Articles de revues sur le sujet « Thin film stacking »
Créez une référence correcte selon les styles APA, MLA, Chicago, Harvard et plusieurs autres
Consultez les 50 meilleurs articles de revues pour votre recherche sur le sujet « Thin film stacking ».
À côté de chaque source dans la liste de références il y a un bouton « Ajouter à la bibliographie ». Cliquez sur ce bouton, et nous générerons automatiquement la référence bibliographique pour la source choisie selon votre style de citation préféré : APA, MLA, Harvard, Vancouver, Chicago, etc.
Vous pouvez aussi télécharger le texte intégral de la publication scolaire au format pdf et consulter son résumé en ligne lorsque ces informations sont inclues dans les métadonnées.
Parcourez les articles de revues sur diverses disciplines et organisez correctement votre bibliographie.
JIANG, B., J. L. PENG, L. A. BURSILL et H. WANG. « MICROSTRUCTURE AND PROPERTIES OF FERROELECTRIC Bi4Ti3O12 THIN FILMS ». Modern Physics Letters B 13, no 26 (10 novembre 1999) : 933–45. http://dx.doi.org/10.1142/s0217984999001147.
Texte intégralLee, Jin Woo, Yun Hae Kim et Chang Wook Park. « Electrical and Optical Properties of ZnO:Ag Thin-Films Depend on Lamination Formation by DC Magnetron Sputtering ». Advanced Materials Research 1110 (juin 2015) : 211–17. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.1110.211.
Texte intégralArnold, Marcel, Z. L. Wang, W. Tong, B. K. Wagner, S. Schön et C. J. Summers. « Creation of Stacking Faults at Substrate Steps in Zns Thin Films Epitaxially Grown on GaAs (001) ». Microscopy and Microanalysis 3, S2 (août 1997) : 633–34. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600010059.
Texte intégralMcIntyre, P. C., et M. J. Cima. « Microstructural inhomogeneities in chemically derived Ba2YCu3O7−x thin films : Implications for flux pinning ». Journal of Materials Research 9, no 11 (novembre 1994) : 2778–88. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1994.2778.
Texte intégralLiu, Y., B. W. Robertson et D. J. Sellmyer. « HREM study of epitaxy in Co-Sm // Cr thin films ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13 août 1995) : 488–89. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100138816.
Texte intégralNguyen, Thang, Walter Varhue, Edward Adams, Mark Lavoie et Stephen Mongeon. « Growth of heteroepitaxial GaSb thin films on Si(100) substrates ». Journal of Materials Research 19, no 8 (août 2004) : 2315–21. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2004.0307.
Texte intégralWang, Xintai, Sara Sangtarash, Angelo Lamantia, Hervé Dekkiche, Leonardo Forcieri, Oleg V. Kolosov, Samuel P. Jarvis et al. « Thermoelectric properties of organic thin films enhanced by π–π stacking ». Journal of Physics : Energy 4, no 2 (23 mars 2022) : 024002. http://dx.doi.org/10.1088/2515-7655/ac55a3.
Texte intégralTajari Mofrad, Mohammad Reza, Jaber Derakhshandeh, Ryoichi Ishihara, Alessandro Baiano, Johan van der Cingel et Kees Beenakker. « Stacking of Single-Grain Thin-Film Transistors ». Japanese Journal of Applied Physics 48, no 3 (23 mars 2009) : 03B015. http://dx.doi.org/10.1143/jjap.48.03b015.
Texte intégralWada, Takahiro, Takayuki Negami et Mikihiko Nishitani. « Growth defects in CuInSe2 thin films ». Journal of Materials Research 9, no 3 (mars 1994) : 658–62. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1994.0658.
Texte intégralHua, Zhong, Xiangcheng Meng, Yaming Sun, Wanqiu Yu et Dong Long. « Properties of Cu2ZnSnS4 thin films prepared by magnetron sputtering and sulfurizing the precursors with different stacking sequences ». Modern Physics Letters B 28, no 26 (10 octobre 2014) : 1450210. http://dx.doi.org/10.1142/s0217984914502108.
Texte intégralSeo, Soon-Min, Changhoon Baek et Hong H. Lee. « Stacking of Organic Thin Film Transistors : Vertical Integration ». Advanced Materials 20, no 10 (19 mai 2008) : 1994–97. http://dx.doi.org/10.1002/adma.200701770.
Texte intégralWANG, Y. R., J. A. KUBBY et W. J. GREENE. « THIN FILM ELECTRON INTERFEROMETRY ». Modern Physics Letters B 05, no 21 (10 septembre 1991) : 1387–405. http://dx.doi.org/10.1142/s0217984991001696.
