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Silva, M. M. « Linear integrated circuits ». Proceedings of the IEEE 73, no 8 (1985) : 1340. http://dx.doi.org/10.1109/proc.1985.13290.
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Texte intégralRax, B. G., A. H. Johnston et C. I. Lee. « Proton damage effects in linear integrated circuits ». IEEE Transactions on Nuclear Science 45, no 6 (1998) : 2632–37. http://dx.doi.org/10.1109/23.736507.
Texte intégralRax, B. G., A. H. Johnston et T. Miyahira. « Displacement damage in bipolar linear integrated circuits ». IEEE Transactions on Nuclear Science 46, no 6 (1999) : 1660–65. http://dx.doi.org/10.1109/23.819135.
Texte intégralJantos, P., D. Grzechca et J. Rutkowski. « Evolutionary algorithms for global parametric fault diagnosis in analogue integrated circuits ». Bulletin of the Polish Academy of Sciences : Technical Sciences 60, no 1 (1 mars 2012) : 133–42. http://dx.doi.org/10.2478/v10175-012-0019-4.
Texte intégralAbraitis, Vidas, et Žydrūnas Tamoševičius. « Transition Test Patterns Generation for BIST Implemented in ASIC and FPGA ». Solid State Phenomena 144 (septembre 2008) : 214–19. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.144.214.
Texte intégralVosper, J. V. « Book Review : Linear Integrated Circuits : Operation and Applications ». International Journal of Electrical Engineering & ; Education 23, no 2 (avril 1986) : 184. http://dx.doi.org/10.1177/002072098602300223.
Texte intégralJain, L. C. « Book Review : Operational Amplifiers and Linear Integrated Circuits : ». International Journal of Electrical Engineering & ; Education 29, no 2 (avril 1992) : 162. http://dx.doi.org/10.1177/002072099202900212.
Texte intégralBuchner, Stephen, et Dale McMorrow. « Single-Event Transients in Bipolar Linear Integrated Circuits ». IEEE Transactions on Nuclear Science 53, no 6 (décembre 2006) : 3079–102. http://dx.doi.org/10.1109/tns.2006.882497.
Texte intégralJohnston, A. H., et R. E. Plaag. « Models for Total Dose Degradation of Linear Integrated Circuits ». IEEE Transactions on Nuclear Science 34, no 6 (1987) : 1474–80. http://dx.doi.org/10.1109/tns.1987.4337502.
Texte intégralSun, Zhi, Weijia Wei, Mingyue Zhang, Wenjia Shi, Yeqing Zong, Yihua Chen, Xiaojing Yang, Bo Yu, Chao Tang et Chunbo Lou. « Synthetic robust perfect adaptation achieved by negative feedback coupling with linear weak positive feedback ». Nucleic Acids Research 50, no 4 (15 février 2022) : 2377–86. http://dx.doi.org/10.1093/nar/gkac066.
Texte intégralZikumaru, Yushi. « NQR Spectrometer with a Two Integrated Circuits Radio Frequency Head ». Zeitschrift für Naturforschung A 45, no 3-4 (1 avril 1990) : 591–94. http://dx.doi.org/10.1515/zna-1990-3-467.
Texte intégralZhang, Xiao Feng, Fo Chang Xie, Guo Wei Yang et Wei Zhang. « The Transceiver Circuit Design of Digital Ultrasonic System ». Advanced Materials Research 834-836 (octobre 2013) : 968–73. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.834-836.968.
Texte intégralParandin, Fariborz, Saeed Olyaee, Reza Kamarian et Mohamadreza Jomour. « Design and Simulation of Linear All-Optical Comparator Based on Square-Lattice Photonic Crystals ». Photonics 9, no 7 (29 juin 2022) : 459. http://dx.doi.org/10.3390/photonics9070459.
Texte intégralWidemann, C., S. Stegemann, W. John et W. Mathis. « Analytic investigations on the susceptibility of nonlinear analog circuits to substrate noise ». Advances in Radio Science 11 (4 juillet 2013) : 171–75. http://dx.doi.org/10.5194/ars-11-171-2013.
