Articles de revues sur le sujet « Reflection pattern »
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Halliwell, Lesley. « Pattern : Entry and reflection ». Drawing : Research, Theory, Practice 4, no 1 (1 avril 2019) : 97–102. http://dx.doi.org/10.1386/drtp.4.1.97_7.
Texte intégralHussein, Bilal, Aref Mehanna et Yahia Rabih. « Visitor Design Pattern Using Reflection Mechanism ». International Journal of Software Innovation 8, no 1 (janvier 2020) : 92–107. http://dx.doi.org/10.4018/ijsi.2020010106.
Texte intégralDu, Zhou, Ville Viikari, Juha Ala-Laurinaho, Aleksi Tamminen et Antti V. Raisanen. « ANTENNA PATTERN RETRIEVAL FROM REFLECTION COEFFICIENT MEASUREMENTS WITH REFLECTIVE LOADS ». Progress In Electromagnetics Research 148 (2014) : 15–22. http://dx.doi.org/10.2528/pier14050902.
Texte intégralVanden Eynden, Frederic, Bachar El-Oumeiri, Thierry Bové, Guido Van Nooten et Patrick Segers. « Proximal pressure reducing effect of wave reflection in the pulmonary circulation disappear in obstructive disease : insight from a rabbit model ». American Journal of Physiology-Heart and Circulatory Physiology 316, no 5 (1 mai 2019) : H992—H1004. http://dx.doi.org/10.1152/ajpheart.00635.2018.
Texte intégralWang, Su Ling, Xiao Bang Yang et Ya Ning Liu. « Reflection Property of the Two-Dimensional High Impedance Surface ». Applied Mechanics and Materials 312 (février 2013) : 635–38. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.312.635.
Texte intégralGeerts, Walter M., Henderien W. Steenbeek et Van Geert Paul L. C. « Visualising the Development of a Teacher-In-Training into a Beginning Expert ». International Education Studies 10, no 12 (28 novembre 2017) : 1. http://dx.doi.org/10.5539/ies.v10n12p1.
Texte intégralHAGEDOORN, MICHIEL, et REMCO C. VELTKAMP. « A ROBUST AFFINE INVARIANT METRIC ON BOUNDARY PATTERNS ». International Journal of Pattern Recognition and Artificial Intelligence 13, no 08 (décembre 1999) : 1151–63. http://dx.doi.org/10.1142/s0218001499000653.
Texte intégralSuzuki, Yoshikazu, Peter E. D. Morgan et Koichi Niihara. « Use of a high X-ray flux instrument for a mineral : X-ray powder diffraction pattern of CaMg(CO3)2 ». Powder Diffraction 13, no 4 (décembre 1998) : 216–21. http://dx.doi.org/10.1017/s0885715600010137.
Texte intégralSugino, Tadanori, Yumi Satozono et Yasuo Yamane. « Gloss Evaluation Method for Metal Surface with Hairline Using Patterned Area Illumination ». Key Engineering Materials 407-408 (février 2009) : 723–26. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.407-408.723.
Texte intégralSuncov, O., et L. Zhikharev. « Investigation of Reflection from Curved Mirrors on a Plane in the Wolfram Mathematica ». Geometry & ; Graphics 9, no 2 (11 novembre 2021) : 29–45. http://dx.doi.org/10.12737/2308-4898-2021-9-2-29-45.
Texte intégralSadowiak, P., et T. Wever. « Reflection-diffraction seismic pattern at crustal suture zones ». Tectonics 9, no 6 (décembre 1990) : 1495–513. http://dx.doi.org/10.1029/tc009i006p01495.
Texte intégralCai Hongji, 蔡宏吉, 姚治海 Yao Zhihai, 高超 Gao Chao, 任捷 Ren Jie, 刘籍元 Liu Jiyuan et 王晓茜 Wang Xiaoqian. « Reflection Ghost Imaging Based on Superimposed Speckle-Pattern ». Laser & ; Optoelectronics Progress 56, no 7 (2019) : 071101. http://dx.doi.org/10.3788/lop56.071101.
Texte intégralNishino, J., M. Morigami, M. Harada, S. Terakado, S. Kobayashi, S. Fujiwara, K. Kaneda et al. « Attempt at LSI pattern demagnification by Bragg reflection ». Review of Scientific Instruments 60, no 7 (juillet 1989) : 2153–56. http://dx.doi.org/10.1063/1.1140806.
Texte intégralScheffer, Hans-Joachim, et Soren Kohlhase. « REFLECTION OF IRREGULAR WAVES AT PARTIALLY REFLECTING STRUCTURES INCLUDING OBLIQUE WAVE APPROACH ». Coastal Engineering Proceedings 1, no 20 (29 janvier 1986) : 162. http://dx.doi.org/10.9753/icce.v20.162.
Texte intégralLing, P., H. A. Kawayoshi, L. Martinez et T. Tien. « The Effect of Large-Angle Tilting on the Electron Diffraction Pattern of Chrysotile Asbestos ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (août 1991) : 976–77. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100089196.
