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1

Ezema, Fabian I., Chandrakant D. Lokhande et Rajan Jose, dir. Chemically Deposited Nanocrystalline Metal Oxide Thin Films. Cham : Springer International Publishing, 2021. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-68462-4.

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2

Yagoubi, Benabdellah. A study of some thin transition metal oxide films. Uxbridge : Brunel University, 1989.

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3

Bird, Daniel P. C. The investigation of thin metal oxide films by STM and RAIRS studies. Manchester : UMIST, 1997.

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4

Roca, Alejandro G., Paolo Mele, Hanae Kijima-Aoki, Elvira Fantechi, Jana K. Vejpravova, Martin Kalbac, Satoru Kaneko et Tamio Endo, dir. Surfaces and Interfaces of Metal Oxide Thin Films, Multilayers, Nanoparticles and Nano-composites. Cham : Springer International Publishing, 2021. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-74073-3.

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5

Thin film metal-oxides : Fundamentals and applications in electronics and energy. New York : Springer, 2010.

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6

Laconte, J. Micromachined thin-film sensors for SOI-CMOS co-integration. New York : Springer, 2011.

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7

1936-, Simonne J. J., et Buxo J. 1941-, dir. Insulating films on semiconductors : Proceedings of the international conference, INFOS 85, Toulouse, France, 16-18 April, 1985. Amsterdam : North-Holland, 1986.

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8

M, Lambert R., Pacchioni G. 1954-, North Atlantic Treaty Organization. Scientific Affairs Division. et NATO Advanced Study Institute on Chemisorption and Reactivity on Supported Clusters and Thin Films : Towards an Understanding of Microscopic Processes in Catalysis (1996 : Erice, Italy), dir. Chemisorption and reactivity on supported clusters and thin films : Towards an understanding of microscopic processes in catalysis. Dordrecht : Kluwer Academic Publishers, 1997.

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9

W, Eccleston, Uren M et INFOS '91 (1991 :, dir. Insulating films on semiconductors 1991 : Proceedings from the 7th biennial European conference, including satellite workshops on Silicon on Insulator : Materials and Device Technology and The Physics of Hot Electron Degradation in Si MOSFETs held at the University of Liverpool, 2nd to 6th April 1991. Bristol : Adam Hilger, 1991.

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10

Habraken, F. H. P. M., dir. LPCVD silicon nitride and oxynitride films : Material and applications in integrated circuit technology. Berlin : Springer-Verlag, 1991.

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11

Metal Oxide Thin Films : Synthesis, Characterization and Applications. MDPI, 2022. http://dx.doi.org/10.3390/books978-3-0365-1057-6.

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12

Solution Processed Metal Oxide Thin Films for Electronic Applications. Elsevier, 2020. http://dx.doi.org/10.1016/c2017-0-02104-3.

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13

Solution Processed Metal Oxide Thin Films for Electronic Applications. Elsevier, 2020.

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14

Cui, Zheng, et Ghenadii Korotcenkov. Solution Processed Metal Oxide Thin Films for Electronic Applications. Elsevier, 2020.

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15

Oxide Semiconductors and Thin Films : Volume 1494. Materials Research Society, 2013.

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16

Korotcenkov, Ghenadii, et Ashrit Pandurang. Transition Metal Oxide Thin Film-Based Chromogenics and Devices. Elsevier, 2017.

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17

Oxide Semiconductors : Volume 1633. Materials Research Society, 2014.

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18

Ezema, Fabian I., Chandrakant D. Lokhande et Rajan Jose. Chemically Deposited Nanocrystalline Metal Oxide Thin Films : Synthesis, Characterizations, and Applications. Springer International Publishing AG, 2021.

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19

Ezema, Fabian I., Chandrakant D. Lokhande et Rajan Jose. Chemically Deposited Nanocrystalline Metal Oxide Thin Films : Synthesis, Characterizations, and Applications. Springer International Publishing AG, 2022.

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20

Esposito, Vincenzo, Ghenadii Korotcenkov et Nini Pryds. Metal Oxide-Based Thin Film Structures : Formation, Characterization and Application of Interface-Based Phenomena. Elsevier, 2017.

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21

Korotcenkov, Ghenadii, Nini Pryds et Vicenzo Esposito. Metal Oxide-Based Thin Film Structures : Formation, Characterization and Application of Interface-Based Phenomena. Elsevier Science & Technology Books, 2017.

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22

Ramanathan, Shriram. Thin Film Metal-Oxides : Fundamentals and Applications in Electronics and Energy. Springer, 2014.

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23

(Editor), Marilyn Hawley, D. H. A. Blank (Editor), C.-B. Eom (Editor), S. K. Streiffer (Editor) et D. G. Schlom (Editor), dir. Multicomponent Oxide Films for Electronics : Symposium Held April 6-8, 1999, San Francisco, California, U.S.A (Materials Research Society Symposium Proceedings). Materials Research Society, 1999.

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24

Lambert, R. M., et Gianfranco Pacchioni. Chemisorption and Reactivity on Supported Clusters and Thin Films : : Towards an Understanding of Microscopic Processes in Catalysis. Springer, 2013.

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25

Yang, Ping-Chang. Development of new characterization techniques for thin-film silicon-on-insulator (SOI) materials and devices. 1993.

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26

Mele, Paolo, Alejandro G. Roca, Hanae Kijima-Aoki, Elvira Fantechi et Jana K. Vejpravova. Surfaces and Interfaces of Metal Oxide Thin Films, Multilayers, Nanoparticles and Nano-Composites : In Memory of Prof. Dr. Hanns-Ulrich Habermeier. Springer International Publishing AG, 2022.

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27

Mele, Paolo, Alejandro G. Roca, Hanae Kijima-Aoki, Elvira Fantechi et Jana K. Vejpravova. Surfaces and Interfaces of Metal Oxide Thin Films, Multilayers, Nanoparticles and Nano-Composites : In Memory of Prof. Dr. Hanns-Ulrich Habermeier. Springer International Publishing AG, 2021.

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28

Micromachined Thin-Film Sensors for SOI-CMOS Co-Integration. Springer, 2006.

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29

Lockwood, David J., Leonid Tsybeskov, Christophe Delerue, Masakazu Ichikawa et Anthony W. van Buuren. Group IV Semiconductor Nanostructures - 2006. University of Cambridge ESOL Examinations, 2014.

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30

Group IV Semiconductor Nanostructures : 2006 : Symposium Held November 27-December 1, 2006, Boston, Massachusetts, U.S.A. (Materials Research Society Symposium Proceedings). Materials Research Society, 2007.

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31

Vibrational Properties of Defective Oxides and 2D Nanolattices : Insights from First-Principles Simulations. Springer, 2014.

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32

Scalise, Emilio. Vibrational Properties of Defective Oxides and 2D Nanolattices : Insights from First-Principles Simulations. Springer International Publishing AG, 2016.

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