Livres sur le sujet « X-ray Photoemission Spectroscopy (XPS) »
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National Institute of Standards and Technology (U.S.), dir. The NIST X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) database. Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, 1991.
Trouver le texte intégralNational Institute of Standards and Technology (U.S.), dir. The NIST X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) database. Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, 1991.
Trouver le texte intégralNational Institute of Standards and Technology (U.S.), dir. The NIST X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) database. Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, 1991.
Trouver le texte intégralCrist, B. Vincent. Handbook of monochromatic XPS spectra. Chichester : John Wiley, 2000.
Trouver le texte intégralCultural heritage materials : An XPS approach. New York : Nova Science Publishers, 2012.
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Trouver le texte intégralJ, Bozak M., Williams J. R et United States. National Aeronautics and Space Administration., dir. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), Rutherford back scattering (RBS) studies ... : Final report for NAS8-39131 delivery order 7. [Washington, DC : National Aeronautics and Space Administration, 1993.
Trouver le texte intégralJ, Bozak M., Williams J. R et United States. National Aeronautics and Space Administration., dir. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), Rutherford back scattering (RBS) studies ... : Final report for NAS8-39131 delivery order 7. [Washington, DC : National Aeronautics and Space Administration, 1993.
Trouver le texte intégralJ, Bozak M., Williams J. R et United States. National Aeronautics and Space Administration., dir. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), Rutherford back scattering (RBS) studies ... : Final report for NAS8-39131 delivery order 7. [Washington, DC : National Aeronautics and Space Administration, 1993.
Trouver le texte intégralGrasserbauer, M. Angewandte Oberflächenanalyse : Mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie. Berlin : Springer-Verlag, 1986.
Trouver le texte intégralSurface analysis of polymers by XPS and static SIMS. Cambridge, U.K : Cambridge University Press, 1998.
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Trouver le texte intégralF, Moulder John, et Chastain Jill, dir. Handbook of x-ray photoelectron spectroscopy : A reference book of standard spectra for identification and interpretation of XPS data. Eden Prairie, Minn : Perkin-Elmer Corporatioon, Physical Electronics Division, 1992.
Trouver le texte intégralMoulder, John F. Handbook of x-ray photoelectron spectroscopy : A reference book of standard spectra for identification and interpretation of XPS data. Eden Prairie, Minn : Perkin-Elmer Corporation, Physical Electronics Division, 1992.
Trouver le texte intégralSaffarini, Ghassan. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), X-ray diffraction (XRD), differential scanning calorimetry (DSC) and density study of ternary chalcogenide glasses based on Ge-Se and Ge-S. Uxbridge : Brunel University, 1991.
Trouver le texte intégralThe NIST X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) database. Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, 1991.
Trouver le texte intégralThe NIST X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) database. Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, 1991.
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Trouver le texte intégralNational Aeronautics and Space Administration (NASA) Staff. X-Ray Photoelectron Spectroscopy (Xps), Rutherford Back Scattering (Rbs) Studies. Independently Published, 2018.
Trouver le texte intégralMagnuson, Martin. Electronic Structure Studies Using Resonant X-Ray and Photoemission Spectroscopy. Uppsala Universitet, 1999.
Trouver le texte intégralVerma, Hem Raj. Atomic and Nuclear Analytical Methods : XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques. Springer London, Limited, 2007.
Trouver le texte intégralAtomic and Nuclear Analytical Methods : XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques. Springer Berlin / Heidelberg, 2010.
Trouver le texte intégralBriggs, D. Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS. Cambridge University Press, 2005.
Trouver le texte intégral1944-, Bianconi A., et Marcelli A, dir. High Tc superconductors : Electronic structure : proceedings of the International Symposium on the Electronic Structure of High Tc Superconductors,Rome, 5-7 October 1988. Pergamon, 1989.
Trouver le texte intégralMoulder, John F., William F. Stickle, Peter E. Sobol et Kenneth D. Bomben. Handbook of X Ray Photoelectron Spectroscopy : A Reference Book of Standard Spectra for Identification and Interpretation of Xps Data. Physical Electronics, 1995.
Trouver le texte intégralUnoccupied electronic states : Fundamentals for XANES, EELS, IPS, and BIS. Berlin : Springer-Verlag, 1992.
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