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Articoli di riviste sul tema "Molecular beam epitaxy"

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Autore: Grafiati

Pubblicato: 4 giugno 2021

Ultima modifica: 8 giugno 2024

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1

Yong, T. Y. "Molecular beam epitaxy". IEEE Potentials 8, n. 3 (ottobre 1989): 18–22. http://dx.doi.org/10.1109/45.41532.

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2

Joyce, B. A. "Molecular beam epitaxy". Reports on Progress in Physics 48, n. 12 (1 dicembre 1985): 1637–97. http://dx.doi.org/10.1088/0034-4885/48/12/002.

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3

Arthur, John R. "Molecular beam epitaxy". Surface Science 500, n. 1-3 (marzo 2002): 189–217. http://dx.doi.org/10.1016/s0039-6028(01)01525-4.

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4

KAMOHARA, Hideaki, e Kazue TAKAHASHI. "Molecular Beam Epitaxy". Journal of the Society of Mechanical Engineers 92, n. 848 (1989): 625–28. http://dx.doi.org/10.1299/jsmemag.92.848_625.

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5

Panish, Morton B. "Molecular-Beam Epitaxy". AT&T Technical Journal 68, n. 1 (2 gennaio 1989): 43–52. http://dx.doi.org/10.1002/j.1538-7305.1989.tb00645.x.

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6

Kulchitsky, N. A. "Atomic and Molecular Beams Control in Molecular Beam Epitaxy". Nano- i Mikrosistemnaya Tehnika 23, n. 1 (24 febbraio 2021): 47–56. http://dx.doi.org/10.17587/nmst.23.47-56.

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Abstract (sommario):

Rapid development of molecular beam epitaxy (MBE) in recent decades has led to the emergence of a variety of technological installations, as well as electronic and optical diagnostics of growing layers, as well as atomic and molecular beams. Known methods for monitoring atomic and molecular beams in MBE installations-mass spectrometric and luminescent - involve bulky sensors, which can only be placed in special growth chambers. This paper describes a structurally simple and fairly universal method for determining the intensities of atomic and molecular beams, based on registering the amount of electron scattering at small angles that occur when a narrow electron beam interacts with the atoms of a vaporized substance. We consider the theoretical prerequisites for the diagnosis of an atomic beam by the phenomenon of scattering of fast electrons in it.

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7

Shiraki, Yasuhiro. "Silicon molecular beam epitaxy". Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures 3, n. 2 (marzo 1985): 725. http://dx.doi.org/10.1116/1.583126.

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8

Shiraki, Yasuhiro. "Silicon molecular beam epitaxy". Progress in Crystal Growth and Characterization 12, n. 1-4 (gennaio 1986): 45–66. http://dx.doi.org/10.1016/0146-3535(86)90006-7.

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9

Gravesteijn, Dirk J., Gerjan F. A. van De Walle e Aart A. van Gorkum. "Silicon molecular beam epitaxy". Advanced Materials 3, n. 7-8 (luglio 1991): 351–55. http://dx.doi.org/10.1002/adma.19910030705.

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10

Curless, Jay A. "Molecular beam epitaxy beam flux modeling". Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures 3, n. 2 (marzo 1985): 531. http://dx.doi.org/10.1116/1.583169.

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11

Li, N. Y., H. K. Dong, C. W. Tu e M. Geva. "p-Type GaAs doped by diiodomethane (CI2H2) in molecular beam epitaxy, metalorganic molecular beam epitaxy, and chemical beam epitaxy". Journal of Crystal Growth 150 (maggio 1995): 246–50. http://dx.doi.org/10.1016/0022-0248(95)80215-x.

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12

Barnett, S. A., J. E. Greene e J. E. Sundgren. "Ion-beam doping during molecular beam epitaxy". JOM 41, n. 4 (aprile 1989): 16–19. http://dx.doi.org/10.1007/bf03220192.

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13

Morishita, Y., A. Tsuboi, H. Suzuki e K. Sato. "Molecular-Beam Epitaxy of AlGaMnAs". Journal of the Magnetics Society of Japan 23, n. 1_2 (1999): 93–95. http://dx.doi.org/10.3379/jmsjmag.23.93.

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14

Panish, M. B., e H. Temkin. "Gas-Source Molecular Beam Epitaxy". Annual Review of Materials Science 19, n. 1 (agosto 1989): 209–29. http://dx.doi.org/10.1146/annurev.ms.19.080189.001233.

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15

Longenbach, K. F., e W. I. Wang. "Molecular beam epitaxy of GaSb". Applied Physics Letters 59, n. 19 (4 novembre 1991): 2427–29. http://dx.doi.org/10.1063/1.106037.

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16

Micovic, M., D. Lubyshev, W. Z. Cai, F. Flack, R. W. Streater, A. J. SpringThorpe e D. L. Miller. "Iodine-assisted molecular beam epitaxy". Journal of Crystal Growth 175-176 (maggio 1997): 428–34. http://dx.doi.org/10.1016/s0022-0248(96)00818-4.

