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Tesi sul tema "Cristallisation en couche"

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Kim-Verjus, Kyung Sook. "Cristallisation de couches minces de silicium par recuit rapide RTA pour applications micro-électronique". Paris 7, 2001. http://www.theses.fr/2001PA077208.

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Pastol, Yvon. "Etude de la cristallisation en phase solide de couches minces de silicium implantees". Paris 7, 1987. http://www.theses.fr/1987PA077142.

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Abstract (sommario):
Etude des effets de dopage par implantation de bore et de phosphore. Etude du role des defauts d'irradiation dans des couches implantees au silicium. Les couches implantees et non implantees sont cristallisees en phase solide par recuit thermique a basse temperature. Etude de la taille des grains, de la texture, de la morphologie de surface et de la conductivite electriques des couches en fonction de la concentration d'ions implantes
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Said-Bacar, Zabardjade. "Elaboration et caractérisations de silicium polycristallin par cristallisation en phase liquide du silicium amorphe". Phd thesis, Université Paris Sud - Paris XI, 2012. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00680303.

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Abstract (sommario):
L'objectif de ce travail de thèse est l'élaboration du silicium polycristallin en phase liquide, sur substrat de verre borosilicate, en utilisant l'irradiation par laser continu de forte puissance d'un film de silicium amorphe. Des simulations numériques modélisant l'interaction laser-silicium amorphe ont été effectuées grâce à un modèle que nous avons développé sur l'outil COMSOL. Nous avons ainsi pu suivre l'évolution des transferts thermiques dans les différentes structures Si/verre irradiées par laser et ainsi pu évaluer l'impact des paramètres expérimentaux tels que la vitesse de balayage, la puissance du laser, la température du substrat sur les seuils de transition de phase du Si amorphe (fusion, cristallisation, évaporation). Ces résultats de simulation ont été confrontés à des données réelles obtenues en réalisant différentes expériences d'irradiation de films Si amorphe. Les résultats de cette comparaison ont été largement discutés. Dans une deuxième partie, nous avons étudié les propriétés structurales et morphologiques de films Si polycristallin obtenus par l'irradiation laser de films Si amorphe. En particulier, nous avons mis en évidence les effets de la présence d'impuretés tels que l'hydrogène ou l'argon présent dans les couches Si amorphe préalablement au traitement laser. Nous avons également montré que la croissance des cristaux silicium s'opère par épitaxie à partir d'un effet de gradient thermique latéral et longitudinal, produit respectivement par le profil énergétique du faisceau laser et la diffusion thermique par conduction, et par convection thermique dans la direction de balayage. L'optimisation des conditions opératoires nous a permis de réaliser des films Si polycristallin à larges grains, jusqu'à plusieurs centaines de µm de long sur plusieurs dizaines de µm de large. Ces structures sont très intéressantes pour des applications en électronique et en photovoltaïque.
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Antoine, Joseph. "Synthèse par pulvérisation cathodique de pérovskites thermochromes comme couche sélective "haute performance" d'absorbeurs solaires thermiques". Electronic Thesis or Diss., Université de Lorraine, 2019. http://www.theses.fr/2019LORR0273.

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Abstract (sommario):
Ces travaux de thèse ont porté sur l’étude du système LaCoO3 élaboré sous forme de couches minces par pulvérisation cathodique magnétron réactive. La première partie de ce travail est dédiée à l’étude des paramètres de synthèse permettant l’obtention d’un film homogène cristallin. Les influences sur la transition thermochrome des paramètres de traitement thermique et de la pression de dépôt sont discutées. Nous avons montré qu’il était possible de contrôler le rapport entre les phases cubique et rhomboédrique ainsi que la taille des cristallites en optimisant les paramètres de synthèse. Dans une seconde partie, nous avons étudié en détail les changements de propriétés de nos échantillons à l’aide du rayonnement synchrotron et de la microscopie électronique en transmission. Nos mesures ont montré que la phase cubique et la taille de cristallites influent le spin des atomes de cobalt et donc sur la nature des liaisons Co-O. Nous avons mis en évidence qu’une microstructure fine et une phase rhomboédrique augmentent l’effet thermochrome et l’amplitude optique de la transition grâce à une augmentation de la densité de population au niveau de Fermi et une diminution du gap optique
The present PhD work is focused on the study of the LaCoO3 system deposited as a thin film by reactive magnetron sputtering. The first part of this work is dedicated to the influence of the deposition parameters on the film structure. The influences of heat treatment parameters and deposition total pressure on the thermochromic transition are discussed. We have shown that it is possible to control the ratio between the cubic and rhombohedral phases as well as the size of the crystallites through the control of our parameters. In a second part, we studied in detail the properties changes using synchrotron radiation and transmission electron microscopy. Our measurements have shown that the cubic phase and the crystallites size influence the spin of cobalt atoms and therefore the nature of the Co-O bonds. We have shown that a fine microstructure and a rhombohedral phase increase the thermochromic effect and the optical switch of the transition thanks to an increase in the population density at the Fermi level and a decrease of the optical gap
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Huang, Xiaoqian. "Purification de l’eau usée par congélation sur paroi : modélisation par la méthode du champ de phase". Electronic Thesis or Diss., Lyon 1, 2024. http://www.theses.fr/2024LYO10205.

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Abstract (sommario):
Ce travail porte sur l’étude d’un procédé de purification de l’eau usée par congélation en couche sur paroi froide. Plusieurs études montrent que la croissance de la couche de glace dépend des caractéristiques de la phase liquide (concentration initiale en soluté, température du liquide, etc) et des paramètres opératoires (vitesse de refroidissement, ensemencement, sous-refroidissement et circulation de la phase liquide, etc). En revanche, la distribution du soluté dans la phase solide, un facteur crucial pour améliorer la performance du procédé, a été peu étudiée. Une conduite précise et rigoureuse du procédé est donc nécessaire pour obtenir une pureté de la glace bien maîtrisée. Pour atteindre cet objectif, cette thèse comporte une partie expérimentale et une partie de modélisation. Dans la partie expérimentale, le mélange H2O-NaCl a été choisi comme solution modèle. Un dispositif expérimental de cristallisation sur paroi froide a été spécifiquement conçu pour ce travail. Le montage est instrumenté avec des capteurs de température et de conductivité thermique, une caméra permet également de suivre in situ la croissance de la glace au cours des manipulations. Après une recherche bibliographique sur le principe de la cristallisation et la mise en œuvre du procédé, une série de manipulations pour une étude paramétrique a été réalisée. La croissance dendritique a été observée avec une vitesse de croissance élevée. Ce phénomène est dépendant de l’effet de convection, du sous-refroidissement, du gradient de température dans la phase liquide ainsi que de la concentration initiale de la solution à purifier. Pour la partie modélisation, la méthode du champ de phase a été choisie. Elle permet de simuler la morphologie et la cinétique de croissance du solide, l’inclusion de liquide (poches et interstices) dans le solide, ainsi que la phase liquide. Les simulations permettent de mieux comprendre les phénomènes intervenant lors de la cristallisation, tels que l’incorporation d’impuretés dans la glace. Cette méthode, peu utilisée dans le domaine du génie des procédés, a été d'abord appliquée à la congélation d’un corps pur (eau/glace) pour comprendre les équations et étudier les paramètres du modèle. Ce modèle a ensuite été élargi à la congélation d’un mélange binaire (H2O-NaCl), correspondant au produit choisi pour l’expérimentation. Afin de respecter la cohérence thermodynamique de cette méthode, le modèle de Pitzer a été choisi pour prédire l’équilibre et les propriétés thermodynamiques. A partir de ces bases de données thermodynamiques, les équations de bilan de matière, de bilan thermique et de champ de phases sont résolues. Les effets du sous-refroidissement, de la concentration et de l’anisotropie sur la croissance dendritique des cristaux sont comparés et discutés. Ce travail innovant a démontré la pertinence de la méthode des champs de phase, jusqu’alors peu développée en génie des procédés. Cette méthode permet de décrire les phénomènes développés à l’interface liquide/solide, de prédire le comportement de la phase solide pour limiter les phénomènes d’incorporation de soluté dans la glace et plus généralement de comprendre les phénomènes mis en jeu lors de l’étape de cristallisation
This work focuses on studying a wastewater purification process by freezing on a cold wall. Several studies show that the growth of the ice layer depends on the characteristics of the liquid phase (solute concentration, liquid temperature, etc.) and the experimental conditions (cooling rate, seeding, supercooling, and liquid phase circulation, etc.). However, the solute distribution in the solid phase, a crucial factor for improving the process performance, has been the focus of few studies. Therefore, precise and rigorous control of the process is necessary to achieve well-controlled ice purity. To achieve this goal, this thesis includes an experimental part and a modeling part. In the experimental part, the H2O-NaCl mixture was chosen as the model solution. An experimental setup for crystallization on a cold wall was specifically designed for this work. The setup is equipped with temperature and thermal conductivity sensors, and a camera is used to monitor the in-situ growth of ice during the manipulations. After a bibliographical study on the principle of crystallization and the implementation of the process, a series of manipulations for a parametric study was carried out. Dendritic growth was observed with a high growth rate. This phenomenon depends on the effect of convection, supercooling, the temperature gradient in the liquid phase, and the initial concentration of the solution to be purified. For the modeling part, the phase-field method was chosen. This method allows simulating the morphology and growth kinetics of the solid, the inclusion of liquid (pockets and interstices) in the solid, as well as the liquid phase. The simulations help better understand the phenomena occurring during crystallization, such as the incorporation of impurities into the ice. This method, rarely used in chemical engineering, was first applied to the freezing of a pure substance (water/ice) to understand the equations and study the model's parameters. This model was then extended to the freezing of a binary mixture (H2O-NaCl), corresponding to the product chosen for the experiment. To asses the thermodynamic consistency of this method, the Pitzer model was chosen to predict equilibrium and thermodynamic properties. Based on this thermodynamic data, the mass balance, thermal balance, and phase-field equations are solved. The effects of supercooling, concentration, and anisotropy on the dendritic growth of crystals are compared and discussed. This innovative work has demonstrated the relevance of the phase-field method, which has been little developed in chemical engineering until now. This method allows describing the phenomena occurring at the liquid/solid interface, predicting the behavior of the solid phase to limit the incorporation of solute into the ice, and more generally, understanding the phenomena involved during the crystallization step
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Cohin, Yann. "Comment orienter la croissance de nanofils semiconducteurs sur un support amorphe : de la couche mince texturée au nano-substrat pour l'épitaxie". Thesis, Paris 6, 2014. http://www.theses.fr/2014PA066384/document.

