Articles de revues sur le sujet « XPS/ARPES »
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Ostler, Markus, Roland J. Koch, Florian Speck, Felix Fromm, Hendrik Vita, Martin Hundhausen, Karsten Horn et Thomas Seyller. « Decoupling the Graphene Buffer Layer from SiC(0001) via Interface Oxidation ». Materials Science Forum 717-720 (mai 2012) : 649–52. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.717-720.649.
Texte intégralChaluvadi, Sandeep, Debashis Mondal, Chiara Bigi, Jun Fujii, Rajdeep Adhikari, Regina Ciancio, Alberta Bonanni et al. « Direct-ARPES and STM Investigation of FeSe Thin Film Growth by Nd:YAG Laser ». Coatings 11, no 3 (26 février 2021) : 276. http://dx.doi.org/10.3390/coatings11030276.
Texte intégralOzawa, Kenichi, Yoshihiro Aiura, Daisuke Wakabayashi, Hirokazu Tanaka, Takashi Kikuchi, Akio Toyoshima et Kazuhiko Mase. « Beamline commissioning for microscopic measurements with ultraviolet and soft X-ray beam at the upgraded beamline BL-13B of the Photon Factory ». Journal of Synchrotron Radiation 29, no 2 (16 février 2022) : 400–408. http://dx.doi.org/10.1107/s160057752200090x.
Texte intégralJohansson, Leif I., Somsakul Watcharinyanon, Alexei A. Zakharov, Rositza Yakimova et Chariya Virojanadara. « The Registry of Graphene Layers Grown on SiC(000-1). » Materials Science Forum 717-720 (mai 2012) : 613–16. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.717-720.613.
Texte intégralMaier, F., R. Graupner, M. Hollering, L. Hammer, J. Ristein et L. Ley. « The hydrogenated and bare diamond (110) surface : a combined LEED-, XPS-, and ARPES study ». Surface Science 443, no 3 (décembre 1999) : 177–85. http://dx.doi.org/10.1016/s0039-6028(99)01010-9.
Texte intégralHollering, M., J. Bernhardt, J. Schardt, A. Ziegler, R. Graupner, B. Mattern, A. P. J. Stampfl, U. Starke, K. Heinz et L. Ley. « Electronic and atomic structure of the6H−SiC(0001¯)surface studied by ARPES, LEED, and XPS ». Physical Review B 58, no 8 (15 août 1998) : 4992–5000. http://dx.doi.org/10.1103/physrevb.58.4992.
Texte intégralEmtsev, Konstantin V., Thomas Seyller, Florian Speck, Lothar Ley, P. Stojanov, J. D. Riley et R. C. G. Leckey. « Initial Stages of the Graphite-SiC(0001) Interface Formation Studied by Photoelectron Spectroscopy ». Materials Science Forum 556-557 (septembre 2007) : 525–28. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.556-557.525.
Texte intégralRybkina, Anna A., Alevtina A. Gogina, Artem V. Tarasov, Ye Xin, Vladimir Yu Voroshnin, Dmitrii A. Pudikov, Ilya I. Klimovskikh et al. « Origin of Giant Rashba Effect in Graphene on Pt/SiC ». Symmetry 15, no 11 (12 novembre 2023) : 2052. http://dx.doi.org/10.3390/sym15112052.
Texte intégralHung, Nguyen Van. « Contributions to Developments of Photoelectron Spectroscopy and X-ray Absorption Fine Structure Applied to Materials Studies ». Communications in Physics 31, no 2 (15 mars 2021) : 113. http://dx.doi.org/10.15625/0868-3166/15826.
Texte intégralVillarreal, Renan. « (Invited, Digital Presentation) Single-Atom Quantum Magnetism in 2D Materials ». ECS Meeting Abstracts MA2022-01, no 12 (7 juillet 2022) : 874. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-0112874mtgabs.
Texte intégralRubano, Andrea, et Domenico Paparo. « Optical Second Harmonic Generation on LaAlO3/SrTiO3 Interfaces : A Review ». Materials 16, no 12 (12 juin 2023) : 4337. http://dx.doi.org/10.3390/ma16124337.
Texte intégralStania, Roland, Ari Paavo Seitsonen, Hyunjin Jung, David Kunhardt, Alexey A. Popov, Matthias Muntwiler et Thomas Greber. « Correlation of Work Function and Conformation of C80 Endofullerenes on h‐BN/Ni(111) ». Advanced Materials Interfaces, 11 janvier 2024. http://dx.doi.org/10.1002/admi.202300935.
Texte intégralCameau, Mathis, Natalia Olszowska, Marcin Rosmus, Mathieu G. Silly, Tristan Cren, Axel Malécot, Pascal David et Marie D'angelo. « Synthesis and characterisation of Cu2Ge, a new two-dimensional Dirac nodal line semimetal ». 2D Materials, 3 mai 2024. http://dx.doi.org/10.1088/2053-1583/ad471e.
Texte intégralLev, L. L., V. N. Strocov, Y. Y. Lebedinskii, T. Schmitt et A. V. Zenkevich. « Band bending and k -resolved band offsets at the HfO2/n+(p+)Si interfaces explored with synchrotron-radiation ARPES/XPS ». Physical Review Materials 6, no 8 (30 août 2022). http://dx.doi.org/10.1103/physrevmaterials.6.084605.
Texte intégralGöhler, Fabian, Philip Schädlich, Niels Rösch, Mike Zeißig et Thomas Seyller. « Transfer doping of epitaxial graphene on SiC(0001) using Cs ». 2D Materials, 23 janvier 2024. http://dx.doi.org/10.1088/2053-1583/ad2192.
Texte intégralZhu Meng-Long, Yang Jun, Dong Yu-Lan, Zhou Yuan, Shao Yan, Hou Hai-Liang, Chen Zhi-Hui et He Jun. « Atomic and electronic structure of monolayer ferroelectric GeS on Cu(111) ». Acta Physica Sinica, 2024, 0. http://dx.doi.org/10.7498/aps.73.20231246.
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