Littérature scientifique sur le sujet « X-RAY DEVICE »
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Articles de revues sur le sujet "X-RAY DEVICE"
Butler, M., et MW Regan. « A Novel X-Ray Targeting Device ». Annals of The Royal College of Surgeons of England 89, no 2 (mars 2007) : 179. http://dx.doi.org/10.1308/rcsann.2007.89.2.179b.
Texte intégralGambato, Marco, Nicola Scotti, Giacomo Borsari, Jacopo Zambon Bertoja, Joseph-Domenico Gabrieli, Alessandro De Cassai, Giacomo Cester, Paolo Navalesi, Emilio Quaia et Francesco Causin. « Chest X-ray Interpretation : Detecting Devices and Device-Related Complications ». Diagnostics 13, no 4 (6 février 2023) : 599. http://dx.doi.org/10.3390/diagnostics13040599.
Texte intégralKalaiselvi, S. M. P., T. L. Tan, A. Talebitaher, P. Lee et R. S. Rawat. « Optimization of neon soft X-ray emission from 200 J plasma focus device for application in soft X-ray lithography ». International Journal of Modern Physics : Conference Series 32 (janvier 2014) : 1460323. http://dx.doi.org/10.1142/s2010194514603238.
Texte intégralSharma, Anju, Preeth Sivakumar, Andrew Feigel, In Tae Bae, Lawrence P. Lehman, Joseph Gregor, James Cash et Joseph Kolly. « Effects of x-ray exposure on NOR and NAND flash memories during high-resolution 2D and 3D x-ray inspection ». International Symposium on Microelectronics 2016, no 1 (1 octobre 2016) : 000660–65. http://dx.doi.org/10.4071/isom-2016-thp53.
Texte intégralGrunthaner, F. J. « Fundamentals of X-Ray Photoemission Spectroscopy ». MRS Bulletin 12, no 6 (septembre 1987) : 60–64. http://dx.doi.org/10.1557/s0883769400067245.
Texte intégralMurphy, Michael C., et Michael R. Wilds. « X-Rated X-Ray Invades Privacy Rights ». Criminal Justice Policy Review 12, no 4 (décembre 2001) : 333–43. http://dx.doi.org/10.1177/0887403401012004005.
Texte intégralKärtner, Franz X. « Terahertz accelerator based electron and x-ray sources ». Terahertz Science and Technology 13, no 1 (mars 2020) : 22–31. http://dx.doi.org/10.1051/tst/2020131022.
Texte intégralZhang, Ran, Xiaobing Zou, Xinlei Zhu, Shen Zhao, Haiyun Luo et Xinxin Wang. « X-Ray Emission From a Tabletop $X$-Pinch Device ». IEEE Transactions on Plasma Science 40, no 12 (décembre 2012) : 3354–59. http://dx.doi.org/10.1109/tps.2012.2207919.
Texte intégralTeng Yuepeng, 滕玥鹏, 孙天希 Sun Tianxi, 刘志国 Liu Zhiguo, 罗萍 Luo Ping, 潘秋丽 Pan Qiuli et 丁训良 Ding Xunliang. « New Type Monocapillary X-Ray Optical Device ». Acta Optica Sinica 30, no 2 (2010) : 542–45. http://dx.doi.org/10.3788/aos20103002.0542.
Texte intégralLiu Duo, 刘舵, 强鹏飞 Qiang Pengfei, 李林森 Li Linsen, 刘哲 Liu Zhe, 盛立志 Sheng Lizhi, 刘永安 Liu Yong′an et 赵宝升 Zhao Baosheng. « Multilayer Nested X-Ray Focusing Optical Device ». Acta Optica Sinica 36, no 8 (2016) : 0834002. http://dx.doi.org/10.3788/aos201636.0834002.
Texte intégralThèses sur le sujet "X-RAY DEVICE"
Hill, Joanne E. « The charge coupled device as an X-Ray polarimeter ». Thesis, University of Leicester, 1999. http://hdl.handle.net/2381/30620.
Texte intégralBray, Terry Lee. « A novel device for growing protein crystals : computer control and automation ». Thesis, Georgia Institute of Technology, 1990. http://hdl.handle.net/1853/30428.
Texte intégralCarter, David John Donat 1966. « Sub-50nm x-ray lithography with application to a coupled quantum dot device ». Thesis, Massachusetts Institute of Technology, 1998. http://hdl.handle.net/1721.1/50037.
Texte intégralIncludes bibliographical references (p. 214-231).
by David John Donat Carter.
Ph.D.
Poust, Benjamin David. « X-ray scatter based metrologies for the development of metamorphic semiconductor device structures ». Diss., Restricted to subscribing institutions, 2007. http://proquest.umi.com/pqdweb?did=1320974691&sid=1&Fmt=2&clientId=1564&RQT=309&VName=PQD.
