Artykuły w czasopismach na temat „Atom probe tomograpghy”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „Atom probe tomograpghy”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Miller, M. K. "Atom Probe Tomography: A Tutorial". Microscopy and Microanalysis 6, S2 (sierpień 2000): 1188–89. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600038435.
Pełny tekst źródłaChiaramonti, Ann N., Luis Miaja-Avila, Paul T. Blanchard, David R. Diercks, Brian P. Gorman i Norman A. Sanford. "A Three-Dimensional Atom Probe Microscope Incorporating a Wavelength-Tuneable Femtosecond-Pulsed Coherent Extreme Ultraviolet Light Source". MRS Advances 4, nr 44-45 (2019): 2367–75. http://dx.doi.org/10.1557/adv.2019.296.
Pełny tekst źródłaTakahashi, Jun, Kazuto Kawakami i Yukiko Kobayashi. "Study on Quantitative Analysis of Carbon and Nitrogen in Stoichiometric θ-Fe3C and γ′-Fe4N by Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 26, nr 2 (5.03.2020): 185–93. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927620000045.
Pełny tekst źródłaMiller, M. K. "Atom Probe Tomography Of Interfaces". Microscopy and Microanalysis 5, S2 (sierpień 1999): 118–19. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760001391x.
Pełny tekst źródłaFelfer, P., L. T. Stephenson i T. Li. "Atom Probe Tomography". Practical Metallography 55, nr 8 (16.08.2018): 515–26. http://dx.doi.org/10.3139/147.110543.
Pełny tekst źródłaKelly, Thomas F., i Michael K. Miller. "Atom probe tomography". Review of Scientific Instruments 78, nr 3 (marzec 2007): 031101. http://dx.doi.org/10.1063/1.2709758.
Pełny tekst źródłaMiller, M. K., i R. G. Forbes. "Atom probe tomography". Materials Characterization 60, nr 6 (czerwiec 2009): 461–69. http://dx.doi.org/10.1016/j.matchar.2009.02.007.
Pełny tekst źródłaKim, Se-Ho, Ji Yeong Lee, Jae-Pyoung Ahn i Pyuck-Pa Choi. "Fabrication of Atom Probe Tomography Specimens from Nanoparticles Using a Fusible Bi–In–Sn Alloy as an Embedding Medium". Microscopy and Microanalysis 25, nr 2 (4.02.2019): 438–46. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927618015556.
Pełny tekst źródłaKelly, Thomas F., i David J. Larson. "Atom Probe Tomography 2012". Annual Review of Materials Research 42, nr 1 (4.08.2012): 1–31. http://dx.doi.org/10.1146/annurev-matsci-070511-155007.
Pełny tekst źródłaCerezo, Alfred, Peter H. Clifton, Mark J. Galtrey, Colin J. Humphreys, Thomas F. Kelly, David J. Larson, Sergio Lozano-Perez i in. "Atom probe tomography today". Materials Today 10, nr 12 (grudzień 2007): 36–42. http://dx.doi.org/10.1016/s1369-7021(07)70306-1.
Pełny tekst źródłaMiller, Michael K. "Atom Probe Tomography and the Local Electrode Atom Probe". Microscopy and Microanalysis 10, S02 (sierpień 2004): 150–51. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927604881157.
Pełny tekst źródłaSeidman, David N., i Krystyna Stiller. "An Atom-Probe Tomography Primer". MRS Bulletin 34, nr 10 (październik 2009): 717–24. http://dx.doi.org/10.1557/mrs2009.194.
Pełny tekst źródłaGeiser, Brian P., Thomas F. Kelly, David J. Larson, Jason Schneir i Jay P. Roberts. "Spatial Distribution Maps for Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 13, nr 6 (14.11.2007): 437–47. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927607070948.
