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Livres sur le sujet « Spectroscopies and electron microscopy »

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Auteur : Grafiati

Publié le 20 juillet 2024

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1

B, Williams David. Transmission electron microscopy : A textbook for materials science. New York : Plenum, 1996.

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2

B, Williams David. Transmission electron microscopy : A textbook for materials science. New York : Plenum Press, 1996.

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3

Scottish, Universities Summer School in Physics (40th 1992 Dundee Scotland). Quantitative microbeam analysis : Proceedings of the Fortieth Scottish Universities Summer School in Physics, Dundee, August 1992. Bristol : The School, 1993.

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4

Kuo, John, dir. Electron Microscopy. Totowa, NJ : Humana Press, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-62703-776-1.

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5

Kuo, John, dir. Electron Microscopy. Totowa, NJ : Humana Press, 2007. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-59745-294-6.

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6

Asia-Pacific Electron Microscopy Conference (5th 1992 Beijing, China). Electron microscopy. Sous la direction de Kuo Kʻo-hsin et Zhai Z. H. Singapore : World Scientific, 1992.

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7

Hughes, H. P., et H. I. Starnberg, dir. Electron Spectroscopies Applied to Low-Dimensional Materials. Dordrecht : Springer Netherlands, 2000. http://dx.doi.org/10.1007/0-306-47126-4.

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8

Hughes, H. P., et H. I. Starnberg. Electron spectroscopies applied to low-dimensional structures. New York : Kluwer Academic, 2002.

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9

Dykstra, Michael J., et Laura E. Reuss. Biological Electron Microscopy. Boston, MA : Springer US, 2003. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9244-4.

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10

Dykstra, Michael J. Biological Electron Microscopy. Boston, MA : Springer US, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4684-0010-6.

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11

Reimer, Ludwig. Scanning Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1985. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-13562-4.

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12

Reimer, Ludwig. Transmission Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1997. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-14824-2.

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13

Reimer, Ludwig. Transmission Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1993. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-21556-2.

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14

Reimer, Ludwig. Transmission Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1989. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-21579-1.

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15

Reimer, Ludwig. Scanning Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1998. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-38967-5.

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16

Williams, David B., et C. Barry Carter. Transmission Electron Microscopy. Boston, MA : Springer US, 2009. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76501-3.

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17

Carter, C. Barry, et David B. Williams, dir. Transmission Electron Microscopy. Cham : Springer International Publishing, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-26651-0.

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18

Dickersin, G. Richard, dir. Diagnostic Electron Microscopy. New York, NY : Springer New York, 2000. http://dx.doi.org/10.1007/b97651.

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19

Williams, David B., et C. Barry Carter. Transmission Electron Microscopy. Boston, MA : Springer US, 1996. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-2519-3.

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20

Richard, McIntosh J., dir. Cellular electron microscopy. Amsterdam : Elsevier/Academic Press, 2007.

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21

Zou, Xiaodong. Electron crystallography : Electron microscopy and electron diffraction. Oxford : Oxford University Press, 2011.

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22

Lyman, Charles E., Joseph I. Goldstein, Alton D. Romig, Patrick Echlin, David C. Joy, Dale E. Newbury, David B. Williams et al. Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy. Boston, MA : Springer US, 1990. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4613-0635-1.

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23

Marcus, R. Kenneth. Glow Discharge Spectroscopies. Boston, MA : Springer US, 1993.

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24

Goodhew, Peter J. Electron microscopy and analysis. 2^e éd. London : Taylor & Francis, 1988.

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25

W, Robards A., et Wilson A. J, dir. Procedures in electron microscopy. Chichester [Eng.] : Wiley, 1993.

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26

Goodhew, Peter J. Electron microscopy and analysis. 3^e éd. London : Taylor & Francis, 2001.

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27

Zuo, Jian Min, et John C. H. Spence. Advanced Transmission Electron Microscopy. New York, NY : Springer New York, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-6607-3.

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28

Pennycook, Stephen J., et Peter D. Nellist, dir. Scanning Transmission Electron Microscopy. New York, NY : Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7200-2.