Texte intégralSingh, Jagmeet, Hugh Morison, Zhimu Guo, Bicky A. Marquez, Omid Esmaeeli, Paul R. Prucnal, Lukas Chrostowski, Sudip Shekhar et Bhavin J. Shastri. « Neuromorphic photonic circuit modeling in Verilog-A ». APL Photonics 7, no 4 (1 avril 2022) : 046103. http://dx.doi.org/10.1063/5.0079984.
Texte intégralMukherjee, Parijat, G. Peter Fang, Rod Burt et Peng Li. « Efficient Identification of Unstable Loops in Large Linear Analog Integrated Circuits ». IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 31, no 9 (septembre 2012) : 1332–45. http://dx.doi.org/10.1109/tcad.2012.2194492.
Texte intégralJohnston, A. H., G. M. Swift et B. G. Rax. « Total dose effects in conventional bipolar transistors and linear integrated circuits ». IEEE Transactions on Nuclear Science 41, no 6 (décembre 1994) : 2427–36. http://dx.doi.org/10.1109/23.340598.
Texte intégralJohnston, A. H., B. G. Rax et C. I. Lee. « Enhanced damage in linear bipolar integrated circuits at low dose rate ». IEEE Transactions on Nuclear Science 42, no 6 (1995) : 1650–59. http://dx.doi.org/10.1109/23.488762.
Texte intégralLubecke, V. M., W. r. McGrath, Yu-Chong Tai et D. B. Rutledge. « Microfabrication of linear translator tuning elements in submillimeter-wave integrated circuits ». Journal of Microelectromechanical Systems 7, no 4 (1998) : 404–10. http://dx.doi.org/10.1109/84.735348.
Texte intégralJohnston, A. H., et B. G. Rax. « Testing and Qualifying Linear Integrated Circuits for Radiation Degradation in Space ». IEEE Transactions on Nuclear Science 53, no 4 (août 2006) : 1779–86. http://dx.doi.org/10.1109/tns.2006.878291.
Texte intégralLiu, Zhuang Jian, Yong Wei Zhang, Ji Zhou Song, Dae Hyeong Kim, Yong Gang Huang et John Rogers. « Numerical Simulation of Stretchable and Foldable Silicon Integrated Circuits ». Advanced Materials Research 74 (juin 2009) : 197–200. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.74.197.
Texte intégralNeudeck, Philip G., David J. Spry, Liang Yu Chen, Carl W. Chang, Glenn M. Beheim, Robert S. Okojie, Laura J. Evans et al. « Prolonged 500 °C Operation of 6H-SiC JFET Integrated Circuitry ». Materials Science Forum 615-617 (mars 2009) : 929–32. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.615-617.929.
Texte intégralSavchenko, Andrey, A. Kulay, I. Strukov, K. Chubur, Sergey Grechanyy et Konstantin Zolnikov. « A PHYSICAL MODEL FOR ESTIMATING THE INTENSITY OF SINGLE EVENTS WHEN EXPOSED TO INDIVIDUAL NUCLEAR PARTICLES ». Modeling of systems and processes 12, no 4 (23 janvier 2020) : 78–83. http://dx.doi.org/10.12737/2219-0767-2020-12-4-78-83.
Texte intégralBAUMGARTNER, C., et O. A. PALUSINSKI. « METHODOLOGY FOR FORMULATION OF CIRCUIT EQUATIONS FOR SPECTRAL ANALYSIS ». Journal of Circuits, Systems and Computers 02, no 02 (juin 1992) : 187–206. http://dx.doi.org/10.1142/s0218126692000131.
Texte intégralShaw, Brian M. « Book Review : Op-Amps and Linear Integrated Circuits (3rd Edition) : A. GAYAKWAD ». International Journal of Electrical Engineering & ; Education 32, no 2 (avril 1995) : 190–91. http://dx.doi.org/10.1177/002072099503200220.
