Livres sur le sujet « HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTON MICROSCOPE »
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Peter, Buseck, Cowley J. M. 1923- et Eyring LeRoy, dir. High-resolution transmission electron microscopy and associated techniques. New York : Oxford University Press, 1988.
Trouver le texte intégralExperimental high-resolution electron microscopy. 2e éd. New York : Oxford University Press, 1988.
Trouver le texte intégralInc, ebrary, dir. High-resolution electron microscopy. New York : Oxford University Press, 2009.
Trouver le texte intégralHoriuchi, S. Fundamentals of high-resolution transmission electron microscopy. Amsterdam : North-Holland, 1994.
Trouver le texte intégralManfred, Rühle, et Ernst F. 1938-, dir. High-resolution imaging and spectrometry of materials. Berlin : Springer, 2003.
Trouver le texte intégralManfred, Rühle, et Ernst F. 1938-, dir. High-resolution imaging and spectrometry of materials. Berlin : Springer, 2003.
Trouver le texte intégralStructure analysis of advanced nanomaterials : Nanoworld by high-resolution electron microscopy. Berlin : De Gruyter, 2014.
Trouver le texte intégralTitchmarsh, J. M., C. M. Shepherd et I. A. Vatter. The Measurement of Chemical Composition with High Spatial Resolution Using a Dedicated Scanning Transmission Electron Microscope. AEA Technology Plc, 1987.
Trouver le texte intégral(Editor), Peter Buseck, John Cowley (Editor) et LeRoy Eyring (Editor), dir. High-Resolution Transmission Electron Microscopy : And Associated Techniques. Oxford University Press, USA, 1989.
Trouver le texte intégralSpence, John C. H. High-Resolution Electron Microscopy. Oxford University Press, 2008.
Trouver le texte intégralSpence, John C. H. High-Resolution Electron Microscopy. Oxford University Press, 2013.
Trouver le texte intégralSpence, John C. H. High-Resolution Electron Microscopy. Oxford University Press, 2013.
Trouver le texte intégralSpence, John C. H. High-Resolution Electron Microscopy. Oxford University Press, 2017.
Trouver le texte intégralVang, R. T., S. Wendt et F. Besenbacher. Nanocatalysis. Sous la direction de A. V. Narlikar et Y. Y. Fu. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199533060.013.12.
Texte intégralHigh-Resolution Transmission Electron Microscopy : And Associated Techniques. Oxford University Press, USA, 1992.
Trouver le texte intégralBuseck, Peter, LeRoy Eyring et John Cowley. High-Resolution Transmission Electron Microscopy : And Associated Techniques. Oxford University Press, 1988.
Trouver le texte intégral(Editor), Frank Ernst, et Manfred Rühle (Editor), dir. High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials (Springer Series in Materials Science). Springer, 2003.
Trouver le texte intégralCollins, Philip G. Defects and disorder in carbon nanotubes. Sous la direction de A. V. Narlikar et Y. Y. Fu. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199533053.013.2.
Texte intégralBi, J. F., et K. L. Teo. Nanoscale Ge1−xMnxTe ferromagnetic semiconductors. Sous la direction de A. V. Narlikar et Y. Y. Fu. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199533053.013.17.
Texte intégral