Texte intégralLiu, Yi, et David J. Sellmyer. « Selected Reflection Imaging of Nanostructured Materials ». Microscopy and Microanalysis 4, S2 (juillet 1998) : 752–53. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600023886.
Texte intégralSugino, Tadanori, et Yasuo Yamane. « Gloss Evaluation of Hairline-Finished Metal Surface Using Patterned Area Illumination Method : Reproduction of Gloss Evaluation by Ray Tracing ». Key Engineering Materials 656-657 (juillet 2015) : 468–72. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.656-657.468.
Texte intégralSugino, Tadanori, Yuki Tashiro et Yasuo Yamane. « Gloss Evaluation of Hairline-Finished Metal Surface Using Patterned Area Illumination Method : Relationship between Gloss Evaluation and Surface Roughness for the Estimation of Surface Roughness ». Key Engineering Materials 749 (août 2017) : 251–56. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.749.251.
Texte intégralSu, Qian, Jie Li et Zhenxing Liu. « Flow Pattern Identification of Oil–Water Two-Phase Flow Based on SVM Using Ultrasonic Testing Method ». Sensors 22, no 16 (16 août 2022) : 6128. http://dx.doi.org/10.3390/s22166128.
Texte intégralCopland, Luke, et Martin Sharp. « Mapping thermal and hydrological conditions beneath a polythermal glacier with radio-echo sounding ». Journal of Glaciology 47, no 157 (2001) : 232–42. http://dx.doi.org/10.3189/172756501781832377.
Texte intégralManjit, Yongyut, Saksit Sukprasong, Apichart Limpichaipanit et Athipong Ngamjarurojana. « Investigation of Fringe Pattern Distribution in Circular Disk by Reflection Polariscope Technique ». Applied Mechanics and Materials 848 (juillet 2016) : 68–71. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.848.68.
Texte intégralLiu, J., et J. M. Cowley. « Scanning reflection electron imaging of crystal surfaces ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6 août 1989) : 538–39. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100154664.
Texte intégralLIU, JINGYUE. « Energy-filtered reflection electron microscopy and reflection high-energy electron diffraction on Zeiss 912 TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (1 août 1993) : 580–81. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100148733.
Texte intégralWendt, Florian, et Robert Höldrich. « Precedence effect for specular and diffuse reflections ». Acta Acustica 5 (16 décembre 2020) : 1. http://dx.doi.org/10.1051/aacus/2020027.
Texte intégralHerranz, A., J. J. Moreno et N. Maya. « Declarative Reflection and its Application as a Pattern Language ». Electronic Notes in Theoretical Computer Science 76 (novembre 2002) : 197–215. http://dx.doi.org/10.1016/s1571-0661(04)80794-1.
Texte intégralMohamad, Siti Khadijah, Zaidatun Tasir, Jamalludin Harun et Nurbiha A. Shukor. « Pattern of reflection in learning Authoring System through blogging ». Computers & ; Education 69 (novembre 2013) : 356–68. http://dx.doi.org/10.1016/j.compedu.2013.07.031.
Texte intégralOlafiranye, Oladipupo, Ghazanfar Qureshi, Haroon Kamran, Lee Gao, Louis Salciccioli et Jason Lazar. « RELATIONSHIP OF AORTIC WAVE REFLECTION TO TRANSMITRAL FILLING PATTERN ». Chest 134, no 4 (octobre 2008) : 39P. http://dx.doi.org/10.1378/chest.134.4_meetingabstracts.p39003.
Texte intégralLiu, Qiulan, Youhua Chen, Wenjie Liu, Yubing Han, Ruizhi Cao, Zhimin Zhang, Cuifang Kuang et Xu Liu. « Total internal reflection fluorescence pattern-illuminated Fourier ptychographic microscopy ». Optics and Lasers in Engineering 123 (décembre 2019) : 45–52. http://dx.doi.org/10.1016/j.optlaseng.2019.06.023.
Texte intégralNespolo, Massimo, Giovanni Ferraris et Bernd Souvignier. « Effects of merohedric twinning on the diffraction pattern ». Acta Crystallographica Section A Foundations and Advances 70, no 2 (12 février 2014) : 106–25. http://dx.doi.org/10.1107/s2053273313029082.
Texte intégralSalem Hesari, Sara, et Jens Bornemann. « Design of a SIW Variable Phase Shifter for Beam Steering Antenna Systems ». Electronics 8, no 9 (11 septembre 2019) : 1013. http://dx.doi.org/10.3390/electronics8091013.
Texte intégralXin, Chen, Tan Wenhui et Wang Peng. « Effects of Geometrical Parameters on Stress Wave Propagation across the Rough Joint ». Advances in Civil Engineering 2018 (27 août 2018) : 1–7. http://dx.doi.org/10.1155/2018/1364839.
Texte intégralIgra, O., G. Hu, J. Falcovitz et W. Heilig. « Blast Wave Reflection From Wedges ». Journal of Fluids Engineering 125, no 3 (1 mai 2003) : 510–19. http://dx.doi.org/10.1115/1.1567310.
