Littérature scientifique sur le sujet « TEM ANALYSIS »
Créez une référence correcte selon les styles APA, MLA, Chicago, Harvard et plusieurs autres
Sommaire
Consultez les listes thématiques d’articles de revues, de livres, de thèses, de rapports de conférences et d’autres sources académiques sur le sujet « TEM ANALYSIS ».
À côté de chaque source dans la liste de références il y a un bouton « Ajouter à la bibliographie ». Cliquez sur ce bouton, et nous générerons automatiquement la référence bibliographique pour la source choisie selon votre style de citation préféré : APA, MLA, Harvard, Vancouver, Chicago, etc.
Vous pouvez aussi télécharger le texte intégral de la publication scolaire au format pdf et consulter son résumé en ligne lorsque ces informations sont inclues dans les métadonnées.
Articles de revues sur le sujet "TEM ANALYSIS"
Du, Z. W., A. S. Liu, B. L. Shao, Z. Y. Zhang, X. S. Zhang et Z. M. Sun. « TEM analysis of Gd5Si1.85Ge2.15 alloy ». Materials Characterization 59, no 9 (septembre 2008) : 1241–44. http://dx.doi.org/10.1016/j.matchar.2007.10.005.
Texte intégralRajan, Krishna, et Peter Sewell. « Surface Analysis in the TEM ». JOM 38, no 10 (octobre 1986) : 34–35. http://dx.doi.org/10.1007/bf03258578.
Texte intégralMizunaga, Hideki, et Toshiaki Tanaka. « Development of Temtool for TEM analysis ». BUTSURI-TANSA(Geophysical Exploration) 67, no 2 (2014) : 135–42. http://dx.doi.org/10.3124/segj.67.135.
Texte intégralOkamoto, Tatsuki, Masaki Kanegami et Naohiro Hozumi. « TEM Analysis of Polyethylene with EELS ». IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials 118, no 7-8 (1998) : 767–72. http://dx.doi.org/10.1541/ieejfms1990.118.7-8_767.
Texte intégralHIROSE, Yukinori, et Koji FUKUMOTO. « Evaluation and Analysis Technique Using TEM ». Journal of the Surface Finishing Society of Japan 54, no 1 (2003) : 21–25. http://dx.doi.org/10.4139/sfj.54.21.
Texte intégralStöger-Pollach, M., A. Steiger-Thirsfeld et S. Schwarz. « Low voltage TEM for semiconductor analysis ». Journal of Physics : Conference Series 326 (9 novembre 2011) : 012027. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/326/1/012027.
Texte intégralRowlands, Neil, et Simon Burgess. « Energy dispersive analysis in the TEM ». Materials Today 12 (2010) : 46–48. http://dx.doi.org/10.1016/s1369-7021(10)70145-0.
Texte intégralDahmen, U., N. Thangaraj et R. Kilaas. « Quantitative TEM analysis of microstructural anisotropy ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994) : 682–83. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100171146.
Texte intégralBauer, Natalie, Jyoti Rai, Hairu Chen, Lillianne Harris, Lalita Shevde, Tim Moore et Judy King. « Microparticles/Exosomes : Isolation and TEM Analysis ». Microscopy Today 17, no 2 (mars 2009) : 42–45. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500054493.
Texte intégralNeumann, Wolfgang, Holm Kirmse, Ines Häusler, Reinhard Otto et Irmela Hähnert. « Quantitative TEM analysis of quantum structures ». Journal of Alloys and Compounds 382, no 1-2 (novembre 2004) : 2–9. http://dx.doi.org/10.1016/j.jallcom.2004.05.066.
Texte intégralThèses sur le sujet "TEM ANALYSIS"
Foo, Seng-Lee. « Analysis of electromagnetic fields in loaded TEM cells ». Thesis, University of Ottawa (Canada), 1988. http://hdl.handle.net/10393/5170.
Texte intégralKylberg, Gustaf. « Automatic Virus Identification using TEM : Image Segmentation and Texture Analysis ». Doctoral thesis, Uppsala universitet, Avdelningen för visuell information och interaktion, 2014. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:uu:diva-217328.
Texte intégralHajduček, Jan. « Zobrazování metamagnetických tenkých vrstev pomocí TEM ». Master's thesis, Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství, 2021. http://www.nusl.cz/ntk/nusl-443233.