Pełny tekst źródłaKasian, Olga, Simon Geiger, Tong Li, Jan-Philipp Grote, Kevin Schweinar, Siyuan Zhang, Christina Scheu i in. "Degradation of iridium oxides via oxygen evolution from the lattice: correlating atomic scale structure with reaction mechanisms". Energy & Environmental Science 12, nr 12 (2019): 3548–55. http://dx.doi.org/10.1039/c9ee01872g.
Pełny tekst źródłaHan, Bin, Jie Wei, Feng He, Da Chen, Zhi Wang, Alice Hu, Wenzhong Zhou i Ji Kai. "Elemental Phase Partitioning in the γ-γ″ Ni2CoFeCrNb0.15 High Entropy Alloy". Entropy 20, nr 12 (28.11.2018): 910. http://dx.doi.org/10.3390/e20120910.
Pełny tekst źródłavan Vreeswijk, S. H., M. Monai, R. Oord, J. E. Schmidt, E. T. C. Vogt, J. D. Poplawsky i B. M. Weckhuysen. "Nano-scale insights regarding coke formation in zeolite SSZ-13 subject to the methanol-to-hydrocarbons reaction". Catalysis Science & Technology 12, nr 4 (2022): 1220–28. http://dx.doi.org/10.1039/d1cy01938d.
Pełny tekst źródłaLarson, David, Dan Lenz, Isabelle Martin, Ty Prosa, David Reinhard, Peter Clifton, Brian Geiser, Robert Ulfig i Joe Bunton. "Directions in Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 27, S1 (30.07.2021): 2464–66. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927621008801.
Pełny tekst źródłaBlavette, Didier, i Sébastien Duguay. "Atom probe tomography in nanoelectronics". European Physical Journal Applied Physics 68, nr 1 (26.09.2014): 10101. http://dx.doi.org/10.1051/epjap/2014140060.
Pełny tekst źródłaReinhard, D. A., T. R. Payne, E. M. Strennen, E. Oltman, B. P. Geiser, G. S. Sobering, D. R. Lenz i in. "Atom Probe Tomography Productivity Enhancements". Microscopy and Microanalysis 25, S2 (sierpień 2019): 522–23. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927619003349.
Pełny tekst źródłaGault, Baptiste, i David J. Larson. "Atom probe tomography: Looking forward". Scripta Materialia 148 (kwiecień 2018): 73–74. http://dx.doi.org/10.1016/j.scriptamat.2017.11.009.
Pełny tekst źródłaParman, S. W., D. R. Diercks, B. P. Gorman i R. F. Cooper. "Atom probe tomography of isoferroplatinum". American Mineralogist 100, nr 4 (1.04.2015): 852–60. http://dx.doi.org/10.2138/am-2015-4998.
Pełny tekst źródłaGnaser, Hubert. "Atom probe tomography of nanostructures". Surface and Interface Analysis 46, S1 (15.04.2014): 383–88. http://dx.doi.org/10.1002/sia.5507.
Pełny tekst źródłaGault, Baptiste, Michael P. Moody, Frederic De Geuser, Alex La Fontaine, Leigh T. Stephenson, Daniel Haley i Simon P. Ringer. "Spatial Resolution in Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 16, nr 1 (18.01.2010): 99–110. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927609991267.
Pełny tekst źródłaArslan, I., EA Marquis, M. Homer, MA Hekmaty i NC Bartelt. "Correlating Electron Tomography and Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 14, S2 (sierpień 2008): 1044–45. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927608087746.
Pełny tekst źródłaMoody, Michael P., Baptiste Gault, Leigh T. Stephenson, Ross K. W. Marceau, Rebecca C. Powles, Anna V. Ceguerra, Andrew J. Breen i Simon P. Ringer. "Lattice Rectification in Atom Probe Tomography: Toward True Three-Dimensional Atomic Microscopy". Microscopy and Microanalysis 17, nr 2 (8.03.2011): 226–39. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927610094535.