Texte intégralTROSHIN, S. M., et N. E. TYURIN. « REFLECTION AND DIPS IN ELASTIC SCATTERING ». Modern Physics Letters A 24, no 14 (10 mai 2009) : 1103–8. http://dx.doi.org/10.1142/s0217732309030588.
Texte intégralHsu, Tung. « Reflection electron microscopy (REM) of NaCl crystals ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994) : 808–9. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100171778.
Texte intégralRotshild, David, Daniel Rozban, Efi Rahamim, Asaf Barom, Rotem Yosef, Liel Bhanam et Amir Abramovich. « Steer by Image Technology for Intelligent Reflecting Surface Based on Reconfigurable Metasurface with Photodiodes as Tunable Elements ». Crystals 12, no 7 (7 juillet 2022) : 951. http://dx.doi.org/10.3390/cryst12070951.
Texte intégralChoi, Jihyun, Luiggi Cantos, Jinho Choi et Yun Hee Kim. « Sum Rate Optimization of IRS-Aided Uplink Muliantenna NOMA with Practical Reflection ». Sensors 22, no 12 (12 juin 2022) : 4449. http://dx.doi.org/10.3390/s22124449.
Texte intégralPaul Morniroli, Jean, et Michel Gantois. « Simultaneous Identification of the Bravais Lattice and Glide Planes From Microdiffraction Patterns : Deduction of the Possible Space Groups ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 2 (12 août 1990) : 478–79. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010013599x.
Texte intégralTyler, Jeramey, Mei Si et Jonas Braasch. « Predicting reflection patterns from binaural activity maps using deep neural networks ». Journal of the Acoustical Society of America 151, no 4 (avril 2022) : A222. http://dx.doi.org/10.1121/10.0011124.
Texte intégralChen, Mingfang, Xiang Mo, Yongxia Zhang et Seng Wang. « Research on fusion control of sensor information and biological reflection based on CPG ». Advances in Mechanical Engineering 15, no 1 (janvier 2023) : 168781322211495. http://dx.doi.org/10.1177/16878132221149560.
Texte intégralICHIKAWA, TOSHIHIRO. « Characterization of surface structure. Reflection electron diffraction (Diffraction pattern evaluation). » Nihon Kessho Gakkaishi 29, no 2 (1987) : 107–9. http://dx.doi.org/10.5940/jcrsj.29.107.
Texte intégralWang, Ruiyang, Dahai Li, Kaiyuan Xu, Xinwei Zhang et Peng Luo. « Parasitic reflection elimination using binary pattern in phase measuring deflectometry ». Optics Communications 451 (novembre 2019) : 67–73. http://dx.doi.org/10.1016/j.optcom.2019.06.009.
Texte intégralADAMATZKY, ANDREW. « CHOOSEY HOT SAND : REFLECTION OF GRAIN SENSITIVITY ON PATTERN MORPHOLOGY ». International Journal of Modern Physics C 11, no 01 (février 2000) : 47–68. http://dx.doi.org/10.1142/s0129183100000067.
Texte intégralYao, Nan, et J. M. Cowley. « Convergence of the incident beam in reflection Electron Microscopy ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6 août 1989) : 532–33. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100154639.
Texte intégralSpitzer, Roman, Alan G. Green et Frank O. Nitsche. « Minimizing field operations in shallow 3‐D seismic reflection surveying ». GEOPHYSICS 66, no 6 (novembre 2001) : 1761–73. http://dx.doi.org/10.1190/1.1487118.
Texte intégralRay, Steven, et Yessica Nataliani. « Pengolahan Citra Digital pada Pembuatan Motif Keramik Menggunakan Grup Simetri ». Jurnal Buana Informatika 13, no 1 (1 avril 2022) : 11–22. http://dx.doi.org/10.24002/jbi.v13i1.5499.
Texte intégralM., Suma, Goutham M.A et Paramesha . « Moment method approach to analyze waveguide array radiator with crossed dipole as a near field sensor ». International Journal of Engineering & ; Technology 8, no 4 (19 octobre 2019) : 417. http://dx.doi.org/10.14419/ijet.v8i4.29646.
Texte intégralEades, J. A., A. E. Smith et D. F. Lynch. « convergent-beam diffraction from surfaces ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (août 1987) : 30–33. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100125208.
Texte intégralKhlopov, Maxim Yu. « Dark matter reflection of particle symmetry ». Modern Physics Letters A 32, no 15 (27 avril 2017) : 1740001. http://dx.doi.org/10.1142/s0217732317400016.
Texte intégralWang, Su. « TEM observation of cylindrite ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6 août 1989) : 420–21. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010015407x.
Texte intégralKaufmann, Mareile, Simon Egbert et Matthias Leese. « Predictive Policing and the Politics of Patterns ». British Journal of Criminology 59, no 3 (7 décembre 2018) : 674–92. http://dx.doi.org/10.1093/bjc/azy060.
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