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Lee, Dong-Yeon, Dong-Min Kim et Dae-Gab Gweon. « Atomic Force Microscope for Standard Length Metrology ». Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A 30, no 12 (1 décembre 2006) : 1611–17. http://dx.doi.org/10.3795/ksme-a.2006.30.12.1611.
Texte intégralStone, Jack A. « Uncalibrated Helium-Neon Lasers in Length Metrology ». NCSLI Measure 4, no 3 (septembre 2009) : 52–58. http://dx.doi.org/10.1080/19315775.2009.11721483.
Texte intégralGarcía-Asenjo, Luis, Sergio Baselga, Chris Atkins et Pascual Garrigues. « Development of a Submillimetric GNSS-Based Distance Meter for Length Metrology ». Sensors 21, no 4 (6 février 2021) : 1145. http://dx.doi.org/10.3390/s21041145.
Texte intégralBuchta, Zdeněk, Martin Šarbort, Martin Čížek, Václav Hucl, Šimon Řeřucha, Tomáš Pikálek, Štěpánka Dvořáčková et al. « System for automatic gauge block length measurement optimized for secondary length metrology ». Precision Engineering 49 (juillet 2017) : 322–31. http://dx.doi.org/10.1016/j.precisioneng.2017.03.002.
Texte intégralWieczorowski, Michał, Paweł Pawlus et Bartosz Gapiński. « Perspectives of modern metrology ». Mechanik 92, no 12 (9 décembre 2019) : 767–73. http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2019.12.106.
Texte intégralTANAKA, Shinichi. « Non-Contact 3D Metrology by Multi Wave-Length Interferometer ». Journal of the Japan Society for Precision Engineering 85, no 8 (5 août 2019) : 695–98. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.85.695.
Texte intégralBlumröder, Ulrike, Ronald Füßl, Thomas Fröhlich, Eberhard Manske et Rostyslav Mastylo. « FREQUENCY COMB-COUPLED METROLOGY LASERS FOR NANOPOSITIONING AND NANO MEASURING MACHINES ». Measuring Equipment and Metrology 82, no 4 (2021) : 36–42. http://dx.doi.org/10.23939/istcmtm2021.04.036.
Texte intégralJing, Ren, et Xin Chang. « A determinate method of metrology attribute benchmark of commercial banks’ management efficiency ». PLOS ONE 17, no 8 (4 août 2022) : e0272286. http://dx.doi.org/10.1371/journal.pone.0272286.
Texte intégralMateo, Ana Baselga, et Zeb W. Barber. « Precision and accuracy testing of FMCW ladar-based length metrology ». Applied Optics 54, no 19 (26 juin 2015) : 6019. http://dx.doi.org/10.1364/ao.54.006019.
Texte intégralRöske, Dirk. « Some problems concerning the lever arm length in torque metrology ». Measurement 20, no 1 (janvier 1997) : 23–32. http://dx.doi.org/10.1016/s0263-2241(97)00006-7.
Texte intégralWieczorowski, Michał. « Digitalization of surfaces in micro, meso and macro applications ». Mechanik 91, no 11 (12 novembre 2018) : 944–49. http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2018.11.166.
Texte intégralChiffre, L. De, D. González-Madruga, G. Dalla Costa, M. R. Sonne, A. Mohammadi, J. H. Hattel, H. N. Hansen et al. « Accurate measurements in a production environment using dynamic length metrology (DLM) ». Procedia CIRP 75 (2018) : 343–48. http://dx.doi.org/10.1016/j.procir.2018.04.074.
Texte intégralNiwa, Y., K. Arai, A. Ueda, M. Sakagami, N. Gouda, Y. Kobayashi, Y. Yamada et T. Yano. « Laser interferometric high-precision geometry (angle and length) monitor for JASMINE ». Proceedings of the International Astronomical Union 3, S248 (octobre 2007) : 280–81. http://dx.doi.org/10.1017/s1743921308019315.