Pełny tekst źródłaRolland, Nicolas, François Vurpillot, Sébastien Duguay i Didier Blavette. "A Meshless Algorithm to Model Field Evaporation in Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 21, nr 6 (9.11.2015): 1649–56. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927615015184.
Pełny tekst źródłaXiong, Xiangyuan, i Matthew Weyland. "Microstructural Characterization of an Al-Li-Mg-Cu Alloy by Correlative Electron Tomography and Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 20, nr 4 (12.05.2014): 1022–28. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927614000798.
Pełny tekst źródłaSeidman, David N. "Perspective: From field-ion microscopy of single atoms to atom-probe tomography: A journey: “Atom-probe tomography” [Rev. Sci. Instrum. 78, 031101 (2007)]". Review of Scientific Instruments 78, nr 3 (marzec 2007): 030901. http://dx.doi.org/10.1063/1.2716503.
Pełny tekst źródłaLa Fontaine, Alexandre, Sandra Piazolo, Patrick Trimby, Limei Yang i Julie M. Cairney. "Laser-Assisted Atom Probe Tomography of Deformed Minerals: A Zircon Case Study". Microscopy and Microanalysis 23, nr 2 (30.01.2017): 404–13. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927616012745.
Pełny tekst źródłaVorlaufer, Nora, Jan Josten, Chandra Macauley, Nemanja Martić, Andreas Hutzler, Nicola Taccardi, Karl Mayrhofer i Peter Felfer. "Atom Probe Tomography of Catalyst Nanoparticles". Microscopy and Microanalysis 28, S1 (22.07.2022): 742–43. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927622003427.
Pełny tekst źródłaHono, Kazuhiro, Dierk Raabe, Simon P. Ringer i David N. Seidman. "Atom probe tomography of metallic nanostructures". MRS Bulletin 41, nr 1 (styczeń 2016): 23–29. http://dx.doi.org/10.1557/mrs.2015.314.
Pełny tekst źródłaKelly, Thomas F., David J. Larson, Keith Thompson, Roger L. Alvis, Joseph H. Bunton, Jesse D. Olson i Brian P. Gorman. "Atom Probe Tomography of Electronic Materials". Annual Review of Materials Research 37, nr 1 (sierpień 2007): 681–727. http://dx.doi.org/10.1146/annurev.matsci.37.052506.084239.
Pełny tekst źródłaGault, Baptiste, Shyeh Tjing Loi, Vicente J. Araullo-Peters, Leigh T. Stephenson, Michael P. Moody, Sachin L. Shrestha, Ross K. W. Marceau, Lan Yao, Julie M. Cairney i Simon P. Ringer. "Dynamic reconstruction for atom probe tomography". Ultramicroscopy 111, nr 11 (listopad 2011): 1619–24. http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2011.08.005.
Pełny tekst źródłaVurpillot, F., i C. Oberdorfer. "Modeling Atom Probe Tomography: A review". Ultramicroscopy 159 (grudzień 2015): 202–16. http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2014.12.013.
Pełny tekst źródłaGeiser, BP, DA Reinhard, JH Bunton, TR Payne, KP Rice, Y. Chen i DJ Larson. "Reconstruction Metrics in Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 25, S2 (sierpień 2019): 336–37. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927619002411.
Pełny tekst źródłaMiller, Michael K., Thomas F. Kelly, Krishna Rajan i Simon P. Ringer. "The future of atom probe tomography". Materials Today 15, nr 4 (kwiecień 2012): 158–65. http://dx.doi.org/10.1016/s1369-7021(12)70069-x.
Pełny tekst źródłaLarson, D. J., D. A. Reinhard, T. J. Prosa, D. Olson, D. Lawrence, P. H. Clifton, R. M. Ulfig i in. "New Applications in Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 18, S2 (lipiec 2012): 926–27. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927612006484.
