Littérature scientifique sur le sujet « XFEL Européen »
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Articles de revues sur le sujet "XFEL Européen"
Chatterjee, Ruchira, Clemens Weninger, Anton Loukianov, Sheraz Gul, Franklin D. Fuller, Mun Hon Cheah, Thomas Fransson et al. « XANES and EXAFS of dilute solutions of transition metals at XFELs ». Journal of Synchrotron Radiation 26, no 5 (7 août 2019) : 1716–24. http://dx.doi.org/10.1107/s1600577519007550.
Texte intégralHagemann, Johannes, Malte Vassholz, Hannes Hoeppe, Markus Osterhoff, Juan M. Rosselló, Robert Mettin, Frank Seiboth et al. « Single-pulse phase-contrast imaging at free-electron lasers in the hard X-ray regime ». Journal of Synchrotron Radiation 28, no 1 (1 janvier 2021) : 52–63. http://dx.doi.org/10.1107/s160057752001557x.
Texte intégralMills, Grant, Richard Bean et Adrian P. Mancuso. « First Experiments in Structural Biology at the European X-ray Free-Electron Laser ». Applied Sciences 10, no 10 (25 mai 2020) : 3642. http://dx.doi.org/10.3390/app10103642.
Texte intégralDommach, Martin, Sven Lederer et Lutz Lilje. « Die Vakuumsysteme des European XFEL ». Vakuum in Forschung und Praxis 30, no 2 (avril 2018) : 47–53. http://dx.doi.org/10.1002/vipr.201800673.
Texte intégralChen, Ye, Frank Brinker, Winfried Decking, Matthias Scholz, Lutz Winkelmann et Zihan Zhu. « Virtual commissioning of the European XFEL for advanced user experiments at photon energies beyond 25 keV using low-emittance electron beams ». Journal of Physics : Conference Series 2420, no 1 (1 janvier 2023) : 012026. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/2420/1/012026.
Texte intégralJuarez-Lopez, D. P., S. Lederer, S. Schreiber, F. Brinker, L. Monaco et D. Sertore. « Photocathodes for the electron sources at FLASH and European XFEL ». Journal of Physics : Conference Series 2687, no 3 (1 janvier 2024) : 032009. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/2687/3/032009.
Texte intégralAllahgholi, Aschkan, Julian Becker, Annette Delfs, Roberto Dinapoli, Peter Goettlicher, Dominic Greiffenberg, Beat Henrich et al. « The Adaptive Gain Integrating Pixel Detector at the European XFEL ». Journal of Synchrotron Radiation 26, no 1 (1 janvier 2019) : 74–82. http://dx.doi.org/10.1107/s1600577518016077.
Texte intégralYakopov, M., M. Calvi, S. Casalbuoni, U. Englisch, S. Karabekyan, X. Liang et T. Schmidt. « Characterization of helical APPLE X undulators with 90 mm period for the European XFEL ». Journal of Physics : Conference Series 2380, no 1 (1 décembre 2022) : 012019. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/2380/1/012019.
Texte intégralLehmkühler, Felix, Francesco Dallari, Avni Jain, Marcin Sikorski, Johannes Möller, Lara Frenzel, Irina Lokteva et al. « Emergence of anomalous dynamics in soft matter probed at the European XFEL ». Proceedings of the National Academy of Sciences 117, no 39 (15 septembre 2020) : 24110–16. http://dx.doi.org/10.1073/pnas.2003337117.
Texte intégralMolodtsov, S. L. « European XFEL : Soft X-Ray instrumentation ». Crystallography Reports 56, no 7 (19 novembre 2011) : 1217–23. http://dx.doi.org/10.1134/s1063774511070212.
Texte intégralThèses sur le sujet "XFEL Européen"
Jaisle, Nicolas. « Contraindre la fusion partielle dans les intérieurs planétaires en combinant les approches numériques et expérimentales ». Electronic Thesis or Diss., Université Grenoble Alpes, 2024. http://www.theses.fr/2024GRALU013.