Texte intégralKong, G., M. O. Jones, J. S. Abell, P. P. Edwards, S. T. Lees, K. E. Gibbons, I. Gameson et M. Aindow. « Microstructure of laser-ablated superconducting La2CuO4Fx thin films on SrTiO3 ». Journal of Materials Research 16, no 11 (novembre 2001) : 3309–16. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2001.0455.
Texte intégralZeng, Shuang, Jing Yang, Qingqing Liu, Jiawei Bai, Wei Bai, Yuanyuan Zhang et Xiaodong Tang. « Dielectric Spectroscopy of Non-Stoichiometric SrMnO3 Thin Films ». Inorganics 12, no 3 (27 février 2024) : 71. http://dx.doi.org/10.3390/inorganics12030071.
Texte intégralYan, Y., K. M. Jones et M. M. Al-Jassim. « Transmission Electron Microscopy Study of Planar Defects in Polycrystalline CdTe Thin Films ». Microscopy and Microanalysis 7, S2 (août 2001) : 556–57. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600028853.
Texte intégralThanikaikarasan, S., T. Mahalingam, S. R. Srikumar, Tae Kyu Kim, Yong Deak Kim, Subramaniam Velumani et Rene Asomoza. « Microstructural Characterization of Electro-Deposited CdSe Thin Films ». Advanced Materials Research 68 (avril 2009) : 44–51. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.68.44.
Texte intégralHee, Kwon Ahn, Young Ho Kim, Keun Gil Sang, Soo Paik Dong et Dong Heon Kang. « Characteristics of Lead Free Ferroelectric Thin Films Consisted of (Na0.5Bi0.5)TiO3 and Bi4Ti3O12 ». Advanced Materials Research 684 (avril 2013) : 307–11. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.684.307.
Texte intégralChakraborty, Jay, Tias Maity, Kishor Kumar et S. Mukherjee. « Microstructure, Stress and Texture in Sputter Deposited TiN Thin Films : Effect of Substrate Bias ». Advanced Materials Research 996 (août 2014) : 855–59. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.996.855.
Texte intégralHuang, T. C., A. Segmuller, W. Lee, V. Lee, D. Bullock et R. Karimi. « X-ray Diffraction Analysis of High Tc Superconducting Thin Films ». Advances in X-ray Analysis 32 (1988) : 269–78. http://dx.doi.org/10.1154/s0376030800020577.
Texte intégralWen, J. G., C. Traeholt et H. W. Zandbergen. « Stacking sequence of YBa2Cu3O7 thin film on SrTiO3 substrate ». Physica C : Superconductivity 205, no 3-4 (février 1993) : 354–62. http://dx.doi.org/10.1016/0921-4534(93)90402-c.
Texte intégralLei, Chao, Shu Chen et Allan H. MacDonald. « Magnetized topological insulator multilayers ». Proceedings of the National Academy of Sciences 117, no 44 (19 octobre 2020) : 27224–30. http://dx.doi.org/10.1073/pnas.2014004117.
Texte intégralZhou, Jing, Jie Zhu, Wen Chen, Jie Shen, Qiong Lei et Hui Min He. « Effect of Stacking Layers on the Structure and Properties of Ca(Mg1/3Nb2/3)O3 / CaTiO3 Thin Films ». Key Engineering Materials 421-422 (décembre 2009) : 115–18. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.421-422.115.
Texte intégralRobertson, B. W., et Y. Liu. « Stacking sequences of the crystallites in Co-Sm films ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 54 (11 août 1996) : 714–15. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100166038.
Texte intégralYoneya, Makoto, Satoshi Matsuoka, Jun’ya Tsutsumi et Tatsuo Hasegawa. « Self-assembly of donor–acceptor semiconducting polymers in solution thin films : a molecular dynamics simulation study ». Journal of Materials Chemistry C 5, no 37 (2017) : 9602–10. http://dx.doi.org/10.1039/c7tc01014a.
Texte intégralNordin, Norfaizul Izwan, Rosminazuin Ab Rahim et Aliza Aini Md Ralib. « Flexible PVDF thin film as piezoelectric energy harvester ». Bulletin of Electrical Engineering and Informatics 8, no 2 (1 juin 2019) : 443–49. http://dx.doi.org/10.11591/eei.v8i2.1423.
