Littérature scientifique sur le sujet « Metrologie augmentée »
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Articles de revues sur le sujet "Metrologie augmentée"
Poon, Ting-Chung, Yaping Zhang, Liangcai Cao et Hiroshi Yoshikawa. « Editorial on Special Issue “Holography, 3-D Imaging and 3-D Display” ». Applied Sciences 10, no 20 (11 octobre 2020) : 7057. http://dx.doi.org/10.3390/app10207057.
Texte intégralSiv, Julie, Rafael Mayer, Guillaume Beaugrand, Guillaume Tison, Rémy Juvénal et Guillaume Dovillaire. « Testing and characterization of challenging optics and optical systems with Shack Hartmann wavefront sensors ». EPJ Web of Conferences 215 (2019) : 06003. http://dx.doi.org/10.1051/epjconf/201921506003.
Texte intégralYoung, Woo Han, et Mike Marshall. « IMPROVE CONTROL AMIDST DIE SHRINKAGE AND 3D PACKAGE COMPLICATION ». International Symposium on Microelectronics 2019, no 1 (1 octobre 2019) : 000260–67. http://dx.doi.org/10.4071/2380-4505-2019.1.000260.
Texte intégralKerst, Thomas, Mohammad Bitarafan, Laura Jokinen, Ilkka Alasaarela, Seppo Tillanen, David Zautasvili et Nikhil Pachhandara. « 82‐3 : Rapid AR/VR Device Eye‐Box Measurement Using a Wide‐FOV Lens ». SID Symposium Digest of Technical Papers 54, no 1 (juin 2023) : 1155–57. http://dx.doi.org/10.1002/sdtp.16779.
Texte intégralShiue, Ren-Jye, Dmitri K. Efetov, Gabriele Grosso, Cheng Peng, Kin Chung Fong et Dirk Englund. « Active 2D materials for on-chip nanophotonics and quantum optics ». Nanophotonics 6, no 6 (15 mars 2017) : 1329–42. http://dx.doi.org/10.1515/nanoph-2016-0172.
Texte intégralNawab, Rahma, et Angela Davies Allen. « Low-Cost AR-Based Dimensional Metrology for Assembly ». Machines 10, no 4 (30 mars 2022) : 243. http://dx.doi.org/10.3390/machines10040243.
Texte intégralArpaia, Pasquale, Egidio De Benedetto, Concetta Anna Dodaro, Luigi Duraccio et Giuseppe Servillo. « Metrology-Based Design of a Wearable Augmented Reality System for Monitoring Patient’s Vitals in Real Time ». IEEE Sensors Journal 21, no 9 (1 mai 2021) : 11176–83. http://dx.doi.org/10.1109/jsen.2021.3059636.
Texte intégralGonçalves, GL, JU Delgado et FB Razuck. « The use of Augmented Reality for the teaching of dosimetry and metrology of ionizing radiation at IRD ». Journal of Physics : Conference Series 1826, no 1 (1 mars 2021) : 012041. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/1826/1/012041.
Texte intégralHo, P. T., J. A. Albajez, J. A. Yagüe et J. Santolaria. « Preliminary study of Augmented Reality based manufacturing for further integration of Quality Control 4.0 supported by metrology ». IOP Conference Series : Materials Science and Engineering 1193, no 1 (1 octobre 2021) : 012105. http://dx.doi.org/10.1088/1757-899x/1193/1/012105.
Texte intégralPrusakov, A. N., V. V. Popadyev et V. F. Pankin. « The Working Week of the International Federation of Surveyors under the motto “From digitalization to augmented reality” ». Geodesy and Cartography 926, no 8 (20 septembre 2017) : 25–38. http://dx.doi.org/10.22389/0016-7126-2017-926-8-25-38.
Texte intégralThèses sur le sujet "Metrologie augmentée"
Bourguignon, Thibaut. « Implémentation et évaluation de la mesure Overlay in-situ par microscopie électronique pour la production de puces électroniques ». Electronic Thesis or Diss., Université Grenoble Alpes, 2024. http://www.theses.fr/2024GRALT001.
