Littérature scientifique sur le sujet « Scanning Tunneling Microscopy [Tool] »
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Articles de revues sur le sujet "Scanning Tunneling Microscopy [Tool]"
Chiang, Shirley, et Robert J. Wilson. « Scanning Tunneling Microscopy : A Surface Structural Tool ». Analytical Chemistry 59, no 21 (novembre 1987) : 1267A—1270A. http://dx.doi.org/10.1021/ac00148a748.
Texte intégralStemmer, A., A. Engel, R. Häring, R. Reichelt et U. Aebi. « Scanning tunneling microscopy of biomacromolecules ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 46 (1988) : 444–45. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100104285.
Texte intégralDenley, D. R. « Practical applications of scanning tunneling microscopy ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6 août 1989) : 18–19. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100152069.
Texte intégralvan de Walle, G. F. A., B. J. Nelissen, L. L. Soethout et H. van Kempen. « Scanning tunneling microscopy : A powerful tool for surface analysis ». Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie 329, no 2-3 (janvier 1987) : 108–12. http://dx.doi.org/10.1007/bf00469119.
Texte intégralRohrer, H. « Scanning tunneling microscopy : a surface science tool and beyond ». Surface Science 299-300 (janvier 1994) : 956–64. http://dx.doi.org/10.1016/0039-6028(94)90709-9.
Texte intégralBracker, CE, et P. K. Hansma. « Scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy : New tools for biology ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6 août 1989) : 778–79. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100155864.
Texte intégralEdel’man, V. S. « The scanning tunneling microscopy combined with the scanning electron microscopy—A tool for the nanometry ». Journal of Vacuum Science & ; Technology B : Microelectronics and Nanometer Structures 9, no 2 (mars 1991) : 618. http://dx.doi.org/10.1116/1.585471.
Texte intégralBetzig, E., M. Isaacson, H. Barshatzky, K. Lin et A. Lewis. « Progress in near-field scanning optical microscopy (NSOM) ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 46 (1988) : 436–37. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100104248.
Texte intégralElings, Virgil. « Scanning probe microscopy : A new technology takes off ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 3 (12 août 1990) : 959. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100162363.
Texte intégralXIE, XIAN NING, HONG JING CHUNG et ANDREW THYE SHEN WEE. « SCANNING PROBE MICROSCOPY BASED NANOSCALE PATTERNING AND FABRICATION ». COSMOS 03, no 01 (novembre 2007) : 1–21. http://dx.doi.org/10.1142/s0219607707000207.
Texte intégralThèses sur le sujet "Scanning Tunneling Microscopy [Tool]"
Kulawik, Maria. « Low temperature scanning tunneling microscopy ». Doctoral thesis, [S.l.] : [s.n.], 2006. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=979718848.
Texte intégralDing, Haifeng. « Spin-polarized scanning tunneling microscopy ». [S.l. : s.n.], 2001. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=963217186.
Texte intégralGustafsson, Alexander. « Theoretical modeling of scanning tunneling microscopy ». Doctoral thesis, Linnéuniversitetet, Institutionen för fysik och elektroteknik (IFE), 2017. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:lnu:diva-69012.
Texte intégralBlackham, Ian George. « Scanning tunneling microscopy of electrode surfaces ». Thesis, University of Oxford, 1992. https://ora.ox.ac.uk/objects/uuid:f9d27595-1177-406f-89a2-1448ac654dd3.
Texte intégralHeben, Michael J. Lewis Nathan Saul Lewis Nathan Saul. « Scanning tunneling microscopy in electrochemical environments / ». Diss., Pasadena, Calif. : California Institute of Technology, 1990. http://resolver.caltech.edu/CaltechETD:etd-06122007-104233.
Texte intégralWeeks, Brandon Lea. « Applications of high-pressure scanning tunneling microscopy ». Thesis, University of Cambridge, 2000. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.621999.
Texte intégralSalazar, Enríquez Christian David. « Scanning tunneling microscopy on low dimensional systems ». Doctoral thesis, Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden, 2016. http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-211572.
Texte intégralDiLullo, Andrew R. « Manipulative Scanning Tunneling Microscopy and Molecular Spintronics ». Ohio University / OhioLINK, 2013. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=ohiou1363821351.
Texte intégralKersell, Heath R. « Alternative Excitation Methods in Scanning Tunneling Microscopy ». Ohio University / OhioLINK, 2015. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=ohiou1449074449.
Texte intégralGambrel, Grady A. « Scanning Tunneling Microscopy of Two-Dimensional Materials ». The Ohio State University, 2017. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=osu149424786854182.
Texte intégralLivres sur le sujet "Scanning Tunneling Microscopy [Tool]"
Neddermeyer, H., dir. Scanning Tunneling Microscopy. Dordrecht : Springer Netherlands, 1993. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-011-1812-5.