Texte intégralHsu, Chih-Chieh, Po-Tsun Liu, Kai-Jhih Gan, Dun-Bao Ruan et Simon M. Sze. « Oxygen Concentration Effect on Conductive Bridge Random Access Memory of InWZnO Thin Film ». Nanomaterials 11, no 9 (27 août 2021) : 2204. http://dx.doi.org/10.3390/nano11092204.
Texte intégralJo, Yongjin, Jonghan Lee, Chaewon Kim, Junhyeok Jang, Inchan Hwang, John Hong et Mi Jung Lee. « Engineered molecular stacking crystallinity of bar-coated TIPS-pentacene/polystyrene films for organic thin-film transistors ». RSC Advances 13, no 4 (2023) : 2700–2706. http://dx.doi.org/10.1039/d2ra05924j.
Texte intégralMarshall, A. F., K. Char, R. W. Barton, A. Kapitulnik et S. S. Laderman. « Microstructural interaction of Y2Ba4Cu8O16 stacking faults within YBa2Cu3O7−x ». Journal of Materials Research 5, no 10 (octobre 1990) : 2049–55. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1990.2049.
Texte intégralYuk, J. M., J. Y. Lee, T. W. Kim, D. I. Son et W. K. Choi. « Effects of thermal annealing on the microstructural properties of the lower region in ZnO thin films grown on n-Si (001) substrates ». Journal of Materials Research 23, no 4 (avril 2008) : 1082–86. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2008.0141.
Texte intégralHarada, T., T. Nagai, M. Oishi et Y. Masahiro. « Sputter-grown c-axis-oriented PdCoO2 thin films ». Journal of Applied Physics 133, no 8 (28 février 2023) : 085302. http://dx.doi.org/10.1063/5.0136749.
Texte intégralHatton, Peter, Ali Abbas, Piotr Kaminski, Sibel Yilmaz, Michael Watts, Michael Walls, Pooja Goddard et Roger Smith. « Inert gas bubble formation in magnetron sputtered thin-film CdTe solar cells ». Proceedings of the Royal Society A : Mathematical, Physical and Engineering Sciences 476, no 2239 (juillet 2020) : 20200056. http://dx.doi.org/10.1098/rspa.2020.0056.
Texte intégralWalls, J. M., A. Abbas, G. D. West, J. W. Bowers, P. J. M. Isherwood, P. M. Kaminski, B. Maniscalco, W. S. Sampath et K. L. Barth. « The Effect of Annealing Treatments on Close Spaced Sublimated Cadmium Telluride Thin Film Solar Cells ». MRS Proceedings 1493 (2013) : 147–52. http://dx.doi.org/10.1557/opl.2012.1704.
Texte intégralLee, Junho, Jaeyong Kim et Myeongkyu Lee. « High-purity reflective color filters based on thin film cavities embedded with an ultrathin Ge2Sb2Te5 absorption layer ». Nanoscale Advances 2, no 10 (2020) : 4930–37. http://dx.doi.org/10.1039/d0na00626b.
Texte intégralHuo, Xiaoye, Zhenhai Wang, Mengqi Fu, Jiye Xia et Shengyong Xu. « A sub-200 nanometer wide 3D stacking thin-film temperature sensor ». RSC Advances 6, no 46 (2016) : 40185–91. http://dx.doi.org/10.1039/c6ra06353e.
Texte intégralDel Caño, T., J. Duff et R. Aroca. « Molecular Spectra and Molecular Organization in Thin Solid Films of Bis(Neopentylimido) Perylene ». Applied Spectroscopy 56, no 6 (juin 2002) : 744–50. http://dx.doi.org/10.1366/000370202760077478.
Texte intégralRaineri, Vito, Corrado Bongiorno, Salvatore di Franco, Raffaella Lo Nigro, Emanuele Rimini et Filippo Giannazzo. « Surface Corrugation and Stacking Misorientation in Multilayers of Graphene on Nickel ». Solid State Phenomena 178-179 (août 2011) : 125–29. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.178-179.125.
Texte intégralChen, Jihua, David C. Martin et John E. Anthony. « Morphology and molecular orientation of thin-film bis(triisopropylsilylethynyl) pentacene ». Journal of Materials Research 22, no 6 (juin 2007) : 1701–9. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2007.0220.
Texte intégralRoy, I., et S. Hazra. « Solvent dependent ordering of poly(3-dodecylthiophene) in thin films ». Soft Matter 11, no 18 (2015) : 3724–32. http://dx.doi.org/10.1039/c5sm00595g.