Texte intégralMahadik, Nadeemullah A. « Non-destructive x-ray characterization of wide-bandgap semiconductor materials and device structures ». Fairfax, VA : George Mason University, 2008. http://hdl.handle.net/1920/3404.
Texte intégralVita: p. 104. Thesis director: Mulpuri V. Rao. Submitted in partial fulfillment of the requirements for the degree of Doctor of Philosophy in Electrical and Computer Engineering. Title from PDF t.p. (viewed Mar. 17, 2009). Includes bibliographical references (p. 99-103). Also issued in print.
Swaminathan, S. « Characterisation of III-V quaternary multilayer semiconductor device materials by X-ray diffraction ». Thesis, University of Warwick, 1985. http://wrap.warwick.ac.uk/110577/.
Texte intégralOzkan, Cigdem. « The Controlled Drift Detector As An X-ray Imaging Device For Diffraction Enhanced Imaging ». Master's thesis, METU, 2009. http://etd.lib.metu.edu.tr/upload/2/12610414/index.pdf.
Texte intégralPym, Alexander Thomas Gafswood. « Grazing incidence X-Ray scattering from the interfaces of thin film magnetic device materials ». Thesis, Durham University, 2008. http://etheses.dur.ac.uk/2317/.
Texte intégralKang, Jun. « Thin film CdTe as high energy x-ray detector material for medical applications ». Connect to full text in OhioLINK ETD Center, 2008. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=toledo1228060515.
Texte intégralGow, Jason Peter David. « Radiation damage analysis of the swept charge device for the C1XS instrument ». Thesis, Brunel University, 2010. http://bura.brunel.ac.uk/handle/2438/4311.
Texte intégralLivres sur le sujet "X-RAY DEVICE"
S, Swaminathan. Characterisation of III-V quaternary multilayer semiconductor device materials by x-ray diffraction. [s.l.] : typescript, 1985.
Trouver le texte intégralMcGovern, Mark Edward. Monolayer chemistry - interaction of OTS with quartz/glass surfaces in various solvents probed by x-ray photoelectron spectroscopy and surface acoustic wave device. Ottawa : National Library of Canada, 1993.
Trouver le texte intégralM, Ceglio Natale, Dhez Pierre, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers. et University of Alabama in Huntsville. Center for Applied Optics., dir. Multilayer structures and laboratory X-ray laser research : 19-20 August 1986, San Diego, California. Bellingham, Wash., USA : SPIE--the International Society for Optical Engineering, 1987.
Trouver le texte intégralUnited States. National Aeronautics and Space Administration., dir. Modifications developed to improve X-ray detection devices. [Washington, D.C : National Aeronautics and Space Administration, 1994.
Trouver le texte intégralStarr, Richard. Annual report for Catholic University co-operative agreement NCC-5-83, 1 April 1997 through 31 March 1998. [Washington, DC : National Aeronautics and Space Administration, 1998.
Trouver le texte intégralUnited States. National Aeronautics and Space Administration., dir. Modifications developed to improve X-ray detection devices. [Washington, D.C : National Aeronautics and Space Administration, 1994.
Trouver le texte intégralF, Marshall Gerald, et Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., dir. Applications of thin-film multilayered structures to figured X-ray optics : August 20-22, 1985, San Diego, California. Bellingham, Wash., USA : SPIE--the International Society for Optical Engineering, 1985.
Trouver le texte intégralFranz, Rosenberger, et United States. National Aeronautics and Space Administration., dir. X-ray transmission microscope development : Third semi-annual progress report, NASA contract NAS8-40185. Huntsville, AL : Center for Microgravity and Materials Research, The University of Alabama in Huntsville, 1995.
Trouver le texte intégralFranz, Rosenberger, et United States. National Aeronautics and Space Administration., dir. X-ray transmission microscope development : Third semi-annual progress report, NASA contract NAS8-40185. Huntsville, AL : Center for Microgravity and Materials Research, The University of Alabama in Huntsville, 1995.
Trouver le texte intégralCenter, Goddard Space Flight, dir. Evaluation of a procedure for the measurement of thin film thickness by X-ray reflectivity. Greenbelt, Md : National Aeronautics and Space Administration, Goddard Space Flight Center, 1997.
Trouver le texte intégralChapitres de livres sur le sujet "X-RAY DEVICE"
Aoki, Toru, Katsuyuki Takagi, Hiroki Kase et Akifumi Koike. « X-Ray Semiconductor Imaging Device Technology and Medical-Imaging Application ». Dans Biomedical Engineering, 279–96. New York : Jenny Stanford Publishing, 2021. http://dx.doi.org/10.1201/9781003141945-14.