Texte intégralIntegrated circuits are manufactured via a stack of various layers. The precise alignment of these layers, known as "overlay" (OVL), is critical to chip reliability. The specifications are very strict: on a 300mm-diameter wafer, each pattern must be aligned to within a few nanometres. Current methods, based on optical observation of dedicated test patterns, show their limitations in terms of representativeness and assessment of local variability.This thesis proposes an innovative approach, using scanning electron microscopy (SEM), to accurately measure these local variations and to understand the biases induced by the test patterns. To this end, an algorithm for measuring the overlay from SEM contours has been developed. By registering reference contours on the extracted contours, the overlay is measured directly on the product, without the need for a specific test pattern, even in the presence of partially masked levels.Following the evaluation of this method on synthetic images, its application to production wafers enabled us to quantify the local variability of the overlay on the product, highlighting deviations from on-line measurements, while revealing the limits of SEM-OVL metrology
Actes de conférences sur le sujet "Metrologie augmentée"
Schmid, Stephan, et Dieter Fritsch. « Precision analysis of triangulations using forward-facing vehicle-mounted cameras for augmented reality applications ». Dans SPIE Optical Metrology, sous la direction de Fabio Remondino et Mark R. Shortis. SPIE, 2017. http://dx.doi.org/10.1117/12.2269716.
Texte intégralMigukin, Artem, Vladimir Katkovnik et Jaakko Astola. « Optimal phase retrieval from multiple observations with Gaussian noise : augmented Lagrangian algorithm for phase objects ». Dans SPIE Optical Metrology, sous la direction de Peter H. Lehmann, Wolfgang Osten et Kay Gastinger. SPIE, 2011. http://dx.doi.org/10.1117/12.889118.
Texte intégralGaglione, S., A. Angrisano, G. Castaldo, C. Gioia, A. Innac, L. Perrotta, G. Del Core et S. Troisi. « GPS/Barometer augmented navigation system : Integration and integrity monitoring ». Dans 2015 IEEE Metrology for Aerospace (MetroAeroSpace). IEEE, 2015. http://dx.doi.org/10.1109/metroaerospace.2015.7180647.
Texte intégralWinters, Daniel, Masashi Mitsui, Masamichi Ueda, Sven Sassning, Mohit Yadav, Patrik Langehanenberg et Jan-Hinrich Eggers. « High-precision 3D metrology for stacked diffractive augmented reality waveguides ». Dans Optifab 2023, sous la direction de Jessica DeGroote Nelson et Blair L. Unger. SPIE, 2023. http://dx.doi.org/10.1117/12.2688509.
Texte intégralPlopski, Alexander, Varunyu Fuvattanasilp, Jarkko Poldi, Takafumi Taketomi, Christian Sandor et Hirokazu Kato. « Efficient In-Situ Creation of Augmented Reality Tutorials ». Dans 2018 Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT. IEEE, 2018. http://dx.doi.org/10.1109/metroi4.2018.8428320.
Texte intégralHua, Hong. « Lightweight, Low-cost Augmented Reality Displays Enabled by Freeform Optical Technology ». Dans Applied Industrial Optics : Spectroscopy, Imaging and Metrology. Washington, D.C. : OSA, 2013. http://dx.doi.org/10.1364/aio.2013.aw1b.4.
Texte intégralNotaros, Jelena, Milica Notaros, Manan Raval, Christopher V. Poulton, Matthew J. Byrd, Nanxi Li, Zhan Su et al. « Integrated Optical Phased Arrays for LiDAR, Communications, Augmented Reality, and Beyond ». Dans Applied Industrial Optics : Spectroscopy, Imaging and Metrology. Washington, D.C. : OSA, 2021. http://dx.doi.org/10.1364/aio.2021.m2a.3.
Texte intégralMacmahon, Nelson Sosa, Juan Manuel Ramírez Cortés et Leopoldo Altamirano Robles. « Simulator in Augmented Reality Environment for Natural Interaction for Assembling Electrical Equipment ». Dans Applied Industrial Optics : Spectroscopy, Imaging and Metrology. Washington, D.C. : OSA, 2012. http://dx.doi.org/10.1364/aio.2012.jtu5a.22.
Texte intégralKellogg, James, Kathleen Andrea-Liner, Jennifer Jennings, Steven Timms, Robert C. Keramidas, Johnnie Berry, Tony DeLaCruz et al. « Augmented reality assisted astronaut operations in space to upgrade the cold atom lab instrument ». Dans Quantum Sensing, Imaging, and Precision Metrology, sous la direction de Selim M. Shahriar et Jacob Scheuer. SPIE, 2023. http://dx.doi.org/10.1117/12.2650750.
Texte intégralHo, Phuong Thao, José Antonio Albajez, Jorge Santolaria Mazo et José Antonio Yagüe-Fabra. « Augmented Reality in Industrial Manufacturing - Identification of Application Areas for AR-Based Quality Control/Assembly Based on Technology Suitability ». Dans 10th Manufacturing Engineering Society International Conference. Switzerland : Trans Tech Publications Ltd, 2023. http://dx.doi.org/10.4028/p-6wb7q2.
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