Texte intégral1956-, Stroscio Joseph Anthony, et Kaiser William J. 1955-, dir. Scanning tunneling microscopy. Boston : Academic Press, 1993.
Trouver le texte intégral1956-, Stroscio Joseph Anthony, et Kaiser William J. 1955-, dir. Scanning tunneling microscopy. San Diego : Academic Press, 1993.
Trouver le texte intégral1956-, Stroscio Joseph A., et Kaiser William J. 1955-, dir. Scanning tunneling microscopy. London : Academic Press, 1993.
Trouver le texte intégralH, Neddermeyer, dir. Scanning tunneling microscopy. Dordrecht : Kluwer Academic Publishers, 1993.
Trouver le texte intégralGüntherodt, Hans-Joachim, et Roland Wiesendanger, dir. Scanning Tunneling Microscopy I. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1994. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-79255-7.
Texte intégralGüntherodt, Hans-Joachim, et Roland Wiesendanger, dir. Scanning Tunneling Microscopy I. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-97343-7.
Texte intégralWiesendanger, Roland, et Hans-Joachim Güntherodt, dir. Scanning Tunneling Microscopy II. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-97363-5.
Texte intégralWiesendanger, Roland, et Hans-Joachim Güntherodt, dir. Scanning Tunneling Microscopy III. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1993. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-97470-0.
Texte intégralWiesendanger, Roland, et Hans-Joachim Güntherodt, dir. Scanning Tunneling Microscopy III. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1996. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-80118-1.
Texte intégralChapitres de livres sur le sujet "Scanning Tunneling Microscopy [Tool]"
Howland, Rebecca S. « The Scanning Probe Microscope as a Metrology Tool ». Dans Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy, 347–58. Boston, MA : Springer US, 1994. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-9322-2_35.
Texte intégralDella Pia, Ada, et Giovanni Costantini. « Scanning Tunneling Microscopy ». Dans Surface Science Techniques, 565–97. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-34243-1_19.
Texte intégralFeenstra, R. M. « Scanning Tunneling Microscopy ». Dans Interaction of Atoms and Molecules with Solid Surfaces, 357–79. Boston, MA : Springer US, 1990. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4684-8777-0_11.
Texte intégralBinning, G., et H. Rohrer. « Scanning tunneling microscopy ». Dans Scanning Tunneling Microscopy, 40–54. Dordrecht : Springer Netherlands, 1986. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-011-1812-5_3.
Texte intégralNg, Kwok-Wai. « SCANNING TUNNELING MICROSCOPY ». Dans Handbook of Measurement in Science and Engineering, 2025–42. Hoboken, NJ, USA : John Wiley & Sons, Inc., 2016. http://dx.doi.org/10.1002/9781119244752.ch56.
Texte intégralPia, Ada Della, et Giovanni Costantini. « Scanning Tunneling Microscopy ». Dans Encyclopedia of Nanotechnology, 3531–43. Dordrecht : Springer Netherlands, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-017-9780-1_45.
Texte intégralVoigtländer, Bert. « Scanning Tunneling Microscopy ». Dans Scanning Probe Microscopy, 279–308. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0_20.
Texte intégralNiehus, Horst. « Scanning Tunneling Microscopy ». Dans Equilibrium Structure and Properties of Surfaces and Interfaces, 29–68. Boston, MA : Springer US, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4615-3394-8_2.
Texte intégralTomitori, Masahiko. « Scanning Tunneling Microscopy ». Dans Roadmap of Scanning Probe Microscopy, 7–14. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2007. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-34315-8_2.
Texte intégralHasegawa, Yukio. « Scanning Tunneling Microscopy ». Dans Compendium of Surface and Interface Analysis, 599–604. Singapore : Springer Singapore, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_97.
Texte intégralActes de conférences sur le sujet "Scanning Tunneling Microscopy [Tool]"
Zaitsev, Boris. « Atomic Force Microscopy as a Tool for Applied Virology and Microbiology ». Dans SCANNING TUNNELING MICROSCOPY/SPECTROSCOPY AND RELATED TECHNIQUES : 12th International Conference STM'03. AIP, 2003. http://dx.doi.org/10.1063/1.1639726.
Texte intégralOhtsu, Motoichi. « Photon Scanning Tunneling Microscope ». Dans Spectral Hole-Burning and Related Spectroscopies : Science and Applications. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 1994. http://dx.doi.org/10.1364/shbs.1994.fc1.
Texte intégralde Pablos, P. F. « Ballistic Electron Emission Spectroscopy Used as a Tool for Determining Accurate Hot-Electron Lifetimes in Metals ». Dans SCANNING TUNNELING MICROSCOPY/SPECTROSCOPY AND RELATED TECHNIQUES : 12th International Conference STM'03. AIP, 2003. http://dx.doi.org/10.1063/1.1639790.
