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Feuer, Helmut, Lothar Schröpfer, Hartmut Fuess et David A. Jefferson. « High resolution transmission electron microscope study of exsolution in synthetic pigeonite ». European Journal of Mineralogy 1, no 4 (31 août 1989) : 507–16. http://dx.doi.org/10.1127/ejm/1/4/0507.
Texte intégralKersker, M., C. Nielsen, H. Otsuji, T. Miyokawa et S. Nakagawa. « The JSM-890 ultra high resolution Scanning Electron Microscope ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6 août 1989) : 88–89. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100152410.
Texte intégralMöller, Lars, Gudrun Holland et Michael Laue. « Diagnostic Electron Microscopy of Viruses With Low-voltage Electron Microscopes ». Journal of Histochemistry & ; Cytochemistry 68, no 6 (21 mai 2020) : 389–402. http://dx.doi.org/10.1369/0022155420929438.
Texte intégralGibson, J. M. « High Resolution Transmission Electron Microscopy ». MRS Bulletin 16, no 3 (mars 1991) : 27–33. http://dx.doi.org/10.1557/s0883769400057377.
Texte intégralGamm, Björn, Holger Blank, Radian Popescu, Reinhard Schneider, André Beyer, Armin Gölzhäuser et Dagmar Gerthsen. « Quantitative High-Resolution Transmission Electron Microscopy of Single Atoms ». Microscopy and Microanalysis 18, no 1 (12 décembre 2011) : 212–17. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927611012232.
Texte intégralSharma, Renu, Karl Weiss, Michael McKelvy et William Glaunsinger. « Gas reaction chamber for gas-solid interaction studies by high-resolution TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994) : 494–95. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100170207.
Texte intégralO'Keefe, Michael A., John H. Turner, John A. Musante, Crispin J. D. Hetherington, A. G. Cullis, Bridget Carragher, Ron Jenkins et al. « Laboratory Design for High-Performance Electron Microscopy ». Microscopy Today 12, no 3 (mai 2004) : 8–17. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500052093.
Texte intégralTonomura, Akira. « 1-MV Field-Emission Transmission Electron Microscope ». Microscopy and Microanalysis 7, S2 (août 2001) : 918–19. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760003066x.
Texte intégralHiguchi, Tomohiro, Boping Liu, Hisayuki Nakatani, Nobuo Otsuka et Minoru Terano. « High resolution transmission electron microscope observation of α-TiCl3 ». Applied Surface Science 214, no 1-4 (mai 2003) : 272–77. http://dx.doi.org/10.1016/s0169-4332(03)00517-8.
Texte intégralSchatten, G., J. Pawley et H. Ris. « Integrated microscopy resource for biomedical research at the university of wisconsin at madison ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (août 1987) : 594–97. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100127451.
Texte intégralO'Keefe, Michael A. « Letter to the Editor : Image Formation in the High-Resolution Transmission Electron Microscope ». Microscopy and Microanalysis 10, no 4 (août 2004) : 397–99. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927604211059.
Texte intégralO'Keefe, Michael A. « The Optimum CS Condition for High-Resolution Transmission Electron Microscopy ». Microscopy and Microanalysis 6, S2 (août 2000) : 1036–37. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600037673.
Texte intégralTAKAYANAGI, KUNIO, YOSHITAKA NAITOH, YOSHIFUMI OSHIMA et MASANORI MITOME. « SURFACE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY ON STRUCTURES WITH TRUNCATION ». Surface Review and Letters 04, no 04 (août 1997) : 687–94. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x97000687.
Texte intégralSchneider, G. « High Resolution X-ray Microscopy of Frozen Hydrated Samples ». Microscopy and Microanalysis 4, S2 (juillet 1998) : 350–51. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600021875.
Texte intégralNagatani, T. « High-resolution scanning electron microscopy ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (août 1987) : 530–33. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100127244.
Texte intégralO’Keefe, Michael A. « Alpha-Null Defocus : an Optimum Defocus Condition with Relevance for Focal-Series Reconstruction ». Microscopy and Microanalysis 7, S2 (août 2001) : 916–17. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030658.
Texte intégralIshikawa, Ryo, Yu Jimbo, Mitsuhisa Terao, Masashi Nishikawa, Yujiro Ueno, Shigeyuki Morishita, Masaki Mukai, Naoya Shibata et Yuichi Ikuhara. « High spatiotemporal-resolution imaging in the scanning transmission electron microscope ». Microscopy 69, no 4 (3 avril 2020) : 240–47. http://dx.doi.org/10.1093/jmicro/dfaa017.
