Littérature scientifique sur le sujet « Length metrology »
Créez une référence correcte selon les styles APA, MLA, Chicago, Harvard et plusieurs autres
Consultez les listes thématiques d’articles de revues, de livres, de thèses, de rapports de conférences et d’autres sources académiques sur le sujet « Length metrology ».
À côté de chaque source dans la liste de références il y a un bouton « Ajouter à la bibliographie ». Cliquez sur ce bouton, et nous générerons automatiquement la référence bibliographique pour la source choisie selon votre style de citation préféré : APA, MLA, Harvard, Vancouver, Chicago, etc.
Vous pouvez aussi télécharger le texte intégral de la publication scolaire au format pdf et consulter son résumé en ligne lorsque ces informations sont inclues dans les métadonnées.
Articles de revues sur le sujet "Length metrology"
Lee, Dong-Yeon, Dong-Min Kim et Dae-Gab Gweon. « Atomic Force Microscope for Standard Length Metrology ». Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A 30, no 12 (1 décembre 2006) : 1611–17. http://dx.doi.org/10.3795/ksme-a.2006.30.12.1611.
Texte intégralStone, Jack A. « Uncalibrated Helium-Neon Lasers in Length Metrology ». NCSLI Measure 4, no 3 (septembre 2009) : 52–58. http://dx.doi.org/10.1080/19315775.2009.11721483.
Texte intégralGarcía-Asenjo, Luis, Sergio Baselga, Chris Atkins et Pascual Garrigues. « Development of a Submillimetric GNSS-Based Distance Meter for Length Metrology ». Sensors 21, no 4 (6 février 2021) : 1145. http://dx.doi.org/10.3390/s21041145.
Texte intégralBuchta, Zdeněk, Martin Šarbort, Martin Čížek, Václav Hucl, Šimon Řeřucha, Tomáš Pikálek, Štěpánka Dvořáčková et al. « System for automatic gauge block length measurement optimized for secondary length metrology ». Precision Engineering 49 (juillet 2017) : 322–31. http://dx.doi.org/10.1016/j.precisioneng.2017.03.002.
Texte intégralWieczorowski, Michał, Paweł Pawlus et Bartosz Gapiński. « Perspectives of modern metrology ». Mechanik 92, no 12 (9 décembre 2019) : 767–73. http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2019.12.106.
Texte intégralTANAKA, Shinichi. « Non-Contact 3D Metrology by Multi Wave-Length Interferometer ». Journal of the Japan Society for Precision Engineering 85, no 8 (5 août 2019) : 695–98. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.85.695.
Texte intégralBlumröder, Ulrike, Ronald Füßl, Thomas Fröhlich, Eberhard Manske et Rostyslav Mastylo. « FREQUENCY COMB-COUPLED METROLOGY LASERS FOR NANOPOSITIONING AND NANO MEASURING MACHINES ». Measuring Equipment and Metrology 82, no 4 (2021) : 36–42. http://dx.doi.org/10.23939/istcmtm2021.04.036.
Texte intégralJing, Ren, et Xin Chang. « A determinate method of metrology attribute benchmark of commercial banks’ management efficiency ». PLOS ONE 17, no 8 (4 août 2022) : e0272286. http://dx.doi.org/10.1371/journal.pone.0272286.
Texte intégralMateo, Ana Baselga, et Zeb W. Barber. « Precision and accuracy testing of FMCW ladar-based length metrology ». Applied Optics 54, no 19 (26 juin 2015) : 6019. http://dx.doi.org/10.1364/ao.54.006019.
Texte intégralRöske, Dirk. « Some problems concerning the lever arm length in torque metrology ». Measurement 20, no 1 (janvier 1997) : 23–32. http://dx.doi.org/10.1016/s0263-2241(97)00006-7.
Texte intégralThèses sur le sujet "Length metrology"
Barwood, Geoffrey P. « Frequency stabilised laser diodes and their use in length metrology ». Thesis, University of Kent, 1992. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.314498.