Texte intégralNord, Magnus Kristofer. « Quantitative (S)TEM analysis of intermediate band solar cell materials ». Thesis, Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet, Institutt for fysikk, 2011. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:no:ntnu:diva-13655.
Texte intégralElFallagh, Fathi Ali. « 3D Analysis of Indentation Damage by FIB tomography and TEM ». Thesis, University of Sheffield, 2008. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.500111.
Texte intégralMcLaughlin, Kirsten Kathleen. « TEM diffraction analysis of the deformation underneath low load indentations ». Thesis, University of Cambridge, 2007. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.613392.
Texte intégralSears, Jasmine, Ricky Gibson, Michael Gehl, Sander Zandbergen, Patrick Keiffer, Nima Nader, Joshua Hendrickson, Alexandre Arnoult et Galina Khitrova. « TEM EDS analysis of epitaxially-grown self-assembled indium islands ». AMER INST PHYSICS, 2017. http://hdl.handle.net/10150/624718.
Texte intégralIssa, Inas. « In situ TEM nanocompression and mechanical analysis of ceramic nanoparticles ». Thesis, Lyon, 2016. http://www.theses.fr/2016LYSEI008/document.
Texte intégralIn this study, we propose an innovative mechanical observation protocol of ceramics nanoparticles in the 100nm size range. This Protocol consists of in situ TEM nanocompression tests of isolated nanoparticles. Load–real displacements curves, obtained by Digital Image Correlation, are analyzed and these analyses are correlated with Molecular Dynamics simulations. By this protocol a constitutive law with its mechanical parameters (Young modulus, Yield stress...) of the studied material at the nano-scale can be obtained. In situ TEM nano-compression tests on magnesium oxide nanocubes are performed. Magnesium oxide is a model material and its plasticity is very well known at bulk. The MgO nanocubes show large plastic deformation, more than 50% of plastic strain without any fracture. The TEM results are correlated to MD simulations and the deformation mechanism can be identified.The size effect and the electron beam effect on the yield strength are investigated. In a second part of the dissertation, we present a study on transition alumina nanoparticles compacted in a Diamond Anvil Cell at different uniaxial pressures. Thin Foils of these compacted nanoparticles are prepared by FIB for HRTEM Observations. Their analysis reveals the plastic deformation of the nanoparticles. The crystallographic texture observed inthese compacted nanoparticles in DAC shows a preferred orientation of the {110} lattice planes, orientated perpendicular to the compression direction. This is compatible with the slip system. This argument was reinforced with a preferred orientation of slip bands observed during in situ TEM nano-compression tests. Moreover, electron diffraction patterns (Debye Scherrer) analysis on these compacted transition alumina nanoparticles reveals the decrease of the presence of gamma-alumina and the increase of delta-alumina with increasing pressure. This reveals the phase transformation with increasing pressure from gamma to delta* alumina
King, Jason Peters King. « An investigation of spin-valves and related films by TEM ». Thesis, University of Glasgow, 1999. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.301949.
Texte intégralWoonbumroong, Apinya. « Fresnel contrast analysis and analytical TEM study of grain boundaries in electroceramics ». Thesis, University of Cambridge, 1999. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.624490.
Texte intégralLivres sur le sujet "TEM ANALYSIS"
Henning, K. H. Electron micrographs (TEM, SEM) of clays and clay minerals. Berlin : Akademie-Verlag, 1986.
Trouver le texte intégralHaron, Sharifah Zabidah. Aspects of tea analysis. Salford : University of Salford, 1991.
Trouver le texte intégralClemente, Filipe Manuel, Fernando Manuel Lourenço Martins et Rui Sousa Mendes. Social Network Analysis Applied to Team Sports Analysis. Cham : Springer International Publishing, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-25855-3.
Texte intégralPassos, Pedro. Performance Analysis in Team Sports. Abingdon, Oxon ; New York, NY : Routledge is an imprint of the : Routledge, 2016. http://dx.doi.org/10.4324/9781315739687.
Texte intégral1973-, Coliva Annalisa, dir. Filosofia analitica : Temi e problemi. Roma : Carocci, 2007.
Trouver le texte intégralChen, Yen-Sen. Lox manifold tee analysis : Final report. Huntsville, Ala : SECA, Inc., 1990.
Trouver le texte intégralCommerce, Ceylon Chamber of. Tea sector statistical analysis, 2012-2013. Colombo : The Ceylon Chamber of Commerce, 2014.