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Abstract (sommario):
Les semiconducteurs III–V sont des matériaux de choix pour la production d’électricité ou pour l’éclairage. En revanche, ce sont des matériaux difficiles à mettre en œuvre sous la forme de couches minces bidimensionnelles par hétéro-épitaxie en raison des forts écarts de paramètres de mailles et de coefficient d’expansion thermique avec les substrats. Il en résulte notamment de nombreuses dislocations très préjudiciables pour les propriétés de ces semiconducteurs. Une manière pour réduire cette quantité de défauts est d'utiliser le semiconducteur sous la forme de nanostructures, telles que les nanofils.Nous démontrons dans cette thèse de doctorat qu’un film polycristallin de silicium, s’il est doté d’une texture de fibre [111], est un candidat de choix pour jouer le rôle de substrat couche mince pour la croissance épitaxiale de nanofils orientés, sur un support amorphe. Un tel film peut être obtenu à grande échelle par cristallisation du silicium amorphe induite par l’aluminium. L’utilisation d’une couche très mince (moins de 10 nm) permet alors de profiter avantageusement des propriétés optiques du substrat.Pour de nombreuses applications, il peut être profitable de pouvoir localiser les nanofils selon un schéma prédéfini. Nous démontrons que cet objectif peut être réalisé grâce à l’emploi de plaquettes monocristallines de Si de quelques dizaines de nanomètres de diamètre. La cristallisation de ces véritables nano-substrats est tout d’abord étudiée en détails afin d’élaborer une recette robuste de fabrication. Dans un second temps, nous démontrons le concept de croissance de nanofils sur ces minces cristaux lithographiés
III–V semiconductors are materials of interest for energy production and lighting. However, these materials are difficult to grow by heteroepitaxy because of their lattice and thermal expansion coefficient mismatches with substrates. The resulting dislocations are extremely detrimental to their electronic properties. Nanostructures like nanowires relax efficiently the strain, thanks to their lateral free surfaces. Thus, they improve the material quality compared to planar thin films.In this PhD thesis, we demonstrate that a [111] fiber-textured polycristalline silicon layer film can be an efficient thin film substrate for oriented nanowire growth on an amorphous support. Such a film can be obtained by using the aluminum-induced crystallization of amorphous silicon. The optical and physical properties of the substrate are conserved by using a very thin Si layer (less than 10-nm thick).For many applications, organizing the nanowires in an array can be favorable. We demonstrate that this goal can be achieved by using small single crystal Si platelets (up to 100 nm in diameter). In a first time, the crystallization of these “nano-substrates” is comprehensively studied in order to define precise fabrication recipes. In a second time, we prove the concept of nanowire growth on these thin lithographed crystals
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Cohin, Yann. "Comment orienter la croissance de nanofils semiconducteurs sur un support amorphe : de la couche mince texturée au nano-substrat pour l'épitaxie". Electronic Thesis or Diss., Paris 6, 2014. https://accesdistant.sorbonne-universite.fr/login?url=https://theses-intra.sorbonne-universite.fr/2014PA066384.pdf.

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Abstract (sommario):
Les semiconducteurs III–V sont des matériaux de choix pour la production d’électricité ou pour l’éclairage. En revanche, ce sont des matériaux difficiles à mettre en œuvre sous la forme de couches minces bidimensionnelles par hétéro-épitaxie en raison des forts écarts de paramètres de mailles et de coefficient d’expansion thermique avec les substrats. Il en résulte notamment de nombreuses dislocations très préjudiciables pour les propriétés de ces semiconducteurs. Une manière pour réduire cette quantité de défauts est d'utiliser le semiconducteur sous la forme de nanostructures, telles que les nanofils.Nous démontrons dans cette thèse de doctorat qu’un film polycristallin de silicium, s’il est doté d’une texture de fibre [111], est un candidat de choix pour jouer le rôle de substrat couche mince pour la croissance épitaxiale de nanofils orientés, sur un support amorphe. Un tel film peut être obtenu à grande échelle par cristallisation du silicium amorphe induite par l’aluminium. L’utilisation d’une couche très mince (moins de 10 nm) permet alors de profiter avantageusement des propriétés optiques du substrat.Pour de nombreuses applications, il peut être profitable de pouvoir localiser les nanofils selon un schéma prédéfini. Nous démontrons que cet objectif peut être réalisé grâce à l’emploi de plaquettes monocristallines de Si de quelques dizaines de nanomètres de diamètre. La cristallisation de ces véritables nano-substrats est tout d’abord étudiée en détails afin d’élaborer une recette robuste de fabrication. Dans un second temps, nous démontrons le concept de croissance de nanofils sur ces minces cristaux lithographiés
III–V semiconductors are materials of interest for energy production and lighting. However, these materials are difficult to grow by heteroepitaxy because of their lattice and thermal expansion coefficient mismatches with substrates. The resulting dislocations are extremely detrimental to their electronic properties. Nanostructures like nanowires relax efficiently the strain, thanks to their lateral free surfaces. Thus, they improve the material quality compared to planar thin films.In this PhD thesis, we demonstrate that a [111] fiber-textured polycristalline silicon layer film can be an efficient thin film substrate for oriented nanowire growth on an amorphous support. Such a film can be obtained by using the aluminum-induced crystallization of amorphous silicon. The optical and physical properties of the substrate are conserved by using a very thin Si layer (less than 10-nm thick).For many applications, organizing the nanowires in an array can be favorable. We demonstrate that this goal can be achieved by using small single crystal Si platelets (up to 100 nm in diameter). In a first time, the crystallization of these “nano-substrates” is comprehensively studied in order to define precise fabrication recipes. In a second time, we prove the concept of nanowire growth on these thin lithographed crystals
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Kretz, Thierry. "Etude de la cristallisation de silicium amorphe obtenu par pyrolyse de disilane par lpcvd dans des conditions ultra-pures. Application a la realisation de transistors mos en couche minces". Université Louis Pasteur (Strasbourg) (1971-2008), 1993. http://www.theses.fr/1993STR13216.

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Abstract (sommario):
L'objectif de ce travail est d'elaborer des transistors en couches minces en silicium polycristallin a gros grains, a partir de couches amorphes de haute purete realisees dans un reacteur de type uhvcvd et cristallisees thermiquement en phase solide. Les materiaux amorphes elabores a partir du gaz disilane, decompose a des temperatures variant de 460 a 540c, sont compares aux depots a base de gaz silane obtenus par pyrolyse a 550c. Les analyses sims revelent que les concentrations en oxygene et en carbone dans ces depots sont de plus de deux ordres de grandeur inferieures a celles rapportees dans la litterature pour des depots lpcvd. Par spectrometrie raman, nous montrons que pour une vitesse de depot identique, le silicium amorphe realise a partir du gaz disilane presente un degre de desordre structural superieur au silicium amorphe genere par le gaz silane. La cristallisation en phase solide des couches amorphes de haute purete est ensuite etudiee. L'evolution de la texture <111> des couches polycristallines en fonction des conditions de depot est determinee par diffraction de rayons x dans la configuration (-2). Une methode de suivi in situ (dans le four de recuit) de l'evolution de la conductance des couches, en fonction de la duree de recuit, combinee avec des observations en microscopie electronique de la variation de la taille des grains, pour differentes temperatures de cristallisation, nous permet de remonter aux energies d'activation du taux de nucleation, e#n, et de la vitesse de croissance, e#g, des cristallites. Les valeurs de e#n et e#g sont en bonne correlation avec la difference de taille de grains (plus d'un ordre de grandeur) observee entre les couches a base de silane et celles a base de disilane. Finalement nous montrons que l'utilisation du gaz disilane permet d'ameliorer les caracteristiques electriques (mobilite, tension de seuil, pente sous le seuil) des transistors en couches minces en silicium polycristallin
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Lenne, Pierre-François. "Deux exemples de cristallisation à la surface de l'eau : cristaux 2-D de protéines ; monocouches d'alcools en présence d'amphiphiles solubles". Université Joseph Fourier (Grenoble ; 1971-2015), 1998. http://www.theses.fr/1998GRE10039.

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Abstract (sommario):
La premiere partie de cette these est consacree a la cristallisation de proteines a la surface de l'eau. Les etapes de formation des cristaux 2-d de proteines sont mises en evidence par ellipsometrie et mesure de la constante elastique de cisaillement. Des correlations sont etablies entre mesures physiques et observation en microscopie electronique apres transfert des cristaux. Quatre proteines differentes ont ete etudiees par diffraction des rayons x en incidence rasante sur un montage haute resolution. Trois d'entre elles, l'annexine v, la hupr marquee par une sequence d'histidines et la streptavidine presentent un spectre de diffraction montrant des pics de bragg fins. La longueur de coherence des cristaux est au moins de 4 m. La meilleure resolution dans le plan de l'interface est 9 a, atteinte avec la streptavidine pour laquelle 19 pics ont ete detectes. Les experiences de diffraction ont montre que les cristaux 2-d de proteines sont rapidement endommages par les rayons x. Nous mettons egalement en evidence des effets de l'addition de glutaraldehyde (cross-linker des proteines) : celui-ci augmente la rigidite laterale des monocouches, la resolution atteinte en diffraction x et diminue le dommage par irradiation. Dans la seconde partie, nous presentons des observations de microscopie de fluorescence de domaines solides en croissance dans des monocouches d'alcool, etalees sur une sous-phase contenant des molecules solubles et amphiphiles d'acide octanoique (pka=4,9). Les morphologies sont fortement branchees quand ph>pka et assez compactes dans le cas oppose. Pour ph
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Bouhki, Mohamed. "Amorphisation par réaction à l'état solide dans les multicouches NI/TI". Nancy 1, 1993. http://www.theses.fr/1993NAN10005.

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Abstract (sommario):
Ce travail concerne l'étude de l'amorphisation par réaction à l'état solide dans les multicouches NI/TI. En premier lieu, les multicouches NI/TI évoluent des que leur température augmente. Le début de l'amorphisation se fait par transformation d'intercouches mixtes par recuit. Ensuite le phénomène se poursuit par dissolution du titane dans le nickel, simultanément avec le phénomène d'amorphisation. Les mesures de résistivité électrique et de diffraction des rayons X permettent de suivre la cinétique d'amorphisation et d'accéder aux coefficients de diffusion. Les valeurs déterminées sont du même ordre de grandeur dans les deux cas. Trois régimes sont mis en évidence: tout d'abord un régime de croissance linéaire contrôlé par réaction à l'interface, puis un régime parabolique contrôlé par diffusion et enfin un ralentissement attribue à un comportement de l'intercouche amorphe en barrière de diffusion
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Rieu, Jean-Paul. "Contribution à l'étude de la fusion cristallisation des monocouches d'alcools courts à la surface de l'eau". Université Joseph Fourier (Grenoble ; 1971-2015), 1995. http://www.theses.fr/1995GRE10207.

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Abstract (sommario):
La fusion des monocouches d'alcools courts est etudiee par diverses techniques experimentales et theoriques (tension de surface, ellipsometrie, diffraction sous incidence rasante et reflectivite des rayons x, simulations numeriques). Les alcools courts sont legerement solubles dans l'eau. Les monocouches qu'ils constituent ne peuvent donc etre etudiees par la technique des barrieres de compression. La monocouche est formee a partir d'une goutte d'alcool deposee a la surface de l'eau qui joue le role d'un reservoir de matiere. En faisant varier la temperature, une transition de phase est observee dans la monocouche. Les experiences de diffraction nous indiquent qu'il s'agit d'une transition cristal hexagonal rotateur liquide. En diluant la goutte d'alcool avec de l'alcane, on obtient les diagrammes pression-temperature et pression-aire par molecule de la fusion. Ces diagrammes permettent de localiser la transition des alcools courts sur le diagramme dit universel des monocouches de langmuir insolubles. Les experiences de reflectivite des rayons x ont permis de determiner le profil de densite vertical de la monocouche. Cette donnee est utilisee pour construire un modele statistique de l'organisation des molecules dans la monocouche qui decrit semi-quantitativement les proprietes microscopiques des molecules dans chacune des phases solide et liquide et la transition entre ces deux phases. L'accord du modele avec les simulations numeriques de dynamique moleculaire et nos resultats experimentaux sur la fusion des monocouches d'alcools courts est tres satisfaisant
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Hamou, Ahmed. "Relaxation et cristallisation d'alliages chalcogènes vitreux riches en sélenium : influence de la coordination de l'élément d'addition". Rouen, 1993. http://www.theses.fr/1993ROUES001.

