Articles de revues sur le sujet « Reference-free X-ray fluorescence »
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Wählisch, André, Cornelia Streeck, Philipp Hönicke et Burkhard Beckhoff. « Validation of secondary fluorescence excitation in quantitative X-ray fluorescence analysis of thin alloy films ». Journal of Analytical Atomic Spectrometry 35, no 8 (2020) : 1664–70. http://dx.doi.org/10.1039/d0ja00171f.
Texte intégralBeckhoff, B., M. Kolbe, O. Hahn, A. G. Karydas, Ch Zarkadas, D. Sokaras et M. Mantler. « Reference-free x-ray fluorescence analysis of an ancient Chinese ceramic ». X-Ray Spectrometry 37, no 4 (juillet 2008) : 462–65. http://dx.doi.org/10.1002/xrs.1073.
Texte intégralUnterumsberger, Rainer, Philipp Hönicke, Yves Kayser, Beatrix Pollakowski-Herrmann, Saeed Gholhaki, Quanmin Guo, Richard E. Palmer et Burkhard Beckhoff. « Interaction of nanoparticle properties and X-ray analytical techniques ». Journal of Analytical Atomic Spectrometry 35, no 5 (2020) : 1022–33. http://dx.doi.org/10.1039/d0ja00049c.
Texte intégralUnterumsberger, Rainer, Philipp Hönicke, Julien L. Colaux, Chris Jeynes, Malte Wansleben, Matthias Müller et Burkhard Beckhoff. « Accurate experimental determination of gallium K- and L3-shell XRF fundamental parameters ». Journal of Analytical Atomic Spectrometry 33, no 6 (2018) : 1003–13. http://dx.doi.org/10.1039/c8ja00046h.
Texte intégralSoltwisch, Victor, Philipp Hönicke, Yves Kayser, Janis Eilbracht, Jürgen Probst, Frank Scholze et Burkhard Beckhoff. « Element sensitive reconstruction of nanostructured surfaces with finite elements and grazing incidence soft X-ray fluorescence ». Nanoscale 10, no 13 (2018) : 6177–85. http://dx.doi.org/10.1039/c8nr00328a.
Texte intégralCara, Eleonora, Luisa Mandrile, Alessio Sacco, Andrea M. Giovannozzi, Andrea M. Rossi, Federica Celegato, Natascia De Leo et al. « Towards a traceable enhancement factor in surface-enhanced Raman spectroscopy ». Journal of Materials Chemistry C 8, no 46 (2020) : 16513–19. http://dx.doi.org/10.1039/d0tc04364h.
Texte intégralKolbe, Michael, Burkhard Beckhoff, Michael Krumrey et Gerhard Ulm. « Comparison of reference-free X-ray fluorescence analysis and X-ray reflectometry for thickness determination in the nanometer range ». Applied Surface Science 252, no 1 (septembre 2005) : 49–52. http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.01.112.
Texte intégralBeckhoff, Burkhard, Rolf Fliegauf, Michael Kolbe, Matthias Müller, Jan Weser et Gerhard Ulm. « Reference-Free Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis of Semiconductor Surfaces with Synchrotron Radiation ». Analytical Chemistry 79, no 20 (octobre 2007) : 7873–82. http://dx.doi.org/10.1021/ac071236p.
Texte intégralReinhardt, Falk, János Osán, Szabina Török, Andrea Edit Pap, Michael Kolbe et Burkhard Beckhoff. « Reference-free quantification of particle-like surface contaminations by grazing incidence X-ray fluorescence analysis ». J. Anal. At. Spectrom. 27, no 2 (2012) : 248–55. http://dx.doi.org/10.1039/c2ja10286b.
Texte intégralKolbe, M., B. Beckhoff, M. Krumrey et G. Ulm. « F15 Thickness Determination of Copper and Nickel Nanolayers : Comparison of Completely Reference-Free X-ray Fluorescence Analysis and X-ray Reflectometry ». Powder Diffraction 20, no 2 (juin 2005) : 174. http://dx.doi.org/10.1154/1.1979030.
Texte intégralKolbe, Michael, Burkhard Beckhoff, Michael Krumrey, Michael A. Reading, Jaap Van den Berg, Thierry Conard et Stefan De Gendt. « Characterisation of High-k Containing Nanolayers by Reference-Free X-Ray Fluorescence Analysis with Synchrotron Radiation ». ECS Transactions 25, no 3 (17 décembre 2019) : 293–300. http://dx.doi.org/10.1149/1.3204419.
Texte intégralKolbe, Michael, Burkhard Beckhoff, Michael Krumrey et Gerhard Ulm. « Thickness determination for Cu and Ni nanolayers : Comparison of completely reference-free fundamental parameter-based X-ray fluorescence analysis and X-ray reflectometry ». Spectrochimica Acta Part B : Atomic Spectroscopy 60, no 4 (avril 2005) : 505–10. http://dx.doi.org/10.1016/j.sab.2005.03.018.
Texte intégralNoro, Junji, Takashi Korenaga, Masaru Kozaki, Satoshi Kawada, Kazuhiko Kurusu, Manabu Mizuhira, Akihiro Ono et al. « Development of Lead-Free Solder Alloy Certified Reference Materials (JSAC 0131-0134) for X-Ray Fluorescence Analysis ». BUNSEKI KAGAKU 59, no 2 (2010) : 107–16. http://dx.doi.org/10.2116/bunsekikagaku.59.107.
Texte intégralHönicke, Philipp, Ina Holfelder, Michael Kolbe, Janin Lubeck, Beatrix Pollakowski-Herrmann, Rainer Unterumsberger, Jan Weser et Burkhard Beckhoff. « Determination of SiO2and C layers on a monocrystalline silicon sphere by reference-free x-ray fluorescence analysis ». Metrologia 54, no 4 (28 juin 2017) : 481–86. http://dx.doi.org/10.1088/1681-7575/aa765f.