Texte intégralCenteno González, Luz María, Eduardo Castillo Castañeda, Luis Omar Becerra Santiago et Alberto Rochín García. « A magnetic suspension system for measuring liquid density ». Ingeniería e Investigación 33, no 1 (1 janvier 2013) : 46–51. http://dx.doi.org/10.15446/ing.investig.v33n1.37666.
Texte intégralSchamp, C. T. « High-Resolution Metrology in the TEM ». Microscopy Today 20, no 3 (mai 2012) : 46–49. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929512000363.
Texte intégralPostek, Michael T., Marylyn Bennett, Nestor J. Zaluzec, Thomas Wheatley et Samuel Jones. « National Institute of Standards and Technology - Texas Instruments Industrial Collaboratory Testbed ». Microscopy and Microanalysis 4, S2 (juillet 1998) : 22–23. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600020237.
Texte intégralZhao, Yan, Xing Hua Qu, Yong Tian, Rui Jun Lu et Hong Guang Liu. « Investigation on the Metrology of Conical Thread Gauge ». Key Engineering Materials 693 (mai 2016) : 150–54. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.693.150.
Texte intégralKupcevičová, Jelena. « Русская и украинская историческая метрология и её отражение в паремиях ». Studia Slavica XXVI, no 1 (2022) : 55–66. http://dx.doi.org/10.15452/studiaslavica.2022.26.0004.
Texte intégralRickgauer, John Peter, Derek N. Fuller et Douglas E. Smith. « DNA as a Metrology Standard for Length and Force Measurements with Optical Tweezers ». Biophysical Journal 91, no 11 (décembre 2006) : 4253–57. http://dx.doi.org/10.1529/biophysj.106.089524.
Texte intégralMINOSHIMA, Kaoru, Thomas R. SCHIBLI, Hajime INABA, Youichi BITOU, Feng-Lei HONG, Atsushi ONAE et Hirokazu MATSUMOTO. « Precision Length Metrology Based on the Time and Frequency Standards Using Optical Combs ». Review of Laser Engineering 35, no 10 (2007) : 642–48. http://dx.doi.org/10.2184/lsj.35.642.
Texte intégralBarwood, G. P., P. Gill et W. R. C. Rowley. « High-accuracy length metrology using multiple-stage swept-frequency interferometry with laser diodes ». Measurement Science and Technology 9, no 7 (1 juillet 1998) : 1036–41. http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/9/7/005.
Texte intégralWilson, Marshall, Alexandre Savtchouk, Igor Tasarov, John D'Amico, Piotr Edelman, Nick Kochey et Jacek Lagowski. « Digital SPV Diffusion Length Metrology (E8-Fe) for Ultra-High Purity Silicon Wafers ». ECS Transactions 16, no 6 (18 décembre 2019) : 285–301. http://dx.doi.org/10.1149/1.2980312.
Texte intégralFranz, Christoph, Peter Abels, Raphael Rolser et Michael Becker. « Energy Input per Unit Length – High Accuracy Kinematic Metrology in Laser Material Processing ». Physics Procedia 12 (2011) : 411–20. http://dx.doi.org/10.1016/j.phpro.2011.03.151.
Texte intégralNaeim, Ihab H. « In-Depth Practical Study of Length Metrology With Laser Interferometers Applying Different Techniques ». International Journal of Applied Physics 7, no 2 (25 août 2020) : 36–42. http://dx.doi.org/10.14445/23500301/ijap-v7i2p106.
Texte intégralBelfi, J., N. Beverini, D. Cuccato, A. Di Virgilio, E. Maccioni, A. Ortolan et R. Santagata. « Interferometric length metrology for the dimensional control of ultra-stable ring laser gyroscopes ». Classical and Quantum Gravity 31, no 22 (28 octobre 2014) : 225003. http://dx.doi.org/10.1088/0264-9381/31/22/225003.