Texte intégralCourjon, D. « Near Field Optical Microscopy ». Dans The European Conference on Lasers and Electro-Optics. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 1996. http://dx.doi.org/10.1364/cleo_europe.1996.tutc.
Texte intégralClayton, G. M., et S. Devasia. « Image-Based Trajectory Estimation for Scanning Tunneling Microscopy ». Dans ASME 2007 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2007. http://dx.doi.org/10.1115/imece2007-42262.
Texte intégralBennett, Jean M., Jay Jahanmir, John C. Podlesny, Tami L. Balter et Daniel T. Hobbs. « The Scanning Force Microscope as a Tool for Studying Optical Surfaces ». Dans Optical Fabrication and Testing. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 1994. http://dx.doi.org/10.1364/oft.1994.omd1.
Texte intégralCricenti, Antonio, S. Selci, M. Scarselli, Renato Generosi, F. Amaldi et G. Chiarotti. « Gap-modulated versus constant current mode as a tool to discriminate between DNA and substrate structure in scanning tunneling microscopy ». Dans OE/LASE'93 : Optics, Electro-Optics, & Laser Applications in Science& Engineering, sous la direction de Clayton C. Williams. SPIE, 1993. http://dx.doi.org/10.1117/12.146384.
Texte intégralAvouris, Ph, I. W. Lyo, F. Bozso, B. Schubert et R. Hoffmann. « The Elucidation of the Mechanism of the Initial Stages of Si(111)-7x7 Oxidation Using Scanning Tunneling Microscopy ». Dans The Microphysics of Surfaces : Beam-Induced Processes. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 1991. http://dx.doi.org/10.1364/msbip.1991.mb2.
Texte intégralJalili, Nader, Mohsen Dadfarnia et Darren M. Dawson. « Distributed-Parameters Base Modeling and Vibration Analysis of Micro-Cantilevers Used in Atomic Force Microscopy ». Dans ASME 2003 International Design Engineering Technical Conferences and Computers and Information in Engineering Conference. ASMEDC, 2003. http://dx.doi.org/10.1115/detc2003/vib-48502.
Texte intégralJaculbia, Rafael B., Hiroshi Imada, Kuniyuki Miwa, Takeshi Iwasa, Masato Takenaka, Bo Yang, Emiko Kazuma, Norihiko Hayazawa, Tetsuya Taketsugu et Yousoo Kim. « Vibrational symmetry of a single molecule revealed by tip-enhanced Raman spectroscopy ». Dans JSAP-OSA Joint Symposia. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 2019. http://dx.doi.org/10.1364/jsap.2019.18p_e208_9.
Texte intégralRapports d'organisations sur le sujet "Scanning Tunneling Microscopy [Tool]"
Bartels, Ludwig. Towards the Assembly and Characterization of Individual Molecules by Use of the Scanning Tunneling Microscope as a Nanoscopic Tool. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, septembre 2002. http://dx.doi.org/10.21236/ada408395.
Texte intégralDow, John D. Scanning Tunneling Microscopy. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, mars 1992. http://dx.doi.org/10.21236/ada249262.
Texte intégralBotkin, D. A. Ultrafast scanning tunneling microscopy. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), septembre 1995. http://dx.doi.org/10.2172/270266.
Texte intégralQuate, C. F. Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Surfaces. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, septembre 1988. http://dx.doi.org/10.21236/ada199836.
Texte intégralLyding, Joseph W. Cryogenic Ultrahigh Vacuum Scanning Tunneling Microscopy. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, mars 1993. http://dx.doi.org/10.21236/ada262264.
Texte intégralSnyder, Shelly R., et Henry S. White. Scanning Tunneling Microscopy, Atomic Force Microscopy, and Related Techniques. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, février 1992. http://dx.doi.org/10.21236/ada246852.
Texte intégralHeben, M. J., T. L. Longin, R. Pyllki, R. M. Penner, R. Blumenthal et N. S. Lewis. Applications of Scanning Tunneling Microscopy to Electrochemistry. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, septembre 1992. http://dx.doi.org/10.21236/ada263326.
Texte intégralLewis, Nathan S. Applications of Scanning Tunneling Microscopy to Electrochemistry. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, août 1993. http://dx.doi.org/10.21236/ada269129.
Texte intégralWilliams, Ellen D. Scanning Tunneling Microscopy as a Surface Chemical Probe. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, mars 1988. http://dx.doi.org/10.21236/ada192710.
Texte intégralColeman, R. V. Surface structure and analysis with scanning tunneling microscopy and electron tunneling spectroscopy. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), janvier 1992. http://dx.doi.org/10.2172/6017304.
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