Gotowe bibliografie tematyczne / 3-D metrology

Spis treści

  1. Artykuły w czasopismach

Gotowa bibliografia na temat „3-D metrology”

Autor: Grafiati
Data publikacji: 6 września 2023

Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych

Wybierz rodzaj źródła:

Zobacz listy aktualnych artykułów, książek, rozpraw, streszczeń i innych źródeł naukowych na temat „3-D metrology”.

Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.

Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.

Artykuły w czasopismach na temat "3-D metrology"

1

Poon, Ting-Chung, Yaping Zhang, Liangcai Cao, and Hiroshi Yoshikawa. "Editorial on Special Issue “Holography, 3-D Imaging and 3-D Display”." Applied Sciences 10, no. 20 (2020): 7057. http://dx.doi.org/10.3390/app10207057.

Pełny tekst źródła
Streszczenie:
Modern holographic techniques have been successfully applied in many important areas, such as 3D inspection, 3D microscopy, metrology and profilometry, augmented reality, and industrial informatics [...]
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
2

Härter, Daniel. "3-D metrology system with internal calibration." Optical Engineering 50, no. 1 (2011): 013604. http://dx.doi.org/10.1117/1.3530130.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
3

Clarke, Tim, and Richard Gooch. "Real‐time 3‐D metrology for aerospace manufacture." Sensor Review 19, no. 2 (1999): 113–15. http://dx.doi.org/10.1108/02602289910266304.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
4

Sid-Ahmed, M. A., and M. T. Boraie. "Dual camera calibration for 3-D machine vision metrology." IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 39, no. 3 (1990): 512–16. http://dx.doi.org/10.1109/19.106283.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
5

Murakami, Hiroshi, Akio Katsuki, Hiromichi Onikura, et al. "An Optical Fiber Probe for 3-D Micro Metrology." Key Engineering Materials 447-448 (September 2010): 524–28. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.447-448.524.

Pełny tekst źródła
Streszczenie:
This paper presents a system of 3-D micro structure measurement that uses an optical fiber probe of 5 µm in diameter. The probe is deflected when it comes into contact with a measured surface, and this deflection is measured optically. In this research, we optimize design parameters of optical system using ray tracing, and a prototype of the measuring system is fabricated on trial to verify the simulation results. Then, its measuring accuracies are examined by using the basic experimental apparatus. As a result, it is clarified that the resolution of the fiber probe is better than 10 nm. Also, the utility of this system is confirmed by measuring the shape of a 600 µm diameter ruby sphere.
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
6

Valade, Charles, Jérôme Hazart, Sébastien Bérard-Bergery, Elodie Sungauer, Maxime Besacier, and Cécile Gourgon. "Tilted beam scanning electron microscopy, 3-D metrology for microelectronics industry." Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS 18, no. 03 (2019): 1. http://dx.doi.org/10.1117/1.jmm.18.3.034001.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
7

Liu, Xiao-li, A.-meng Li, Xiao-bo Zhao, Peng-dong Gao, Jin-dong Tian, and Xiang Peng. "Model-based optical metrology and visualization of 3-D complex objects." Optoelectronics Letters 3, no. 2 (2007): 115–18. http://dx.doi.org/10.1007/s11801-007-7018-y.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
8

Zhang, Song, Rongguang Liang, and Lianxiang Yang. "Special Section Guest Editorial: High-Speed 3-D Optical Metrology and Applications." Optical Engineering 53, no. 11 (2014): 112201. http://dx.doi.org/10.1117/1.oe.53.11.112201.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
9

Zhang, Xianzhu. "Analysis of 3-D surface waviness on standard artifacts by retroreflective metrology." Optical Engineering 39, no. 1 (2000): 183. http://dx.doi.org/10.1117/1.602350.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
10

Shaw, Jonathan, Tuo-Hung Hou, Hassan Raza, and Edwin Chihchuan Kan. "Statistical Metrology of Metal Nanocrystal Memories With 3-D Finite-Element Analysis." IEEE Transactions on Electron Devices 56, no. 8 (2009): 1729–35. http://dx.doi.org/10.1109/ted.2009.2024108.

Pełny tekst źródła
Style APA, Harvard, Vancouver, ISO itp.
Więcej źródeł
Możesz być także zainteresowany rozszerzonymi bibliografiami na temat „3-D metrology” dla poszczególnych typów źródeł:
Artykuły w czasopismach
Oferujemy zniżki na wszystkie plany premium dla autorów, których prace zostały uwzględnione w tematycznych zestawieniach literatury. Skontaktuj się z nami, aby uzyskać unikalny kod promocyjny!

Do bibliografii