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Abstract (sommario):
Le but du travail présenté dans cette thèse est de chercher à partir de matériaux modèles, des grandeurs ou des méthodes pouvant caractériser la structure d'un verre. Dans une première partie, nous justifierons le choix des alliages étudiés (Se, Se-As, Se-Bi et Se-Ge). Puis nous présenterons leurs structures cristallines et vitreuses, enfin nous donnerons un bref aperçu des méthodes expérimentales utilisées pour la fabrication et le contrôle des échantillons. La deuxième partie est consacrée aux résultats expérimentaux. Par les études de la relaxation et la cristallisation des alliages étudiés, nous avons mis en évidence l'existence d'énergies d'activation caractéristiques du verre. Ces énergies sont liées au nombre moyen de coordination (M) de l'alliage. Nous avons alors retrouvé les valeurs du nombre de coordination (NCO) d'atomes (Te et Bi) dont la nature covalente de la liaison ne semble pas être évidente. Par les études de la relaxation et de la recristallisation du Se-As et du Se-Ge, nous avons mis en évidence des valeurs critiques de la composition non prévues par les diagrammes de phase de ces alliages. Citons entre autres la valeur de M égale à 2. 08 au-delà de laquelle la cristallisation disparaît. Pour les matériaux préparés sous forme de couche mince, nous avons étudié l'influence sur la cristallisation des conditions de préparation et déterminé les paramètres de cette cristallisation
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Druaux, Fabrice. "Etude de la relation entre la cristallisation et l'évolution du magnétisme dans des couches minces désordonnées Ni-Ag riches en Ag". Rouen, 1986. http://www.theses.fr/1986ROUES039.

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Abstract (sommario):
Evolution du magnétisme et de l'effet Hall dans les alliages Ni(x)Ag(1-x) riches en argent obtenus dans un état désordonné puis cristallisés par recuit. Polarisation magnétique, susceptibilité en champ fort et coefficients de Hall. Interprétation des résultats par des considérations de structure
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Zakri, Cécile. "Étude de la fusion-cristallisation de monocouches de 1-alcools à la surface de l'eau : mesures d'élasticité latérale par diffraction de rayons X et par une méthode mécanique". Université Joseph Fourier (Grenoble ; 1971-2015), 1997. http://www.theses.fr/1997GRE10107.

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Abstract (sommario):
Les proprietes elastiques et le scenario de fusion-cristallisation des 1-alcools courts, amphiphiles partiellement solubles dans l'eau, sont etudies. La monocouche est formee a partir d'une goutte d'alcool, deposee a la surface de l'eau et qui constitue un reservoir de matiere. En faisant varier la temperature, une transition est detectee par ellipsometrie et tension de surface. Par diffraction de rayons x sous incidence rasante, on sait qu'il s'agit d'une transition entre phase solide hexagonale rotateur et phase liquide. Cette fusion, nettement du premier ordre pour les alcools longs, semble changer de nature pour les chaines plus courtes. Par diffraction de rayons x sur un montage a tres haute resolution, une etude approfondie du scenario de fusion bidimensionnelle des chaines longues et de la monocouche de decanol est realisee. La constante elastique de cisaillement et la compressibilite sont extraites de l'analyse des formes de raies. Une experience mecanique de mesure de la constante elastique de cisaillement de films, concue entierement au laboratoire, est decrite. Elle apporte des informations complementaires sur la cinetique de cristallisation des monocouches de 1-alcools. Cette technique de mesure se revele surtout bien adaptee a l'etude de la cristallisation des proteines telles que la ctb. Elle permet une comparaison entre la cinetique d'adsorption, determinee par ellipsometrie et la cinetique de nucleation et croissance des cristaux de ctb en monocouche de lipides.
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HELEN, YOURI. "Transistors en couches minces de silicium : de la cristallisation en phase solide a la cristallisation laser". Rennes 1, 2000. http://www.theses.fr/2000REN10141.

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Abstract (sommario):
Ce travail de these est consacre a la fabrication de transistors en couches minces de silicium cristallise par laser. L'objectif est de definir les parametres de cristallisation conduisant aux transistors les plus performants en terme de mobilite, de tension de seuil et de pente sous le seuil. La premiere phase du travail concerne l'etude de la cristallisation de la couche de silicium par un laser excimere de grande surface developpe par la societe sopra. Cette premiere etude a mis en evidence que dans le cas d'une cristallisation effectuee dans l'air, une energie de 600 mj/cm 2 associee a 10 impacts conduisait aux transistors les plus performants. Une etude structurelle de la couche en fonction de l'energie ainsi qu'une simulation de la fusion de la couche de silicium soumise a un impact ont confirme cette energie de cristallisation optimale. Bien que presentant des performances statiques interessantes ( f e = 140 cm 2/v. S), ces structures souffrent d'un manque de stabilite lorsqu'elles sont soumises a un stress electrique. Ce probleme de stabilite est probablement lie a la precipitation d'impuretes dans la couche de silicium lors de l'impact laser. Une etude de la cristallisation sous atmosphere neutre a par consequent ete menee. L'evolution de la morphologie des couches a situe l'energie de cristallisation optimale a 630 mj/cm 2. Ce resultat est confirme par les performances optimales des transistors a cette energie ( f e = 180 cm 2/v. S). Outre ces performances electriques tres satisfaisantes, ces transistors s'averent plus stables que ceux fabriques a partir d'une couche cristallisee dans l'air. La seconde partie de cette these aborde la cristallisation des couches de silicium par un laser solide (nd : yvo 4). La structure anisotropique des grains issus de cette cristallisation, induit des performances differentes des transistors selon leur orientation par rapport au balayage du laser. Les transistors paralleles presentent une mobilite moyenne de 350 cm 2/v. S alors que les transistors perpendiculaires ont une mobilite plus faible (220 cm 2/v. S). En outre, nous avons montre que reduire la taille des composants permettait d'augmenter la mobilite d'effet de champ ( f e = 470 cm 2/v. S).
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Bisaro, René. "Etude des proprietes et structure des couches minces de silicium deposees par decomposition thermique de silane". Paris 6, 1987. http://www.theses.fr/1987PA066267.

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Abstract (sommario):
La taille des grains, la texture, la morphologie de surface, la conductivite electrique et l'absorption optique sont etudies en fonction des parametres de depot. L'optimum des proprietes de transport des couches polycristallines est lie a un regime de cristallisation en phase solide. Etude du processus de cristallisation, effet d'impuretes dopantes. On met en evidence l'effet des liaisons disponibles et de leur etat de charge sur le mecanisme des cristallisation
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Pedroviejo, Poyatos Juan-José. "Films de silicium déposés par LPCVD à partir de disilane : mécanismes de dépôt, propriétés et aptitude à la réalisation de transistors sur films minces". Toulouse, INSA, 1993. http://www.theses.fr/1993ISAT0010.

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Abstract (sommario):
La potentialite du disilane comme filiere gazeuse pour la realisation de films de polysilicium, obtenus par depot chimique en phase vapeur a basse pression, est etudiee du point de vue de l'influence des parametres de depot (temperature , pression, facteurs geometriques) sur la cinetique de depot, l'homogeneite, la cristallisation par recuit a 600c et la cinetique d'oxydation a 600c en ambiance humide. Dans une premiere etape, nous essayons de discerner les phenomenes physicochimiques pouvant intervenir lors du depot et susceptibles d'expliquer les resultats obtenus concernant la cinetique de depot et l'homogeneite des films realises. Le recuit en atmosphere neutre et l'oxydation de ces films a 600c nous a permis de constater que, moyennant un choix judicieux des conditions de depot, la filiere disilane permet d'obtenir a la fois une cristallisation optimale et un taux d'oxydation maximum, ce qui n'est pas le cas des autres filieres. La derniere partie du memoire donne les resultats electriques obtenus pour differentes series de transistors a films minces, realises sur les materiaux etudies, et dont la fabrication inclut des etapes technologiques originales comme la realisation d'isolants de grille bi-couches sio2-si3-n4, le dopage in-situ lors du depot pour la realisation des zones de drain et de source, ou l'hydrogenation par plasma. Les valeurs de mobilite obtenues (27 cm2/v. S pour les electrons, 22,7 cm2/vs pour les trous), comparees a celles de la litterature, confirment l'avenir du disilane comme filiere gazeuse adaptee a la realisation par lpcvd de films qui repondent aux besoins des nouvelles technologies microelectroniques
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Legrand-Buscema, Caroline. "Préparation de SrBi2Nb2O9 par voie sol-gel : cristallisation des poudres et couches minces épitaxiées". Limoges, 2000. http://www.theses.fr/2000LIMO0034.

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Abstract (sommario):
La tendance generale a la miniaturisation des dispositifs conduit de plus en plus a focaliser les recherches sur les materiaux fonctionnels en couches minces. Parmi ces materiaux, les ferroelectriques prennent une place de plus en plus importante notamment dans le domaine des memoires non volatiles. Si les pzt ont deja fait l'objet de nombreux travaux, les recherches sur les composes ferroelectriques a couches de bismuth ou phases d'aurivillius sont en plein essor en raison de leur resistance a la fatigue et de leur aptitude a conserver leur polarisation apres de nombreux cycles de fonctionnement. Dans le cadre general, et compte tenu de l'experience acquise au spcts dans ce domaine, le travail presente concerne une des phases d'aurivillius parmi les plus prometteuses, srbi 2nb 2o 9 (sbn), pour laquelle persistent encore des zones d'ombre concernant a la fois la fabrication, la nature des defauts structuraux, son epitaxie sur divers substrats monocristallins, ce dernier point etant etroitement lie a son utilisation dans les memoires (possibilite d'obtenir des couches ferroelectriques avec des orientations choisies de la polarisation par rapport au substrat). Sbn a ete prepare par voie sol-gel selon une technique deja utilisee au spcts. La cristallisation des xerogels, puis son orientation et l'epitaxie de couches deposees par centrifugation (spin-coating) ont ete etudiees a la fois par diffraction des rayons x et par microscopie electronique en transmission. La fabrication de la phase sbn cristallisee passe toujours par la formation d'une phase intermediaire de type fluorine de composition inconnue, certainement riche en bismuth, qui pourrait etre le precurseur des feuillets bi 2o 2 caracteristiques des phases d'aurivillius
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Pastol, Yvon. "Etude de la cristallisation en phase solide de couches minces de silicium implantées". Grenoble 2 : ANRT, 1987. http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37608702x.

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Tobie, Gabriel J. R. "Impact du chauffage de marée sur l'évolution géodynamique d'Europe et de Titan". Paris 7, 2003. http://www.theses.fr/2003PA077118.

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Münster, Peter. "Silicium intrinsèque et dopé in situ déposé amorphe par SAPCVD puis cristallisé en phase solide". Rennes 1, 2001. http://www.theses.fr/2001REN10047.

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Abstract (sommario):
Ce travail est consacré à la fabrication de couches de silicium polycristallin non dopé et dopé in situ avec de l'arsenic et du bore dans un nouveau réacteur SAPCVD (sub-atmosphéric pressure chemical vapor deposition). Le silicium est déposé amorphe et ensuite cristallisé en phase solide. Une première partie de la thèse décrit la mise au point du réacteur de dépôt et les modifications apportées au prototype pour obtenir un vide secondaire. Dans une deuxième partie, les cinétiques de dépôt et de cristallisation en phase solide sont étudiées. Les couches cristallisées sont ensuite caractérisées par des techniques diverses. Il s'avère, qu'une pression de dépôt élevée entraîne non seulement une vitesse de croissance importantes de quelques 10 um/h mais également de meilleures propriétés électriques et structurales du matériau cristallisé. L'analyse approfondie des propriétés des couches en fonction des paramètres de dépôt montre, qu'une pression de 400 mbar et une température de 560°C sont optimales pour une bonne qualité cristalline. La cinétique, la cristallisation et les propriétés électriques des dépôts dopés in situ ont été étudiés également en fonction des paramètres de dépôt et des flux de gaz dopants, arsine et diborane. Nous avons obtenu des dopages intermédiaires de type p donnant moins de 10 puissance 17 cm -3 porteurs libres avec une mobilité d'environ 30 cm2/Vs. Le dopage de type n, donc avec de l'arsenic, a été réalisé dans la gamme 5 x 10 puisance 17 cm -3 à 10 puissance 20 cm -3, les mobiltés pour les dopages de l'ordre de 10 puissance 19 cm -3 étant supérieures à 50 cm2/Vs. Finalement, une première diode pin, réalisée entièrement par dépôt SAPCVD, a montré des cractéristiques intéressantes par raport à la CVD à basse pression. Cependant, elles restent encore insuffisantes et necessitent une optimisation ultérieureCe travail est consacré à la fabrication de couches
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Pier, Tanguy. "Utilisation de silicium déposé microcristallin par PECVD et re-cristallisé par laser excimère dans la fabrication de transistors en couches minces à T<200°C". Rennes 1, 2007. http://www.theses.fr/2007REN1S146.