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17

Lange, M. D., D. F. Storm e Teresa Cole. "Molecular-beam epitaxy of InTlAs". Journal of Electronic Materials 27, n. 6 (giugno 1998): 536–41. http://dx.doi.org/10.1007/s11664-998-0011-9.

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18

Novák, V., M. Cukr, Z. Šobáň, T. Jungwirth, X. Martí, V. Holý, P. Horodyská e P. Němec. "Molecular beam epitaxy of LiMnAs". Journal of Crystal Growth 323, n. 1 (maggio 2011): 348–50. http://dx.doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2010.11.077.

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19

Zhdanov, V. P., e P. R. Norton. "Nucleation during molecular beam epitaxy". Applied Surface Science 81, n. 2 (ottobre 1994): 109–17. http://dx.doi.org/10.1016/0169-4332(94)90040-x.

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20

Davies, G. J., P. J. Skevington, E. G. Scott, C. L. French e J. S. Foord. "Some comparisons of chemical beam epitaxy with gas source molecular beam epitaxy". Journal of Crystal Growth 107, n. 1-4 (gennaio 1991): 999–1008. http://dx.doi.org/10.1016/0022-0248(91)90593-t.

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21

Miner, C. J. "Wafer-scale temperature mapping for molecular beam epitaxy and chemical beam epitaxy". Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures 11, n. 3 (maggio 1993): 998. http://dx.doi.org/10.1116/1.586910.

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22

Tsang, W. T., T. H. Chiu e R. M. Kapre. "Monolayer chemical beam etching: Reverse molecular beam epitaxy". Applied Physics Letters 63, n. 25 (20 dicembre 1993): 3500–3502. http://dx.doi.org/10.1063/1.110132.

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Kugiyama, Koichi, Yuichi Hirofuji e Naoto Matsuo. "Si-Beam Radiation Cleaning in Molecular-Beam Epitaxy". Japanese Journal of Applied Physics 24, Part 1, No. 5 (20 maggio 1985): 564–67. http://dx.doi.org/10.1143/jjap.24.564.

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24

SARMA, S. DAS. "KINETIC SURFACE ROUGHENING AND MOLECULAR BEAM EPITAXY". Fractals 01, n. 04 (dicembre 1993): 784–94. http://dx.doi.org/10.1142/s0218348x93000812.

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Abstract (sommario):

We review recent developments in our understanding of Molecular Beam Epitaxy as a kinetically rough growth phenomenon. It is argued that while the most general growth conditions lead to generic growth universality, actual growth conditions allow a complex interplay of several different dynamic universality classes producing rich crossover behavior determined by growth temperature, incident flux rate, and local solid state physics and chemistry of the growing material. Possible coarse-grained continuum growth equations which may be applicable to Molecular Beam Epitaxy are discussed.

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25

Chatillon, Christian, e J. Massies. "Practical Aspects of Molecular Beam Epitaxy". Materials Science Forum 59-60 (gennaio 1991): 229–86. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.59-60.229.

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26

Franchi, S. "Molecular Beam Epitaxy and Electronic Materials". Key Engineering Materials 58 (gennaio 1991): 149–68. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.58.149.

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Tang, Lei-Han, e Thomas Nattermann. "Kinetic roughening in molecular-beam epitaxy". Physical Review Letters 66, n. 22 (3 giugno 1991): 2899–902. http://dx.doi.org/10.1103/physrevlett.66.2899.

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28

Pchelyakov, Oleg P. "Molecular beam epitaxy: equipment, devices, technology". Physics-Uspekhi 43, n. 9 (30 settembre 2000): 923–25. http://dx.doi.org/10.1070/pu2000v043n09abeh000790.

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Brahlek, Matthew, Jason Lapano e Joon Sue Lee. "Topological materials by molecular beam epitaxy". Journal of Applied Physics 128, n. 21 (7 dicembre 2020): 210902. http://dx.doi.org/10.1063/5.0022948.

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30

Tsui, Frank, e Liang He. "Techniques for combinatorial molecular beam epitaxy". Review of Scientific Instruments 76, n. 6 (giugno 2005): 062206. http://dx.doi.org/10.1063/1.1905967.

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BLÖMKER, DIRK, STANISLAUS MAIER-PAAPE e THOMAS WANNER. "SURFACE ROUGHNESS IN MOLECULAR BEAM EPITAXY". Stochastics and Dynamics 01, n. 02 (giugno 2001): 239–60. http://dx.doi.org/10.1142/s0219493701000126.

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Abstract (sommario):

This paper discusses the roughness of surfaces described by nonlinear stochastic partial differential equations on bounded domains. Roughness is an important characteristic for processes arising in molecular beam epitaxy, and is usually described by the mean interface width of the surface, i.e. the expected value of the squared Lebesgue norm. By employing results on the mean interface width for linear stochastic partial differential equations perturbed by colored noise, which have been previously obtained, we describe the evolution of the surface roughness for two classes of nonlinear equations, asymptotically both for small and large times.

