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Oettinger, Frank F. Thermal resistance measurements. Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, 1990.
Trouver le texte intégralOettinger, Frank F. Thermal resistance measurements. Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, 1990.
Trouver le texte intégralWiesław, Marciniak, et Przewłocki Henryk M, dir. Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production. Singapore : World Scientific, 1991.
Trouver le texte intégralMagrab, Edward B. Computer integrated experimentation. Berlin : Springer-Verlag, 1991.
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Trouver le texte intégralCorporation, Psychological, dir. Integrated assessment system. : Swinging. San Antonio, Tex : Psychological Corporation, 1992.
Trouver le texte intégralAltet, Josep. Thermal Testing of Integrated Circuits. Boston, MA : Springer US, 2002.
Trouver le texte intégralMagrab, Edward B. Computer Integrated Experimentation. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1991.
Trouver le texte intégralHoy, Bennett Marylyn, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers., Semiconductor Equipment and Materials International. et SPIE Symposium on Microlithography (1994 : San Jose, Calif.), dir. Integrated circuit metrology, inspection, and process control VIII : 28 February-2 March, San Jose, California. Bellingham, Wash., USA : SPIE, 1994.
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Trouver le texte intégralCorporation, Psychological, dir. Integrated assessment system. : Paper clips. San Antonio, Tex : Psychological Corporation, 1992.
Trouver le texte intégralCorporation, Psychological, dir. Integrated assessment system. : Roller coasters. San Antonio, Tex : Psychological Corporation, 1992.
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Trouver le texte intégralCorporation, Psychological, dir. Integrated assessment system. : Clean water. San Antonio, Tex : Psychological Corp., 1992.
Trouver le texte intégralCorporation, Psychological, dir. Integrated assessment system. : Spinning tops. San Antonio, Tex : Psychological Corporation, 1992.
Trouver le texte intégralCorporation, Psychological, dir. Integrated assessment system. : Send it flying. San Antonio, Tex : Psychological Corporation, 1992.
Trouver le texte intégralCorporation, Psychological, dir. Integrated assessment system. : Animals of long ago. San Antonio, Tex : Psychological Corporation, 1992.
Trouver le texte intégralHoy, Bennett Marylyn, Society of Photo-optical Instrumentation Engineers. et Semiconductor Equipment and Materials International., dir. Integrated circuit metrology, inspection, and process control IX : 20-22 February 1995, Santa Clara, California. Bellingham, Wash., USA : SPIE, 1995.
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Trouver le texte intégralEurope, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik et SPIE (Society), dir. Modeling aspects in optical metrology II : 15-16 June 2009, Munich, Germany. Bellingham, Wash : SPIE, 2009.
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Trouver le texte intégralDickey, Donyall D. The integrated approach to student achievement : A results-driven model for improving performance, leadership, and the culture of instruction at your school. Highlands, TX : aha Process, Inc., 2010.
Trouver le texte intégralVezzetti, Carol F. Antireflecting-chromium linewidth standard, SRM 475, for calibration of optical microscope linewidth measuring systems. Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, 1992.
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Trouver le texte intégralPeters, Norman E. Hydrologic data from the Integrated-Lake Watershed Acidification Study in the west-central Adirondack Mountains, New York, October 1977 through January 1982. Denver, Colo : U.S. Dept. of the Interior, U.S. Geological Survey, 1987.
Trouver le texte intégralS, Murdoch Peter, Dalton Frank N, University of Virginia et Geological Survey (U.S.), dir. Hydrologic data from the Integrated-Lake Watershed Acidification Study in the west-central Adirondack Mountains, New York, October 1977 through January 1982. Denver, Colo : U.S. Dept. of the Interior, U.S. Geological Survey, 1987.
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Trouver le texte intégralHouse, Frederick Bishop. Final report entitled Comparison of long-wave and shortwave irradiances at satellite altitude with integrated scanner measurements using the nimbus 7 ERB data set. [Washington, D.C : National Aeronautics and Space Administration, 1986.
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Trouver le texte intégralDartman, Torbjo rn. Procams integrated ego-meter system : The computer system : computerised garment distribution system for taking individual measurements of customers in shops connected on-line to garment manufacturing factories. [Go teborg?] : Chalmers Teknicka Ho gakda, 1987.
Trouver le texte intégralIEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (1997 Monterey, Calif.). 1997 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures proceedings : March 17-20, 1997, Monterey, California. Piscataway, NJ : IEEE Service Center, 1997.
Trouver le texte intégralPiziali, Andrew. Functional verification coverage measurement and analysis. Boston : Kluwer Academic Publishers, 2004.
Trouver le texte intégralPiziali, Andrew. Functional verification coverage measurement and analysis. Boston : Kluwer Academic Publishers, 2004.
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