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1

Weyerer, Manfred. Testability of electronic circuits. Munich : Carl Hanser Verlag, 1992.

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2

United States. Environmental Protection Agency. Transportation and Climate Division. OBD readiness testability issues. 2e éd. Washington, D.C.] : Transportation and Climate Division, Office of Transportation and Air Quality, U.S. Environmental Protection Agency, 2012.

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3

Weyerer, Manfred. Testability of electronic circuits. Munich : C. Hanser, 1991.

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4

Tsui, Frank F. LSI/VLSI testability design. New York : McGraw-Hill, 1987.

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5

M, Voas Jeffrey, dir. Software assessment : Reliability, safety, testability. New York : Wiley, 1995.

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6

Beenker, F. P. M., R. G. Bennetts et A. P. Thijssen. Testability Concepts for Digital ICs. Boston, MA : Springer US, 1995. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4615-2365-9.

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7

Digital circuit testing and testability. San Diego : Academic Press, 1997.

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8

Logic testing and design for testability. Cambridge, Mass : MIT Press, 1985.

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9

Huhn, Sebastian, et Rolf Drechsler. Design for Testability, Debug and Reliability. Cham : Springer International Publishing, 2021. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-69209-4.

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10

Engineering design : Reliability, maintainability, and testability. Blue Ridge Summit, PA : TAB Professional and Reference Books, 1988.

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Jones, James V. Engineering design : Reliability, maintainability, and testability. Blue Ridge Summit, PA : Tab Books, 1988.

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C, Morris K., et National Institute of Standards and Technology (U.S.), dir. Testability of product data management interfaces. Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1999.

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C, Morris K., et National Institute of Standards and Technology (U.S.), dir. Testability of product data management interfaces. Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1999.

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14

The testability of distributed real-time systems. Boston : Kluwer Academic Publishers, 1993.

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15

Petlin, Oleg Alexandrovich. Design for testability of asynchronous VLSI circuits. Manchester : University of Manchester, 1996.

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16

1943-, Elmasry Mohamed I., dir. Optimal VLSI architectural synthesis : Area, performance, and testability. Boston : Kluwer Academic Publishers, 1992.

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17

Elbably, Mohammed E. On the testability and diagnosability of digital systems. Uxbridge : Brunel University, 1988.

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Larsson, Erik. An integrated system-level design for testability methodology. Linköping : Department of Computer and Information Science, Linköping University, 2000.

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López, Roberto Téllez-Girón. Testability analysis : A survey on methods and applications. Köln : Verlag TÜV Rheinland, 1987.

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Gebotys, Catherine H. Optimal VLSI Architectural Synthesis : Area, Performance and Testability. Boston, MA : Springer US, 1992.

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21

Beenker, F. P. M. Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach. Boston, MA : Springer US, 1995.

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22

Language system and its change : On theory and testability. Berlin : Mouton de Gruyter, 1985.

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23

Miles, John Richard. Cost modelling for VLSI circuit conversion to aid testability. Uxbridge : Brunel University, 1988.

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24

G, Bennetts R., et Thijssen A. P, dir. Testability concepts for digital ICs : The macro test approach. Dordrecht : Kluwer Academic Publishers, 1995.

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25

Voas, Jeffrey M. A testability-based assertion placement tool for object-oriented software. Gaithersburg, MD : The Institute, 1998.

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26

Huertas, José L. Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits. Boston, MA : Springer US, 2004.

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27

Huertas, José L., dir. Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits. Boston, MA : Springer US, 2004. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-23521-9.

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28

Voas, Jeffrey M. A testability-based assertion placement tool for object-oriented software. Gaithersburg, MD : The Institute, 1998.

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Huertas, José L. Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits. Boston, MA : Springer US, 2004.

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30

Matthew, Schmid, Schatz Michael, Wallace Dolores R et National Institute of Standards and Technology (U.S.), dir. A testability-based assertion placement tool for object-oriented software. Gaithersburg, MD : The Institute, 1998.

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Voas, Jeffrey M. A testability-based assertion placement tool for object-oriented software. Gaithersburg, MD : The Institute, 1998.

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Matthew, Schmid, Schatz Michael, Wallace Dolores R et National Institute of Standards and Technology (U.S.), dir. A testability-based assertion placement tool for object-oriented software. Gaithersburg, MD : The Institute, 1998.

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33

Standardization, Great Britain Ministry of Defence Directorate of. Guide to the achievement of testability in electronic and allied equipment. Glasgow : MOD, 1985.

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Davidson, John Carl. Implementation of a Design for Testability strategy using the Genesil silicon compiler. Monterey, California : Naval Postgraduate School, 1989.

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International Workshop on Testability Assessment (1st 2004 Rennes, France). IWoTA 2004 : 1st International Workshop on Testability Assessment : proceedings : 2 November, 2004, Rennes, France. Piscataway, N.J : IEEE, 2004.

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U.S. Nuclear Regulatory Commission. Division of Safety Issue Resolution., Idaho National Engineering Laboratory et EG & G Idaho., dir. Technical findings related to resolution of generic safety issue 120, online testability of protection systems. Washington, DC : Division of Safety Issue Resolution, Office of Nuclear Regulatory Research, U.S. Nuclear Regulatory Commission, 1992.

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37

Petrov, Andrei Nikolaevich, dir. Ekspluatatsionno-tekhnicheskie kharakteristiki i obespechenie ekspluatatsii aviatsionnoĭ tekhniki : 50 let nauchnoi deiatel'nosti otdeleniia № 4 Letno-issledovatel'skogo instituta im. M.M. Gromova 1962-2012. Moskva, Russia (Federation) : Shirokij vzglyad, 2012.

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38

Loureiro, G. V. Digital systems design for testability based on a reed-muller tree-circuit approach : Design and application of a CAD system for the minimization design and fault simulation of reed-muller tree-circuits. Manchester : UMIST, 1993.

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39

Pfleeger, Shari Lawrence. Software engineering : Theory and practice. Upper Saddle River, N.J : Prentice Hall, 1998.

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40

Software engineering : Theory and practice. Upper Saddle River, NJ : Prentice Hall, 1998.

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Software engineering : The production of quality software. 2e éd. New York : Macmillan Pub. Co., 1991.

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42

Winter, Ash, et Rob Meaney. Team Guide to Software Testability : Better Software Through Greater Testability. Conflux Digital Ltd., 2021.

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Guidelines for assuring testability. London : Institution of Electrical Engineers, 1988.

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44

Vlsi Design for (Self- Testability). CRC, 1996.

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45

Digital Circuit Testing and Testability. Elsevier Science & Technology Books, 1997.

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46

Fujiwara, Hideo. Logic Testing and Design for Testability. The MIT Press, 1985. http://dx.doi.org/10.7551/mitpress/4317.001.0001.

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47

Tripathi, Suman Lata, Sobhit Saxena et Sushanta Kumar Mohapatra. Advanced VLSI Design and Testability Issues. Taylor & Francis Group, 2020.

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Testability of product data management interfaces. Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1999.

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49

Dick, John Henry, C. Dislis, I. D. Dear et A. P. Ambler. Test Economics and Design for Testability. Prentice Hall, 1995.

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50

Tripathi, Suman Lata, Sobhit Saxena et Sushanta Kumar Mohapatra. Advanced VLSI Design and Testability Issues. Taylor & Francis Group, 2022.

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