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Abstract (sommario):
L’objet de ce travail de thèse est la mise au point d’une technologie capable de produire des transistors en couches minces performants à partir de silicium à une température inférieure à 200°C compatible avec l’usage de substrats plastiques. Il repose sur le recours au recuit par laser excimère qui permet de re-cristalliser à posteriori des couches de silicium microcristallin déposées à une température de 165°C. La première partie de ces travaux consiste en l’établissement de la technique de re-cristallisation sur substrat de verre. L’application du recuit par paliers d’énergie progressifs permet d’aboutir à une couche très cristallisée faite de grains de grande taille et non-endommagée. Des grains de grande taille, 300 nm, ainsi qu’un taux de cristallinité de 89%, sont obtenus. Les transistors produits à partir de telles couches ont pu démontrer une mobilité d’effet de champ de 400 cm2/V. S pour les électrons. La partie suivante envisage le report sur substrats plastiques de la technique éprouvée sur verre. Le premier substrat testé est le PDMS. Des couches d’une cristallinité de 80% avec des grains atteignant 400 nm sont produites. Les transistors fabriqués à partir de ces couches montrent une mobilité électronique de 65 cm2/V. S. Le second substrat testé est le PEN. Le recours à une technique similaire permet là aussi l’obtention de couches très cristallisées, à 84%, porteuses de gros grains, 400 nm. Il est possible de réaliser des transistors d’une mobilité électrique de 47 cm2/V. S sur ce dernier substrat
The aim of this work is the development of a technology able to produce high performance thin film transistors from silicon at temperature below 200°C, which is compatible with the use of plastic substrates. It employs excimer laser annealing of microcrystalline silicon layers deposited at 165°C. The first part of this work concerns the optimization of the annealing technique on glass substrate. Annealing by progressive laser energy steps allows to get highly crystallized layer made of large grains. Large grain size, 300 nm, as well as crystalline fraction of 89 % are obtained. Transistors produced from such layers have been able to show an electronic mobility of 400 cm²/V. S. Next part is about the report of this technique, experienced on glass, on plastic substrates. The first tested substrate is PDMS. Layers with a crystalline fraction of 80% with grains reaching 400 nm are produced. Transistors produced from such layers show an electronic mobility of 65 cm²/V. S. The second tested substrate is PEN. The use of similar technique allows to obtain highly crystallized layers at 84%, with large grains of 400 nm. It is possible to realize transistors with an electric mobility of 47 cm²/V. S. On this substrate
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Zaghdoudi, Meriem. "Effet du dopage sur les propriétés de transport des couches de silicium polycristallin : application à la réalisation de transistors à base de ces couches". Rennes 1, 2009. http://www.theses.fr/2009REN1S205.

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Abstract (sommario):
Ce travail de thèse est consacré à la fabrication de transistors en couches minces (TCM) de silicium polycristallin (Si-poly), déposé amorphe par LPCVD à 550° C et cristallisé en phase solide à 600° C sous la couche active qui est traditionnellement du Si-poly non-dopé. La première partie est réservée à l'étude des propriétés physiques, optiques et électriques du Si-poly très faiblement dopé en phosphore ou en bore, in-situ pendant le dépôt. L'ensemble des caractérisations physiques (Microscope Eléctronique à Balayage), optiques (transmission optique, photodéflexion thermique (PDS), photluminescence à très basse température) et électriques (conductivité, effet Hall) montrent une amélioration des propriétés du matériau avec le dopage jusqu'à un optimum au delà duquel les propriétés se détériorent de nouveau. La deuxième partie traite de la réalisation de TCMs à couche active faiblement dopée et à canal N et P. Les transistors de type N dont le rapport W/L = 80µm/40m présentent une mobilité d'effet de champ de 160 cm²/V. S et une tension de seuil 1,2 V pour une épaisseur d'oxyde de grille de 70 nm. Une dispersion de moins de 6% sur la valeur de la mobilité est obtenue sur une surface de 5 cm x 5 cm. Ces valeurs présentent une grande stabilité sous l'effet de l'application d'un stress de tension de grille positif ou négatif
The present work is devoted of the fabrication of thin films transistors (TFT) based on polycristalline silicon (Poly-Si), amorphously deposited by LPCVD at 550° C and then solid phase crystallized at 600° C during 8h. The goal is to improve the TFT's performance by slightly doping the active layer that is usually made on undoped Poly-Si. In the first part, physical, optical and electrical porperties of slightly boron or phosphorus doped poly-Si are studied. All the physical (Scanning Electron Microscopy), optical (optical transmission, photothermal deflexion (PDS), photoluminescence at very low temperature) and electrical (conductivity, Hall effect) characterisations show an improvement of the material properties with the doping level still an optimum. The second part is devoted to the fabrication of N-type and P-type TFTs using previously slightly doped ploy-Si as active layer. N-type TFTs with a channel width to length ratio W/L of 80µm/40µm show a field effect mobility of 160 cm²/V. S and a threshold voltage of 1. 2V when the thickness of silicon dioxide gate insulator is 70nm. The dispersion of the mobility values is less than 6% on an area of 5cm x 5 cm. They present high stability under negative or positive gate bias stress
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Saïd, Alami Mohammed. "Influence du recuit sur l'effet Hall de couches minces de nickel-argent amorphes et microcristallisées". Rouen, 1986. http://www.theses.fr/1986ROUES014.

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Abstract (sommario):
Détermination de la composition pour laquelle l'alliage nickel-argent devient amorphe et ferromagnétique, à partir de l'étude de l'effet Hall et de la structure par microscopie électronique. On montre que la température de Curie reste constante dans la phase désordonnée. Apparition d'une phase superparamagnétique au sein de la matrice initiale par recuits successifs
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Hamzaoui, Asmae. "Etude de capteurs d'efforts piézoélectriques par technologies couches minces". Thesis, Bourgogne Franche-Comté, 2017. http://www.theses.fr/2017UBFCA012.

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Abstract (sommario):
Les zirconates titanates de plomb (PZT) suscitent un intérêt considérable pour plusieurs applications industrielles, au regard de leurs excellentes propriétés piézoélectriques et électromécaniques. Le contexte actuel de l’innovation technologique est la miniaturisation et l’allègement des produits ; c’est pour cette raison que de nombreuses études sont menées depuis une vingtaine d’années sur les techniques et les procédés de synthèse de ces matériaux piézoélectriques sous forme de couches minces tout en garantissant une fiabilité accrue. Dans ce contexte, l’étude menée dans le cadre de cette thèse, a visé l’optimisation du procédé d’élaboration de films minces piézoélectriques de PZT par pulvérisation cathodique magnétron en mode DC et en mode Rf, en vue d’obtenir des capteurs d’efforts piézoélectriques. La synthèse in situ et la cristallisation ex-situ des films élaborés, par recuit classique (CFA) ou recuit rapide (RTA) confirme une structure pérovskite du PZT, complétées par une série de caractérisations morphologiques et structurales. Les domaines ferroélectriques à l’origine des propriétés piézoélectriques sont correctement visualisés par PFM et le calcul du coefficient piézoélectrique d33 des couches synthétisées sur des substrats métalliques, est réalisé par interféromètre laser. En parallèle, une approche expérimentale est menée sur l’évolution des performances piézoélectriques des films de PZT d’une part en fonction du mode d’élaboration et d’autre part en fonction de la texturation des couches, assurée par des traitements thermiques de cristallisation
Recently, PZTs thin films have been spotlighted for various applications owing to their excellent piezoelectric and electromechanical properties. Most of the existing coating methods have been explored for the deposition of PZT. In this work, amorphous Pb(ZrxTi1-x)O3 (PZT) thin films were prepared by pulsed DC and RF magnetron sputtering in order to device a piezoelectric force sensors. The structure of a perovskite phase of PZT thin films was successfully characterized and morphological characterizations were investigated. Ferroelectrics properties of PZT thin films were determined using Piezoresponse Force Atomic technique (PFM) while the functional response of the films was characterized by measurements of piezoelectric d33 coefficients. Additionally, the coating processes and the crystallization behavior at different temperatures, of amorphous PZT thin films during either conventional furnace annealing (CFA) or rapid thermal annealing (RTA) were studied to understand the evolution of piezoelectric properties of films
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Hu, Jianxiong. "Une nouvelle méthode d'élaboration de films minces : le dépôt d'agrégats : application au cas de l'antimoine". Lyon 1, 1993. http://www.theses.fr/1993LYO10011.

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Abstract (sommario):
L'interet de pouvoir controler de facon reproductible la croissance des films minces a conduit a des developpements recents dans les methodes de depot. Parmi les techniques les plus actuelles exploitees dans ce domaine, celles faisant appel a un jet d'agregats presente le plus d'attrait. La croissance, ainsi que les proprietes des couches obtenues par ces techniques de depot, sont essentiellement controlees par les caracteristiques du jet d'agregats (taille moyenne de la distribution d'agregats, energie cinetique) et par la temperature du substrat. En utilisant une source de type sattler qui fournit une distribution de taille relativement etroite, nous avons compare la technique du depot par jet d'agregats a la methode classique de depot par jet moleculaire dans le cas de l'antimoine. Afin de minimiser l'interaction entre le substrat et le depot, un substrat amorphe a ete choisi pour prevenir toute croissance epitaxiale. Les depots sont caracterises in situ par des mesures electriques et apres transfert a l'air, les films peuvent etre analyses par microscopie electronique a transmission (met). Notre etude a montre que les films d'antimoine obtenus par la methode classique croissent par ilots autour de centres de nucleation de la surface. D'autre part les couches continues obtenues par cette methode sont toujours cristallisees a la temperature ambiante. Par contre nous avons trouve que dans le cas d'un film realise par la methode du depot d'agregats, la quantite de matiere necessaire pour former une couche continue est dix fois plus faible que dans la methode classique. D'autre part les couches obtenues sont amorphes et leur morphologie differe totalement de celle obtenue par depot moleculaire
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Michaud, Jean-François. "Mise au point d'une technologie de cristallisation de silicium par laser argon continu. Application à la réalisation de transistors en couches minces". Rennes 1, 2004. http://www.theses.fr/2004REN10107.

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Abstract (sommario):
Ce travail de thèse est consacré à la mise au point d'une technologie de cristallisation de silicium, déposé sur verre, à l'aide d'un laser argon continu. L'objectif est d'obtenir des couches de polysilicium possédant des propriétés électriques optimales en vue de leur utilisation pour la fabrication de transistors en couches minces. Une grande partie de ce travail a donc consisté à développer la technologie de cristallisation laser, par le passage en phase liquide du silicium déposé. Une optimisation du procédé a conduit à l'obtention de grains présentant une taille pouvant atteindre plusieurs dizaines de microns. Les premiers transistors fabriqués possèdent néanmoins un courant à létat bloquant trop élevé. La solution qui semble la mieux adaptée pour s'affranchir de ce problème consiste à cristalliser la couche de silicium à laide d'un double recuit, en phase solide. La mobilité des transistors fabriqués selon cette méthode atteint 145 cm2/V. S avec une dispersion n'excédant pas 7 %.
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ELLIQ, MOHAMMED. "Cristallisation et dopage laser du silicium amorphe. Application a la fabrication de transistors mos en couches minces en silicium polycristallin". Université Louis Pasteur (Strasbourg) (1971-2008), 1994. http://www.theses.fr/1994STR13243.