Texte intégralJohnston, Allan H., et B. G. Rax. « Failure Modes and Hardness Assurance for Linear Integrated Circuits in Space Applications ». IEEE Transactions on Nuclear Science 57, no 4 (août 2010) : 1966–72. http://dx.doi.org/10.1109/tns.2010.2049583.
Texte intégralGorelick, J. L., R. Ladbury et L. Ka. « The effects of neutron irradiation on gamma sensitivity of linear integrated circuits ». IEEE Transactions on Nuclear Science 51, no 6 (décembre 2004) : 3679–85. http://dx.doi.org/10.1109/tns.2004.839245.
Texte intégralEranosyan, V. Ts. « Automated installation for measuring low-frequency noise parameters of linear integrated circuits ». Measurement Techniques 30, no 6 (juin 1987) : 570–72. http://dx.doi.org/10.1007/bf00866854.
Texte intégralKAMEDA, SEIJI, AKIRA HONDA et TETSUYA YAGI. « REAL TIME IMAGE PROCESSING WITH AN ANALOG VISION CHIP SYSTEM ». International Journal of Neural Systems 09, no 05 (octobre 1999) : 423–28. http://dx.doi.org/10.1142/s0129065799000423.
Texte intégralWang, Han, Yi Cheng Zeng et Zhi Jun Li. « Current Mode Maximum and Minimum Circuit ». Applied Mechanics and Materials 577 (juillet 2014) : 478–81. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.577.478.
Texte intégralPiqueira, José R. C., Maurízio Q. de Oliveira et Luiz H. A. Monteiro. « Linear Approach for Synchronous State Stability in Fully Connected PLL Networks ». Mathematical Problems in Engineering 2008 (2008) : 1–13. http://dx.doi.org/10.1155/2008/364084.
Texte intégralSaleh, Alaa, Abdel Kader El Rafei, Mountakha Dieng, Tibault Reveyrand, Raphael Sommet, Jean-Michel Nebus et Raymond Quere. « Compact RF non-linear electro thermal model of SiGe HBT for the design of broadband ADC's ». International Journal of Microwave and Wireless Technologies 4, no 6 (29 août 2012) : 569–78. http://dx.doi.org/10.1017/s1759078712000566.
Texte intégralDimopoulos, K. Z., J. N. Avaritsiotis et S. J. White. « Electrical Modelling of Multilevel On-Chip Interconnections for High-Speed Integrated Circuits ». Active and Passive Electronic Components 14, no 4 (1992) : 199–218. http://dx.doi.org/10.1155/1992/13545.
Texte intégralZhao, San Ping. « A Pressure Sensor with Electrical Readout Based on IL Electrofluidic Circuit ». Applied Mechanics and Materials 66-68 (juillet 2011) : 1936–41. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.66-68.1936.
Texte intégralDeval, Y., H. Lapuyade, R. Fouillat, H. Barnaby, F. Darracq, R. Briand, D. Lewis et R. D. Schrimpf. « Evaluation of a design methodology dedicated to dose-rate-hardened linear integrated circuits ». IEEE Transactions on Nuclear Science 49, no 3 (juin 2002) : 1468–73. http://dx.doi.org/10.1109/tns.2002.1039685.
Texte intégralBorys, Andrzej. « On Definition of Operator o for Weakly Nonlinear Circuits ». International Journal of Electronics and Telecommunications 62, no 3 (1 septembre 2016) : 253–59. http://dx.doi.org/10.1515/eletel-2016-0034.
Texte intégralWeng, T., S. Stegemann, W. John et W. Mathis. « An identification procedure of multi-input Wiener models for the distortion analysis of nonlinear circuits ». Advances in Radio Science 11 (4 juillet 2013) : 165–70. http://dx.doi.org/10.5194/ars-11-165-2013.
Texte intégralMcMORROW, DALE, JOSEPH S. MELINGER et ALVIN R. KNUDSON. « SINGLE-EVENT EFFECTS IN III-V SEMICONDUCTOR ELECTRONICS ». International Journal of High Speed Electronics and Systems 14, no 02 (juin 2004) : 311–25. http://dx.doi.org/10.1142/s0129156404002375.
