Artykuły w czasopismach na temat „40~nm”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych artykułów w czasopismach naukowych na temat „40~nm”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj artykuły w czasopismach z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Durkan, C., i I. V. Shvets. "40 nm resolution in reflection-mode SNOM with λ = 685 nm". Ultramicroscopy 61, nr 1-4 (grudzień 1995): 227–31. http://dx.doi.org/10.1016/0304-3991(95)00114-x.
Pełny tekst źródłaPezeshki, B., M. Zelinski, H. Zhao i V. Agrawal. "40-mW 650-nm distributed feedback lasers". IEEE Photonics Technology Letters 10, nr 1 (styczeń 1998): 36–38. http://dx.doi.org/10.1109/68.651093.
Pełny tekst źródłaOno, M., M. Saito, T. Yoshitomi, C. Fiegna, T. Ohguro i H. Iwai. "A 40 nm gate length n-MOSFET". IEEE Transactions on Electron Devices 42, nr 10 (1995): 1822–30. http://dx.doi.org/10.1109/16.464413.
Pełny tekst źródłaPark, Chaeeun, i Munkyo Seo. "A 140 GHz Low-Noise Amplifier in 40 nm CMOS". Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science 33, nr 4 (kwiecień 2022): 312–17. http://dx.doi.org/10.5515/kjkiees.2022.33.4.312.
Pełny tekst źródłaWandt, D., M. Laschek, K. Przyklenk, A. Tünnermann i H. Welling. "External cavity laser diode with 40 nm continuous tuning range around 825 nm". Optics Communications 130, nr 1-3 (wrzesień 1996): 81–84. http://dx.doi.org/10.1016/0030-4018(96)00171-x.
Pełny tekst źródłaZaghib, Karim, Alain Mauger, Monika Kopec, Francois Gendron i C. M. Julien. "Intrinsic Properties of 40 nm-sized LiFePO4 Particles". ECS Transactions 16, nr 42 (18.12.2019): 31–41. http://dx.doi.org/10.1149/1.3112726.
Pełny tekst źródłaAppenzeller, J., R. Martel, Ph Avouris, J. Knoch, J. Scholvin, J. A. del Alamo, P. Rice i P. Solomon. "Sub-40 nm SOI V-groove n-MOSFETs". IEEE Electron Device Letters 23, nr 2 (luty 2002): 100–102. http://dx.doi.org/10.1109/55.981319.
Pełny tekst źródłaHomulle, Harald, Fabio Sebastiano i Edoardo Charbon. "Deep-Cryogenic Voltage References in 40-nm CMOS". IEEE Solid-State Circuits Letters 1, nr 5 (maj 2018): 110–13. http://dx.doi.org/10.1109/lssc.2018.2875821.
Pełny tekst źródłaHofmann, W., M. Müller, P. Wolf, A. Mutig, T. Gründl, G. Böhm, D. Bimberg i M. C. Amann. "40 Gbit/s modulation of 1550 nm VCSEL". Electronics Letters 47, nr 4 (2011): 270. http://dx.doi.org/10.1049/el.2010.3631.
Pełny tekst źródłaTakeuchi, Issei, Yosuke Shimamura, Yuki Kakami, Tsunenori Kameda, Keitaro Hattori, Seiji Miura, Hiroyuki Shirai i in. "Transdermal delivery of 40-nm silk fibroin nanoparticles". Colloids and Surfaces B: Biointerfaces 175 (marzec 2019): 564–68. http://dx.doi.org/10.1016/j.colsurfb.2018.12.012.
Pełny tekst źródłaDurán, Vicente, Peter A. Andrekson i Víctor Torres-Company. "Electro-optic dual-comb interferometry over 40 nm bandwidth". Optics Letters 41, nr 18 (7.09.2016): 4190. http://dx.doi.org/10.1364/ol.41.004190.
Pełny tekst źródłaGutierrez, Eric, Carlos Perez, Luis Hernandez, Fernando Cardes, Violeta Petrescu, Sergio Walter i Ulrich Gaier. "A Pulse Frequency Modulation VCO-ADC in 40 nm". IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs 66, nr 1 (styczeń 2019): 51–55. http://dx.doi.org/10.1109/tcsii.2018.2837757.
Pełny tekst źródłaLiu, Yibo, Luhong Mao i Baoyong Chi. "185–220 GHz wideband amplifier in 40 nm CMOS". Electronics Letters 54, nr 13 (czerwiec 2018): 802–4. http://dx.doi.org/10.1049/el.2018.1135.