Texte intégralFiedorova, Klara, Martin Augustynek, Jan Kubicek, Marek Penhaker, Andrea Vodakova et Karol Korhelik. « Modeling and Objectification of Skiagraphy Image Quality Deterioration Caused by X-Ray Secondary Irradiation on Mobile X-Ray Device ». Dans IFMBE Proceedings, 1599–608. Cham : Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-31635-8_197.
Texte intégralLee, S. G., J. G. Bak et M. Bitter. « A Vacuum X-Ray Crystal Spectrometer for the Hanbit Magnetic Mirror Device ». Dans Advanced Diagnostics for Magnetic and Inertial Fusion, 241–44. Boston, MA : Springer US, 2002. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8696-2_43.
Texte intégralSiddiqui, Rafay Mehmood, Inam Ul Ahad, Samreen Amir, Bassim Aklan et Tahir Uddin. « X-Ray IO Monitor Device for Primary Intensity Measurement in Computed Tomography (CT) Scanner ». Dans IFMBE Proceedings, 33–36. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-32183-2_9.
Texte intégralKim, Young-Pyo, Tae-Gon Kim, Yong-Pil Park, Min-Woo Cheon et Yang-Sun Lee. « The Study on the Mobile Diagnostic X-ray Device of Frequency Modulation Method by PI Controlled ». Dans Lecture Notes in Electrical Engineering, 249–58. Dordrecht : Springer Netherlands, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-4516-2_25.
Texte intégralSiddiqui, Rafay Mehmood, Inam Ul Ahad, Syedah Sadaf Zehra et Anurag. « Characterization of X-Ray Sensors and Io Monitor Device Testing for Primary and Secondary Intensities Measurement ». Dans IFMBE Proceedings, 37–40. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-32183-2_10.
Texte intégralDudley, M., X. Huang et W. M. Vetter. « Synchrotron White Beam X-Ray Topography and High Resolution X-RayDiffraction Studies of Defects in SiC Substrates, Epilayers and Device Structures ». Dans Silicon Carbide, 629–48. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2004. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-18870-1_26.
Texte intégralArney, David, Julian M. Goldman, Susan F. Whitehead et Insup Lee. « Improving Patient Safety with X-Ray and Anesthesia Machine Ventilator Synchronization : A Medical Device Interoperability Case Study ». Dans Biomedical Engineering Systems and Technologies, 96–109. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-11721-3_7.
Texte intégralHayashi, Makoto, et Shinobu Okido. « Application of X-Ray and Neutron Diffraction Methods to Reliability Evaluation of Structural Components and Electronic Device ». Dans Materials Science Forum, 19–27. Stafa : Trans Tech Publications Ltd., 2005. http://dx.doi.org/10.4028/0-87849-969-5.19.
Texte intégralKasap, Safa, et Zahangir Kabir. « X-Ray Detectors ». Dans Springer Handbook of Semiconductor Devices, 747–76. Cham : Springer International Publishing, 2022. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-79827-7_20.
Texte intégralActes de conférences sur le sujet "X-RAY DEVICE"
Lo, William, Puneet Gupta, Rakshith Venkatesh, Rudolf Schlangen, Howard Marks, Bruce Cory, Frances Su, Benjamin Stripe, Sylvia Lewis et Wenbing Yun. « X-Ray Device Alteration Using a Scanning X-Ray Microscope ». Dans ISTFA 2022. ASM International, 2022. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2022p0153.
Texte intégralWhalen, Mallory, Ralf K. Heilmann et Mark L. Schattenburg. « Device for measuring stress stability in reflective coatings for thin-shell x-ray mirrors ». Dans Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy X, sous la direction de Giovanni Pareschi, Stephen L. O'Dell et Jessica A. Gaskin. SPIE, 2021. http://dx.doi.org/10.1117/12.2594627.
Texte intégralScherer, Brian, Sudeep Mandal, Joshua Salisbury, Peter Edic, Forrest Hopkins et Susanne M. Lee. « Towards brilliant, compact x-ray sources : a new x-ray photonic device ». Dans SPIE Defense + Security, sous la direction de Amit Ashok, Edward D. Franco, Michael E. Gehm et Mark A. Neifeld. SPIE, 2017. http://dx.doi.org/10.1117/12.2266793.
Texte intégralAoki, Toru, Katsuyuki Takagi, Akifumi Koike et Keitaro Hitomi. « TlBr photon-counting imaging device (Conference Presentation) ». Dans Hard X-Ray, Gamma-Ray, and Neutron Detector Physics XXI, sous la direction de Arnold Burger, Ralph B. James et Stephen A. Payne. SPIE, 2019. http://dx.doi.org/10.1117/12.2529746.
Texte intégralVon Jackowski, Jeannette, Georg Schulz, Tino Töpper, Bekim Osmani et Bert Müller. « Three-dimensional characterization of soft silicone elements for intraoral device ». Dans Developments in X-Ray Tomography XII, sous la direction de Bert Müller et Ge Wang. SPIE, 2019. http://dx.doi.org/10.1117/12.2529340.