Texte intégralChen, H. J. H., B. B. L. Yeh, H. C. Pan et J. S. Chen. « ZnO transparent thin-film transistors with HfO2/Ta2O5 stacking gate dielectrics ». Electronics Letters 44, no 3 (2008) : 186. http://dx.doi.org/10.1049/el:20083215.
Texte intégralYoo, Su-Hyun, Keith T. Butler, Aloysius Soon, Ali Abbas, John M. Walls et Aron Walsh. « Identification of critical stacking faults in thin-film CdTe solar cells ». Applied Physics Letters 105, no 6 (11 août 2014) : 062104. http://dx.doi.org/10.1063/1.4892844.
Texte intégralDing, Q., W. Tian, M. K. Lee, E. B. Eom et X. Q. Pan. « Interfacial Structure of Metastable 4H-BaRuO3 Thin Film on (111) SrTiO3 Substrate ». Microscopy and Microanalysis 6, S2 (août 2000) : 1066–67. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760003782x.
Texte intégralMamidi, Narsimha, Ramiro Velasco Delgadillo, Aldo Gonzáles Ortiz et Enrique Barrera. « Carbon Nano-Onions Reinforced Multilayered Thin Film System for Stimuli-Responsive Drug Release ». Pharmaceutics 12, no 12 (13 décembre 2020) : 1208. http://dx.doi.org/10.3390/pharmaceutics12121208.
Texte intégralGwaydi, January S., Hezekiah B. Sawa, Egidius R. Rwenyagila, Nathanael R. Komba, Talam E. Kibona, Nuru R. Mlyuka, Margaret E. Samiji et Lwitiko P. Mwakyusa. « Influence of Stacking Order on the Structural and Optical Properties of Cu2ZnSnS4 Absorber Layer Prepared from DC-Sputtered Oxygenated Precursors ». Tanzania Journal of Science 50, no 1 (30 avril 2024) : 115–25. http://dx.doi.org/10.4314/tjs.v50i1.9.
Texte intégralQin, Houyun, Chang Liu, Chong Peng, Mingxin Lu, Yiming Liu, Song Wei, Hongbo Wang, Nailin Yue, Wei Zhang et Yi Zhao. « Rapid-deposited high-performance submicron encapsulation film with in situ plasma oxidized Al layer inserted ». Applied Physics Express 15, no 4 (22 mars 2022) : 046503. http://dx.doi.org/10.35848/1882-0786/ac44cc.
Texte intégralTaoka, Yuki, Terumichi Hayashi, Pasomphone Hemthavy, Kunio Takahashi et Shigeki Saito. « Development of a bipolar electrostatic chuck with a compliant beam-array assembly having four 3D-printed layers for large film handling ». Engineering Research Express 4, no 1 (21 janvier 2022) : 015010. http://dx.doi.org/10.1088/2631-8695/ac4a49.
Texte intégralCho, Hae Seok, Min Hong Kim et Hyeong Joon Kim. « Preferred orientation and microstructure of Ni-Zn-Cu ferrite thin films deposited by rf magnetron sputtering ». Journal of Materials Research 9, no 9 (septembre 1994) : 2425–33. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1994.2425.
Texte intégralWilliams, B. E., et J. T. Glass. « Characterization of diamond thin films : Diamond phase identification, surface morphology, and defect structures ». Journal of Materials Research 4, no 2 (avril 1989) : 373–84. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1989.0373.
Texte intégralNam, Sung Pill, Sung Gap Lee, Seong Gi Bae et Young Hie Lee. « Electrical Properties BaTiO3 Thick Films with an Interlayer SrTiO3 Thin Films ». Solid State Phenomena 124-126 (juin 2007) : 659–62. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.124-126.659.
Texte intégralJana, Santanu, Rodrigo Martins et Elvira Fortunato. « Stacking-Dependent Electrical Transport in a Colloidal CdSe Nanoplatelet Thin-Film Transistor ». Nano Letters 22, no 7 (28 mars 2022) : 2780–85. http://dx.doi.org/10.1021/acs.nanolett.1c04822.
Texte intégralXiao, Yiqun, Jun Yuan, Guodong Zhou, Ka Chak Ngan, Xinxin Xia, Jingshuai Zhu, Yingping Zou, Ni Zhao, Xiaowei Zhan et Xinhui Lu. « Unveiling the crystalline packing of Y6 in thin films by thermally induced “backbone-on” orientation ». Journal of Materials Chemistry A 9, no 31 (2021) : 17030–38. http://dx.doi.org/10.1039/d1ta05268c.
Texte intégral