Texte intégralThe study of partial melting processes in planetary interiors is of prime importance to understand planetary evolution mechanisms. This is even more true when considering the increasing number of exoplanetary discoveries which likely acknowledged a high variety of histories. A main experimental tool for to study deep planetary interior conditions is the diamond anvil cell (DAC), allowing to raise pressures on micron-sized samples up to hundreds of GPa and at temperatures up to thousands of Kelvins. The study of sample’s physical properties such as their phase change pressures and temperatures (P,T) can be analyzed in X-ray generating synchrotron facilities, using the X-ray diffraction (XRD) properties of minerals. Those experiments may yet suffer from the continuous laser heating technique which generates strong temperature gradients within the samples and may lead to chemical migration in the heated zone. The sample in-situ analysis is then achieved on a composition diverging from the initial one which does not necessarily correspond to what was intended to be measured. This thesis suggests a new experimental approach consisting in using a short and intense (250 ns) laser heating pulse in order to limit that chemical migration. This experimental setup was tested on iron alloys of the Fe-Si-O ternary system, results on such compositions being for instance applicable on in the context of Earth’s liquid outer core crystallization. Our experiments are run at the European X-ray Free Electron Laser (EuXFEL) facility which generates a high brilliance pulsed X-ray source (series of 30 fs pulses at frequencies up to 4.5 MHz (one pulse each 221.5 ns). Combined to the µs fraction laser heating, the EuXFEL experiments allow to obtain a temporal resolution of the sample evolution during its cooling, allowing to observe crystallization sequences. A streak optical pyrometry (SOP) surface temperature measurement is achieved simultaneously to the XRD with time resolution below the µs-scale. However, measurements achieved at the EuXFEL do not allow to fully resolve the extent of the phenomena occurring during experiments. To compensate this lack of information, we developed a numerical model based on the finite element method (FEM) to reproduce the achieved experiments. This model uses the material properties (such as ρ, K, G, κ, Cp and latent heat) at the experimental pressure and temperature conditions including their P,T dependencies when available. Equations of state (EoS) related variations where included in the model for the related parameters. To reproduce the experiments, the model values are adjusted by minimizing the mean error compared to the SOP data. Combining experimental XRD with best-fitting model temperatures, it is possible to get back to the P, T conditions during the samples phase change. In addition, the FEM furnishes temperature and pressure maps highlighting e.g. sample internal gradients and allowing to evaluate the degree of homogeneity of P and T, both assumed to be critical parameter in chemical migration. Models allow as well to calculate the constraint distribution in the DAC assemblage which can be an important factor in certain conditions. Finally, experiments directly using X-rays to heat the sample were achieved, analyzed and reproduced by modelling. Using the models, the possibility of deducing material properties such as thermal conductivity from best fits to experimental data are explored
Bellandi, Andrea [Verfasser]. « LLRF Control Techniques for the European XFEL Continuous Wave Upgrade / Andrea Bellandi ». Hamburg : Staats- und Universitätsbibliothek Hamburg Carl von Ossietzky, 2021. http://d-nb.info/1239420641/34.
Texte intégralFahlström, Simon. « A Near-Infrared Diffraction Radiation Spectrometer for MHz Repetition Rate Electron Bunch Diagnostics at the European XFEL ». Thesis, Uppsala universitet, Tillämpad kärnfysik, 2019. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-388607.
Texte intégralGerlach, Thomas [Verfasser], et Reinhard [Akademischer Betreuer] Männer. « Development of the DAQ Front-end for the DSSC Detector at the European XFEL / Thomas Gerlach. Betreuer : Reinhard Männer ». Mannheim : Universitätsbibliothek Mannheim, 2013. http://d-nb.info/1037076672/34.
