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Texte intégralLiu, Ye, et Yi Chen Wang. « The Study of the Requirement of Software Testability Based on Causal Analysis ». Applied Mechanics and Materials 513-517 (février 2014) : 1944–50. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.513-517.1944.
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Texte intégralLv, Jian Wei, Zong Ren Xie et Yi Fan Xu. « A Weighted Optimization Allocation Based on Interval Distribution of Equipment Testability Indicators ». Applied Mechanics and Materials 741 (mars 2015) : 795–800. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.741.795.
Texte intégralKhan, Mohammad, M. A. Khanam et M. H. Khan. « Requirement Based Testability Estimation Model of Object Oriented Software ». Oriental journal of computer science and technology 10, no 04 (17 octobre 2017) : 793–801. http://dx.doi.org/10.13005/ojcst/10.04.14.
Texte intégralSober, Elliott. « Testability ». Proceedings and Addresses of the American Philosophical Association 73, no 2 (novembre 1999) : 47. http://dx.doi.org/10.2307/3131087.
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Texte intégralDi, Peng, Xuan Wang, Tong Chen et Bin Hu. « Multisensor Data Fusion in Testability Evaluation of Equipment ». Mathematical Problems in Engineering 2020 (30 novembre 2020) : 1–16. http://dx.doi.org/10.1155/2020/7821070.
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Texte intégralZhao, Jing, Wen Jun Zhao et Qiang Zhang. « Design and Realization of an Avionics Equipment Testability Model Based on TADS ». Applied Mechanics and Materials 644-650 (septembre 2014) : 964–67. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.644-650.964.
Texte intégralZhou, Ping, et Dong Feng Liu. « Research on Design for Testability of Marine Diesel Engine ». Applied Mechanics and Materials 110-116 (octobre 2011) : 4234–39. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.110-116.4234.
Texte intégralLi, Tian-Mei, Cong-Qi Xu, Jing Qiu, Guan-Jun Liu et Qi Zhang. « The Assessment and Foundation of Bell-Shaped Testability Growth Effort Functions Dependent System Testability Growth Models Based on NHPP ». Mathematical Problems in Engineering 2015 (2015) : 1–17. http://dx.doi.org/10.1155/2015/613170.
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Texte intégralFlottes, M. L., B. Rouzeyre et L. Volpe. « Improving Datapath Testability by Modifying Controller Specification ». VLSI Design 15, no 2 (1 janvier 2002) : 491–98. http://dx.doi.org/10.1080/1065514021000012101.
Texte intégralFarhat, H., et S. From. « A Quadratic Programming Approach to Estimating the Testability and Random or Deterministic Coverage of a VLSl Circuit ». VLSI Design 2, no 3 (1 janvier 1994) : 223–31. http://dx.doi.org/10.1155/1994/75615.
Texte intégralZhu, Jiabi, Mostafa Abd-El-Barr et Carl McCrosky. « A New Theory for Testability-Preserving Optimization of Combinational Circuits ». VLSI Design 5, no 1 (1 janvier 1996) : 59–75. http://dx.doi.org/10.1155/1996/19043.
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Texte intégralIwama, Kazuo, et Yuichi Yoshida. « Parameterized Testability ». ACM Transactions on Computation Theory 9, no 4 (12 janvier 2018) : 1–16. http://dx.doi.org/10.1145/3155294.
Texte intégralLiu, Gang, et Fang Li. « A New Testability Optimization Allocation Approach ». Applied Mechanics and Materials 328 (juin 2013) : 444–49. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.328.444.
Texte intégralHenderson, David K. « On the Testability of Psychological Generalizations (Psychological Testability) ». Philosophy of Science 58, no 4 (décembre 1991) : 586–606. http://dx.doi.org/10.1086/289642.
Texte intégralMei, Wenjuan, Zhen Liu, Lei Tang et Yuanzhang Su. « Test Strategy Optimization Based on Soft Sensing and Ensemble Belief Measurement ». Sensors 22, no 6 (10 mars 2022) : 2138. http://dx.doi.org/10.3390/s22062138.
Texte intégralNikfard, Pourya, Suhaimi Bin Ibrahim, Babak Darvish Rohani, Harihodin Bin Selamat et Mohd Nazri Mahrin. « A Comparative Evaluation of approaches for Model Testability ». INTERNATIONAL JOURNAL OF COMPUTERS & ; TECHNOLOGY 9, no 1 (15 juillet 2013) : 948–55. http://dx.doi.org/10.24297/ijct.v9i1.4157.