Pełny tekst źródłaZhao, Dixian, Shailesh Kulkarni i Patrick Reynaert. "A 60-GHz Outphasing Transmitter in 40-nm CMOS". IEEE Journal of Solid-State Circuits 47, nr 12 (grudzień 2012): 3172–83. http://dx.doi.org/10.1109/jssc.2012.2216692.
Pełny tekst źródłaAtef, Mohamed, Andreas Polzer i Horst Zimmermann. "Avalanche Double Photodiode in 40-nm Standard CMOS Technology". IEEE Journal of Quantum Electronics 49, nr 3 (marzec 2013): 350–56. http://dx.doi.org/10.1109/jqe.2013.2246546.
Pełny tekst źródłaCong, Jia, Dong Yan, Jiling Tang, Weilian Guo i Xurui Mao. "Integrated Color Photodetectors in 40-nm Standard CMOS Technology". IEEE Photonics Technology Letters 31, nr 24 (15.12.2019): 1979–82. http://dx.doi.org/10.1109/lpt.2019.2952204.
Pełny tekst źródłaSuteewong, Teeraporn, Kai Ma, Jennifer E. Drews, Ulrike Werner-Zwanziger, Josef Zwanziger, Ulrich Wiesner i Michelle S. Bradbury. "Highly fluorescent sub 40-nm aminated mesoporous silica nanoparticles". Journal of Sol-Gel Science and Technology 74, nr 1 (21.11.2014): 32–38. http://dx.doi.org/10.1007/s10971-014-3567-2.
Pełny tekst źródłaKakami, Yuki, Issei Takeuchi i Kimiko Makino. "Percutaneous immunization with 40-nm antigen-encapsulated elastic liposomes". Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects 566 (kwiecień 2019): 128–33. http://dx.doi.org/10.1016/j.colsurfa.2019.01.023.
Pełny tekst źródłaMansur, Dan. "A New 40-nm FPGA and ASIC Common Platform". IEEE Micro 29, nr 2 (marzec 2009): 46–53. http://dx.doi.org/10.1109/mm.2009.22.
Pełny tekst źródłaOchiai, Y., S. Manako, S. Samukawa, K. Takeuchi i T. Yamamoto. "Accurate nano-EB lithography for 40-nm gate MOSFETs". Microelectronic Engineering 30, nr 1-4 (styczeń 1996): 415–18. http://dx.doi.org/10.1016/0167-9317(95)00276-6.
Pełny tekst źródłaMartinez-Lopez, A. G., A. Cerdeira, J. C. Tinoco, J. Alvarado, W. Y. Padron, C. Mendoza i J. P. Raskin. "RF modeling of 40-nm SOI triple-gate FinFET". International Journal of Numerical Modelling: Electronic Networks, Devices and Fields 28, nr 4 (16.10.2014): 465–78. http://dx.doi.org/10.1002/jnm.2028.
Pełny tekst źródłaCoelho, M. F., M. A. Rivas, E. M. Nogueira i T. P. Iglesias. "Permittivity of (40 nm and 80 nm) alumina nanofluids in ethylene glycol at different temperatures". Journal of Chemical Thermodynamics 158 (lipiec 2021): 106423. http://dx.doi.org/10.1016/j.jct.2021.106423.
Pełny tekst źródłaUsami, Yoshihisa, Tetsuya Watanabe, Yoshinori Kanazawa, Kazuaki Taga, Hiroshi Kawai i Kimio Ichikawa. "405 nm Laser Thermal Lithography of 40 nm Pattern Using Super Resolution Organic Resist Material". Applied Physics Express 2, nr 12 (27.11.2009): 126502. http://dx.doi.org/10.1143/apex.2.126502.
Pełny tekst źródłaGoldstein, John C., Brian D. McVey i C. James Elliott. "Conceptual designs of a 50 nm FEL oscillator and a 20–40 nm SASE amplifier". Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 272, nr 1-2 (październik 1988): 177–82. http://dx.doi.org/10.1016/0168-9002(88)90219-7.
Pełny tekst źródłaTang, Ming, Xiaolong Tian, Xiaona Lu, Songnian Fu, Perry Ping Shum, Zhenrong Zhang, Ming Liu, Yuan Cheng i Jian Liu. "Single-frequency 1060 nm semiconductor-optical-amplifier-based fiber laser with 40 nm tuning range". Optics Letters 34, nr 14 (13.07.2009): 2204. http://dx.doi.org/10.1364/ol.34.002204.
Pełny tekst źródłaKim, Jaegwan, Changjung Lee i Munkyo Seo. "A 130-GHz Low-Area Power Amplifier in 40-nm CMOS". Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science 34, nr 4 (kwiecień 2023): 310–16. http://dx.doi.org/10.5515/kjkiees.2022.34.4.310.
