Gotowe bibliografie tematyczne / Atomic force microscopy- Nanomaterials / Książki
Kliknij ten link, aby zobaczyć inne rodzaje publikacji na ten temat: Atomic force microscopy- Nanomaterials.

Książki na temat „Atomic force microscopy- Nanomaterials”

Autor: Grafiati
Data publikacji: 6 września 2023

Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych

Wybierz rodzaj źródła:

Sprawdź 50 najlepszych książek naukowych na temat „Atomic force microscopy- Nanomaterials”.

Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.

Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.

Przeglądaj książki z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.

1

Braga, Pier Carlo, i Davide Ricci. Atomic Force Microscopy. New Jersey: Humana Press, 2003. http://dx.doi.org/10.1385/1592596479.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
2

Ahmed, Touhami. Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-02385-9.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
3

Santos, Nuno C., i Filomena A. Carvalho, red. Atomic Force Microscopy. New York, NY: Springer New York, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-8894-5.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
4

Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy. Hoboken, NJ, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9781118360668.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
5

Voigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-13654-3.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
6

Paul, West, red. Atomic force microscopy. Oxford: Oxford University Press, 2010.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
7

Lanza, Mario, red. Conductive Atomic Force Microscopy. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2017. http://dx.doi.org/10.1002/9783527699773.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
8

Morita, S., R. Wiesendanger i E. Meyer, red. Noncontact Atomic Force Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2002. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-56019-4.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
9

Morita, Seizo, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer i Roland Wiesendanger, red. Noncontact Atomic Force Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-15588-3.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
10

Morita, Seizo, Franz J. Giessibl i Roland Wiesendanger, red. Noncontact Atomic Force Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2009. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-01495-6.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
11

Morita, S. Noncontact Atomic Force Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2002.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
12

Cohen, Samuel H., Mona T. Bray i Marcia L. Lightbody, red. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Boston, MA: Springer US, 1994. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-9322-2.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
13

H, Cohen Samuel, Bray Mona T, Lightbody Marcia L i U.S. Army Natick Research, Development, and Engineering Center Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium (1st : 1993 : Natick, Mass.), red. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy. New York: Plenum Press, 1994.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
14

H, Cohen Samuel, Lightbody Marcia L i U.S. Army Soldier Systems Command, Natick Research, Development, and Engineering Center Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium (2nd : 1994 : Natick, Mass.), red. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 2. New York: Plenum Press, 1997.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
15

Cohen, Samuel H., i Marcia L. Lightbody, red. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2. Boston, MA: Springer US, 1997. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-9325-3.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
16

Cohen, Samuel H., i Marcia L. Lightbody, red. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3. Boston, MA: Springer US, 2002. http://dx.doi.org/10.1007/b118422.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
17

H, Cohen Samuel, Lightbody Marcia L, Foundation for Advances in Medicine and Science. i Symposium on Atomic Force/Scanning Tunneling Microscopy (3rd : 1998 : Baltimore, Md.), red. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3. New York: Kluwer Academic/Plenum Publishers, 1999.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
18

García, Ricardo. Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2010. http://dx.doi.org/10.1002/9783527632183.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
19

Xie, Hui, Cagdas Onal, Stéphane Régnier i Metin Sitti. Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-20329-9.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
20

Baró, Arturo M., i Ronald G. Reifenberger, red. Atomic Force Microscopy in Liquid. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9783527649808.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
21

R, Kirby A., i Gunning A. P, red. Atomic force microscopy for biologists. Wyd. 2. London: Imperial College Press, 2010.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
22

García, Ricardo Castro. Amplitude modulation atomic force microscopy. Weinheim: Wiley-VCH, 2010.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
23

Shen, Cai. Atomic Force Microscopy for Energy Research. Boca Raton: CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9781003174042.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
24

Celano, Umberto, red. Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics. Cham: Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-15612-1.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
25

Braga, Pier Carlo, i Davide Ricci, red. Atomic Force Microscopy in Biomedical Research. Totowa, NJ: Humana Press, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-61779-105-5.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
26

Molecular manipulation with atomic force microscopy. Boca Raton: CRC Press, 2011.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
27

J, Drelich, i Mittal K. L. 1945-, red. Atomic force microscopy in adhesion studies. Utrecht: VSP, 2005.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
28

Ando, Toshio. High-Speed Atomic Force Microscopy in Biology. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2022. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-64785-1.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
29

Lanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2017.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
30

Lanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley & Sons, Limited, John, 2017.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
31

Lanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2017.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
32

Lanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2017.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
33

Lanza, Mario. Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials. Wiley-VCH Verlag GmbH, 2017.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
34

Sanders, Wesley C. Atomic Force Microscopy. CRC Press, 2019. http://dx.doi.org/10.1201/9780429266553.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
35

Voigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Springer, 2019.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
36

Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2012.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
37

Vance, Armand. Atomic Force Microscopy. Scitus Academics LLC, 2016.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
38

Paul, West. Atomic Force Microscopy. Oxford University Press, 2010.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
39

Voigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Springer International Publishing AG, 2020.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
40

Sanders, Wesley C. Atomic Force Microscopy. Taylor & Francis Group, 2019.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
41

Paul, West. Atomic Force Microscopy. Oxford University Press, 2018.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
42

Atomic Force Microscopy. Taylor & Francis Group, 2019.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
43

Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2002.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
44

Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2012.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
45

Wiesendanger, Roland, E. Meyer i S. Morita. Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2012.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
46

Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, 2009.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
47

Cohen, Samuel H., Marcia L. Lightbody i M. T. Bray. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer, 2013.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
48

Cohen, Samuel H., Marcia L. Lightbody i M. T. Bray. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer, 2013.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
49

(Editor), M. T. Bray, Samuel H. Cohen (Editor) i Marcia L. Lightbody (Editor), red. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer, 1995.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
50

Cohen, Samuel H., i Marcia L. Lightbody. Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3. Springer London, Limited, 2007.

Znajdź pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
Możesz być także zainteresowany bibliografiami na temat „Atomic force microscopy- Nanomaterials” dla innych typów źródeł:
Artykuły w czasopismach Rozprawy doktorskie
Oferujemy zniżki na wszystkie plany premium dla autorów, których prace zostały uwzględnione w tematycznych zestawieniach literatury. Skontaktuj się z nami, aby uzyskać unikalny kod promocyjny!

Do bibliografii