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Abstract (sommario):
Dans ce travail, j'ai demontre les possibilites offertes par les lasers de puissance dans les processus intervenant dans la fabrication de transistors mos en couches minces en silicium polycristallin (tft en poly-si) realises sur des substrats de verre associant a la fois : - la realisation du canal par cristallisation d'une couche mince de silicium amorphe ou par depot direct d'un film de polysilicium par photo-cvd du silane ou du disilane - et le dopage de la source et du drain a partir d'un film de silice dopee prealablement depose a la surface du silicium. Deux types de lasers ont ete utilises dans ce travail : le laser pulse a excimeres arf a large faisceau (s = 1 cm 2) et le laser pulse et balaye nd : yag double en frequence a microfaisceau ( = 100 ). Apres avoir etudie les mecanismes de cristallisation laser d'un film de silicium amorphe depose sur un substrat de verre et leurs effets sur la microstructure et la morphologie des couches de polysilicium obtenues, j'ai demontre que la couche cristallisee presente une structure non homogene : une couche a gros grain en surface et une couche a grains fins sous-jacente. Les tft en poly-si dont le canal a ete realise par cristallisation laser d'un film de silicium amorphe non hydrogene depose sur un substrat de verre presentent les caracteristiques electriques suivantes : laser arf : = 141 cm 2/v. S v t = 1,5 v i o n = 4 10 - 4 a i o f f < 10 - 1 2 a laser nd:yag : = 60 cm 2/v. S v t = 2,5 v i o n = 2 10 - 4 a i o f f = 4 10 - 1 2 a. A la suite de ces travaux mes efforts ont porte sur la mise en uvre une nouvelle technique de dopage qui consiste a irradier un film d'oxyde dope (b 2o 3 ou p 2o 5), prealablement depose par centrifugation a la surface du film de silicium a doper, avec une ou plusieurs impulsions laser. Les resistances carrees obtenues par cette methode de dopage, aussi bien pour le bore que pour le phosphore, sont inferieures a 10 4 /@. L'application de ce procede au dopage des regions de source et de drain des tft en poly-si obtenu par cristallisation thermique d'un film de silicium amorphe a permis d'obtenir des caracteristiques electriques ( = 51 cm 2/v. S, v t = 4 v, i o n/i o f f = 1,5 10 5) analogues a celles obtenues lorsque cette operation est realisee par implantation ionique ( = 56 cm 2/v. S, v t = 5 v, i o n/i o f f = 5 10 5). Par ailleurs, j'ai mis en uvre une technique de depot de films de polysilicium en irradiant le silane ou le disilane dilues dans l'azote par le laser pulse arf perpendiculaire au substrat de verre. Le film de polysilicium ainsi obtenu, recouvrant la quasi-totalite du substrat, est faiblement hydrogene ; son epaisseur ainsi que la hauteur moyenne des rugosites de sa surface croissent avec la densite d'energie.
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Devisme, Samuel. "Contribution à l'étude de l'extrusion couchage du polypropylene sur l'aluminium". Phd thesis, École Nationale Supérieure des Mines de Paris, 2006. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00413038.

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Abstract (sommario):
Dans l'industrie alimentaire, de nombreuses structures sont réalisées par extrusion couchage. Nous nous sommes focalisé sur l'extrusion couchage de structures multicouches de type polypropylène/polypropylène greffé (liant) /aluminium réalisé par extrusion couchage. Dans ce type de structure, l'adhésion dépend fortement des conditions de procédé pour un liant donné. Au cours du procédé, une réaction a lieu entre les molécules greffées et les oxydes d'aluminium. En effet, le polypropylène est greffé avec des molécules polaires telles que l'aluminium afin de renforcer son affinité vis à vis de l'aluminium. Nous avons donc cherché à déterminer quels paramètres influençaient l'adhésion et pourquoi. Un model capable de simuler le procédé et quantifier l'impact de l'histoire thermique sur l'adhésion a donc été développé. Nous avons démontré que l'histoire thermique a une importance cruciale sur la cinétique de création de liaisons à l'interface mais aussi sur la structure du film qui va gouverner les propriétés mécaniques du film. Des mesures de densité de liaison à l'interface par XPS et la caractérisation des propriétés mécaniques ont révélé que c'est la combinaison de ces deux phénomènes qui explique l'adhérence mesurée lors des tests de pelage.
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Druaux, Fabrice. "Etude de la relation entre la cristallisation et l'évolution du magnétisme dans des couches minces désordonnées Ni-Ag riches en Ag". Grenoble 2 : ANRT, 1986. http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37597297h.

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Saboundji, Amar. "Qualification de différents matériaux silicium en vue de la réalisation sur le même substrat de transistors dédiés à différentes applications". Rennes 1, 2004. http://www.theses.fr/2004REN10150.

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Abstract (sommario):
Durant cette thèse, nous nous sommes intéressés à la fabrication de transistors en couches minces de silicium amorphe, microcristallin ou cristallisé par laser. La première phase du travail concerne l'étude de la cristallisation de la couche active des transistors par un laser continu Nd : Yag. Les couches cristallisées avec une énergie E = 3. 64 W, ont des grains de taille maximale. Les transistors de type N présentent des mobilités d'environ 630 cm2/V. S. Cependant, ces transistors présentent une grande dispersion de la mobilité de l'ordre de 15% et surtout une variation aléatoire, inacceptable, du courant inverse d'un transistor à son voisin. L'énergie de 3. 12 W semble être le meilleur compromis possible entre une bonne mobilité et une homogénéité acceptable, de l'ordre de 5%. Elle aboutit à une mobilité de 390 cm2/V. S. La taille des grains issus de cette cristallisation, induit des performances différentes des transistors selon leur orientation par rapport au balayage du laser. Les transistors parallèles présentent une mobilité moyenne de 390 cm2/V. S alors que les transistors perpendiculaire voient la mobilité chuter à 240 cm2/V. S. Dans la seconde partie de ce travail nous somme intéressés à la faisabilité de transistors stables fabriqués à basse température. Les transistors réalisés avec des couches de silicium amorphe déposé par filament chaud donnent des résultats intéressants particulièrement une grande mobilité d'effet de champ ((= 1. 3 cm2/V·s). Ils sont par contre aussi instables que les habituels transistors au silicium amorphe. Par contre les transistors fabriqués à partir de silicium microcristallin présentent une très bonne stabilité. De très grandes mobilités d'électrons (40 cm2/V·s) sont obtenues avec des transistors réalisés à partir de couches micrcristallines déposées aussi bien par filament chaud que par PECVD. Ces résultats confirment la possibilité d'utiliser le silicium microcristallin comme alternative au silicium amorphe dans les écrans plats La valeur de la mobilité de trous obtenue 1. 15 cm2/V·s, jamais atteinte auparavant avec ce type de matériau, est quant à elle suffisante pour envisager la réalisation de circuits CMOS.
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Celle, Caroline. "Filmes minces et ultra-minces de polymères amorphe (PS) et semi-cristallin (PCL) : élaboration - structure et morphologie - propriétés particulièes (Tg, Tf, Tc)". Lyon 1, 2005. http://www.theses.fr/2005LYO10265.

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Abstract (sommario):
Le but est d'élaborer et de caractériser des films minces et ultra-minces de polymères amorphes et semi-cristallins supportés sur wafers de silicium, ainsi que d'étudier la modification des propriétés macroscopiques (transition vitreuse Tg, fusion Tf et cristallisation Tc) des films ayant des épaisseurs h comparables à quelques rayons de giration ou épaisseurs des lamelles cristallines. Le greffage " from " de brosses de PS à densités variables (dépôt Langmuir-Blodgett réactif et polymérisation radicalaire contrôlée par les nitroxydes TEMPO, SG1, TIPNO) et la synthèse de brosses de copolymères diblocs de natures chimiques variées et réticulables permettent de moduler les énergies interfaciales et la mobilité des bouts de chaînes PS au niveau du substrat et du superstrat pour l'étude de Tg(h) (ellipsométrie). L'étude de films ultraminces de polycaprolactone dip coatés montre une diminution de Tf et Tc (ellipsométrie) ainsi qu'une modification notable des morphologies cristallines (AFM, GIWAXS) avec l'épaisseur et la masse molaire de la PCL
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Gouyé, Adrien. "Développement et intégration de procédés d’épitaxie à basse température en chimie trisilane". Aix-Marseille 3, 2009. http://www.theses.fr/2009AIX30004.

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Abstract (sommario):
Les précurseurs de silicium les plus utilisés pour la CVD en microélectronique sont sans doute le silane et le dichlorosilane. Avec ces précurseurs, les dépôts obtenus sont de bonne qualité et compatibles avec une utilisation en microélectronique. Cependant, ces précurseurs nécessitent des budgets thermiques élevés (> 650 °C) qui sont peu compatibles avec l’élaboration de MOSFETs avancés. Dans ce travail, nous avons évalué le trisilane (Silcore®) comme précurseur de Si. Nous avons montré qu’il est possible de réduire la température des procédés (< 650 °C) de façon significative tout en gardant des taux de croissance élevés et donc compatibles avec une utilisation industrielle. Les études que nous avons menées sur les cinétiques de croissance ont montré qu’il existe une fenêtre entre 600 °C et 700 °C où le taux de croissance est pratiquement indépendant de la température, ce qui favorise l’uniformité des dépôts. Dans ce travail, nous avons utilisé la chimie trisilane pour divers procédés d’épitaxie à basse température. Bien que les procédés à base de trisilane ne soient pas sélectifs sur Si par rapport aux zones isolantes, un procédé sélectif cyclique, avec un dépôt et une gravure chimiques en phase vapeur, est utilisé pour intégrer des S/D Si1 yCy contraints (nMOSFETs). Un tel procédé cyclique peut, aussi, être utilisé pour former sélectivement des S/D Si1 xGex (pMOSFETs). Des films de silicium amorphes ont aussi été déposés à basse température (400 °C) permettant d’intégrer des S/D surélevés par cristallisation en phase solide (épitaxie indirecte). Finalement, des nanocristaux de Si sont également déposés à basse température en chimie trisilane. Le trisilane permet, entre autres, de simplifier le procédé de dépôt des nanocristaux pour les MOSFETs à grille flottante
The most used Si precursors for CVD in microelectronics are certainly silane and dichlorosilane. Using those precursors, high quality layers that are compatible with microelectronics use are currently obtained. However, the involved thermal budget is too high (> 650 °C) and not compatible with the processing of advanced MOSFETs. In this work we investigated the use of trisilane (Silcore®) as Si precursor. We have demonstrated the possibility to reduce significantly the thermal budget (< 650 °C) while keeping high growth rates needed for industrial use. We identified a process window between 600 °C and 700 °C where the growth rate is found to be temperature-independent. In this process window the thickness of the layers is insensitive to any temperature fluctuation and thus uniform. In this work we successfully used trisilane chemistry for various low-temperature processes. We should note that trisilane-based processes are not selective on silicon versus insulating areas. In order to have a selective epitaxial growth (SEG) we combined deposition-etching cycles and demonstrated that this process can be used for the integration of tensily strained Si1-yCy S/D (nMOSFETs). The same approach can be used for the selective growth of compressively strained Si1-xGex S/D (pMOSFETs). We also deposited amorphous Si films at low temperature (400 °C). Those films have been regrown by solid phase epitaxy (SPE). We suggest using those films for the formation of raised S/D. Si nanocrystals, for floating gate MOSFETs applications, are also deposited at low temperature using trisilane. In this case, the use of trisilane allows a significant simplification of the process
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Martini, Thibaut. "Etude de la formulation d'encre à base de précurseurs Cu, Zn, Sn, S et du recuit de cristallisation pour le dépot hors vide de couches photovoltaïques". Thesis, Université Grenoble Alpes (ComUE), 2015. http://www.theses.fr/2015GREAI063/document.