Pełny tekst źródłaKim, Jaegwan, Changjung Lee i Munkyo Seo. "A 130-GHz Low-Area Power Amplifier in 40-nm CMOS". Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science 34, nr 4 (kwiecień 2023): 310–16. http://dx.doi.org/10.5515/kjkiees.2023.34.4.310.
Pełny tekst źródłaShuangyi Yan, 延双毅, 张建国 Jianguo Zhang i 赵卫 Wei Zhao. "40-GHz wavelength tunable mode-locked SOA-based fiber laser with 40-nm tuning range". Chinese Optics Letters 6, nr 9 (2008): 676–78. http://dx.doi.org/10.3788/col20080609.0676.
Pełny tekst źródłaTanaka, Hiroaki, Yasuyuki Miyamoto, Toshihiko Otake, Jiroo Yoshinaga i Kazuhito Furuya. "Electrical Properties of 100 nm Pitch Cr/Au Fine Electrodes with 40 nm Width on GaInAs". Japanese Journal of Applied Physics 35, Part 2, No. 8A (1.08.1996): L964—L967. http://dx.doi.org/10.1143/jjap.35.l964.
Pełny tekst źródłaZhao Junfa, 赵军发, 杨秀峰 Yang Xiufeng, 刘卓琳 Liu Zhuolin, 童峥嵘 Tong Zhengrong, 刘艳格 Liu Yange i 赵启大 Zhao Qida. "Multiwavelength Brillouin/Erbium Fiber Source with 40 nm Tuning Range". Chinese Journal of Lasers 37, nr 10 (2010): 2482–86. http://dx.doi.org/10.3788/cjl20103710.2482.
Pełny tekst źródłaMelul, Franck, Vincenzo Della Marca, Marc Bocquet, Madjid Akbal, Pierre Laine, Frederique Trenteseaux, Marc Mantelli i in. "Morphology and reliability aspects of 40 nm eSTM™ architecture". Microelectronics Reliability 126 (listopad 2021): 114266. http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2021.114266.
Pełny tekst źródłaSialm, G., C. Kromer, T. Morf, F. Ellinger i H. Jäckel. "40 Gbit∕s limiting output buffer in 80 nm CMOS". Electronics Letters 41, nr 19 (2005): 1051. http://dx.doi.org/10.1049/el:20052172.
Pełny tekst źródłaLee, K. J., R. LaComb, B. Britton, M. Shokooh-Saremi, H. Silva, E. Donkor, Y. Ding i R. Magnusson. "Silicon-Layer Guided-Mode Resonance Polarizer With 40-nm Bandwidth". IEEE Photonics Technology Letters 20, nr 22 (listopad 2008): 1857–59. http://dx.doi.org/10.1109/lpt.2008.2004777.
Pełny tekst źródłaShin, Jinuk Luke, Dawei Huang, Bruce Petrick, Changku Hwang, Kenway W. Tam, Alan Smith, Ha Pham i in. "A 40 nm 16-Core 128-Thread SPARC SoC Processor". IEEE Journal of Solid-State Circuits 46, nr 1 (styczeń 2011): 131–44. http://dx.doi.org/10.1109/jssc.2010.2080491.
Pełny tekst źródłaKo, Chun-Lin, Chun-Hsing Li, Chien-Nan Kuo, Ming-Ching Kuo i Da-Chiang Chang. "A 210-GHz Amplifier in 40-nm Digital CMOS Technology". IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 61, nr 6 (czerwiec 2013): 2438–46. http://dx.doi.org/10.1109/tmtt.2013.2260767.
Pełny tekst źródłaAiello, Orazio, Paolo Crovetti i Massimo Alioto. "Standard Cell-Based Ultra-Compact DACs in 40-nm CMOS". IEEE Access 7 (2019): 126479–88. http://dx.doi.org/10.1109/access.2019.2938737.
Pełny tekst źródłaMartín-González, M., A. L. Prieto, R. Gronsky, T. Sands i A. M. Stacy. "High-Density 40 nm Diameter Sb-Rich Bi2xSbxTe3 Nanowire Arrays". Advanced Materials 15, nr 12 (17.06.2003): 1003–6. http://dx.doi.org/10.1002/adma.200304781.
Pełny tekst źródłaZhang, Sheng, Ke Wei, Xiao-Hua Ma, Bin Hou, Guo-Guo Liu, Yi-chuan Zhang, Xin-Hua Wang i in. "Reduced reverse gate leakage current for GaN HEMTs with 3 nm Al/40 nm SiN passivation layer". Applied Physics Letters 114, nr 1 (7.01.2019): 013503. http://dx.doi.org/10.1063/1.5077050.
