mögliche Alternative dar, die eine weitere Verbesserung der Kapazität ermöglicht. Das Material besitzt eine deutlich höhere Permittivität und eine ausreichend große Bandlücke. Diese Arbeit beschäftigt sich deshalb mit Herstellung und detaillierter physikalischer und elektrischer Charakterisierung von extrem dünnen CaTiO3 Schichten. Zusätzlich wurden diverse Elektroden bezüglich ihrer Temperaturstabilität und der chemischen Stabilität untersucht, um kristallines CaTiO3 zu herhalten. Als eine optimale Elektrode stellte sich Pt auf TiN heraus. Physikalische Experimente an extrem dünnen CaTiO3 Schichten bestätigen die Bandlücke von 4,0-4,2 eV. Wachstumsuntersuchungen an kristallinem CaTiO3 zeigen eine Reduktion der Kristallisationstemperatur von 640°C auf SiO2 zu 550°C auf Pt. Diese Reduktion wurde detailliert mittels Transmissionselektronenmikroskopie untersucht. Es konnte für einige Schichten ein partielles lokales epitaktischesWachstum von (111) CaTiO3 auf (111) Pt gemessen werden. Dieses Vorzugswachstum ist vorteilhaft für die elektrischen Eigenschaften durch eine gesteigerte Permittivität von 55 bei gleichzeitig geringem Leckstrom vergleichbar zu amorphen Schichten. Eine genaue elektrische Analyse von Kondensatoren mit amorphen und kristallinem CaTiO3 ergibt eine Permittivität von 30 für amorphe und bis zu 105 für kristalline CaTiO3 Schichten. Die Permittivität zeigt eine quadratische Abhängigheit von der angelegten Spannung. Kristallines CaTiO3 zeigt einen 1-3% Abfall der Permittivität bei 1V, der wesentlich geringer ausfällt als vergleichbare Werte für SrTiO3. Eine zu SiO2 vergleichbare Schichtdicke (CET) von unter 1,0 nm mit Stromdichten von 1×10−8 A/cm2 wurde auf Kohlenstoffsubstraten erreicht. Mit Werten von 0,5 nm bei Leckstromdichten von 1×10−7 A/cm2 auf Pt/TiN Elektroden erfüllen die CaTiO3 Kondensatoren die Anforderungen der ITRS Strategiepläne für Arbeitsspeicher ab 2016
Książki na temat "Capacitors"
Malison, Andrew F. Capacitors. Washington, DC: Office of Industries, U.S. International Trade Commission, 1994.
Znajdź pełny tekst źródłaSchulz, Alexander L. Capacitors: Theory, types, and applications. Hauppauge, N.Y: Nova Science Publishers, 2009.
Znajdź pełny tekst źródłaComponents, Philips. Electrolytic capacitors: Data handbook. London: Philips Components, 1994.
Znajdź pełny tekst źródłaComponents, Philips. Film capacitors: Data handbook. London: Philips Components, 1993.
Znajdź pełny tekst źródłaComponents, Philips. Variable capacitors: Data handbook. London: Philips Components, 1993.
Znajdź pełny tekst źródłaDenson, William K. Reliable application of capacitors. Rome, NY (201 Mill St., Rome 13440-6916): The Center, 1996.
Znajdź pełny tekst źródłaComponents, Philips. Ceramic capacitors: Data handbook. London: Philips Components, 1993.
Znajdź pełny tekst źródłaIEEE Power Engineering Society. Transmission and Distribution Committee. i Insitute of Electrical and Electronics Engineers., red. IEEE guide for application of shunt power capacitors. New York: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1993.
Znajdź pełny tekst źródłaKaiser, Cletus J. The capacitor handbook. New York: Van Nostrand Reinhold, 1993.
Znajdź pełny tekst źródłaKaiser, Cletus J. The capacitor handbook. Wyd. 2. Olathe, KS: CJ Pub., 1995.
Znajdź pełny tekst źródłaCzęści książek na temat "Capacitors"
Morris, Noel M. "Capacitors and capacitor circuits". W Mastering Electronic and Electrical Calculations, 86–107. London: Macmillan Education UK, 1996. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-349-13705-3_5.
Pełny tekst źródłaBartlett, Jonathan. "Capacitors". W Electronics for Beginners, 235–53. Berkeley, CA: Apress, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4842-5979-5_16.
Pełny tekst źródłaMay, Colin. "Capacitors". W Passive Circuit Analysis with LTspice®, 261–312. Cham: Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-38304-6_7.
Pełny tekst źródłaBarnes, John R. "Capacitors". W Robust Electronic Design Reference Book, 86–125. New York, NY: Springer US, 2004. http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-7830-7_8.
Pełny tekst źródłaPowell, Richard F. "Capacitors". W Testing Active and Passive Electronic Components, 21–43. Boca Raton: Routledge, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9780203737255-3.
Pełny tekst źródłaBreithaupt, Jim. "Capacitors". W Physics, 204–17. London: Macmillan Education UK, 1999. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-349-14825-7_16.
Pełny tekst źródłaBhushan, Manjul, i Mark B. Ketchen. "Capacitors". W Microelectronic Test Structures for CMOS Technology, 107–38. New York, NY: Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9_4.
Pełny tekst źródłaWaygood, Adrian. "Capacitors". W An Introduction to Electrical Science, 245–50. Second edition. | Abingdon, Oxon; New York, NY: Routledge,: Routledge, 2018. http://dx.doi.org/10.1201/9781351190435-23.