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Pchelyakov, Oleg P. "Molecular beam epitaxy: equipment, devices, technology". Uspekhi Fizicheskih Nauk 170, n. 9 (2000): 993. http://dx.doi.org/10.3367/ufnr.0170.200009d.0993.

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Schlom, Darrell G. "Perspective: Oxide molecular-beam epitaxy rocks!" APL Materials 3, n. 6 (giugno 2015): 062403. http://dx.doi.org/10.1063/1.4919763.

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Tsao, Jeffrey Y., e James P. Harbison. "Materials Fundamentals of Molecular Beam Epitaxy". Physics Today 46, n. 10 (ottobre 1993): 125–26. http://dx.doi.org/10.1063/1.2809075.

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Bosch, A. J., R. G. van Welzenis e O. F. Z. Schannen. "Molecular beam epitaxy of InSb (110)". Journal of Applied Physics 58, n. 9 (novembre 1985): 3434–39. http://dx.doi.org/10.1063/1.335763.

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Delorme, O., L. Cerutti, E. Luna, A. Trampert, E. Tournié e J. B. Rodriguez. "Molecular-beam epitaxy of GaInSbBi alloys". Journal of Applied Physics 126, n. 15 (21 ottobre 2019): 155304. http://dx.doi.org/10.1063/1.5096226.

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Ozasa, Kazunari, Masaaki Yuri, Shigehisa Tanaka e Hiroyuki Matsunami. "Metalorganic molecular‐beam epitaxy of InGaP". Journal of Applied Physics 65, n. 7 (aprile 1989): 2711–16. http://dx.doi.org/10.1063/1.342757.

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Villain, Jacques, Alberto Pimpinelli, Leihan Tang e Dietrich Wolf. "Terrace sizes in molecular beam epitaxy". Journal de Physique I 2, n. 11 (novembre 1992): 2107–21. http://dx.doi.org/10.1051/jp1:1992271.

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Nishinaga, Tatau. "Atomistic aspects of molecular beam epitaxy". Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials 48-49 (gennaio 2004): 104–22. http://dx.doi.org/10.1016/j.pcrysgrow.2005.06.002.

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Foxon, C. T. "Three decades of molecular beam epitaxy". Journal of Crystal Growth 251, n. 1-4 (aprile 2003): 1–8. http://dx.doi.org/10.1016/s0022-0248(02)02396-5.

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Farrow, R. F. C. "Recent developments in molecular beam epitaxy". Journal of Crystal Growth 104, n. 2 (luglio 1990): 556–77. http://dx.doi.org/10.1016/0022-0248(90)90158-h.

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Michalak, Leszek, e Bogdan Adamczyk. "Light simulation of molecular beam epitaxy". Vacuum 42, n. 12 (gennaio 1991): 735–39. http://dx.doi.org/10.1016/0042-207x(91)90169-j.

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Bauer, Günther, e Gunther Springholz. "Molecular beam epitaxy—aspects and applications". Vacuum 43, n. 5-7 (maggio 1992): 357–65. http://dx.doi.org/10.1016/0042-207x(92)90038-x.

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Arthur, John R. "Molecular beam epitaxy of compound semiconductors". Surface Science 299-300 (gennaio 1994): 818–23. http://dx.doi.org/10.1016/0039-6028(94)90699-8.

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Krishnamurthy, Srinivasan, M. A. Berding, A. Sher e A. ‐B Chen. "Energetics of molecular‐beam epitaxy models". Journal of Applied Physics 68, n. 8 (15 ottobre 1990): 4020–28. http://dx.doi.org/10.1063/1.346238.

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Moktadir, Z. "Scale decomposition of molecular beam epitaxy". Journal of Physics: Condensed Matter 20, n. 23 (13 maggio 2008): 235240. http://dx.doi.org/10.1088/0953-8984/20/23/235240.

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Wang, G., S. K. Lok, G. K. L. Wong e I. K. Sou. "Molecular beam epitaxy-grown Bi4Te3 nanowires". Applied Physics Letters 95, n. 26 (28 dicembre 2009): 263102. http://dx.doi.org/10.1063/1.3276071.

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Duport, Christophe, Philippe Nozières e Jacques Villain. "New Instability in Molecular Beam Epitaxy". Physical Review Letters 74, n. 1 (2 gennaio 1995): 134–37. http://dx.doi.org/10.1103/physrevlett.74.134.

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Bean, John C. "Silicon molecular beam epitaxy: 1984–1986". Journal of Crystal Growth 81, n. 1-4 (febbraio 1987): 411–20. http://dx.doi.org/10.1016/0022-0248(87)90426-x.

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Chan, S. K., N. Liu, Y. Cai, N. Wang, G. K. L. Wong e I. K. Sou. "Molecular beam epitaxy—Grown ZnSe nanowires". Journal of Electronic Materials 35, n. 6 (giugno 2006): 1246–50. http://dx.doi.org/10.1007/s11664-006-0249-z.

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