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Texte intégralWATT, F., A. A. BETTIOL, J. A. VAN KAN, E. J. TEO et M. B. H. BREESE. « ION BEAM LITHOGRAPHY AND NANOFABRICATION : A REVIEW ». International Journal of Nanoscience 04, no 03 (juin 2005) : 269–86. http://dx.doi.org/10.1142/s0219581x05003139.
Texte intégralLauria, John, Ronald Albright, Olga Vladimirsky, Maarten Hoeks, Roel Vanneer, Bert van Drieenhuizen, Luoqi Chen, Luc Haspeslagh et Ann Witvrouw. « SLM device for 193nm lithographic applications ». Microelectronic Engineering 86, no 4-6 (avril 2009) : 569–72. http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2008.11.022.
Texte intégralDíaz, Diego J., Jamie E. Hudson, Gregory D. Storrier, Héctor D. Abruña, Narayanan Sundararajan et Christopher K. Ober. « Lithographic Applications of Redox Probe Microscopy ». Langmuir 17, no 19 (septembre 2001) : 5932–38. http://dx.doi.org/10.1021/la010561j.
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Texte intégralAhmad Kamal, Ahmad Syazwan, Cheng-Chieh Lin, Zhiyu Wang, Di Xing, Yang-Chun Lee, Mu-Hsin Chen, Ya-Lun Ho, Chun-Wei Chen et Jean-Jacques Delaunay. « CsPbBr3 nanocrystals plasmonic distributed Bragg reflector waveguide laser ». Applied Physics Letters 122, no 7 (13 février 2023) : 071104. http://dx.doi.org/10.1063/5.0128232.
Texte intégralLo, Ting-Ya, Mohan Raj Krishnan, Kai-Yuan Lu et Rong-Ming Ho. « Silicon-containing block copolymers for lithographic applications ». Progress in Polymer Science 77 (février 2018) : 19–68. http://dx.doi.org/10.1016/j.progpolymsci.2017.10.002.
Texte intégralKato, Tadao, Akihiko Yasuoka et Kyoichiro Fujikawa. « Focused ion beam technologies for lithographic applications ». Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B : Beam Interactions with Materials and Atoms 37-38 (février 1989) : 218–23. http://dx.doi.org/10.1016/0168-583x(89)90173-0.
Texte intégralDomonkos, Mária, Pavel Demo et Alexander Kromka. « Nanosphere Lithography for Structuring Polycrystalline Diamond Films ». Crystals 10, no 2 (14 février 2020) : 118. http://dx.doi.org/10.3390/cryst10020118.
Texte intégralYellen, B. B., G. Friedman et K. A. Barbee. « Programmable Self-Aligning Ferrofluid Masks for Lithographic Applications ». IEEE Transactions on Magnetics 40, no 4 (juillet 2004) : 2994–96. http://dx.doi.org/10.1109/tmag.2004.829836.
Texte intégralTEO, SELIN H. G., A. Q. LIU, J. SINGH, M. B. YU, H. Q. SUN et N. SINGH. « SUB-100 nm LITHOGRAPHY WITH PATTERN AND PARTIAL COHERENCE CONTROL ». International Journal of Nanoscience 05, no 04n05 (août 2006) : 383–88. http://dx.doi.org/10.1142/s0219581x06004516.
Texte intégralFang, Bin, Jiafeng Feng, Hongxiang Wei, Xiufeng Han, Baoshun Zhang et Zhongming Zeng. « Fabrication of Spin-Transfer Nano-Oscillator by Colloidal Lithography ». Journal of Nanomaterials 2015 (2015) : 1–6. http://dx.doi.org/10.1155/2015/973957.
Texte intégralGarner, Grant P., Paulina Rincon Delgadillo, Roel Gronheid, Paul F. Nealey et Juan J. de Pablo. « Design of surface patterns with optimized thermodynamic driving forces for the directed self-assembly of block copolymers in lithographic applications ». Molecular Systems Design & ; Engineering 2, no 5 (2017) : 567–80. http://dx.doi.org/10.1039/c7me00028f.
Texte intégralPRZYBILLA, KLAUS-JÜRGEN, RALPH DAMMEL, HORST RÖSCHERT, WALTER SPIESS et GEORG PAWLOWSKI. « New t-BOC blocked polymers for advanced lithographic applications. » Journal of Photopolymer Science and Technology 4, no 3 (1991) : 421–32. http://dx.doi.org/10.2494/photopolymer.4.421.
Texte intégralHiraoka, Hiroyuki, Sylvain Lazare et Alain Cros. « Lithographic applications of excimer laser exposures of polymeric films. » Journal of Photopolymer Science and Technology 4, no 3 (1991) : 463–68. http://dx.doi.org/10.2494/photopolymer.4.463.
Texte intégralOkoroanyanwu, Uzodinma, Jeffrey Byers, Tsutomu Shimokawa et C. Grant Willson. « Alicyclic Polymers for 193 nm Resist Applications : Lithographic Evaluation ». Chemistry of Materials 10, no 11 (novembre 1998) : 3328–33. http://dx.doi.org/10.1021/cm970505x.
Texte intégralHeertjes, Marcel, et Tim Tso. « Nonlinear iterative learning control with applications to lithographic machinery ». Control Engineering Practice 15, no 12 (décembre 2007) : 1545–55. http://dx.doi.org/10.1016/j.conengprac.2007.03.005.
Texte intégralWieberger, Florian, Drew C. Forman, Christian Neuber, André H. Gröschel, Marietta Böhm, Axel H. E. Müller, Hans-Werner Schmidt et Christopher K. Ober. « Tailored star-shaped statistical teroligomers viaATRP for lithographic applications ». J. Mater. Chem. 22, no 1 (2012) : 73–79. http://dx.doi.org/10.1039/c1jm11922b.