Texte intégralSANTAGATA, ROSA. « Sub-nanometer length metrology for ultra-stable ring laser gyroscopes ». Doctoral thesis, Rosa Santagata, 2015. http://hdl.handle.net/11365/1004514.
Texte intégralGedela, Naga Venkata Praveen babu. « MEASUREMENT AND ITS HISTORICAL CONTEXT ». Kent State University / OhioLINK, 2008. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=kent1226037175.
Texte intégralDonaldson, Claire Louise. « Spine characteristics in sheep : metrology, relationship to meat yield and their genetic parameters ». Thesis, University of Edinburgh, 2016. http://hdl.handle.net/1842/20381.
Texte intégralAPRILE, GIULIA. « Directed self-assembly of Di-Block copolymers for a new idea of length standards at the nanoscale ». Doctoral thesis, Università del Piemonte Orientale, 2017. http://hdl.handle.net/11579/86901.
Texte intégralHolá, Miroslava. « Pokročilé interferometrické metody pro souřadnicové odměřování ». Doctoral thesis, Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství, 2018. http://www.nusl.cz/ntk/nusl-364822.
Texte intégralHopper, David J. « Investigation of laser frequency stabilisation using modulation transfer spectroscopy ». Thesis, Queensland University of Technology, 2008. https://eprints.qut.edu.au/16667/1/David_John_Hopper_Thesis.pdf.
Texte intégralHopper, David J. « Investigation of laser frequency stabilisation using modulation transfer spectroscopy ». Queensland University of Technology, 2008. http://eprints.qut.edu.au/16667/.
Texte intégralRoyo, Royo Santiago. « Topographic measurements of non-rotationally symmetrical concave surfaces using Ronchi deflectometry ». Doctoral thesis, Universitat Politècnica de Catalunya, 1999. http://hdl.handle.net/10803/6745.
Texte intégralEsta Tesis Doctoral, redactada en inglés, se ha dividido en ocho capítulos:
En su primer capítulo se introduce a lector en el entorno en el que se ha desarrollado el trabajo, y se presenta la novedad de la propuesta.
En el segundo se presenta una revisión del estado actual de las diferentes técnicas de perfilometría por medios ópticos. Se incide especialmente en las técnicas más próximas a la deflectometría Ronchi, como la microscopía confocal y las técnicas interferométricas y deflectométricas (Moiré y Hartmann).
El tercer capítulo justifica el modelo teórico, utilizado para obtener las topografías de superficies cóncavas reflectoras. Se parte tanto de la interpretación basada en la Óptica Geométrica como la basada en la Óptica Ondulatoria, llegándose a la conclusión de que el modelo geométrico es suficiente si las frecuencias de la red de muestreo utilizada son bajas (menores que 3 líneas por milímetro).
En el cuarto capítulo se detalla el montaje experimental y el procesado de los datos que permite la obtención de la topografía de la superficie.
A lo largo del quinto capítulo se discuten técnicas de mejora de las medidas obtenidas, descartándose el incremento de frecuencia en la red y las técnicas de desplazamiento de fase, y aportándose una nueva técnica basada en la superposición de medidas obtenidas mediante la composición de registros que se diferencian en un desplazamiento conocido de la red de Ronchi.
El sexto capítulo muestra la validez de la técnica propuesta mediante la medida de distintas superficies esféricas, cuyos radios se comparan con valores de referencia obtenidos utilizando un radioscopio. Esta operación se repite satisfactoriamente en tres posiciones diferentes de las muestras, demostrando que el montaje experimental está adecuadamente calibrado.
El séptimo capítulo aborda la medida de distintas superficies toroidales, cuyos valores de radios de curvatura y posición de los meridianos principales se miden adecuadamente. Estas medidas se han obtenido para tres posiciones y cuatro orientaciones diferentes en cada muestra, demostrando la robustez del método.
