Articles de revues sur le sujet « Reconfigurable scan networks »
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Baranowski, Rafal, Michael A. Kochte et Hans-Joachim Wunderlich. « Reconfigurable Scan Networks ». ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems 20, no 2 (2 mars 2015) : 1–27. http://dx.doi.org/10.1145/2699863.
Texte intégralLarsson, Erik, Zehang Xiang et Prathamesh Murali. « Graceful Degradation of Reconfigurable Scan Networks ». IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 29, no 7 (juillet 2021) : 1475–79. http://dx.doi.org/10.1109/tvlsi.2021.3076593.
Texte intégralCantoro, Riccardo, Farrokh Ghani Zadegan, Marco Palena, Paolo Pasini, Erik Larsson et Matteo Sonza Reorda. « Test of Reconfigurable Modules in Scan Networks ». IEEE Transactions on Computers 67, no 12 (1 décembre 2018) : 1806–17. http://dx.doi.org/10.1109/tc.2018.2834915.
Texte intégralBaranowski, Rafal, Michael A. Kochte et Hans-Joachim Wunderlich. « Access Port Protection for Reconfigurable Scan Networks ». Journal of Electronic Testing 30, no 6 (18 octobre 2014) : 711–23. http://dx.doi.org/10.1007/s10836-014-5484-2.
Texte intégralXu, Yizhen, Shouhong Chen, Jun Ma, Cuifeng Xu et Ke Zeng. « Topology Modeling for Reconfigurable Scan Networks in IEEE 1687 Networks ». Journal of Physics : Conference Series 2221, no 1 (1 mai 2022) : 012055. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/2221/1/012055.
Texte intégralBaranowski, Rafal, Michael A. Kochte et Hans-Joachim Wunderlich. « Fine-Grained Access Management in Reconfigurable Scan Networks ». IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 34, no 6 (juin 2015) : 937–46. http://dx.doi.org/10.1109/tcad.2015.2391266.
Texte intégralHajian, M., B. Kuijpers, K. Buisman, A. Akhnoukh, M. Pelk, L. C. N. de Vreede, J. Zijdeveld, L. P. Ligthart et C. Spitas. « Passive and Active Reconfigurable Scan-Beam Hollow Patch Reflectarray Antennas ». ISRN Communications and Networking 2012 (6 mai 2012) : 1–10. http://dx.doi.org/10.5402/2012/290534.
Texte intégralCantoro, Riccardo, Aleksa Damljanovic, Matteo Sonza Reorda et Giovanni Squillero. « An Enhanced Evolutionary Technique for the Generation of Compact Reconfigurable Scan-Network Tests ». Journal of Circuits, Systems and Computers 28, supp01 (1 décembre 2019) : 1940007. http://dx.doi.org/10.1142/s0218126619400073.
Texte intégralCantoro, Riccardo, Aleksa Damljanovic, Matteo Sonza Reorda et Giovanni Squillero. « A Novel Sequence Generation Approach to Diagnose Faults in Reconfigurable Scan Networks ». IEEE Transactions on Computers 69, no 1 (1 janvier 2020) : 87–98. http://dx.doi.org/10.1109/tc.2019.2939125.
Texte intégralGhani, Arfan, Akinyemi Aina, Chan Hwang See, Hongnian Yu et Simeon Keates. « Accelerated Diagnosis of Novel Coronavirus (COVID-19)—Computer Vision with Convolutional Neural Networks (CNNs) ». Electronics 11, no 7 (6 avril 2022) : 1148. http://dx.doi.org/10.3390/electronics11071148.
Texte intégralZhang, Jin, Shuai Zhang, Xianqi Lin, Yong Fan et Gert Pedersen. « 3D Radiation Pattern Reconfigurable Phased Array for Transmission Angle Sensing in 5G Mobile Communication ». Sensors 18, no 12 (30 novembre 2018) : 4204. http://dx.doi.org/10.3390/s18124204.
Texte intégralTu, Duong Thi Thanh, Son Cao et Hien Duong. « An open double ring antenna with multiple reconfigurable feature for 5G/IoT below 6GHz applications ». Bulletin of Electrical Engineering and Informatics 11, no 1 (1 février 2022) : 310–18. http://dx.doi.org/10.11591/eei.v11i1.3337.
Texte intégralNdimubandi, Samuel de Jésus, Xiao Ding et Yu Zeng. « A Wide-Angle Scanning Planar Array Based on Four-Mode Pattern-Reconfigurable Elements ». International Journal of RF and Microwave Computer-Aided Engineering 2023 (8 février 2023) : 1–8. http://dx.doi.org/10.1155/2023/7871837.
Texte intégralLylina, Natalia, Chih-Hao Wang et Hans-Joachim Wunderlich. « SCAR : Security Compliance Analysis and Resynthesis of Reconfigurable Scan Networks ». IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 2022, 1. http://dx.doi.org/10.1109/tcad.2022.3158250.
Texte intégralLylina, Natalia, Chih-Hao Wang et Hans-Joachim Wunderlich. « A Complete Design-for-Test Scheme for Reconfigurable Scan Networks ». Journal of Electronic Testing, 19 janvier 2023. http://dx.doi.org/10.1007/s10836-022-06038-3.
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