Texte intégralHönicke, Philipp, Blanka Detlefs, Matthias Müller, Erik Darlatt, Emmanuel Nolot, Helen Grampeix et Burkhard Beckhoff. « Reference-free, depth-dependent characterization of nanolayers and gradient systems with advanced grazing incidence X-ray fluorescence analysis ». physica status solidi (a) 212, no 3 (4 février 2015) : 523–28. http://dx.doi.org/10.1002/pssa.201400204.
Texte intégralStreeck, C., B. Beckhoff, F. Reinhardt, M. Kolbe, B. Kanngießer, C. A. Kaufmann et H. W. Schock. « Elemental depth profiling of Cu(In,Ga)Se2 thin films by reference-free grazing incidence X-ray fluorescence analysis ». Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B : Beam Interactions with Materials and Atoms 268, no 3-4 (février 2010) : 277–81. http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2009.09.051.
Texte intégralLopez-Astacio, Hiram J., Lisandro Cunci et Christopher Pollock. « Development and Improvement of an Electrochemical Cell for X-Ray Fluorescence and Absorption Spectroscopy ». ECS Meeting Abstracts MA2022-02, no 60 (9 octobre 2022) : 2472. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-02602472mtgabs.
Texte intégralHönicke, Philipp, Blanka Detlefs, Emmanuel Nolot, Yves Kayser, Uwe Mühle, Beatrix Pollakowski et Burkhard Beckhoff. « Reference-free grazing incidence x-ray fluorescence and reflectometry as a methodology for independent validation of x-ray reflectometry on ultrathin layer stacks and a depth-dependent characterization ». Journal of Vacuum Science & ; Technology A 37, no 4 (juillet 2019) : 041502. http://dx.doi.org/10.1116/1.5094891.
Texte intégralWendeln, Christian, Edith Steinhäuser, Lutz Stamp, Bexy Dosse-Gomez, Elisa Langhammer, Sebastian Reiber, Sebastian Dünnebeil et Sandra Röseler. « Novel formaldehyde-free electroless copper for plating on next-generation substrates ». International Symposium on Microelectronics 2018, no 1 (1 octobre 2018) : 000628–33. http://dx.doi.org/10.4071/2380-4505-2018.1.000628.
Texte intégralDemirsar Arli, Belgin, Gulsu Simsek Franci, Sennur Kaya, Hakan Arli et Philippe Colomban. « Portable X-ray Fluorescence (p-XRF) Uncertainty Estimation for Glazed Ceramic Analysis : Case of Iznik Tiles ». Heritage 3, no 4 (10 novembre 2020) : 1302–29. http://dx.doi.org/10.3390/heritage3040072.
Texte intégralAffoué Delphine KOUASSI, Fatou Diane Micheline BAGUIA-BROUNE, Kohué Christelle Chantal N’GAMAN-KOUASSI, Janat Akhanovna MAMYRBEKOVA-BEKRO et Yves-Alain BEKRO. « Mineral and phenolic compositions, antioxidant activity and GC-MS analysis of the leaves of Anchomanes difformis (Blume) Engl. from Côte d’Ivoire ». GSC Advanced Research and Reviews 10, no 1 (30 janvier 2022) : 145–55. http://dx.doi.org/10.30574/gscarr.2022.10.1.0035.
Texte intégralSomlyo, A. P. « Where Art Thou, Calcium ? » Microscopy and Microanalysis 3, S2 (août 1997) : 913–14. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600011454.
Texte intégralSichov, Mikhail, Kostiantyn Boriak et Leonid Kolomiets. « Technology for obtaining high-pure magnesium compounds using the hydrolytic processes of sedimentation ». Eastern-European Journal of Enterprise Technologies 1, no 6(115) (28 février 2022) : 43–52. http://dx.doi.org/10.15587/1729-4061.2022.253544.
Texte intégralMénesguen, Yves, et Marie-Christine Lépy. « Reference‐Free Combined X‐Ray Reflectometry−Grazing Incidence X‐Ray Fluorescence at the French Synchrotron SOLEIL ». physica status solidi (a), 8 août 2021, 2100423. http://dx.doi.org/10.1002/pssa.202100423.
Texte intégral« Nanolayer Characterisation by Reference-free X-ray Fluorescence Analysis with Synchrotron Radiation ». ECS Meeting Abstracts, 2009. http://dx.doi.org/10.1149/ma2009-02/22/1975.
Texte intégralZech, Claudia, Marco Evertz, Markus Börner, Yves Kayser, Philipp Hönicke, Martin Winter, Sascha Nowak et Burkhard Beckhoff. « Quantitative manganese dissolution investigation in lithium-ion batteries by means of X-ray spectrometry techniques ». Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 2021. http://dx.doi.org/10.1039/d0ja00491j.
Texte intégralTack, Pieter, Ella De Pauw, Beverley Tkalcec, Miles Lindner, Benjamin Bazi, Bart Vekemans, Frank Brenker et al. « Rare earth element identification and quantification in millimetre-sized Ryugu rock fragments from the Hayabusa2 space mission ». Earth, Planets and Space 74, no 1 (28 septembre 2022). http://dx.doi.org/10.1186/s40623-022-01705-3.
Texte intégralJones, Cerys, Nathan S. Daly, Catherine Higgitt et Miguel R. D. Rodrigues. « Neural network-based classification of X-ray fluorescence spectra of artists’ pigments : an approach leveraging a synthetic dataset created using the fundamental parameters method ». Heritage Science 10, no 1 (13 juin 2022). http://dx.doi.org/10.1186/s40494-022-00716-3.
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