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Abstract (sommario):
Les kësterites, ou Cu2ZnSn(S,Se)4 (CZTS), sont des matériaux semi-conducteurs composés uniquement d'éléments abondants. Leur gap direct compris entre 1.0 et 1.5 eV en fait d'excellents candidats pour remplacer les absorbeurs actuellement utilisés en couches minces. Ce travail de thèse décrit la fabrication de couches minces de Cu2ZnSnS4 par impression de nanoparticules suivie d'un recuit de cristallisation. Différentes synthèses hydrothermales de nanoparticules ont été développées, dont certaines en réacteur à flot continu, en vue d'un développement à plus grande échelle. L'influence des types de précurseurs et des conditions de synthèse sur la composition chimique des particules est étudiée ainsi que leur pureté est évaluée. Le comportement en dispersion colloïdale est ensuite caractérisé et trois fonctionnalisations de surfaces à base de dodecanthiol, dodecyl pyrrolidone et anions sulfures sont présentées. Ces stabilisations permettent la fabrication d'encre jet d'encre et spray adaptées au dépôt sur molybdène. Les couches imprimées et séchées sont recuites sous atmosphère de soufre. Des recuits d'au moins 120 minutes sont nécessaires. Cependant la croissance des couches est hétérogène lorsque celles-ci sont imprimées avec les nanoparticules stabilisées par le dodecanethiol et le dodecyl pyrrolidone. La présence de carbone dans les couches, identifiable par spectroscopie Raman, inhibe la croissance du matériau. Seules les couches minces imprimées à l'aide de nanoparticules purifiées et stabilisées par anions sulfures permettent la croissance homogène du matériau lors du recuit
Kësterites or Cu2ZnSn(S,Se)4 (CZTS), are semi-conductors only made of abundant elements. Their direct bangap between 1.0 and 1.5 eV makes them excellent candidates for the replacement of the currently used thin film absorbers. This thesis describes the fabrication of thin films of Cu2ZnSnS4 by nanoparticles printing followed by crystallization annealing. Different hydrothermal synthesis of nanoparticles have been developed, some in continuous flow reactor, for a development on a larger scale. The influence of the types of precursors and synthesis conditions on the particals chemical composition purity was evaluated. The behavior of colloidal dispersion is then characterized and three surface functionalization based on dodecanthiol, dodecyl pyrrolidone and sulfide anions are presented. These stabilizations allow the manufacture of inks deposited by inkjet and spray on molybdenum. The printed and dried layers are then annealed in sulfur atmosphere. Annealing of at least 120 minutes are required. However, the growth of the layers is heterogeneous when printed with the nanoparticles stabilized by dodecanethiol and dodecyl pyrrolidone. The presence of high carbon content, prooved by Raman spectroscopy, inhibits the growth of the material. Only thin film printed using purified nanoparticles stabilized by sulfide anions allow homogeneous growth of the material during annealing
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Cadete, Santos Aires Francisco-José. "Etude comparative d'agrégats métalliques supportés sur carbone amorphe obtenus par dépôt moléculaire et par dépôt d'agrégats : caractérisation par microscopie électronique à transmission". Lyon 1, 1990. http://www.theses.fr/1990LYO10164.

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Abstract (sommario):
Un generateur d'agregats d'atomes de type sattler permet d'obtenir des agregats neutres (x#n) d'indium, de bismuth et d'antimoine avec des tailles pouvant aller de quelques atomes a quelques centaines d'atomes. Avec le meme dispositif experimental nous pouvons egalement deposer des jets atomiques ou moleculaires pour ces memes corps. Apres caracterisation des especes contenues dans les jets par spectrometrie de masse a temps de vol des ions, nous avons realise des depots sur substrats de carbone amorphe soit avec des jets atomiques ou moleculaires, soit avec des jets d'agregats. Les depots ainsi obtenus sont etudies par microscopie electronique a transmission (met). Nous avons mis en evidence des differences de croissance des agregats supportes entre les depots obtenus a partir de jets atomiques (in) ou moleculaires (bi#2, sb#4) et ceux obtenus par depot direct d'agregats libres. La forte dependance morphologique et structurale des films d'antimoine en fonction du flux et de la taille moyenne des agregats deposes est etudiee en detail. La caracterisation par microscopie electronique a transmission en haute resolution (methr) des depots met en evidence l'existence de phases oxydees pour les agregats supportes d'indium et d'antimoine. Nous montrons que cette oxydation a lieu essentiellement lors de la remise a l'air des echantillons et que, dans tous les cas, la nucleation et la croissance se font sous forme metallique pour les trois metaux etudies
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Tranvouez, Nolwenn. "Élaboration et caractérisation de films minces de cuprate de lanthane". Thesis, Université de Lorraine, 2012. http://www.theses.fr/2012LORR0196/document.

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Abstract (sommario):
Le La2CuO4 est un isolant antiferromagnétique qui devient supraconducteur lorsqu'il est suffisamment oxydé. Cette étude qui porte sur la faisabilité de la synthèse de films de La2CuO4 par pulvérisation magnétron sur des substrats à moindre coût a été développée selon trois axes : l'élaboration des films, l'étude de leur cristallisation et l'influence de la nature du substrat sur leur tenue mécanique. Sous l'aspect élaboration ont été regroupés la présentation et la comparaison de quatre procédés d'élaboration. Nous avons ainsi déterminé que le procédé utilisant une cible céramique est le procédé permettant d'obtenir la zone homogène la plus étendue. La structure des films après recuit dans l'air a été déterminée par diffraction des rayons X et par microscopie électronique en transmission. Ces techniques ont permis de démontrer que les films cristallisent majoritairement dans une structure quadratique métastable et dans une moindre mesure dans une structure orthorhombique. L'effet de la composition chimique des films, de la nature du substrat et sur la cristallisation des films ont été étudiés. Il apparaît que l'utilisation de substrats en acier constitue une voie prometteuse pour la synthèse de films de La2CuO4. En utilisant des techniques de microscopie in situ, nous avons démontré que le recuit induit la formation de défauts en surface des films. La nature de ces défauts dépend des propriétés thermiques des substrats. Pour expliquer ces résultats, nous avons estimé les coefficients de dilatation thermique apparents de nos films à partir d'analyses par diffraction des rayons X. Ceci nous a permis de proposer un modèle d'initiation de la délamination des films
Lanthanum cuprate is an antiferromagnetique insulator that becomes superconducting when sufficiently oxidized. The aim of this study is to show the feasibility of the lanthanum cuprate thin film deposition by magnetron sputtering on low cost substrates. This work is developed around three points: the synthesis of the films, a study of their crystallization and the influence of the substrate nature on the films delamination. The synthesis aspect includes the presentation of the four different synthesis processes and a comparison of these processes in terms of reproducibility, chemical composition and thickness homogeneous zones. The process using a ceramic target was determined to have the larger homogeneous zone but does not allow obtaining stoichiometric films. The films structure after annealing in air has been determined by X-ray diffraction and Transmission Electronic Microscopy. This technique allowed us to demonstrate that the films mostly crystallize in a metastable tetragonal structure and in a lesser extend in orthorhombic structure. The effects of the chemical composition of the film, the substrate nature, and the annealing atmosphere on the films crystallization were studied. The use of steel as a substrate is promising way to the elaboration of La2CuO4 thin films. By using in situ microscope techniques, we showed that the thermal treatment induces defaults formation on the film surface. The natures of these defaults strongly depend on the substrate nature. To explain these results, the apparent thermal expansion coefficients of the films were calculated from x-ray diffraction analyses. These results allowed us to suggest a film delamination initiation model
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Huguet, Charles. "Optimisation du couple revêtement anti-adhérent / matériau de creuset pour la cristallisation du silicium photovoltaïque - Application au moulage direct des wafers de Si". Phd thesis, Université de Grenoble, 2012. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00845703.

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Abstract (sommario):
Compte tenu de l'utilisation envisagée du graphite comme matériau de creuset à la place de la silice frittée pour la cristallisation dirigée des lingots de silicium multcristallin de qualité photovoltaïque, un objectif majeur de la thèse était de développer un revêtement spécifique au matériau de moule sélectionné. Une première tâche de ce travail a consisté à définir très précisément les conditions de fonctionnement du couple revêtement anti-adhérent / matériau de creuset et les modifications à apporter au procédé afin d'utiliser le revêtement standard à base de poudre de Si3N4 sur graphite, La deuxième tâche de la thèse a consisté à mettre en place le procédé de moulage à partir d'une étude préliminaire basée sur une configuration simplifiée de moulage par écrasement où un morceau de silicium s'étale à l'intérieur du moule au cours de sa fusion. Le but recherché est de mettre en évidence les conséquences de la configuration " moulage " (caractérisée par un rapport élevé surface de contact / volume de Si a priori très défavorable) et des conditions thermiques (gradient et vitesse de solidification) sur l'adhérence (collage), la pollution par le revêtement et la structure cristalline du silicium.
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Boukhenoufa, Abdelmalek. "Modélisation du comportement électrique dans les TFTs en silicium polycristallin". Caen, 2005. http://www.theses.fr/2005CAEN2052.

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Abstract (sommario):
Une étude expérimentale et par simulation numérique du comportement électrique statique ainsi que du bruit en 1/f a été menée dans des TFTs en silicium polycristallin à canal N. Des structures dont le silicium est cristallisé en phase solide par recuit thermique (technologie basse température inférieure ou égale à 600°C) et polarisé en régime linéaire pour des tensions de grille variant de la région sous le seuil à la région au dessus de seuil de conduction, ont servi de support à cette étude. L'analyse expérimentale montre que le courant de drain est thermiquement activé et qu'il obéit à l'effet Meyer-Neldel. De plus, le paramètre de bruit macroscopique (alpha app), extrait de la relation empirique de Hooge, croît avec la tension effective de grille dans la région sous le seuil de conduction puis décroît au delà de la tension de seuil (10-2
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Barret, Laurie-Anne. "Influence des tensioactifs dans la cristallisation du complexe photosynthétique RC-LH1-pufX de Rhodobacter blasticus". Phd thesis, Université d'Avignon, 2013. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01017895.

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Abstract (sommario):
Ce projet vise à étudier, par une approche pluridisciplinaire, l'influence des la cristallisation des protéines membranaires (PM) en prenant pour protéine modèle le complexe photosynthétique RC-LH1-pufX de Rhodobacter blasticus. Des cristaux de ce complexe avaient été obtenus en présence de dodécyl-!-maltoside (DDM) et avaient diffractés à 8 Å de résolution. L'objectif final est de pouvoir améliorer, de façon rationnelle, la qualité des cristaux du complexe RC-LH1-pufX grâce à une meilleure compréhension des mécanismes mis en jeu. Dans un premier temps, trois tensioactifs dérivés du DDM ont été conçus et synthétisés. L'intérêt est d'augmenter la rigidité et le caractère lipophobe des parties hydrophobes des tensioactifs par rapport au DDM, pour les rendre moins déstabilisants envers la protéine: soit par l'incorporation d'un groupement bicyclohexyle (PCC-maltoside), soit par l'ajout d'un segment fluoré de longueur modulable (F4H5- et F2H9-maltoside). Nous avons inclus également le F8TAC, tensioactif fluoré utilisé depuis une vingtaine d'années pour le maintien en solution des PM, et les "tripodes", amphiphiles faciaux dont la géométrie particulière n'avaient jamais été testée. Nous avons ensuite réalisé la caractérisation physico-chimique, en solution, de ces tensioactifs et du DDM en terme de CMC (concentration micellaire critique), nombre d'agrégation, taille (par diffusion de la lumière dynamique, DLS), facteur de forme (par diffusion des rayons X aux petits angles, SAXS) et facteur de structure (par mesure du second coefficient du viriel, indicateur du potentiel des tensioactifs à initier la cristallisation)afin de déterminer les caractéristiques importantes au maintien en solution et à la cristallisation des PM. Le PCC-malt présentant le même comportement que le DDM,nous l'avons sélectionné pour réaliser une étude en présence de la protéine.Après avoir mis au point une méthode de dosage des tensioactifs par HPTLC (HighPerformance Thin Layer Chromatography) et identifier les lipides présents dans les de Rhodobacter blasticus, nous avons pu quantifier les quantités de lipides et de tensioactifs associés à la protéine en présence de DDM et de PCC-malt.Enfin, dans une dernière partie, nous avons réalisé des essais de cristallisation du complexe RC-LH1-pufX en présence des tensioactifs sélectionnés pour faire le lien entre les conditions de cristallisation et l'étude physico-chimique des micelles en solution.
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Kawwam, Mohammad. "Pulsed Laser Deposition and Structural Analysis of Crystalline CuO and GaN Thin Films". Thesis, Lyon 1, 2014. http://www.theses.fr/2014LYO10007.