Texte intégralPrakht, V. A., V. V. Goman et A. S. Paramonov. « Design Optimization of Secondary Element of Single-Sided Linear Induction Motors Using a Genetic Algorithm ». ENERGETIKA. Proceedings of CIS higher education institutions and power engineering associations 64, no 6 (6 décembre 2021) : 505–16. http://dx.doi.org/10.21122/1029-7448-2021-64-6-505-516.
Texte intégralCaselli, Michele, Marco Ronchi et Andrea Boni. « Power Management Circuits for Low-Power RF Energy Harvesters ». Journal of Low Power Electronics and Applications 10, no 3 (19 septembre 2020) : 29. http://dx.doi.org/10.3390/jlpea10030029.
Texte intégralWang, San-Fu. « A 5 V-to-3.3 V CMOS Linear Regulator with Three-Output Temperature-Independent Reference Voltages ». Journal of Sensors 2016 (2016) : 1–7. http://dx.doi.org/10.1155/2016/1436371.
Texte intégralLiu, Lun Cai, Xiao Zong Huang et Wen Gang Huang. « An Integrated Optical Sensor Receiver with the Sensitivity of 0.7 μA Fabricated with Standard CMOS Process ». Applied Mechanics and Materials 251 (décembre 2012) : 206–9. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.251.206.
Texte intégralDaems, W., W. Verhaegen, P. Wambacq, G. Gielen et W. Sansen. « Evaluation of error-control strategies for the linear symbolic analysis of analog integrated circuits ». IEEE Transactions on Circuits and Systems I : Fundamental Theory and Applications 46, no 5 (mai 1999) : 594–606. http://dx.doi.org/10.1109/81.762925.
Texte intégralKoga, R., S. H. Penzin, K. B. Crawford, W. R. Crain, S. C. Moss, S. D. Pinkerton, S. D. LaLumondiere et M. C. Maher. « Single event upset (SEU) sensitivity dependence of linear integrated circuits (ICs) on bias conditions ». IEEE Transactions on Nuclear Science 44, no 6 (1997) : 2325–32. http://dx.doi.org/10.1109/23.659055.
Texte intégralFlament, O., J. L. Autran, P. Roche, J. L. Leray, O. Musseau, R. Truche et E. Orsier. « Enhanced total dose damage in junction field effect transistors and related linear integrated circuits ». IEEE Transactions on Nuclear Science 43, no 6 (1996) : 3060–67. http://dx.doi.org/10.1109/23.556905.
Texte intégralRizkalla, Shrief, Ralph Prestros et Christoph F. Mecklenbrauker. « Optimal Card Design for Non-Linear HF RFID Integrated Circuits With Guaranteed Standard-Compliance ». IEEE Access 6 (2018) : 47843–56. http://dx.doi.org/10.1109/access.2018.2867290.
Texte intégralBoch, J., F. Saigne, R. D. Schrimpf, J. R. Vaille, L. Dusseau, S. Ducret, M. Bernard, E. Lorfevre et C. Chatry. « Estimation of low-dose-rate degradation on bipolar linear integrated circuits using switching experiments ». IEEE Transactions on Nuclear Science 52, no 6 (décembre 2005) : 2616–21. http://dx.doi.org/10.1109/tns.2005.860711.
Texte intégralBülow, H., F. Buchali, W. Baumert, R. Ballentin et T. Wehren. « PMD mitigation at 10 Gbit/s using linear and nonlinear integrated electronic equaliser circuits ». Electronics Letters 36, no 2 (2000) : 163. http://dx.doi.org/10.1049/el:20000175.
Texte intégralSun, Shaofei, Hongxin Zhang, Xiaotong Cui, Qiang Li, Liang Dong et Xing Fang. « Analysis of Electromagnetic Information Leakage Based on Cryptographic Integrated Circuits ». Entropy 23, no 11 (13 novembre 2021) : 1508. http://dx.doi.org/10.3390/e23111508.
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