Pełny tekst źródłaWang, Weihuai, Hao Jin, Shurong Dong, Lei Zhong i Yan Han. "Study of drain-extended NMOS under electrostatic discharge stress in 28 nm and 40 nm CMOS process". Solid-State Electronics 116 (luty 2016): 80–87. http://dx.doi.org/10.1016/j.sse.2015.11.033.
Pełny tekst źródłaYoneda, Shinichi, Satoru Ito, Yukio Hayakawa, Zhiqiang Wei, Shunsaku Muraoka, Ryutaro Yasuhara, Koichi Kawashima, Atsushi Himeno i Takumi Mikawa. "Newly developed process integration technologies for highly reliable 40 nm ReRAM". Japanese Journal of Applied Physics 58, SB (22.02.2019): SBBB06. http://dx.doi.org/10.7567/1347-4065/aafd8d.
Pełny tekst źródłaZhou Hongjun, 周洪军, 王冠军 Wang Guanjun, 郑津津 Zheng Jinjin, 霍同林 Hou Tonglin i 邱克强 Qiu Keqiang. "Suppression of HigherOrder Harmonics by Different Filter in 5~40 nm". Acta Optica Sinica 30, nr 9 (2010): 2753–56. http://dx.doi.org/10.3788/aos20103009.2753.
Pełny tekst źródłaYoo, Seong Ho, Benjamin Y. H. Liu, James Sun, Natraj Narayanswami i Gregory P. Thomes. "Particle Removal Efficiency Evaluation at 40 nm Using Haze Particle Standard". Solid State Phenomena 76-77 (styczeń 2001): 259–62. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.76-77.259.
Pełny tekst źródłaKmon, P., R. Szczygieł, R. Kłeczek, D. Górni, G. Węgrzyn, A. Niedzielska, K. Sitko i P. Drwal. "Spectrum1k — integrated circuit for medical imaging designed in CMOS 40 nm". Journal of Instrumentation 17, nr 03 (1.03.2022): C03023. http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/17/03/c03023.
Pełny tekst źródłaXu, Lei-jun, Zhi-jian Xie, Xue Bai, Qin Li, Bai-kang Wang i Peng-cheng Yin. "Design of THz Monolithic Source and Detector in 40-nm CMOS". Journal of Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves 42, nr 9-10 (wrzesień 2021): 1040–60. http://dx.doi.org/10.1007/s10762-021-00787-6.
Pełny tekst źródłaMoons, Bert, i Marian Verhelst. "An Energy-Efficient Precision-Scalable ConvNet Processor in 40-nm CMOS". IEEE Journal of Solid-State Circuits 52, nr 4 (kwiecień 2017): 903–14. http://dx.doi.org/10.1109/jssc.2016.2636225.
Pełny tekst źródłaWang, X., F. Gao, K. Huang, Z. s. Zhang, Y. Shi i Y. Xu. "Spectral Sensitivity Analysis of OCD Tool for Sub 40 Nm Process". ECS Transactions 60, nr 1 (27.02.2014): 887–92. http://dx.doi.org/10.1149/06001.0887ecst.
Pełny tekst źródłaKalyuzhnyy, N. A., S. A. Mintairov, A. M. Nadtochiy, V. N. Nevedomskiy, D. V. Rybalchenko i M. Z. Shvarts. "InGaAs metamorphic laser (1064 nm) power converters with over 40% efficiency". Electronics Letters 53, nr 3 (luty 2017): 173–75. http://dx.doi.org/10.1049/el.2016.4308.
Pełny tekst źródłaTan, Chee Hing, Shiyu Xie i Jingjing Xie. "Low Noise Avalanche Photodiodes Incorporating a 40 nm AlAsSb Avalanche Region". IEEE Journal of Quantum Electronics 48, nr 1 (styczeń 2012): 36–41. http://dx.doi.org/10.1109/jqe.2011.2176105.
Pełny tekst źródłaLiu, H. D., Y. P. Zhao, G. Ramanath, S. P. Murarka i G. C. Wang. "Thickness dependent electrical resistivity of ultrathin (<40 nm) Cu films". Thin Solid Films 384, nr 1 (marzec 2001): 151–56. http://dx.doi.org/10.1016/s0040-6090(00)01818-6.
Pełny tekst źródłaMauricio, Joan, Francesc Moll i Sergio Gomez. "Measurements of Process Variability in 40-nm Regular and Nonregular Layouts". IEEE Transactions on Electron Devices 61, nr 2 (luty 2014): 365–71. http://dx.doi.org/10.1109/ted.2013.2294742.
Pełny tekst źródła