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29

Bell, David C., et Natasha Erdman, dir. Low Voltage Electron Microscopy. Chichester, UK : John Wiley & Sons, Ltd, 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9781118498514.

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30

Deepak, Francis Leonard, Alvaro Mayoral et Raul Arenal, dir. Advanced Transmission Electron Microscopy. Cham : Springer International Publishing, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-15177-9.

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31

Dehm, Gerhard, James M. Howe et Josef Zweck, dir. In-Situ Electron Microscopy. Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9783527652167.

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32

Wang, Zhong Lin, et Chun Hui, dir. Electron Microscopy of Nanotubes. Boston, MA : Springer US, 2003. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4615-0315-6.

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33

Thomas, Jürgen, et Thomas Gemming. Analytical Transmission Electron Microscopy. Dordrecht : Springer Netherlands, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-017-8601-0.

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34

Spence, John C. H. High-resolution electron microscopy. New York : Oxford University Press, 2009.

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35

Slayter, Elizabeth M. Light and electron microscopy. Cambridge [England] : Cambridge University Press, 1992.

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36

Frank, Mayer, dir. Electron microscopy in microbiology. London : Academic Press, 1988.

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37

Lin, Wang Zhong, et Hui Chun, dir. Electron microscopy of nanotubes. Boston : Kluwer Academic Publishers, 2003.

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38

Hoppert, M. Electron microscopy in microbiology. New York : Springer, 1998.

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39

Carter, C. Barry, et Williams David B. Transmission Electron Microscopy : Diffraction, Imaging, and Spectrometry. Springer London, Limited, 2016.

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40

Carter, C. Barry, et Williams David B. Transmission Electron Microscopy : Diffraction, Imaging, and Spectrometry. Springer, 2018.

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41

Carter, C. Barry, et Williams David B. Transmission Electron Microscopy : Diffraction, Imaging, and Spectrometry. Springer, 2016.

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42

Carter, C. Barry, et David B. Williams. Transmission Electron Microscopy : A Textbook for Materials Science (4-Vol Set). Springer, 2004.

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43

(Editor), A. G. Fitzgerald, B. E. Storey (Editor) et D. J. Fabian (Editor), dir. Quantitative Microbeam Analysis (Scottish Universities Summer School in Physics//Proceedings). Taylor & Francis, 1993.

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44

Graupner, R., et F. Hauke. Functionalization of single-walled carbon nanotubes : Chemistry and characterization. Sous la direction de A. V. Narlikar et Y. Y. Fu. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199533046.013.16.

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Résumé :

This article examines the chemical functionalization and structural alteration of single-walled carbon nanotubes (SWCNTs). It describes the covalent functionalization of the SWCNT framework that is the covalent attachment of functional entities onto the CNT scaffold. In particular, it considers the chemical modification and reactivity of SWCNTs in the context of the reactivity of graphite and fullerenes. It also discusses the defect and sidewall functionalization of SWCNTs, along with various techniques used in the characterization ofSWCNTs upon functionalization, namely: thermogravimetric analysis, spectroscopic techniques such as UV-Vis-NIR spectroscopy and Raman spectroscopy, and microscopic techniques like transmission electron microscopy, atomic force microscopy and scanning tunnelling microscopy.

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45

Harris, Edward Mark. Spectroscopic and morphological studies of the copper and silver salts of 7,7,8,8-tetracyanoquinodimethane and [alpha],[alpha]-dicyano-p-toluoylcyanide. 1993.

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Crescenzi, M. De, et M. N. Piancastelli. Electron Scattering and Related Spectroscopies. World Scientific Publishing Company, 1997.

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47

Amelinckx, S., D. van Dyck, J. van Landuyt et G. van Tendeloo, dir. Electron Microscopy. Wiley, 1997. http://dx.doi.org/10.1002/9783527614561.

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48

Bozzola, John J. Electron Microscopy. Jones & Bartlett Learning, LLC, 2020.

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Mhadhbi, Mohsen. Electron Microscopy. IntechOpen, 2022.

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50

Gordon, Ronald E. Electron Microscopy. Wiley & Sons, Limited, John, 1997.

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