Texte intégralMartone, Maryann E. « Bridging the Resolution Gap : Correlated 3D Light and Electron Microscopic Analysis of Large Biological Structures ». Microscopy and Microanalysis 5, S2 (août 1999) : 526–27. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600015956.
Texte intégralWells, Oliver C., et P. C. Cheng. « High-resolution backscattered electron images in the scanning electron microscope ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, no 2 (août 1992) : 1608–9. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100132674.
Texte intégralLentzen, M., B. Jahnen, C. L. Jia et K. Urban. « High-Resolution Imaging with an Aberration-Corrected Transmission Electron Micrscope ». Microscopy and Microanalysis 7, S2 (août 2001) : 904–5. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030592.
Texte intégralLentzen, M., B. Jahnen, C. L. Jia, A. Thust, K. Tillmann et K. Urban. « High-resolution imaging with an aberration-corrected transmission electron microscope ». Ultramicroscopy 92, no 3-4 (août 2002) : 233–42. http://dx.doi.org/10.1016/s0304-3991(02)00139-0.
Texte intégralMitome, Masanori, Yoshio Bando, Dmitri Golberg, Keiji Kurashima, Yoshihiro Okura, Toshikatsu Kaneyama, Mikio Naruse et Yoshiaki Honda. « Nanoanalysis by a high-resolution energy filtering transmission electron microscope ». Microscopy Research and Technique 63, no 3 (2004) : 140–48. http://dx.doi.org/10.1002/jemt.20025.
Texte intégralPonce, F. A., S. Suzuki, H. Kobayashi, Y. Ishibashi, Y. Ishida et T. Eto. « Ultra-high-vacuum, high-resolution Transmission Electron Microscopy at 400 kV ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 44 (août 1986) : 606–9. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100144498.
Texte intégralTakayanagi, Kunio. « High-Resolution UHV Electron Microscopy of Reconstructed and Adsorbed Surfaces ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 1 (12 août 1990) : 298–99. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100180240.
Texte intégralGoode, Angela E., Alexandra E. Porter, Mary P. Ryan et David W. McComb. « Correlative electron and X-ray microscopy : probing chemistry and bonding with high spatial resolution ». Nanoscale 7, no 5 (2015) : 1534–48. http://dx.doi.org/10.1039/c4nr05922k.
Texte intégralZhang, Zhen, Man Ping Liu, Ying Da Yu, Pål C. Skaret et Hans Jørgen Roven. « Microstructural Characterization of an Al-Mg-Si Aluminum Alloy Processed by Equal Channel Angular Pressing ». Materials Science Forum 745-746 (février 2013) : 303–8. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.745-746.303.
Texte intégralCosandey, F. « High Spatial Resolution EBSD Study of Nanosized Epitaxial Particles ». Microscopy and Microanalysis 3, S2 (août 1997) : 559–60. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600009685.
Texte intégralvan der Krift, Theo, Ulrike Ziese, Willie Geerts et Bram Koster. « Computer-Controlled Transmission Electron Microscopy : Automated Tomography ». Microscopy and Microanalysis 7, S2 (août 2001) : 968–69. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030919.
Texte intégralMori, Hideharu, Tomohiro Higuchi, Nobuo Otsuka et Minoru Terano. « High resolution transmission electron microscope observation of industrial high performance Ziegler catalysts ». Macromolecular Chemistry and Physics 201, no 18 (1 décembre 2000) : 2789–98. http://dx.doi.org/10.1002/1521-3935(20001201)201:18<2789 ::aid-macp2789>3.0.co;2-i.
Texte intégralPonce, F. A., et M. A. O'Keefe. « Achieving atomic resolution in the Transmission Electron Microscope ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 44 (août 1986) : 522–25. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100144127.
Texte intégralCarmichael, Stephen W. « Sub-Ångstrom Resolution ». Microscopy Today 11, no 6 (décembre 2003) : 3–7. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500053372.
Texte intégralIshizuka, Kazuo. « New form of Transmission Cross Coefficient for High-Resolution Imaging ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 1 (12 août 1990) : 60–61. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100179051.
Texte intégralZaluzec, Nestor J. « The Scanning Confocal Electron Microscope ». Microscopy Today 11, no 6 (décembre 2003) : 8–13. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500053384.