Trouver le texte intégralGuzʹ, Aleksandr Nikolaevich. Trekhmernai͡a︡ teorii͡a︡ ustoĭchivosti deformiruemykh tel. Kiev : Nauk. dumka, 1985.
Trouver le texte intégralUnited States. National Aeronautics and Space Administration., dir. Transient Ejector Analysis (TEA) code user's guide. [Washington, DC : National Aeronautics and Space Administration, 1993.
Trouver le texte intégralGeological Survey (U.S.), dir. Geologic hazards team. [Reston, Va.?] : U.S. Dept. of the Interior, U.S. Geological Survey, 1997.
Trouver le texte intégralChapitres de livres sur le sujet "TEM ANALYSIS"
McHendry, P., AJ Craven et LJ Murphy. « TEM studies of organic pigments ». Dans Electron Microscopy and Analysis 1997, 665–68. Boca Raton : CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9781003063056-172.
Texte intégralRambousky, R., et H. Garbe. « Analysis of Open TEM-Waveguide Structures ». Dans Ultra-Wideband, Short-Pulse Electromagnetics 10, 49–58. New York, NY : Springer New York, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-9500-0_4.
Texte intégralLi, Xiu, Guoqiang Xue et Changchun Yin. « Velocity Analysis of TEM Pseudo Wave Field ». Dans Migration Imaging of the Transient Electromagnetic Method, 105–23. Singapore : Springer Singapore, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-2708-6_6.
Texte intégralKirkland, A. I., W. O. Saxton et R. Meyer. « Super resolved microscopy and aberration determination in the TEM. » Dans Electron Microscopy and Analysis 1997, 105–8. Boca Raton : CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9781003063056-26.
Texte intégralVoelkl, E., L. F. Allard, J. Bruley, V. J. Keast et D. B. Williams. « The teaching of TEM by telepresence microscopy over the internet ». Dans Electron Microscopy and Analysis 1997, 45–48. Boca Raton : CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9781003063056-10.
Texte intégralKondo, Y., H. Ohnishi, Q. Ru, H. Kimata et K. Takayanagi. « Newly developed UHV-FE-HR-TEM for particle surface studies ». Dans Electron Microscopy and Analysis 1997, 241–44. Boca Raton : CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9781003063056-62.
Texte intégralBlank, V. D., B. A. Kulnitskiy, Ye V. Tatyanin et O. M. Zhigalina. « TEM study of the crystalline and amorphous phases in C60 ». Dans Electron Microscopy and Analysis 1997, 593–96. Boca Raton : CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9781003063056-154.
Texte intégralKylberg, Gustaf, Ida-Maria Sintorn et Gunilla Borgefors. « Towards Automated TEM for Virus Diagnostics : Segmentation of Grid Squares and Detection of Regions of Interest ». Dans Image Analysis, 169–78. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-02230-2_18.
Texte intégralGupta, Anindya, Amit Suveer, Joakim Lindblad, Anca Dragomir, Ida-Maria Sintorn et Nataša Sladoje. « Convolutional Neural Networks for False Positive Reduction of Automatically Detected Cilia in Low Magnification TEM Images ». Dans Image Analysis, 407–18. Cham : Springer International Publishing, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-59126-1_34.
Texte intégralMacLaren, I., et C. B. Ponton. « TEM investigation of hydrothermally synthesised Ba(Mg1/3Ta2/3)O3, powders ». Dans Electron Microscopy and Analysis 1997, 531–34. Boca Raton : CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9781003063056-137.
Texte intégralActes de conférences sur le sujet "TEM ANALYSIS"
Chong, H. B., Brandon Van Leer, V. Narang et M. Y. Ho. « Sideways FIB TEM sample preparation for improved construction analysis in TEM ». Dans 2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2012). IEEE, 2012. http://dx.doi.org/10.1109/ipfa.2012.6306257.
Texte intégralChen, S. Y., W. Yang, G. F. Xu et C. T. Liu. « TEM EELS analysis for DRAM failure analysis ». Dans 2021 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA). IEEE, 2021. http://dx.doi.org/10.1109/ipfa53173.2021.9617371.
Texte intégralIanconescu, Reuven, et Vladimir Vulfin. « TEM transmission line radiation losses analysis ». Dans 2016 46th European Microwave Conference (EuMC). IEEE, 2016. http://dx.doi.org/10.1109/eumc.2016.7824381.
