Artykuły w czasopismach na temat „AFM cantilever”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „AFM cantilever”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Dannberg, Oliver, i Thomas Fröhlich. "Steifigkeitsmessungen von AFM-Cantilevern". tm - Technisches Messen 88, s1 (24.08.2021): s3—s7. http://dx.doi.org/10.1515/teme-2021-0046.
Pełny tekst źródłaSlattery, Ashley D., Adam J. Blanch, Cameron J. Shearer, Andrew J. Stapleton, Renee V. Goreham, Sarah L. Harmer, Jamie S. Quinton i Christopher T. Gibson. "Characterisation of the Material and Mechanical Properties of Atomic Force Microscope Cantilevers with a Plan-View Trapezoidal Geometry". Applied Sciences 9, nr 13 (27.06.2019): 2604. http://dx.doi.org/10.3390/app9132604.
Pełny tekst źródłaZhao, Yu Wen, Yun Peng Song, Sen Wu i Xing Fu. "Accurate and Traceable Calibration of the Stiffness of Various AFM Cantilevers". Key Engineering Materials 645-646 (maj 2015): 817–23. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.645-646.817.
Pełny tekst źródłaCho, Ki Ho, Hak Joo Lee, Jae Hyun Kim, Jong Man Kim, Yong Kweon Kim i Chang Wook Baek. "A Study of Nano-Indentation Test Using Rhombus-Shaped Cantilever in Atomic Force Microscope". Key Engineering Materials 326-328 (grudzień 2006): 207–10. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.326-328.207.
Pełny tekst źródłaDat, Le Tri, Ho Thanh Huy i Nguyen Duy Vy. "A Theoretical Study of Deflection of AFM Bimaterial Cantilevers Versus Irradiated Position". Communications in Physics 28, nr 3 (14.11.2018): 255. http://dx.doi.org/10.15625/0868-3166/28/3/12673.
Pełny tekst źródłaBoubekri, Rachida, Edmond Cambril, L. Couraud, Lorenzo Bernardi, Ali Madouri, David Martrou i Sébastien Gauthier. "High Frequency 3C-SiC AFM Cantilever Using Thermal Actuation and Metallic Piezoresistive Detection". Materials Science Forum 711 (styczeń 2012): 80–83. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.711.80.
Pełny tekst źródłaMordue, Christopher W., Jonathan M. R. Weaver i Phillip S. Dobson. "Thermal induced deflection in atomic force microscopy cantilevers: analysis & solution". Measurement Science and Technology 34, nr 12 (25.08.2023): 125013. http://dx.doi.org/10.1088/1361-6501/acf061.
Pełny tekst źródłaDamircheli, Mehrnoosh, i Babak Eslami. "Design of V-shaped cantilevers for enhanced multifrequency AFM measurements". Beilstein Journal of Nanotechnology 11 (6.10.2020): 1525–41. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.11.135.
Pełny tekst źródłaLiu, Hao, Zuned Ahmed, Sasa Vranjkovic, Manfred Parschau, Andrada-Oana Mandru i Hans J. Hug. "A cantilever-based, ultrahigh-vacuum, low-temperature scanning probe instrument for multidimensional scanning force microscopy". Beilstein Journal of Nanotechnology 13 (11.10.2022): 1120–40. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.13.95.
Pełny tekst źródłaYeh, Meng Kao, Bo Yi Chen, Nyan Hwa Tai i Chien Chao Chiu. "Force Measurement by AFM Cantilever with Different Coating Layers". Key Engineering Materials 326-328 (grudzień 2006): 377–80. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.326-328.377.
Pełny tekst źródłaKWEON, HYUNKYU, i KIHO NAM. "MEASUREMENT OF AFM CANTILEVER SPRING CONSTANT BY USING THE SURFACE PROFILE". International Journal of Modern Physics B 24, nr 18 (20.07.2010): 3597–606. http://dx.doi.org/10.1142/s0217979210054865.
Pełny tekst źródłaMoore, Steven Ian, Michael G. Ruppert i Yuen Kuan Yong. "Multimodal cantilevers with novel piezoelectric layer topology for sensitivity enhancement". Beilstein Journal of Nanotechnology 8 (6.02.2017): 358–71. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.8.38.