Texte intégralTaylor, S., J. Mardinly, M. A. O'Keefe et R. Gronsky. « HRTEM Image Simulations for Gate Oxide Metrology ». Microscopy and Microanalysis 6, S2 (août 2000) : 1080–81. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600037892.
Texte intégralZakharenko, Y. G., N. A. Kononova, V. L. Fedorin, Z. V. Fomkina et K. V. Chekirda. « Prospects of development of the reference base of the Russian Federation in the field of length measurements ». Izmeritel`naya Tekhnika, no 2 (2020) : 3–5. http://dx.doi.org/10.32446/0368-1025it.2020-2-3-5.
Texte intégralMedvedev, P. A., et M. V. Novgorodskaya. « Mathematical models’ analysis of rectangular coordinates’calculation in the expanded zones of Gauss Kruger conformal projection ». Geodesy and Cartography 921, no 3 (20 avril 2017) : 14–19. http://dx.doi.org/10.22389/0016-7126-2017-921-3-14-19.
Texte intégralWolańczyk, Franciszek. « Gallium as a Metrology Substance for Measuring Thermal Conductivity of Metals ». Applied Mechanics and Materials 831 (avril 2016) : 144–50. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.831.144.
Texte intégralChen, Jin Long, He Min Wang, Yu Wen Qin et Xin Hua Ji. « An Experimental Study of the Displacement and Strain Fields across Interphases in Thermoplastic Composites ». Key Engineering Materials 306-308 (mars 2006) : 959–64. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.306-308.959.
Texte intégralBlumröder, Ulrike, Paul Köchert, Thomas Fröhlich, Thomas Kissinger, Ingo Ortlepp, Jens Flügge, Harald Bosse et Eberhard Manske. « A GPS-Referenced Wavelength Standard for High-Precision Displacement Interferometry at λ = 633 nm ». Sensors 23, no 3 (3 février 2023) : 1734. http://dx.doi.org/10.3390/s23031734.
Texte intégralKatić, Marko, Nenad Ferdelji et Danijel Šestan. « Investigation of Temperature-Induced Errors in XCT Metrology ». International Journal of Automation Technology 14, no 3 (5 mai 2020) : 484–90. http://dx.doi.org/10.20965/ijat.2020.p0484.
Texte intégralDobosz, Marek. « Laser diode distance measuring interferometer - metrological properties ». Metrology and Measurement Systems 19, no 3 (1 octobre 2012) : 553–64. http://dx.doi.org/10.2478/v10178-012-0048-1.
Texte intégralHolá, Miroslava, Jan Hrabina, Martin Sarbort, Jindrich Oulehla, Ondrej Cíp et Josef Lazar. « Contribution of the Refractive Index Fluctuations to the Length Noise in Displacement Interferometry ». Measurement Science Review 15, no 5 (1 octobre 2015) : 263–67. http://dx.doi.org/10.1515/msr-2015-0036.
Texte intégralSanchidrián-Vaca, Carlos, et Carlos Sabín. « Parameter Estimation of Wormholes beyond the Heisenberg Limit ». Universe 4, no 11 (6 novembre 2018) : 115. http://dx.doi.org/10.3390/universe4110115.
Texte intégralMiller, Tatiana, Krzysztof Gajda et Aneta Łętocha. « Reliability of measurements performed in the IZTW accredited laboratory in the field of surface topography and product geometry ». Mechanik 91, no 4 (9 avril 2018) : 307–10. http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2018.4.47.
Texte intégralThywissen, J. H. « Using neutral atoms and standing light waves to form a calibration artifact for length metrology ». Journal of Vacuum Science & ; Technology B : Microelectronics and Nanometer Structures 16, no 6 (novembre 1998) : 3841. http://dx.doi.org/10.1116/1.590420.
Texte intégralZhang, Haijun, Dongxian Zhang et Xiaofeng Lin. « Dual imaging-unit atomic force microscope for nanometer order length metrology based on reference scales ». Journal of Vacuum Science & ; Technology B : Microelectronics and Nanometer Structures 20, no 5 (2002) : 1935. http://dx.doi.org/10.1116/1.1502700.
