Livres sur le sujet « Metrology of electromagnetism »
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G, Bradford Ann, et National Institute of Standards and Technology (U.S.), dir. Metrology for electromagnetic technology : A bibliography of NIST publications. Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1997.
Trouver le texte intégralInternational Symposium on Electromagnetic Metrology (1989 Beijing, China). Electromagnetic metrology : Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Metrology, ISEM '89, August 19-22, 1989, Beijing, China. Beijing : International Academic Publishers, 1989.
Trouver le texte intégralMotohisa, Kanda, et United States. National Bureau of Standards, dir. Electromagnetic compatibility and interference metrology : M.T. Ma, M. Kanda. Gaithersburg, Md : National Bureau of Standards, 1986.
Trouver le texte intégralE, DeWeese Mary, et National Institute of Standards and Technology (U.S.), dir. Metrology for electromagnetic technology : A bibliography of NIST publications. Boulder, Colo : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, 1991.
Trouver le texte intégralE, Bailey A., et International Union of Radio Science., dir. URSI register of national standards laboratories for electromagnetic metrology. Bristol : A. Hilger, 1990.
Trouver le texte intégralE, DeWeese Mary, et United States. National Bureau of Standards, dir. Metrology for electromagnetic technology : A bibliography of NBS publications. Boulder, Colo : U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, 1988.
Trouver le texte intégralM, Butler Chalmers, et National Institute of Standards and Technology (U.S.), dir. EMI/EMC metrology challenges for industry : A workshop on measurements, standards, calibrations, and accreditation. Boulder, Colo : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1997.
Trouver le texte intégralNational Institute of Standards and Technology (U.S.), dir. METROLOGY FOR ELECTROMAGNETIC TECHNOLOGY : A BIBLIOGRAPHY OF NIST PUBLICATIONS... NIST 5064 ... U.S. DEPARTMENT OF COMMERCE... 1997. [S.l : s.n., 1998.
Trouver le texte intégralElectromagnetic compatibility and interference metrology. Gaithersburg, Md : National Bureau of Standards, 1986.
Trouver le texte intégralBeijing, China) International Symposium on Electromagnetic Metrology (1989 :. Electromagnetic Metrology : Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Metrology, Isem '89, August 19-22, 1989 Beijing, China. International Academic Publishers, 1990.
Trouver le texte intégralBeijing, China) International Symposium on Electromagnetic Metrology (1989 :. Electromagnetic Metrology : Proceedings of International Symposium on Electromagnetic Metrology, Isem '89, August 19-22, 1989 Beijing, China. International Academic Publishers, 1990.
Trouver le texte intégralMetrology for electromagnetic technology : A bibliography of NIST publications. Boulder, Colo : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards, 1989.
Trouver le texte intégralMetrology for electromagnetic technology : A bibliography of NBS publications. [Washington, D.C.] : U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, 1987.
Trouver le texte intégralBuchwald, Jed Z., et Robert Fox, dir. The Oxford Handbook of the History of Physics. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199696253.001.0001.
Texte intégralHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet et Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Trouver le texte intégralHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet et Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Trouver le texte intégralHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet et Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
Trouver le texte intégralHami, Abdelkhalak El, Philippe Pougnet et Pierre-Richard Dahoo. Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2021.
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