Texte intégralSHIN, HAYONG, SEYOUN PARK, EONJIN PARK et DEOK-SOO KIM. « VORONOI DIAGRAM OF A POLYGON IN CHESSBOARD METRIC AND MASKLESS LITHOGRAPHIC APPLICATIONS ». International Journal of Computational Geometry & ; Applications 18, no 04 (août 2008) : 357–71. http://dx.doi.org/10.1142/s0218195908002672.
Texte intégralTEO, SELIN H. G., A. Q. LIU, G. L. SIA, C. LU, J. SINGH, M. B. YU et H. Q. SUN. « DEEP UV LITHOGRAPHY FOR PILLAR TYPE NANOPHOTONIC CRYSTAL ». International Journal of Nanoscience 04, no 04 (août 2005) : 559–66. http://dx.doi.org/10.1142/s0219581x05003577.
Texte intégralFallica, Roberto. « Beyond grayscale lithography : inherently three-dimensional patterning by Talbot effect ». Advanced Optical Technologies 8, no 3-4 (26 juin 2019) : 233–40. http://dx.doi.org/10.1515/aot-2019-0005.
Texte intégralCosta, João, Daniel Almeida, Alessandro Fantoni, Paulo Lourenço et Manuela Vieira. « Silicon Nitride Interferometers for Optical Sensing with Multi-micron Dimensions ». Journal of Physics : Conference Series 2407, no 1 (1 décembre 2022) : 012005. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/2407/1/012005.
Texte intégralCheng, Joy Y., Alshaki Nelson, Charles T. Rettner, Daniel P. Sanders, Alexander Sutherland, Jed W. Pitera, Young-Hye Na, Ho-Cheol Kim et William Hinsberg. « Directed Self-assembly on Sparse Chemical Patterns for Lithographic Applications ». Journal of Photopolymer Science and Technology 22, no 2 (2009) : 219–22. http://dx.doi.org/10.2494/photopolymer.22.219.
Texte intégralDavidson, K., S. El-Attawy, M. El-Gamal, M. A. Khattab et A. M. El-Demerdach. « Synthesis of New Polymers for Photoresist and Lithographic Printing Applications ». High Performance Polymers 14, no 1 (mars 2002) : 3–15. http://dx.doi.org/10.1177/0954008302014001091.
Texte intégralChan, Wing Yan, Alison Y. Cheng, Scott B. Clendenning et Ian Manners. « Synthesis and lithographic applications of highly metallized cluster-based polyferrocenylsilanes ». Macromolecular Symposia 209, no 1 (mars 2004) : 163–76. http://dx.doi.org/10.1002/masy.200450511.
Texte intégralShih, Ching-Jui, Shih-Fu Ou, Chia-Hung Yeh, Chao-Sung Lin et Yung-Ning Pan. « Applications of lithographic mask technology in fabrication of diamond dresser ». International Journal of Advanced Manufacturing Technology 68, no 9-12 (6 mars 2013) : 2329–34. http://dx.doi.org/10.1007/s00170-013-4845-9.
Texte intégralJacques, E., L. Ni, A. C. Salaün, R. Rogel et L. Pichon. « Polysilicon Nanowires for chemical sensing applications ». MRS Proceedings 1439 (2012) : 133–38. http://dx.doi.org/10.1557/opl.2012.1217.
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Texte intégralWengert, Nicolai, Marwène Nefzi, Peter Eberhard et Bernhard Geuppert. « Dynamics in lithographic projection objectives ». Multibody System Dynamics 30, no 2 (2 février 2013) : 233–45. http://dx.doi.org/10.1007/s11044-013-9344-0.
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Texte intégralSchvartzman, M., A. Mathur, J. Hone, C. Jahnes et S. J. Wind. « Plasma fluorination of carbon-based materials for imprint and molding lithographic applications ». Applied Physics Letters 93, no 15 (13 octobre 2008) : 153105. http://dx.doi.org/10.1063/1.2944997.
Texte intégralFerrarese Lupi, F., T. J. Giammaria, F. G. Volpe, F. Lotto, G. Seguini, B. Pivac, M. Laus et M. Perego. « High Aspect Ratio PS-b-PMMA Block Copolymer Masks for Lithographic Applications ». ACS Applied Materials & ; Interfaces 6, no 23 (20 novembre 2014) : 21389–96. http://dx.doi.org/10.1021/am506391n.
Texte intégralCushen, Julia D., Issei Otsuka, Christopher M. Bates, Sami Halila, Sébastien Fort, Cyrille Rochas, Jeffrey A. Easley et al. « Oligosaccharide/Silicon-Containing Block Copolymers with 5 nm Features for Lithographic Applications ». ACS Nano 6, no 4 (12 avril 2012) : 3424–33. http://dx.doi.org/10.1021/nn300459r.
Texte intégralFlagello, Donis, et Andrew Pomerene. « A Single Expose Double Develop (SEDD) process for self-aligned lithographic applications ». Microelectronic Engineering 9, no 1-4 (mai 1989) : 47–52. http://dx.doi.org/10.1016/0167-9317(89)90011-7.
Texte intégralMatsukawa, Daisaku, Tadamitsu Nakamura, Tetsuya Enomoto, Noriyuki Yamazaki, Masayuki Ohe, Takeharu Motobe et Masato Nishimura. « Low Temperature Curable PI/PBO for Advanced Packaging ». Additional Conferences (Device Packaging, HiTEC, HiTEN, and CICMT) 2017, DPC (1 janvier 2017) : 1–15. http://dx.doi.org/10.4071/2017dpc-poster_matsukawa.
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