Pełny tekst źródłaKorayem, M. H., M. Taheri i S. D. Ghahnaviyeh. "Sobol method application in dimensional sensitivity analyses of different AFM cantilevers for biological particles". Modern Physics Letters B 29, nr 22 (20.08.2015): 1550123. http://dx.doi.org/10.1142/s0217984915501237.
Pełny tekst źródłaAgeev, Oleg A., Oleg I. Ilin, Alexei S. Kolomiytsev, Sergey A. Lisitsyn, Vladimir A. Smirnov i Evgeny G. Zamburg. "Formation of High Aspect Ratio Nanostructures Using Focused Ion Beam Induced Deposition of Carbon". Applied Mechanics and Materials 752-753 (kwiecień 2015): 154–58. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.752-753.154.
Pełny tekst źródłaMishra, Rohit, Wilfried Grange i Martin Hegner. "Rapid and Reliable Calibration of Laser Beam Deflection System for Microcantilever-Based Sensor Setups". Journal of Sensors 2012 (2012): 1–6. http://dx.doi.org/10.1155/2012/617386.
Pełny tekst źródłaDzedzickis, Andrius, Justė Rožėnė, Vytautas Bučinskas, Darius Viržonis i Inga Morkvėnaitė-Vilkončienė. "Characteristics and Functionality of Cantilevers and Scanners in Atomic Force Microscopy". Materials 16, nr 19 (24.09.2023): 6379. http://dx.doi.org/10.3390/ma16196379.
Pełny tekst źródłaLiang, Li-Na, Liao-Liang Ke, Yue-Sheng Wang, Jie Yang i Sritawat Kitipornchai. "Flexural Vibration of an Atomic Force Microscope Cantilever Based on Modified Couple Stress Theory". International Journal of Structural Stability and Dynamics 15, nr 07 (31.08.2015): 1540025. http://dx.doi.org/10.1142/s0219455415400258.
Pełny tekst źródłaGhatkesar, Murali Krishna, Hector Hugo Perez Garza i Urs Staufer. "Hollow AFM cantilever pipette". Microelectronic Engineering 124 (lipiec 2014): 22–25. http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2014.04.019.
Pełny tekst źródłaHosseini, Nahid, Matthias Neuenschwander, Oliver Peric, Santiago H. Andany, Jonathan D. Adams i Georg E. Fantner. "Integration of sharp silicon nitride tips into high-speed SU8 cantilevers in a batch fabrication process". Beilstein Journal of Nanotechnology 10 (29.11.2019): 2357–63. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.10.226.
Pełny tekst źródłaGanser, Christian, Gerhard Fritz-Popovski, Roland Morak, Parvin Sharifi, Benedetta Marmiroli, Barbara Sartori, Heinz Amenitsch, Thomas Griesser, Christian Teichert i Oskar Paris. "Cantilever bending based on humidity-actuated mesoporous silica/silicon bilayers". Beilstein Journal of Nanotechnology 7 (28.04.2016): 637–44. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.7.56.
Pełny tekst źródłaSone, Hayato, Shoichi Ichikawa, Yuji Matsubara, Mitsumasa Suzuki, Haruki Okano, Takashi Izumi i Sumio Hosaka. "Prototype of Frame-Type Cantilever for Biosensor and Femtogram Detection". Key Engineering Materials 459 (grudzień 2010): 134–39. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.459.134.
Pełny tekst źródłaLee, Hak Joo, Ki Ho Cho, Jae Hyun Kim, Seung Woo Han, Byung Ik Choi, Chang Wook Baek, Jong Man Kim i Sung Hoon Choa. "Force-Calibrated AFM for Mechanical Test of Freestanding Thin Films". Key Engineering Materials 297-300 (listopad 2005): 275–79. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.297-300.275.
Pełny tekst źródłaMagonov, Sergei. "High-Resolution Imaging with Atomic Force Microscopy". Microscopy Today 12, nr 5 (wrzesień 2004): 12–15. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500056248.