Texte intégralSchlee, Stephan A. [Verfasser], et Erika [Akademischer Betreuer] Garutti. « Methods for the system calibration of the DSSC detector for the European XFEL / Stephan A. Schlee ; Betreuer : Erika Garutti ». Hamburg : Staats- und Universitätsbibliothek Hamburg, 2018. http://d-nb.info/1167402545/34.
Texte intégralDinter, Hannes [Verfasser], et Florian [Akademischer Betreuer] Grüner. « Longitudinal Diagnostics for Beam-Based Intra Bunch-Train Feedback at FLASH and the European XFEL / Hannes Dinter ; Betreuer : Florian Grüner ». Hamburg : Staats- und Universitätsbibliothek Hamburg, 2018. http://d-nb.info/1164593412/34.
Texte intégralDonato, Mattia [Verfasser], et Erika [Akademischer Betreuer] Garutti. « Commissioning and Characterization of the first DSSC ladder X-ray camera prototype for the European XFEL / Mattia Donato ; Betreuer : Erika Garutti ». Hamburg : Staats- und Universitätsbibliothek Hamburg, 2019. http://d-nb.info/117670219X/34.
Texte intégralKuhl, Alexander [Verfasser], Thomas [Akademischer Betreuer] Weiland et Jörg [Akademischer Betreuer] Roßbach. « Entwicklung und Realisierung eines 40 GHz Ankunftszeitmonitors für Elektronenpakete für FLASH und den European XFEL / Alexander Kuhl. Betreuer : Thomas Weiland ; Jörg Roßbach ». Darmstadt : Universitäts- und Landesbibliothek Darmstadt, 2015. http://d-nb.info/111191074X/34.
Texte intégralKirchgessner, Manfred [Verfasser], et Peter [Akademischer Betreuer] Fischer. « Control, Readout and Commissioning of the Ultra-High Speed 1 Megapixel DSSC X-Ray Camera for the European XFEL / Manfred Kirchgessner ; Betreuer : Peter Fischer ». Heidelberg : Universitätsbibliothek Heidelberg, 2018. http://d-nb.info/1177690780/34.
Texte intégralIgnatenko, Alexandr [Verfasser], Wolfgang [Akademischer Betreuer] Lohmann, Andreas [Akademischer Betreuer] Jankowiak et Jürgen [Akademischer Betreuer] Reif. « Development of Beam Halo Monitors for the European XFEL using radiation hard sensors and demonstration of the technology at FLASH / Alexandr Ignatenko ; Wolfgang Lohmann, Andreas Jankowiak, Jürgen Reif ». Cottbus : BTU Cottbus - Senftenberg, 2015. http://d-nb.info/1114283568/34.
Texte intégralChapitres de livres sur le sujet "XFEL Européen"
Medvedev, N. « Modeling Diamond Irradiated with a European XFEL Pulse ». Dans Springer Proceedings in Physics, 139–43. Cham : Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-35453-4_21.
Texte intégralCramer, Katharina C. « Establishing the European X-Ray Free-Electron Laser (European XFEL), 1992–2009 ». Dans A Political History of Big Science, 129–92. Cham : Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-50049-8_5.
Texte intégralSrivastava, Ajay Kumar. « Development of Radiation Hard Pixel Detectors for the European XFEL ». Dans Si Detectors and Characterization for HEP and Photon Science Experiment, 59–62. Cham : Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-19531-1_4.
Texte intégralNawaz, A., S. Pfeiffer, G. Lichtenberg et P. Rostalski. « Fault Detection Method for the SRF Cavities of the European XFEL ». Dans Lecture Notes in Control and Information Sciences - Proceedings, 1353–65. Cham : Springer International Publishing, 2022. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-85318-1_78.
Texte intégralSrivastava, Ajay Kumar. « Development of Radiation Hard p+n Si Pixel Sensors for the European XFEL ». Dans Si Detectors and Characterization for HEP and Photon Science Experiment, 73–100. Cham : Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-19531-1_6.