En el octavo capítulo se presentan las conclusiones del trabajo, que se pueden resumir en:
- Se ha desarrollado un sistema para la medida de topografías de superficies con y sin simetría de rotación, a partir de una aproximación geométrica a la deflectometría Ronchi clásica. El montaje experimental que hemos desarrollado incluye algoritmos de software de tratamiento de imágenes, cálculo matemático y control de motores, programados por nosotros mismos en lenguaje C.
- Se ha mejorado el muestreo de la deflectometría Ronchi clásica mediante la composición de diferentes datos experimentales obtenidos mediante desplazamientos sucesivos y conocidos de la red de Ronchi. Se ha justificado como inviable la aplicación de técnicas de desplazamiento de fase a deflectometría Ronchi sin asumir hipótesis adicionales.
- Tanto la topografía como los residuos de la mejor superficie ajustada se han calculado para seis muestras esféricas, en tres posiciones diferentes, y para seis muestras tóricas, en tres posiciones y cuatro orientaciones diferentes. Las medidas obtenidas han permitido apreciar de modo fiable características submicrométricas de las muestras independientemente de su posición y orientación.
En la última sección se describen la bibliografía y referencias utilizadas en el trabajo.
Livres sur le sujet "Length metrology"
Fornaro, Arcangelo. Problemi di metrologia nell'opera di Polibio. Bari : Edipuglia, 2005.
Trouver le texte intégralShevcov, Vyacheslav. Auxiliary historical disciplines : historical Metrology of Russia. ru : INFRA-M Academic Publishing LLC., 2020. http://dx.doi.org/10.12737/1048877.
Texte intégralMalagola, Gianfranco. La metrologia dimensionale per l'industria meccanica : Aspetti teorici e pratici nelle misure di lunghezza per la determinazione delle specifiche geometroche dei prodotti. [Torino] : Augusta-Mortarino, 2004.
Trouver le texte intégralSchodel, Rene. Modern Interferometry for Length Metrology : Exploring Limits and Novel Techniques. Iop Publishing Ltd, 2019.
Trouver le texte intégralSchödel, Professor René, Dr Florian Pollinger et Dr Arnold Nicolaus. Modern Interferometry for Length Metrology : Exploring limits and novel techniques. Institute of Physics Publishing, 2018.
Trouver le texte intégralOlesko, Kathryn M. Physics and Metrology. Sous la direction de Jed Z. Buchwald et Robert Fox. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199696253.013.24.
Texte intégralChapitres de livres sur le sujet "Length metrology"
Flügge, Jens, Stefanie Kroker et Harald Schnatz. « Fundamental Length Metrology ». Dans Handbook of Laser Technology and Applications, 3–22. 2e éd. 2nd edition. | Boca Raton : CRC Press, 2021– | : CRC Press, 2021. http://dx.doi.org/10.1201/9781003130123-2.
Texte intégralHebra, Alexius J. « The measurement of length ». Dans The Physics of Metrology, 1–21. Vienna : Springer Vienna, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-78381-8_1.
Texte intégralNawrocki, Waldemar. « Standards and Measurements of Length ». Dans Introduction to Quantum Metrology, 245–56. Cham : Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-19677-6_10.
Texte intégralNawrocki, Waldemar. « Standards and Measurements of Length ». Dans Introduction to Quantum Metrology, 215–36. Cham : Springer International Publishing, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-15669-9_10.
Texte intégralJiang, Y., Y. Huang et K. Gao. « Optical Atomic Clock and Laser Applications to Length and Time Metrology ». Dans Handbook of Laser Technology and Applications, 157–69. 2e éd. 2nd edition. | Boca Raton : CRC Press, 2021– | : CRC Press, 2021. http://dx.doi.org/10.1201/9781003130123-10.
Texte intégralSoftić, Almira, Hazim Bašić, Samir Lemeš et Nermina Zaimović-Uzunović. « Research of Traceability of Unit of Length in Metrology System of Bosnia and Herzegovina ». Dans Lecture Notes in Mechanical Engineering, 89–97. Cham : Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-18177-2_9.