Pełny tekst źródłaLEE, HAK-JOO, JAE-HYUN KIM, KIHO CHO, JAE-YOON KANG, CHANG-WOOK BAEK, JONG-MAN KIM i SUNG-HOON CHOA. "SYMMETRIC AFM CANTILEVER FOR MECHANICAL CHARACTERIZATION OF Mo THIN FILM". International Journal of Modern Physics B 20, nr 25n27 (30.10.2006): 3781–86. http://dx.doi.org/10.1142/s0217979206040362.
Pełny tekst źródłaCha, Wujoon, Matthew F. Campbell, Akshat Jain i Igor Bargatin. "Hollow AFM Cantilever with Holes". Engineering Proceedings 4, nr 1 (14.04.2021): 13. http://dx.doi.org/10.3390/micromachines2021-09544.
Pełny tekst źródłaTang, Chen Zhi. "A Method to Fabricate Thin Micro Silicon Cantilever Based on Optical Lithography with AZ 1518". Key Engineering Materials 645-646 (maj 2015): 1093–98. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.645-646.1093.
Pełny tekst źródłaSchumacher, Zeno, Yoichi Miyahara, Laure Aeschimann i Peter Grütter. "Improved atomic force microscopy cantilever performance by partial reflective coating". Beilstein Journal of Nanotechnology 6 (3.07.2015): 1450–56. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.6.150.
Pełny tekst źródłaGrigoriadis, Kyriakos, Alexandros Palaiologos, Anastasios Zavos i Pantelis G. Nikolakopoulos. "A Tribological Simulation for a Typical Carbon Coated AFM Cantilever Interacting with a Monolayer Graphene Sheet". MATEC Web of Conferences 188 (2018): 01029. http://dx.doi.org/10.1051/matecconf/201818801029.
Pełny tekst źródłaGiessibl, Franz. "Probing the Nature of Chemical Bonds by Atomic Force Microscopy". Molecules 26, nr 13 (3.07.2021): 4068. http://dx.doi.org/10.3390/molecules26134068.
Pełny tekst źródłaZauscher, Stefan. "Putting a Sphere on an Atomic Force Microscope Cantilever Tip". Microscopy Today 5, nr 10 (grudzień 1997): 6. http://dx.doi.org/10.1017/s155192950006065x.
Pełny tekst źródłaTortonese, M., i F. J. Giessibl. "Atomic-Force Microscopy with piezoresistive cantilevers". Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994): 1064–65. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100173054.
Pełny tekst źródłaCleveland, Jason. "Anomalous Changes in Tip Height in Tapping AFM". Microscopy Today 8, nr 4 (maj 2000): 36–37. http://dx.doi.org/10.1017/s155192950006346x.
Pełny tekst źródłaFicek, Mateusz, Maciej J. Głowacki, Krzysztof Gajewski, Piotr Kunicki, Ewelina Gacka, Krystian Sycz, Mariusz Mrózek i in. "Integration of Fluorescent, NV-Rich Nanodiamond Particles with AFM Cantilevers by Focused Ion Beam for Hybrid Optical and Micromechanical Devices". Coatings 11, nr 11 (29.10.2021): 1332. http://dx.doi.org/10.3390/coatings11111332.
Pełny tekst źródłaDillon, Eoghan, Kevin Kjoller i Craig Prater. "Lorentz Contact Resonance Imaging for Atomic Force Microscopes: Probing Mechanical and Thermal Properties on the Nanoscale". Microscopy Today 21, nr 6 (listopad 2013): 18–24. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929513000989.
Pełny tekst źródłaLopez-Ayon, G. Monserratt, David J. Oliver, Peter H. Grutter i Svetlana V. Komarova. "Deconvolution of Calcium Fluorescent Indicator Signal from AFM Cantilever Reflection". Microscopy and Microanalysis 18, nr 4 (30.07.2012): 808–15. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927612000402.
Pełny tekst źródłaWu, Jianhua, Ying Fang, Dong Yang i Cheng Zhu. "Thermo-Mechanical Responses of a Surface-Coupled AFM Cantilever". Journal of Biomechanical Engineering 127, nr 7 (15.08.2005): 1208–15. http://dx.doi.org/10.1115/1.2073647.