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Abstract (sommario):
Cette thèse présente les résultats expérimentaux relatifs à l'étude des couches de GaN et de CuO déposées par la technique PLD (dépôt par laser à impulsions) sur des substrats de saphir, SrTiO3, quartz et MgO. Nous avons étudié les effets de plusieurs paramètres qui jouent sur la cristallisation et la morphologie des surfaces des films déposés, à savoir, la température du substrat, la pression au fond, la distance entre le substrat et la cible, la densité d'énergie du laser et la position du substrat. Les couches ont été caractérisées par XRD, microscopie à force atomique et Le microscope électronique à balayage, RHEED et RAMAN. Les résultats montrent que la rugosité et la qualité de la surface des films déposés par PLD dépendent de l'énergie cinétique de déposition des espèces chimiques. L'épaisseur du film, la cristallinité, l'homogénéité et la rugosité sont étroitement liés aux conditions de dépôt
The thesis presents experimental results related to the Pulsed Laser Deposition (PLD) of GaN and CuO thin films using sapphire, SrTiO3, quartz and MgO substrates. The evolution of crystallization and surface morphology of the as-deposited films were studied to investigate the influence of the process conditions such as: substrate heating, background pressure, target-substrate distance, laser energy density, and substrate location, which were systematically varied. The as-deposited films were characterized by X-ray diffraction, atomic force microscopy and scanning electron microscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, RHEED and RAMAN techniques. The results convincingly demonstrate that the enhancement in film growth quality - the reduction in roughness and the delay of epitaxial breakdown - is related to the control of PLD species kinetics. The films thickness, crystallinity, homogeneity and surface roughness are strongly dependent on deposition conditions
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Brochet, Julien. "Etude de transistorsen couches minces à base de silicium polymorphe pour leur application aux écrans plats à matrice active LCD ou OLED". Phd thesis, Université de Grenoble, 2011. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00682892.

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Abstract (sommario):
Ce travail a pour objectifs d'apporter des connaissances au niveau des propriétés électriques de transistors en couches minces (TFTs) à base de silicium polymorphe (pm-Si :H), ainsi qu'au niveau de la structure du matériau polymorphe. Nous nous sommes également intéressé à une nouvelle méthode de cristallisation d'une couche de silicium amorphe par interférométrie laser qui présente un fort potentiel pour le développement de matrice active en silicium polycristallin de grandes dimensions. Nous avons d'abord mis en évidence un courant OFF plus faible dans les TFTs en pm-Si :H que dans les TFTs en silicium microcristallin (µc-Si :H). Nos études ont également montré que les TFTs en pm-Si :H ne sont pas, ou très peu, sujet à la contamination par l'oxygène lors du procédé de fabrication, problème rencontré dans la fabrication des TFTs en µc-Si :H. Nous avons ensuite étudié la dérive de la tension de seuil lorsque les TFTs sont stressés électriquement. Nous avons mis en évidence des résultats similaires à ceux observer dans les TFTs en silicium amorphe (a-Si :H), à savoir que la création de défauts dans la couche active est le mécanisme responsable de la dérive de VT pour des tensions de grille faibles et des temps de stress courts, alors que le piégeage de charges dans le nitrure de grille est responsable de la dérive de VT lorsque les tensions de grille sont élevées et les temps de stress longs. Il s'est avéré que les TFTs en pm-Si :H sont plus stables que les TFTs en a-Si :H. Dans un second temps, les analyses structurales de films minces de pm-Si :H ont montré la présence de cristallites de quelques nanomètres dans la couche. De même, nous avons isolé le signal de diffraction de rayons X d'une telle couche et mis en évidence une organisation structurale à plus grande distance que pour le silicium amorphe, ce qui est cohérent avec les résultats des stress électriques. Pour finir, nous avons étudié une méthode de cristallisation du a-Si par interférences laser 4 faisceaux. Nous avons observé une structuration périodique de la couche dans un système cubique face centrée. Les observations TEM ont montré que la couche était bien cristallisée. Les observations MEB suite à la révélation des joints de grains ont montré ce qu'il semble être un réseau de germes de µc-SiH avec un pas de 652 nm et la présence continue de grains et de joints de grains entre ces germes.
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Jaouen, Christiane. "Etude des mécanismes des transformations de phase induites par irradiation aux ions dans les systèmes métalliques". Poitiers, 1987. http://www.theses.fr/1987POIT2019.

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Abstract (sommario):
Etude par mesure de conductivite electrique, par retrodiffusion rutherford et par microscopie ionique en transmission des differents aspects du melange ionique dans le systeme mt/al (mt=fe, co, ni) et fe-mg. Analyse des differents facteurs controlant la formation d'une phase et celle d'une phase amorphe. Analyse des mecanismes de transformation cristal-amorphe de l'alliage ni::(50)al::(50) en couche mince. Influence des parametres d'irradation sur cette transformation
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Narducci, Riccardo. "Membranes conductrices ioniques pour piles à combustible". Thesis, Aix-Marseille, 2014. http://www.theses.fr/2014AIXM4764.

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Abstract (sommario):
Dans cette thèse, les membranes perfluorosulfoniques (PFSA) et les polymères aromatiques sulfonés (SAP) sont étudiés en vue d'une meilleure compréhension de leurs propriétés thermodynamiques, d'hydratation, mècaniques et électriques.Concernant les PFSA: 1) Préparation de membranes Nafion ayant diverses morphologies et structures (amorphe, semi-cristalline, stratifiée) et relation avec les propriétés, comme la transition vitreuse, la fusion, la conductivité protonique. 2) Divers traitements de recuit ont été appliqués et analysés par une nouvelle méthode quantitative appelé INCA (Ionomère nc analyse), utilisant aussi des agents de recuit spéciaux. Concernant les SAP: 1) Synthèse in situ de polymères réticulés et clarification du mécanisme. 2) Optimisation du degré de reticulation en vue de la meilleure conductivité protonique. 3) Obtention d'ionomères conducteurs cationiques par échange de cations du SPEEK et détermination des propriétés de ces nouveaux ionomères
In this thesis, perfluorosulfonic acid membranes (PFSA) and sulfonated aromatic polymers (SAP) are studied to better understandtheir thermodynamic, hydration, mechanical and electrical properties. The following main points were addressed:Regarding PFSA:1) Nafion membranes with various morphology and microstructure (amorphous, semi-crystalline, layered) were prepared and the relation to the properties, such as glass and melting transitions, and proton conductivity, was established.2) Various annealing treatments were performed and analyzed by the quantitative INCA (Ionomer nc Analysis) method using also special annealing agents. Regarding SAP:1) The in situ synthesis of cross-linked polymers was studied and the mechanism was clarified. 2) The degree of cross-linking was optimized for best proton conductivity.3) Cation-conducting ionomers were obtained by cation exchange of SPEEK and the properties of these new ionomers were determined
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Brochet, Julien. "Etude de transistors en couches minces à base de silicium polymorphe pour leur application aux écrans plats à matrice active LCD ou OLED". Thesis, Grenoble, 2011. http://www.theses.fr/2011GRENT078/document.

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Abstract (sommario):
Ce travail a pour objectifs d'apporter des connaissances au niveau des propriétés électriques de transistors en couches minces (TFTs) à base de silicium polymorphe (pm-Si :H), ainsi qu'au niveau de la structure du matériau polymorphe. Nous nous sommes également intéressé à une nouvelle méthode de cristallisation d'une couche de silicium amorphe par interférométrie laser qui présente un fort potentiel pour le développement de matrice active en silicium polycristallin de grandes dimensions. Nous avons d'abord mis en évidence un courant OFF plus faible dans les TFTs en pm-Si :H que dans les TFTs en silicium microcristallin (µc-Si :H). Nos études ont également montré que les TFTs en pm-Si :H ne sont pas, ou très peu, sujet à la contamination par l'oxygène lors du procédé de fabrication, problème rencontré dans la fabrication des TFTs en µc-Si :H. Nous avons ensuite étudié la dérive de la tension de seuil lorsque les TFTs sont stressés électriquement. Nous avons mis en évidence des résultats similaires à ceux observer dans les TFTs en silicium amorphe (a-Si :H), à savoir que la création de défauts dans la couche active est le mécanisme responsable de la dérive de VT pour des tensions de grille faibles et des temps de stress courts, alors que le piégeage de charges dans le nitrure de grille est responsable de la dérive de VT lorsque les tensions de grille sont élevées et les temps de stress longs. Il s'est avéré que les TFTs en pm-Si :H sont plus stables que les TFTs en a-Si :H. Dans un second temps, les analyses structurales de films minces de pm-Si :H ont montré la présence de cristallites de quelques nanomètres dans la couche. De même, nous avons isolé le signal de diffraction de rayons X d'une telle couche et mis en évidence une organisation structurale à plus grande distance que pour le silicium amorphe, ce qui est cohérent avec les résultats des stress électriques. Pour finir, nous avons étudié une méthode de cristallisation du a-Si par interférences laser 4 faisceaux. Nous avons observé une structuration périodique de la couche dans un système cubique face centrée. Les observations TEM ont montré que la couche était bien cristallisée. Les observations MEB suite à la révélation des joints de grains ont montré ce qu'il semble être un réseau de germes de µc-SiH avec un pas de 652 nm et la présence continue de grains et de joints de grains entre ces germes
This work aims to provide knowledge on electrical properties of thin-film transistors(TFTs) based on polymorphous silicon (pm-Si: H), and on polymorphous material structure.We also focused on a new method of crystallization of amorphous silicon layer by laserinterferometry, which has great potential for the development of active matrix flat paneldisplays based on polysilicon.We first identified a lower OFF current in TFTs based on pm-Si: H than inmicrocrystalline silicon (μc-Si: H) TFTs. Our studies have also shown that pm-Si: H TFTs donot present oxygen contamination during the fabrication process, which is a problemencountered in the fabrication of μc-Si:H TFTs. We then studied the threshold voltage shift ofpm-Si:H TFTs under electrical stress. We have found results similar to those observed inamorphous silicon TFTs (a-Si:H), namely, defects creation in the active layer which isresponsible for the threshold voltage shift (ΔVT) for low gate voltage and short times stress,and charge trapping in the gate silicon nitride is responsible for ΔVT for high gate voltage andlong time stress. We also shown that pm-Si:H TFTs are more stable under electrical stressthan a-Si:H TFT.In a second step, the structural analysis of thin films of pm-Si: H revealed the presence ofcrystallites about few nanometers in the polymorphous layer. Similarly, we isolated the X-raydiffraction signal of polymorphous layer and revealed a structural organization at larger rangethan in amorphous silicon layer, which is consistent with the results of electrical stress.Finally, we studied a method of crystallization of a-Si by 4-beams laser interferences. Weobserved a periodic structure of the layer in a face-centered cubic system. TEM observationsshowed that the layer was well crystallized. SEM observations after revelation of grainboundaries showed what appears to be a network of μc-Si seed with a pitch of 652 nm and thepresence of a continued layer of grains and grain boundaries between these seeds
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Legeay, Gérard. "Couches minces amorphes d'ITO : caractérisation, structure, évolution et fonctionnalisation sous rayonnements UV". Phd thesis, Université Rennes 1, 2011. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00567155.