Texte intégral« Fundamental length metrology ». Dans Handbook of Laser Technology and Applications (Three- Volume Set), 1692–717. CRC Press, 2003. http://dx.doi.org/10.1201/noe0750309608-92.
Texte intégral« Length Measurement ». Dans Introduction to OPTICAL METROLOGY, 367–403. CRC Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1201/9781315215228-14.
Texte intégral« Length Measurement ». Dans Introduction to OPTICAL METROLOGY, 225–44. CRC Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1201/9781315215228-6.
Texte intégralSchödel, René. « Length and Size ». Dans Handbook of Optical Metrology. CRC Press, 2009. http://dx.doi.org/10.1201/9781420019513.ch15.
Texte intégralActes de conférences sur le sujet "Length metrology"
Potzick, James E. « New certified length scale for microfabrication metrology ». Dans Micromachining and Microfabrication '96, sous la direction de Michael T. Postek, Jr. et Craig R. Friedrich. SPIE, 1996. http://dx.doi.org/10.1117/12.250945.
Texte intégralChapman, G. D. « Optical Metrology In Length And Mechanical Standards ». Dans 1986 Quebec Symposium, sous la direction de Chander P. Grover. SPIE, 1986. http://dx.doi.org/10.1117/12.938620.
Texte intégralPi, Jiajing, Li-Zhuan Zhao, Jian-Guo Du et Wei-Guo Shen. « High-precision laser interferometer for length metrology ». Dans Measurement Technology and Intelligent Instruments, sous la direction de Li Zhu. SPIE, 1993. http://dx.doi.org/10.1117/12.156509.
Texte intégralZhao, L. P., N. Bai, X. Li, Z. P. Fang, A. A. Hein et Z. W. Zhong. « Special lenslet array with long focal length range for Shack-Hartmann Wavefront Sensor ». Dans Optical Metrology, sous la direction de Wolfgang Osten, Christophe Gorecki et Erik L. Novak. SPIE, 2007. http://dx.doi.org/10.1117/12.726043.
Texte intégralGrossman, Erich. « Focus-variation microscopy for measurement of surface roughness and autocorrelation length ». Dans SPIE Optical Metrology, sous la direction de Peter Lehmann, Wolfgang Osten et Armando Albertazzi Gonçalves. SPIE, 2017. http://dx.doi.org/10.1117/12.2271863.
Texte intégralAbolhassani, Mohammad. « Evaluation of focal length of a lens using the Lau effect ». Dans SPIE Optical Metrology, sous la direction de Peter Lehmann, Wolfgang Osten et Armando Albertazzi Gonçalves. SPIE, 2015. http://dx.doi.org/10.1117/12.2185088.
Texte intégralMachekhin, Yu P., V. M. Smulakovsky et A. V. Solovyov. « Primary standard of length unit-meter based on the group of He-Ne/I2 lasers ». Dans Optoelectronic Metrology, sous la direction de Jan Owsik et Tomasz Wiecek. SPIE, 1999. http://dx.doi.org/10.1117/12.373745.
Texte intégralDeliyski, Radoslav. « Virtual Measurement System for Length Measurement Based on Visual-Inertial Odometry ». Dans 2020 XXX International Scientific Symposium 'Metrology and Metrology Assurance (MMA). IEEE, 2020. http://dx.doi.org/10.1109/mma49863.2020.9254258.
Texte intégralJin, Jonghan, Young-Jin Kim, Yunseok Kim, Sangwon Hyun et Seung-Woo Kim. « Precision Length Metrology based on Optical Frequency Synthesizer ». Dans 2007 Conference on Lasers and Electro-Optics - Pacific Rim. IEEE, 2007. http://dx.doi.org/10.1109/cleopr.2007.4391293.
Texte intégralMinoshima, Kaoru, et Hajime Inaba. « Precision Length Metrology using Fiber-Based Frequency Combs ». Dans Optical Sensors. Washington, D.C. : OSA, 2010. http://dx.doi.org/10.1364/sensors.2010.stub1.
Texte intégral