Texte intégralNikfard, Pourya, Suhaimi Bin Ibrahim, Babak Darvish Rohani, Harihodin Bin Selamat et Mohd Nazri Mahrin. « An Evaluation for Model Testability approaches ». INTERNATIONAL JOURNAL OF COMPUTERS & ; TECHNOLOGY 9, no 1 (30 juin 2013) : 938–47. http://dx.doi.org/10.24297/ijct.v9i1.4159.
Texte intégralChen, Chien-In Henry, et Mahesh Wagh. « Testability Synthesis for Jumping Carry Adders ». VLSI Design 14, no 2 (1 janvier 2002) : 155–69. http://dx.doi.org/10.1080/10655140290010079.
Texte intégralLuo, Jin, Qi Bin Deng et Chen Zhang. « Testability Modeling and Prediction Method with Unreliable Test ». Advanced Materials Research 756-759 (septembre 2013) : 665–68. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.756-759.665.
Texte intégralXing, Xiao Qi, Bin Liu et Dong Yi Ling. « Research on Testability Analysis Methods of Complex Embedded Software ». Applied Mechanics and Materials 543-547 (mars 2014) : 3356–59. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.543-547.3356.
Texte intégralRavikumar, C. P., et H. Joshi. « SCOAP-based Testability Analysis from Hierarchical Netlists ». VLSI Design 7, no 2 (1 janvier 1998) : 131–41. http://dx.doi.org/10.1155/1998/32654.
Texte intégralSun, Jian, Qin Lei Sun, Kao Li Huang, Ying Xie et Hong Ru Li. « Study on Method for Test Points Selection under Uncertainty Based on MBQPSO ». Applied Mechanics and Materials 239-240 (décembre 2012) : 730–34. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.239-240.730.
Texte intégralZhu, Chun Sheng, Qi Zhang, Fan Tun Su et Hong Liang Ran. « Research on the Multi-Objective Optimization Model of System-Level BIT Testability Index Determination ». Applied Mechanics and Materials 121-126 (octobre 2011) : 2223–27. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.121-126.2223.
Texte intégralChang, Shih-Chieh, Kwen-Yo Chen, Ching-Hwa Cheng, Wen-Ben Jone et Sunil R. Das. « Random Pattern Testability Enhancement by Circuit Rewiring ». VLSI Design 12, no 4 (1 janvier 2001) : 537–49. http://dx.doi.org/10.1155/2001/87048.
Texte intégralBarthélémy, Jean-Hugues. « Is testability falsifiability ? » Kairos. Journal of Philosophy & ; Science 24, no 1 (1 décembre 2020) : 74–90. http://dx.doi.org/10.2478/kjps-2020-0012.
Texte intégralEllis, G. « Theories Beyond Testability ? » Science 342, no 6161 (21 novembre 2013) : 934. http://dx.doi.org/10.1126/science.1246302.
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Texte intégralNazir, Mohd, Dr Raees A. Khan et Dr K. Mustafa. « Testability Estimation Framework ». International Journal of Computer Applications 2, no 5 (10 juin 2010) : 9–14. http://dx.doi.org/10.5120/668-937.
Texte intégralBennetts, R. G., et M. A. Jack. « Design for testability ». IEE Proceedings G (Electronic Circuits and Systems) 132, no 3 (1985) : 73. http://dx.doi.org/10.1049/ip-g-1.1985.0017.
Texte intégralMaunder, C. M., et R. E. Tulloss. « Testability on TAP ». IEEE Spectrum 29, no 2 (février 1992) : 34–37. http://dx.doi.org/10.1109/6.119610.
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Texte intégralOoi, Chia Yee, et Hideo Fujiwara. « A New Design-for-Testability Method Based on Thru-Testability ». Journal of Electronic Testing 27, no 5 (1 septembre 2011) : 583–98. http://dx.doi.org/10.1007/s10836-011-5241-8.
Texte intégralKornegay, Kevin T., et Robert W. Brodersen. « Integrated Test Solutions for a System Design Environment ». VLSI Design 1, no 4 (1 janvier 1994) : 345–57. http://dx.doi.org/10.1155/1994/39791.
Texte intégralZhou, De Xin, Ming Yu Song et Teng Da Ma. « Research of AMU Unit Fault Testability Based on Multi-Signal Modeling and Fuzzy Decision ». Advanced Materials Research 760-762 (septembre 2013) : 1089–94. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.760-762.1089.
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