Texte intégralXiaoding Cai. « Analysis of longitudinal characteristics TEM cells ». Dans International Symposium on Electromagnetic Compatibility. IEEE, 1989. http://dx.doi.org/10.1109/isemc.1989.240866.
Texte intégralEsa, S. R., R. Yahya, A. Hassan et G. Omar. « Copper oxidation study by TEM ». Dans 2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2012). IEEE, 2012. http://dx.doi.org/10.1109/ipfa.2012.6306315.
Texte intégralLin, Ching-Chun, Jay Wang et Kim Hsu. « TEM applications for III-V material analysis ». Dans 2017 IEEE 24th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA). IEEE, 2017. http://dx.doi.org/10.1109/ipfa.2017.8060204.
Texte intégralDu, A. Y., J. Zhu, Y. K. Zhou, B. H. Liu, Eddie Er, Z. Q. Mo, S. P. Zhao et Jeffrey Lam. « Advanced TEM applications in semiconductor devices ». Dans 2014 IEEE 21st International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA). IEEE, 2014. http://dx.doi.org/10.1109/ipfa.2014.6898193.
Texte intégralZhu, Xiangqin, Weiqing Chen, Zaigao Chen et Jianguo Wang. « Analysis of TEM Horn with Dielectric Loaded ». Dans 2018 IEEE International Conference on Computational Electromagnetics (ICCEM). IEEE, 2018. http://dx.doi.org/10.1109/compem.2018.8496637.
Texte intégralLee, Tan-Chen, Jui-Yen Huang, Li-Chien Chen, Ruey-Lian Hwang et David Su. « Methodology for TEM Analysis of Barrier Profiles ». Dans ISTFA 2002. ASM International, 2002. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2002p0689.
Texte intégralFuhrmann, T., J. Pletzer et A. Uhl. « Computer assisted morphometric analysis of TEM images ». Dans IET 3rd International Conference MEDSIP 2006. Advances in Medical, Signal and Information Processing. IEE, 2006. http://dx.doi.org/10.1049/cp:20060362.
Texte intégralRapports d'organisations sur le sujet "TEM ANALYSIS"
Kass, M. A., Yaoguo Li, Richard Krahenbuhl, Misac Nabighian et Douglas Oldenburg. Enhancement of TEM Data and Noise Characterization by Principal Component Analysis. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, mai 2010. http://dx.doi.org/10.21236/ada571505.
Texte intégralGerberich, W. W. Micromechanisms of brittle fracture : STM, TEM and electron channeling analysis. Final report. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), janvier 1997. http://dx.doi.org/10.2172/463626.
Texte intégralPercival, J. B., T. Jensen, K. Wasyliuk, G. Drever, J. Sader, M. Sarfi, P A Hunt, C. Bibby, S. Wong et A. Enright. EXTECH IV mineralogical database : XRD, infrared and TEM analyses. Natural Resources Canada/ESS/Scientific and Technical Publishing Services, 2012. http://dx.doi.org/10.4095/292112.
Texte intégralCalahorra-Jimenez, Maria. Contracting Strategies : A Different Approach to Address Long-term Performance. Mineta Transportation Institute, juillet 2022. http://dx.doi.org/10.31979/mti.2021.2130.
Texte intégralCalahorra-Jimenez, Maria. Contracting Strategies : A Different Approach to Address Long-term Performance. Mineta Transportation Institute, juillet 2022. http://dx.doi.org/10.31979/mti.2022.2130.
Texte intégralAponte, C. I. Supernate source term analysis : Revision 1. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), octobre 1994. http://dx.doi.org/10.2172/10105057.
Texte intégralAuthor, Not Given. Vehicle Systems Analysis Technical Team Roadmap. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), juin 2013. http://dx.doi.org/10.2172/1220129.
Texte intégralAllison, Ralph E., et Jr. Analysis of First-Term Army Attrition. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, avril 1999. http://dx.doi.org/10.21236/ada362968.
Texte intégralCanto, Patricia, dir. Lessons to be learnt for initiatives to promote cross-border collaboration : an experience in the New Aquitaine-Euskadi-Navarre euroregion. Universidad de Deusto, 2022. http://dx.doi.org/10.18543/xjrt7954.
Texte intégralSawan, M. E., G. L. Kulcinski et D. L. Henderson. Nuclear Analysis for Near Term Fusion Devices. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), avril 2007. http://dx.doi.org/10.2172/901591.
Texte intégral