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Abstract (sommario):
L'oxyde d'indium, transparent dans le domaine du visible, peut devenir conducteur électrique par création de lacunes d'oxygène et/ou par dopage à l'étain (ITO). Déposé en couches minces par pulvérisation cathodique RF à température ambiante, il est compatible avec des supports organiques souples. Dans une première partie, nous décrivons les méthodes de caractérisation mises en place. Nous précisons et discutons les propriétés structurales, électriques et optiques de nos couches optimisées amorphes. Leurs performances sont comparables à celles des meilleures couches polycristallines d'ITO, classiquement obtenues à température élevée. Nous examinons ensuite l'interaction de ces couches avec les rayonnements UV. Le faisceau d'un laser à excimères permet d'y transférer la géométrie désirée par ablation, sans recours à une photolithographie standard. Le recuit et la cristallisation par laser, à plus faibles fluences, sont comparés à un recuit standard au four. Nous mettons enfin en évidence le rôle du rayonnement UV dans le contrôle des réactions de surface, principalement avec l'eau. Nous présentons l'action des très faibles fluences UV sur les caractéristiques électriques des couches d'ITO.
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Untilova, Viktoriia. "Fabrication, structure and thermoelectric properties of oriented and sequentially doped thin films of regioregular poly (3-hexylthiophene)". Thesis, Strasbourg, 2020. http://www.theses.fr/2020STRAE034.

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Abstract (sommario):
Cette thèse concerne le développement de matériaux thermoélectriques organiques à base de films orientés de poly(3-hexylthiophène ) régio-régulier dopés. Le P3HT a été orienté par brossage mécanique à haute température afin de contrôler l’orientation et la cristallinité des films minces. Le dopage séquentiel de ces films permet d’amplifier les propriétés thermoélectriques dans le sens d’alignement des chaînes. Le mécanisme de dopage du P3HT avec quatre dopants (F4TCNQ, F6TCNNQ, FeCl3 and Mo(tfd-COCF3)3) a été étudié d’un point de vue structural afin d’établir des corrélations structure-propriétés. Différents scénarii d’intercalation des dopants dans les domaines cristallins/amorphes de P3HT ont été identifiés selon la géométrie et l’électroaffinité des dopants utilisés. La combinaison de la spectroscopie optique polarisée et de la microscopie électronique en transmission a permis de préciser le mécanisme d’intercalation des dopants dans la matrice de P3HT. Différentes corrélations entre conductivité de charge et coefficient Seebeck ont été observées parallèlement et perpendiculairement aux chaînes du P3HT en raison de longueurs de localisation différentes des porteurs de charge dans les films orientés de P3HT. Le dopage des films alignés de P3HT par Mo(tfd-COCF3)3 a permis d’obtenir un facteur de puissance thermoélectrique record de 160 μW m−1 K−2 pour le P3HT
The purpose of this thesis was to develop thermoelectrically (TE) efficient polymer:dopant systems based on oriented poly(3-hexylthiophene) (P3HT) thin films. High-temperature rubbing was used to produce highly-oriented and crystalline P3HT films. Sequential doping of P3HT films helps enhance TE properties along the polymer backbone direction in thin films. The doping of P3HT with four different dopants (F4TCNQ, F6TCNNQ, FeCl3 and Mo(tfd-COCF3)3) was carefully studied from a structural perspective to establish structure-property correlations. Different scenarios of dopant intercalation in the amorphous/crystalline domains of P3HT were uncovered, depending on the geometry and electron affinity of the dopants. A combination of Polarized UV-Vis-NIR spectroscopy and transmission electron microscopy gave a detailed insight into the dopant intercalation mechanism inside the P3HT crystallites. Different correlations between electrical conductivity and Seebeck coefficient are established in both parallel and perpendicular directions to the polymer backbone orientation and explained by differences in the charge carrier localization length. Doping of oriented P3HT by Mo(tfd-COCF3)3 helped reach a record power factor value of 160 μW m−1 K−2 for this polymer
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Dubourg-Paillous, Michèle. "Caractérisation par microscopie électronique et techniques associées de verres de chalcogénures GeSey obtenus par dépôt en phase vapeur assisté plasma (PECVD)". Toulouse 3, 1992. http://www.theses.fr/1992TOU30193.

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Abstract (sommario):
Les verres de chalcogenures gese#3 et gese#5#,#5 deposes par pecvd ont ete etudies par microscopie electronique, avant et apres attaque chimique, et presentent des heterogeneites nodulaires. Le traitement thermique de ces verres amorphes provoque la formation a haute temperature de cristaux de gese#2 et de se. L'irradiation electronique et le vieillissement a l'abri ou non de la lumiere amene la formation de dendrites de se. La gravure aux electrons d'un film mince de gese#3 sensibilise avec une solution de kag(co)#2 donne des motifs bien meilleurs que ceux de gese#5#,#5 sensibilise avec agno#3 et irradie aux uv
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Bruneau, Jean Michel. "Étude et réalisation de disques optiques ré-inscriptibles à changement de phase". Université Joseph Fourier (Grenoble ; 1971-2015), 1998. http://www.theses.fr/1998GRE10050.

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Abstract (sommario):
Dans le domaine de l'enregistrement reversible sur disque optique, la technologie changement de phase concurrence depuis peu la suprematie de l'enregistrement magneto-optique. Dans cette these sont abordes les aspects cles de l'enregistrement a changement de phase. Les alliages a base de tellure entrant dans l'elaboration de ces disques optiques doivent pouvoir passer de facon reversible d'un etat amorphe a un etat cristallin. L'utilisation de trois types de materiaux a ete envisagee. Il s'agit des alliages ternaires gesbte et insbte ainsi que de l'alliage quaternaire aginsbte. Une etude bibliographique des travaux effectues sur ces materiaux a changement de phase est presentee dans cette these. Diverses experimentations (caracterisation structurale, analyse de la cinetique de cristallisation) ont ete effectuees sur quelques compositions. Les comportements optique et thermique des systemes de couches minces utilises en enregistrement optique a changement de phase sont modelises. Les simulations numeriques se revelent etre un outil indispensable et permettent d'optimiser les proprietes du disque optique en ecriture et en lecture. Des prototypes de disques optiques re-inscriptibles a changement de phase sont realises. Ceux elabores a partir d'un alliage de composition ge#2sb#2te#5 donnent les meilleurs resultats. La derniere partie de cette these aborde la faisabilite de disques optiques a plusieurs niveaux d'information disposes sur un meme substrat. Des solutions sont proposees pour l'elaboration d'un disque comportant un niveau d'information pre-enregistre sur lequel est superpose un niveau d'information re-inscriptible. Le cas d'un disque optique a deux niveaux re-inscriptibles a changement de phase est aussi envisage. Ce document constitue une synthese sur l'enregistrement optique a changement de phase et les resultats obtenus permettent d'envisager des applications industrielles. Il ouvre aussi certaines perspectives sur les futures generations de disques optiques.
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Lejars, Antoine. "Mécanisme de sélection de l'orientation préférentielle lors de la croissance de couches minces, application au dépôt d'oxyde de zinc par pulvérisation magnétron à impulsions de haute puissance". Thesis, Université de Lorraine, 2012. http://www.theses.fr/2012LORR0182/document.

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Abstract (sommario):
Cette étude a pour but la mise au point d'un procédé de dépôt en vue de réaliser des fibres piézoélectriques. Ces fibres pourront être utilisées soit comme jauge de déformation (extensomètre) soit comme système de récupération d'énergie liée au mouvement d'un utilisateur (tissu) pour alimenter un dispositif d'électronique embarqué. Une fibre piézoélectrique constituée d'un dépôt cylindrique d'oxyde de zinc sur un fil d'acier inoxydable a été réalisée par pulvérisation magnétron à impulsion de haute puissance (HiPIMS) à l'aide d'un prototype de traitement au défilé conçu, réalisé et décrit lors de cette étude. Une caractérisation précise des échantillons réalisés dans différentes conditions expérimentales a permis de décrire et comprendre en partie les mécanismes de croissance des dépôts, ceci de manière, en particulier, à déterminer les conditions de fonctionnement optimum pour l'élaboration de dépôts possédant une orientation cristalline préférentielle hors plan. Pour envisager le traitement de fibres ne supportant pas les hautes températures nous avons montré qu'il était possible de contrôler cette température en ajustant certains paramètres du procédé, tel que la pression et la puissance moyenne. Un mécanisme de germination préférentielle suivi d'une croissance par auto-épitaxie a été proposé afin d'expliquer la très forte orientation préférentielle des films réalisés à faible température. Pour des fortes valeurs de courant crête, le phénomène de germination préférentielle associé à la croissance évolutionnaire pourrait favoriser l'orientation (101)*. Pour les plus fortes valeurs de courant, aucune orientation préférentielle n'est observée et les fortes contraintes mesurées ont été attribuées à l'excès d'oxygène détecté dans les couches
A piezoelectric fiber constituted of ZnO cylindrical coating on a stainless steel wire has been achieved by High Power Impulse Magnetron Sputtering (HiPIMS) by using a prototype designed and assembled during this PhD work. The piezoelectric fiber can be used as a strain probe or as a vibration harvesting generator for embedded electronics. The analyses of deposited layer allow to understand ZnO growth mechanism in order to optimize to deposition process. A special emphasis has been placed on the selection of preferential orientation during the growth. The low volume of steel wire, allow to control his temperature by adjusting some process parameters, like the pressure and the average power. Temperature sensitive wires (e.g. polymer) can be treated in the mildest conditions. Preferential nucleation followed by self-epitaxy have been proposed to explain the very strong preferential orientation identified in coatings deposited at low temperature. At high peak current, preferential nucleation and evolutionary growth can promote the (101)* orientation. At highest peak currents no preferential orientation was identified and the high residual stress has been attributed to the excess of oxygen in the coating
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Cabot, Hervé. "Analyse des courbes de lumière et interprétation de l'activité des comètes lointaines : application à la comète P/Schwassmann-Wachmann 1". Université Joseph Fourier (Grenoble), 1996. http://www.theses.fr/1996GRE10078.

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Abstract (sommario):
Les cometes sont les objets connus les moins evolues du systeme solaire. Leur etude permet de mieux comprendre la formation ainsi que l'evolution du systeme solaire. La comete p/schwassmann-wachmann 1 (p/sw1) se situe sur une orbite quasi-circulaire entre 5. 7 et 6. 4 unites astronomiques. A cette distance du soleil, la sublimation de glace d'eau est negligeable et pourtant, cette comete est tres active, presentant parfois des sursauts d'activite de plusieurs magnitudes appeles outbursts. Elle pourrait donc nous renseigner sur les mecanismes d'activite cometaires. Nous avons montre dans ce travail que la probabilite de collision avec un objet interplanetaire etait tres faible et que cette hypothese ne pouvait expliquer les frequents outbursts observes. Une analyse des magnitudes de la comete p/sw1 sur 70 ans a ete realisee. Nous n'avons pas trouve de periodicite dans le signal, mais nous avons mis en evidence une correlation entre le niveau moyen d'activite de la comete et la distance heliocentrique. Toutefois, il existe un retard de l'ordre de quelques annees entre le maximum d'activite et le passage au perihelie. Nous savons que les cometes ont ete formees a de tres basses temperatures et doivent contenir de la glace amorphe a l'origine. Cette glace a pu rester sous cette forme, notamment dans le cas de p/sw1, qui reste toujours loin du soleil. Des gaz tels que le monoxyde de carbone (co) peuvent etre pieges dans la matrice amorphe, et relaches lors de la cristallisation. Nous pensons que ce phenomene peut etre a l'origine des outbursts observes, alors que l'activite permanente serait due a la sublimation du co en profondeur, ce qui expliquerait le retard observe. Nous avons egalement simule de facon independante des processus cometaires (diffusion de gaz, propagation d'une onde de chaleur) et realise un modele simpliste de noyau cometaire. Ces simulations montrent que les hypotheses de notre scenario sont credibles et qu'un phenomene exothermique tel que la transition de phase devrait exister dans les noyaux cometaires pour pouvoir rendre compte des outbursts observes
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