Texte intégralSchoonenberg, Gert A. F., Peter W. van den Houten, Raoul Florent, Pierre Lelong, John D. Carroll et Bart M. ter Haar Romeny. « Device enhancement using rotational x-ray angiography ». Dans SPIE Medical Imaging, sous la direction de Josien P. W. Pluim et Benoit M. Dawant. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.812094.
Texte intégralAoki, Toru, Akifumi Koike, Takaharu Okunoyama, Hisashi Morii, Katsuyuki Takagi et Junichi Nishizawa. « CdTe imaging device driven by current integration mode (Conference Presentation) ». Dans Hard X-Ray, Gamma-Ray, and Neutron Detector Physics XVIII, sous la direction de Michael Fiederle, Arnold Burger, Larry Franks et Ralph B. James. SPIE, 2016. http://dx.doi.org/10.1117/12.2240381.
Texte intégralTakeda, Eiji. « A Migration Path to Nano-Meter Lithography : From the viewpoint of VLSIs ». Dans Soft X-Ray Projection Lithography. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 1993. http://dx.doi.org/10.1364/sxray.1993.tua.1.
Texte intégralZhang, Ran, Xiaobing Zou, Xinlei Zhu, Shen Zhao, Haiyun Luo et Xinxin Wang. « X-ray emission from a table-top X-pinch device ». Dans 2012 IEEE International Power Modulator and High Voltage Conference (IPMHVC). IEEE, 2012. http://dx.doi.org/10.1109/ipmhvc.2012.6518700.
Texte intégralMcNulty, Ian. « Low-noise charge-coupled device camera for soft-x-ray imaging ». Dans OSA Annual Meeting. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 1990. http://dx.doi.org/10.1364/oam.1990.mmm4.
Texte intégralRapports d'organisations sur le sujet "X-RAY DEVICE"
Waymel, Robert, Enrico Quintana, Phillip Reu, Kyle Thompson, Andrew Lentfer, Gabriella Dalton et Thomas Martinez. X-ray image acquisition of a device undergoing pyroshock. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), septembre 2021. http://dx.doi.org/10.2172/1821320.
Texte intégralJohnson, Tony. An Energy Tunable X-ray Delay Device – Phase I CRADA No. : SLAC-261. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), mai 2019. http://dx.doi.org/10.2172/1542937.
Texte intégralFry, David A. High Energy X-Ray System Specification for the Device Assembly Facility (DAF) at the NNSS. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), août 2012. http://dx.doi.org/10.2172/1048834.
Texte intégralBitter, M., D. Gates, D. Monticello, H. Neilson, A. Reiman, A. Roquemore, S. Morita, M. Goto, H. Yamada et J. Rice. Objectives and Layout of a High-Resolution X-ray Imaging Crystal Spectrometer for the Large Helical Device (LHD). Office of Scientific and Technical Information (OSTI), juillet 2010. http://dx.doi.org/10.2172/984471.
Texte intégralBitter, M., D. Gates, H. Neilson, A. Reiman, A. Roquemore, S. Morita, M. Goto, H. Yamada et J. Rice. Design Parameters and Objectives of a High-�Resolution X-�ray Imaging Crystal Spectrometer for the Large Helical Device (LHD). Office of Scientific and Technical Information (OSTI), mai 2010. http://dx.doi.org/10.2172/981706.
Texte intégralPablant, N. A., L. Delgado-Apricio, M. Goto, K. W. Hill, S. Lzerson, S. Morita, A. L. Roquemore et al. Layout And Results From The Initial Operation Of The High-resolution X-ray Imaging Crystal Spectrometer On The Large Helical Device. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), avril 2012. http://dx.doi.org/10.2172/1063122.
Texte intégralMary, Brian J., et Charles H. Robinson. Technical Evaluation and Testing of Ruggedization of the CT Scanner. Development of a Sighting Device for the Hand-Held Dental X-Ray. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, septembre 1992. http://dx.doi.org/10.21236/ada260147.
Texte intégralBaral, Aniruddha, Jeffery Roesler et Junryu Fu. Early-age Properties of High-volume Fly Ash Concrete Mixes for Pavement : Volume 2. Illinois Center for Transportation, septembre 2021. http://dx.doi.org/10.36501/0197-9191/21-031.
Texte intégralCorriveau, Elizabeth, Ashley Mossell, Holly VerMeulen, Samuel Beal et Jay Clausen. The effectiveness of laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS) as a quantitative tool for environmental characterization. Engineer Research and Development Center (U.S.), avril 2021. http://dx.doi.org/10.21079/11681/40263.
Texte intégralBengtsson, Johan. NSLS X-Ray Ring : Impact of Insertion Devices. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), septembre 2007. http://dx.doi.org/10.2172/1525426.
Texte intégral