Pełny tekst źródłaZhang, Gai Mei, Li Ping Yang, Chen Qiang, Yuan Wei, Jian Dong Lu i Dong Sheng Jiang. "Analysis on the Contact Mechanics between Tip and Sample in Atomic Force Acoustic Microscope Method". Advanced Materials Research 800 (wrzesień 2013): 325–29. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.800.325.
Pełny tekst źródłaRabe, U., S. Hirsekorn, M. Reinstädtler, T. Sulzbach, Ch Lehrer i W. Arnold. "Influence of the cantilever holder on the vibrations of AFM cantilevers". Nanotechnology 18, nr 4 (12.12.2006): 044008. http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/18/4/044008.
Pełny tekst źródłaLiu, Shujie, Shuichi Nagasawa, Satoru Takahashi i Kiyoshi Takamasu. "Development of a Multi-Ball-Cantilever AFM for Measuring Resist Surface". Journal of Robotics and Mechatronics 18, nr 6 (20.12.2006): 698–704. http://dx.doi.org/10.20965/jrm.2006.p0698.
Pełny tekst źródłaDai, Gao Liang, F. Pohlenz, H. U. Danzebrink i L. Koenders. "Dimensional Measurements for Micro- and Nanotechnology". Key Engineering Materials 381-382 (czerwiec 2008): 7–10. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.381-382.7.
Pełny tekst źródłaDannberg, Oliver, Michael Kühnel i Thomas Fröhlich. "Entwicklung einer Cantileverkalibriereinrichtung". tm - Technisches Messen 87, nr 10 (25.10.2020): 622–29. http://dx.doi.org/10.1515/teme-2020-0064.
Pełny tekst źródłaLindsay, S. M. "Direct Magnetic Excitation of Cantilevers for Dynamic Force Microscocopy in Liquids". Microscopy and Microanalysis 5, S2 (sierpień 1999): 1002–3. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760001833x.
Pełny tekst źródłaStappers, Linda, i Jan Fransaer. "Colloidal Probe AFM Measurements of the Electrophoretic Force". Key Engineering Materials 314 (lipiec 2006): 1–6. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.314.1.
Pełny tekst źródłaGibson, Christopher T., Brandon L. Weeks, Chris Abell, Trevor Rayment i Sverre Myhra. "Calibration of AFM cantilever spring constants". Ultramicroscopy 97, nr 1-4 (październik 2003): 113–18. http://dx.doi.org/10.1016/s0304-3991(03)00035-4.
Pełny tekst źródłaRichter, C., P. Weinzierl, W. Engl, C. Penzkofer, B. Irmer i T. Sulzbach. "Cantilever probes for high speed AFM". Microsystem Technologies 18, nr 7-8 (29.02.2012): 1119–26. http://dx.doi.org/10.1007/s00542-012-1454-8.
Pełny tekst źródłaGuerre, Roland, Ute Drechsler i Daniel Jubin et Michel Despont. "Low-cost AFM cantilever manufacturing technology". Journal of Micromechanics and Microengineering 18, nr 11 (26.09.2008): 115013. http://dx.doi.org/10.1088/0960-1317/18/11/115013.
Pełny tekst źródłaXie, H. Y. "Frequency shifts of cantilever in AFM". Applied Surface Science 252, nr 2 (październik 2005): 372–78. http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.01.014.
Pełny tekst źródłaLübbe, Jannis, Matthias Temmen, Philipp Rahe, Angelika Kühnle i Michael Reichling. "Determining cantilever stiffness from thermal noise". Beilstein Journal of Nanotechnology 4 (28.03.2013): 227–33. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.4.23.
Pełny tekst źródłaBeltrán, F. J. Espinoza, J. Muñoz-Saldaña, D. Torres-Torres, R. Torres-Martínez i G. A. Schneider. "Atomic force microscopy cantilever simulation by finite element methods for quantitative atomic force acoustic microscopy measurements". Journal of Materials Research 21, nr 12 (grudzień 2006): 3072–79. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2006.0379.
Pełny tekst źródłaXie, Ping, Lei Zhang i Qing Ze Zou. "Resonance Suppression on Nanoscale Viscoelasticity Measurement". Advanced Materials Research 528 (czerwiec 2012): 75–79. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.528.75.
Pełny tekst źródła