Texte intégralLu, W., B. Friedrich, T. Noll, K. Zhou, J. Hallmann, G. Ansaldi, T. Roth et al. « Progresses of a Hard X-Ray Split and Delay Line Unit for the MID Station at the European XFEL ». Dans Springer Proceedings in Physics, 131–37. Cham : Springer International Publishing, 2020. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-35453-4_20.
Texte intégralChevalier, B., J. Etourneau et J. M. D. Coey. « Structural and Magnetic Properties of RE2Fe17Hx (RE = Nd,Sm) Hydrides and Iron-Rich Compounds Nd(Co1-xFex)9Si2 and Gd(FexAl1-x)12 ». Dans Concerted European Action on Magnets (CEAM), 134–45. Dordrecht : Springer Netherlands, 1989. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-009-1135-2_11.
Texte intégralActes de conférences sur le sujet "XFEL Européen"
Tikhodeeva, E. O. « Six European XFEL scientific instruments ». Dans 2022 International Conference Laser Optics (ICLO). IEEE, 2022. http://dx.doi.org/10.1109/iclo54117.2022.9839675.
Texte intégralMolodtsov, S. L. « European XFEL : Status and research instrumentation ». Dans 2016 International Conference Laser Optics (LO). IEEE, 2016. http://dx.doi.org/10.1109/lo.2016.7549927.
Texte intégralBeutner, B., W. Decking, M. Dohlus, K. Flottmann, M. Krasilnikov et T. Limberg. « Velocity bunching at the European XFEL ». Dans 2007 IEEE Particle Accelerator Conference (PAC). IEEE, 2007. http://dx.doi.org/10.1109/pac.2007.4440948.
Texte intégralTschentscher, Thomas. « Starting up European XFEL (Conference Presentation) ». Dans Research Using Extreme Light : Entering New Frontiers with Petawatt-Class Lasers, sous la direction de Georg Korn et Luis O. Silva. SPIE, 2017. http://dx.doi.org/10.1117/12.2269814.
Texte intégralNölle, D. « Commissioning for the European XFEL facility ». Dans SPIE Optics + Optoelectronics, sous la direction de Thomas Tschentscher et Luc Patthey. SPIE, 2017. http://dx.doi.org/10.1117/12.2268793.
Texte intégralKapitza, Herbert, Hans-Jorg Eckoldt et Markus Faesing. « Grounding for EMC at the European XFEL ». Dans 2012 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE. IEEE, 2012. http://dx.doi.org/10.1109/emceurope.2012.6396865.
Texte intégralGeloni, Gianluca, Vitali Kocharyan et Evgeni Saldin. « Self-seeding schemes for the European XFEL ». Dans SPIE Optics + Optoelectronics, sous la direction de Thomas Tschentscher et Daniele Cocco. SPIE, 2011. http://dx.doi.org/10.1117/12.885897.
Texte intégralBianco, Laura, J. Becker, R. D. Dinapoli, E. Fretwurst, P. Goettlicher, H. Graafsma, D. Greiffenberg et al. « The AGIPD System for the European XFEL ». Dans SPIE Optics + Optoelectronics, sous la direction de Thomas Tschentscher et Kai Tiedtke. SPIE, 2013. http://dx.doi.org/10.1117/12.2017360.
Texte intégralPucyk, Piotr, Wojciech Jalmuzna et Stefan Simrock. « Real time cavity simulator for European XFEL ». Dans 2007 15th IEEE-NPSS Real-Time Conference. IEEE, 2007. http://dx.doi.org/10.1109/rtc.2007.4382802.
Texte intégralMolodtsov, S. L. « European XFEL in Operation : Status and First Experiments ». Dans 2018 International Conference Laser Optics (ICLO). IEEE, 2018. http://dx.doi.org/10.1109/lo.2018.8435284.
Texte intégral