Texte intégralXin, Yan, John Kynoch, Ke Han, Zhiyong Liang, Peter J. Lee, David C. Larbalestier, Yi-Feng Su, Kohei Nagahata, Toshihiro Aoki et Paolo Longo. « Facility Implementation and Comparative Performance Evaluation of Probe-Corrected TEM/STEM with Schottky and Cold Field Emission Illumination ». Microscopy and Microanalysis 19, no 2 (5 mars 2013) : 487–95. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927612014298.
Texte intégralScheinfein, M. R., J. S. Drucker et J. K. Weiss. « The origins of high-resolution secondary-electron microscopy ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (1 août 1993) : 766–67. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100149660.
Texte intégralYoung, Richard, Todd Templeton, Laurent Roussel, Ingo Gestmann, Gerard van Veen, Trevor Dingle et Sander Henstra. « Extreme High-Resolution SEM : A Paradigm Shift ». Microscopy Today 16, no 4 (juillet 2008) : 24–29. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500059745.
Texte intégralShimojo, Masayuki, Kazutaka Mitsuishi, M. Tanaka, M. Song et Kazuo Furuya. « Electron Beam-Induced Nano-Deposition Using a Transmission Electron Microscope ». Materials Science Forum 480-481 (mars 2005) : 129–32. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.480-481.129.
Texte intégralMacLaren, Ian, Magnus Nord, Chengge Jiao et Emrah Yücelen. « Liftout of High-Quality Thin Sections of a Perovskite Oxide Thin Film Using a Xenon Plasma Focused Ion Beam Microscope ». Microscopy and Microanalysis 25, no 1 (30 janvier 2019) : 115–18. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927618016239.
Texte intégralSinclair, Robert. « In situ High-Resolution Electron Microscopy ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6 août 1989) : 638–39. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100155165.
Texte intégralVanderlinde, William. « Breaking the Resolution Barrier in the Scanning Electron Microscope ». Microscopy Today 16, no 6 (novembre 2008) : 28–35. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500062350.
Texte intégralDeRose, J. A., et J. P. Revel. « Examination of Atomic (Scanning) Force Microscopy Probe Tips with the Transmission Electron Microscope ». Microscopy and Microanalysis 3, no 3 (mai 1997) : 203–13. http://dx.doi.org/10.1017/s143192769797015x.
Texte intégralBleeker, Arno J., et J. Murray Gibson. « Objective-lens design for high resolution ultra high vacuum EM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, no 1 (août 1992) : 292–93. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100121867.
Texte intégralSmith, David J., M. Gajdardziska-Josifovska et M. R. McCartney. « Surface studies with a UHV-TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, no 1 (août 1992) : 326–27. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100122034.
Texte intégralHowe, J. M. « Quantitative in situ hot-stage high-resolution Transmission Electron Microscopy ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994) : 758–59. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100171523.
Texte intégralBentley, J., N. D. Evans et E. A. Kenik. « Measurement of Scanning Electron Microscope resolution ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994) : 1044–45. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100172954.
Texte intégralChapman, J. N. « High resolution imaging of magnetic structures in the transmission electron microscope ». Materials Science and Engineering : B 3, no 4 (septembre 1989) : 355–58. http://dx.doi.org/10.1016/0921-5107(89)90140-2.
Texte intégralKuramochi, K., T. Yamazaki, N. Nakanishi, I. Hashimoto et K. Watanabe. « Shape effect of microtwins on high-resolution transmission electron microscope images ». physica status solidi (a) 205, no 7 (26 mai 2008) : 1602–5. http://dx.doi.org/10.1002/pssa.200723491.
Texte intégralMorishita, Shigeyuki, Ryo Ishikawa, Yuji Kohno, Hidetaka Sawada, Naoya Shibata et Yuichi Ikuhara. « Attainment of 40.5 pm spatial resolution using 300 kV scanning transmission electron microscope equipped with fifth-order aberration corrector ». Microscopy 67, no 1 (22 décembre 2017) : 46–50. http://dx.doi.org/10.1093/jmicro/dfx122.
Texte intégralNguyen, Thao A., Linn W. Hobbs et Peter R. Buseck. « High-Resolution Observation of Twinning in Fe1-XS Crystals ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 43 (août 1985) : 224–25. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100118047.
Texte intégralGnauck, Peter, Claus Burkhardt, Erich Plies et Wilfried Nisch. « In-Situ Ion Milling in the Transmission Electron Microscope (TEM) Outlook to a New Preparation Technique ». Microscopy and Microanalysis 7, S2 (août 2001) : 932–33. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600030737.
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