Pełny tekst źródłaLarson, D. J., J. W. Valley, T. Ushikubo, M. K. Miller, H. Takamizawa, Y. Shimizu, L. M. Gordon i in. "New Applications in Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 19, S2 (sierpień 2013): 1022–23. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927613007101.
Pełny tekst źródłaHeck, Philipp R., Dieter Isheim, Michael J. Pellin, Andrew M. Davis, Anirudha V. Sumant, Orlando Auciello, Jeffrey W. Elam i in. "Atom-Probe Tomography of Meteoritic Nanodiamonds." Microscopy and Microanalysis 20, S3 (sierpień 2014): 1676–77. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927614010113.
Pełny tekst źródłaMiller, M. K. "An Introduction to Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 9, S02 (sierpień 2003): 1558–59. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760344779x.
Pełny tekst źródłaStiller, K., L. Viskari, G. Sundell, F. Liu, M. Thuvander, H. O. Andrén, D. J. Larson, T. Prosa i D. Reinhard. "Atom Probe Tomography of Oxide Scales". Oxidation of Metals 79, nr 3-4 (21.12.2012): 227–38. http://dx.doi.org/10.1007/s11085-012-9330-6.
Pełny tekst źródłaRigutti, L., B. Bonef, J. Speck, F. Tang i R. A. Oliver. "Atom probe tomography of nitride semiconductors". Scripta Materialia 148 (kwiecień 2018): 75–81. http://dx.doi.org/10.1016/j.scriptamat.2016.12.034.
Pełny tekst źródłaRice, Katherine, Yimeng Chen, Robert Ulfig i Tsuyoshi Onishi. "Fixturing Options for Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 26, S2 (30.07.2020): 2710–11. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927620022515.
Pełny tekst źródłaMangelinck, D., F. Panciera, K. Hoummada, M. El Kousseifi, C. Perrin, M. Descoins i A. Portavoce. "Atom probe tomography for advanced metallization". Microelectronic Engineering 120 (maj 2014): 19–33. http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2013.12.018.
Pełny tekst źródłaKhan, Mansoor Ali, Simon P. Ringer i Rongkun Zheng. "Atom Probe Tomography on Semiconductor Devices". Advanced Materials Interfaces 3, nr 12 (6.04.2016): 1500713. http://dx.doi.org/10.1002/admi.201500713.
Pełny tekst źródłaFelfer, Peter J., Baptiste Gault, Gang Sha, Leigh Stephenson, Simon P. Ringer i Julie M. Cairney. "A New Approach to the Determination of Concentration Profiles in Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 18, nr 2 (3.02.2012): 359–64. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927611012530.
Pełny tekst źródłaVurpillot, Francois, Constantinos Hatzoglou, Bertrand Radiguet, Gerald Da Costa, Fabien Delaroche i Frederic Danoix. "Enhancing Element Identification by Expectation–Maximization Method in Atom Probe Tomography". Microscopy and Microanalysis 25, nr 2 (28.02.2019): 367–77. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927619000138.
Pełny tekst źródłaKelly, Thomas F., Keith Thompson, Emmanuelle A. Marquis i David J. Larson. "Atom Probe Tomography Defines Mainstream Microscopy at the Atomic Scale". Microscopy Today 14, nr 4 (lipiec 2006): 34–41. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500050264.
Pełny tekst źródłaSchmitz, Guido, Constantin Ene, Ch Lang i Vitaliy Vovk. "Atom Probe Tomography: Studying Reactions on Top of the Tip". Advances in Science and Technology 46 (październik 2006): 126–35. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ast.46.126.
Pełny tekst źródłaOberdorfer, C., T. Withrow, L. J. Yu, K. Fisher, E. A. Marquis i W. Windl. "Influence of surface relaxation on solute atoms positioning within atom probe tomography reconstructions". Materials Characterization 146 (grudzień 2018): 324–35. http://dx.doi.org/10.1016/j.matchar.2018.05.014.
Pełny tekst źródła