Pełny tekst źródłaVoltmer, David. "Capacitors". W Fundamentals of Electromagnetics 1: Internal Behavior of Lumped Elements, 91–134. Cham: Springer International Publishing, 2007. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-79414-8_2.
Pełny tekst źródłaSayood, Khalid. "Capacitors". W Understanding Circuits, 53–66. Cham: Springer International Publishing, 2005. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-02016-2_4.
Pełny tekst źródłaStreszczenia konferencji na temat "Capacitors"
Nguyen, Dat T., i Frank Huang. "Stacked Polysilicon/Metal Capacitors Failure Analysis". W ISTFA 2005. ASM International, 2005. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2005p0262.
Pełny tekst źródłaShavezipur, Mohammad, Amir Khajepour i Seyed Mohammad Hashemi. "A Novel Highly Tunable Butterfly-Type MEMS Capacitor". W ASME 2007 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2007. http://dx.doi.org/10.1115/imece2007-42556.
Pełny tekst źródłaLiu, Yunting, i Fang Zheng Peng. "Real DC capacitor-less active capacitors". W 2017 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC). IEEE, 2017. http://dx.doi.org/10.1109/apec.2017.7930611.
Pełny tekst źródłaGupta, Anunay, Om Prakash Yadav, Arighna Roy, Douglas DeVoto i Joshua Major. "Degradation Modeling and Reliability Assessment of Capacitors". W ASME 2019 International Technical Conference and Exhibition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems. American Society of Mechanical Engineers, 2019. http://dx.doi.org/10.1115/ipack2019-6456.
Pełny tekst źródłaAllen, J. J., i R. C. Reuter. "Mechanical States in Wound Capacitors: Part II — Optimization". W ASME 1989 Design Technical Conferences. American Society of Mechanical Engineers, 1989. http://dx.doi.org/10.1115/detc1989-0120.
Pełny tekst źródłaPeters, A. "Power capacitors - new developments". W IEE Colloquium on Capacitors and Inductors for Power Electronics. IEE, 1996. http://dx.doi.org/10.1049/ic:19960346.
Pełny tekst źródłaKatsis, Dimosthenis C. "Performance and Reliability of High Energy Capacitors in Inverters and DC/DC Converters". W ASME 2009 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2009. http://dx.doi.org/10.1115/imece2009-12178.
Pełny tekst źródłaKoizumi, Katsuhiro, Masaru Ishizuka i Shinji Nakagawa. "Thermal Modeling of Snap-In Type Electrolytic Capacitors in Electronic Equipment". W ASME 2009 InterPACK Conference collocated with the ASME 2009 Summer Heat Transfer Conference and the ASME 2009 3rd International Conference on Energy Sustainability. ASMEDC, 2009. http://dx.doi.org/10.1115/interpack2009-89052.
Pełny tekst źródłaMahinay, Christopher S., Christian Reyes, Ricardo Calanog i Raymond Mendaros. "Intricacies in the Failure Analysis of Integrated Capacitors". W ISTFA 2023. ASM International, 2023. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2023p0045.
Pełny tekst źródłaPerez, Emeric, Yasser Moursy, Sami Oukassi i Gael Pillonnet. "Silicon Capacitors Opportunities for Switched Capacitor Converter". W 2022 IEEE 23rd Workshop on Control and Modeling for Power Electronics (COMPEL). IEEE, 2022. http://dx.doi.org/10.1109/compel53829.2022.9829949.
Pełny tekst źródłaRaporty organizacyjne na temat "Capacitors"
Renk, Timothy Jerome, i Todd C. Monson. Ultra-thin multilayer capacitors. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), czerwiec 2009. http://dx.doi.org/10.2172/973850.
Pełny tekst źródłaYushin, Gleb. High Power Electrochemical Capacitors. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, marzec 2012. http://dx.doi.org/10.21236/ada567578.
Pełny tekst źródłaGENERAL ATOMICS SAN DIEGO CA. High Energy Density Cryogenic Capacitors. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, lipiec 2006. http://dx.doi.org/10.21236/ada454866.
Pełny tekst źródłaWelsch, Gerhard. Titanate Capacitors for Power Electronics. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), listopad 2019. http://dx.doi.org/10.2172/1580082.
Pełny tekst źródłaK. Xu, S. P. Ding i T. R. Jow. Nonaqueous Electrolyte Development for Electrochemical Capacitors. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), wrzesień 1999. http://dx.doi.org/10.2172/15050.
Pełny tekst źródłaBoufelfel, Ali. High Energy Density Polymer Film Capacitors. Fort Belvoir, VA: Defense Technical Information Center, październik 2006. http://dx.doi.org/10.21236/ada459821.
Pełny tekst źródłaClark, D. Low Temperature Effects: Surface Mount Capacitors. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), sierpień 1992. http://dx.doi.org/10.2172/1031795.
Pełny tekst źródłaWright, R. B., i T. C. Murphy. Evaluation of SAFT America, Inc. electrochemical capacitors. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), grudzień 1997. http://dx.doi.org/10.2172/573327.
Pełny tekst źródłaSeiber, Larry Eugene, Joseph Philip Cunningham, Steve S. Golik i Gary Armstrong. Evaluation and Characterization of Magnets and Capacitors. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), październik 2006. http://dx.doi.org/10.2172/974615.
Pełny tekst źródłaSeiber, L. E., J. P. Cunningham, S. S. Golik i G. Armstrong. Evaluation and Characterization of Magnets and Capacitors. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), październik 2006. http://dx.doi.org/10.2172/947390.
Pełny tekst źródła