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Littérature scientifique sur le sujet « Reference-free X-ray fluorescence »

Auteur : Grafiati
Publié le 14 mars 2023

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Articles de revues sur le sujet "Reference-free X-ray fluorescence"

1

Wählisch, André, Cornelia Streeck, Philipp Hönicke et Burkhard Beckhoff. « Validation of secondary fluorescence excitation in quantitative X-ray fluorescence analysis of thin alloy films ». Journal of Analytical Atomic Spectrometry 35, no 8 (2020) : 1664–70. http://dx.doi.org/10.1039/d0ja00171f.

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2

Beckhoff, B., M. Kolbe, O. Hahn, A. G. Karydas, Ch Zarkadas, D. Sokaras et M. Mantler. « Reference-free x-ray fluorescence analysis of an ancient Chinese ceramic ». X-Ray Spectrometry 37, no 4 (juillet 2008) : 462–65. http://dx.doi.org/10.1002/xrs.1073.

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3

Unterumsberger, Rainer, Philipp Hönicke, Yves Kayser, Beatrix Pollakowski-Herrmann, Saeed Gholhaki, Quanmin Guo, Richard E. Palmer et Burkhard Beckhoff. « Interaction of nanoparticle properties and X-ray analytical techniques ». Journal of Analytical Atomic Spectrometry 35, no 5 (2020) : 1022–33. http://dx.doi.org/10.1039/d0ja00049c.

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Résumé :
In this work, Pt–Ti core–shell nanoparticles were characterized using reference-free X-ray fluorescence analysis and used for the investigation of the modification of the X-Ray Standing Wave (XSW) field intensity with increasing NP surface coverage.
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4

Unterumsberger, Rainer, Philipp Hönicke, Julien L. Colaux, Chris Jeynes, Malte Wansleben, Matthias Müller et Burkhard Beckhoff. « Accurate experimental determination of gallium K- and L3-shell XRF fundamental parameters ». Journal of Analytical Atomic Spectrometry 33, no 6 (2018) : 1003–13. http://dx.doi.org/10.1039/c8ja00046h.

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Résumé :
The fluorescence yield of the K- and L3-shell of gallium was determined using the radiometrically calibrated (reference-free) X-ray fluorescence instrumentation at the BESSY II synchrotron radiation facility.
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5

Soltwisch, Victor, Philipp Hönicke, Yves Kayser, Janis Eilbracht, Jürgen Probst, Frank Scholze et Burkhard Beckhoff. « Element sensitive reconstruction of nanostructured surfaces with finite elements and grazing incidence soft X-ray fluorescence ». Nanoscale 10, no 13 (2018) : 6177–85. http://dx.doi.org/10.1039/c8nr00328a.

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6

Cara, Eleonora, Luisa Mandrile, Alessio Sacco, Andrea M. Giovannozzi, Andrea M. Rossi, Federica Celegato, Natascia De Leo et al. « Towards a traceable enhancement factor in surface-enhanced Raman spectroscopy ». Journal of Materials Chemistry C 8, no 46 (2020) : 16513–19. http://dx.doi.org/10.1039/d0tc04364h.

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7

Kolbe, Michael, Burkhard Beckhoff, Michael Krumrey et Gerhard Ulm. « Comparison of reference-free X-ray fluorescence analysis and X-ray reflectometry for thickness determination in the nanometer range ». Applied Surface Science 252, no 1 (septembre 2005) : 49–52. http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.01.112.

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8

Beckhoff, Burkhard, Rolf Fliegauf, Michael Kolbe, Matthias Müller, Jan Weser et Gerhard Ulm. « Reference-Free Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis of Semiconductor Surfaces with Synchrotron Radiation ». Analytical Chemistry 79, no 20 (octobre 2007) : 7873–82. http://dx.doi.org/10.1021/ac071236p.

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9

Reinhardt, Falk, János Osán, Szabina Török, Andrea Edit Pap, Michael Kolbe et Burkhard Beckhoff. « Reference-free quantification of particle-like surface contaminations by grazing incidence X-ray fluorescence analysis ». J. Anal. At. Spectrom. 27, no 2 (2012) : 248–55. http://dx.doi.org/10.1039/c2ja10286b.

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10

Kolbe, M., B. Beckhoff, M. Krumrey et G. Ulm. « F15 Thickness Determination of Copper and Nickel Nanolayers : Comparison of Completely Reference-Free X-ray Fluorescence Analysis and X-ray Reflectometry ». Powder Diffraction 20, no 2 (juin 2005) : 174. http://dx.doi.org/10.1154/1.1979030.

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