Texte intégralZhang, Dongxian, Haijun Zhang et Xiaofeng Lin. « Wide-range length metrology by dual-imaging-unit atomic force microscope based on porous alumina ». Microscopy Research and Technique 64, no 3 (2004) : 223–27. http://dx.doi.org/10.1002/jemt.20060.
Texte intégralNeyezhmakov, Pavel, Alexander Prokopov, Tatiana Panasenko et Andrii Shloma. « Analysis of the temperature component of the combined standard uncertainty of the refractive index according to the test data of the control system for meteorological parameters developed for the Lyptsi geodetic polygon ». Ukrainian Metrological Journal, no 4 (30 décembre 2021) : 34–38. http://dx.doi.org/10.24027/2306-7039.4.2021.250411.
Texte intégralKovalchuk, V. V., et M. V. Smorzh. « Metrology of the Real Nanoclusters : Structure and Optical Characteristics ». Metrology and instruments, no 1 (2 mars 2020) : 54–58. http://dx.doi.org/10.33955/2307-2180(1)2020.54-58.
Texte intégralGastaldi, B., L. Vieira, F. Huerta Yshikawa, B. Faust et B. Eves. « Calibration of angle standards ». Metrologia 60, no 1A (1 janvier 2023) : 04002. http://dx.doi.org/10.1088/0026-1394/60/1a/04002.
Texte intégralPratt, Jon R., Douglas T. Smith, David B. Newell, John A. Kramar et Eric Whitenton. « Progress toward Système International d'Unités traceable force metrology for nanomechanics ». Journal of Materials Research 19, no 1 (janvier 2004) : 366–79. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2004.19.1.366.
Texte intégralKeck, Christian, et René Schödel. « Reference Measurement of Roundwood by Fringe Projection ». Forest Products Journal 71, no 4 (1 octobre 2021) : 352–61. http://dx.doi.org/10.13073/fpj-d-21-00024.
Texte intégralQuagliotti, Danilo. « Modeling the systematic behavior at the micro and nano length scales ». Surface Topography : Metrology and Properties 10, no 1 (25 janvier 2022) : 015011. http://dx.doi.org/10.1088/2051-672x/ac4ba7.
Texte intégralFang, Wenqiang, Joyce Mok et Haneesh Kesari. « Effects of geometric nonlinearity in an adhered microbeam for measuring the work of adhesion ». Proceedings of the Royal Society A : Mathematical, Physical and Engineering Sciences 474, no 2211 (mars 2018) : 20170594. http://dx.doi.org/10.1098/rspa.2017.0594.
Texte intégralSiewert, F., J. Buchheim, T. Zeschke, M. Störmer, G. Falkenberg et R. Sankari. « On the characterization of ultra-precise X-ray optical components : advances and challenges inex situmetrology ». Journal of Synchrotron Radiation 21, no 5 (27 août 2014) : 968–75. http://dx.doi.org/10.1107/s1600577514016221.
Texte intégralPakkratoke, Montree, Nitiwat Sasom, Koichiro Hattori et Nae Hyung Tak. « APMP.M.H-S5 final report of the supplementary comparison of Brinell hardness ». Metrologia 59, no 1A (1 janvier 2022) : 07019. http://dx.doi.org/10.1088/0026-1394/59/1a/07019.
Texte intégralPakkratoke, Montree, Nitiwat Sasom, Koichiro Hattori et Nae Hyung Tak. « APMP.M.H-S6 final report of the supplementary comparison of Vickers hardness ». Metrologia 59, no 1A (1 janvier 2022) : 07020. http://dx.doi.org/10.1088/0026-1394/59/1a/07020.
Texte intégralLipus, L. C., B. Acko et J. Tompa. « Experimental determination of influences on a gauge block’s stack length ». Advances in Production Engineering & ; Management 17, no 3 (30 septembre 2022) : 339–49. http://dx.doi.org/10.14743/apem2022.3.440.
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