Littérature scientifique sur le sujet « HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTON MICROSCOPE »
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Articles de revues sur le sujet "HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTON MICROSCOPE"
Feuer, Helmut, Lothar Schröpfer, Hartmut Fuess et David A. Jefferson. « High resolution transmission electron microscope study of exsolution in synthetic pigeonite ». European Journal of Mineralogy 1, no 4 (31 août 1989) : 507–16. http://dx.doi.org/10.1127/ejm/1/4/0507.
Texte intégralKersker, M., C. Nielsen, H. Otsuji, T. Miyokawa et S. Nakagawa. « The JSM-890 ultra high resolution Scanning Electron Microscope ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6 août 1989) : 88–89. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100152410.
Texte intégralMöller, Lars, Gudrun Holland et Michael Laue. « Diagnostic Electron Microscopy of Viruses With Low-voltage Electron Microscopes ». Journal of Histochemistry & ; Cytochemistry 68, no 6 (21 mai 2020) : 389–402. http://dx.doi.org/10.1369/0022155420929438.
Texte intégralGibson, J. M. « High Resolution Transmission Electron Microscopy ». MRS Bulletin 16, no 3 (mars 1991) : 27–33. http://dx.doi.org/10.1557/s0883769400057377.
Texte intégralGamm, Björn, Holger Blank, Radian Popescu, Reinhard Schneider, André Beyer, Armin Gölzhäuser et Dagmar Gerthsen. « Quantitative High-Resolution Transmission Electron Microscopy of Single Atoms ». Microscopy and Microanalysis 18, no 1 (12 décembre 2011) : 212–17. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927611012232.
Texte intégralSharma, Renu, Karl Weiss, Michael McKelvy et William Glaunsinger. « Gas reaction chamber for gas-solid interaction studies by high-resolution TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994) : 494–95. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100170207.
Texte intégralO'Keefe, Michael A., John H. Turner, John A. Musante, Crispin J. D. Hetherington, A. G. Cullis, Bridget Carragher, Ron Jenkins et al. « Laboratory Design for High-Performance Electron Microscopy ». Microscopy Today 12, no 3 (mai 2004) : 8–17. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500052093.
Texte intégralTonomura, Akira. « 1-MV Field-Emission Transmission Electron Microscope ». Microscopy and Microanalysis 7, S2 (août 2001) : 918–19. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760003066x.
Texte intégralHiguchi, Tomohiro, Boping Liu, Hisayuki Nakatani, Nobuo Otsuka et Minoru Terano. « High resolution transmission electron microscope observation of α-TiCl3 ». Applied Surface Science 214, no 1-4 (mai 2003) : 272–77. http://dx.doi.org/10.1016/s0169-4332(03)00517-8.
Texte intégralSchatten, G., J. Pawley et H. Ris. « Integrated microscopy resource for biomedical research at the university of wisconsin at madison ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (août 1987) : 594–97. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100127451.
Texte intégralThèses sur le sujet "HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTON MICROSCOPE"
Chand, Gopal. « Aberration determination and compensation in high resolution transmission electron microscopy ». Thesis, University of Cambridge, 1995. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.362968.
Texte intégralPRAVEEN. « STUDY OF THIN FILM AND BULK SEMICONDUCTING MATERIALS FOR INTERFACE STRUCTURE AND OTHER PROPERTIES ». Thesis, DELHI TECHNOLOGICAL UNIVERSITY, 2021. http://dspace.dtu.ac.in:8080/jspui/handle/repository/18645.
Texte intégralAlexander, Jessica Anne. « High-Resolution Electron Energy-Loss Spectroscopy of Beam-Sensitive Functional Materials ». The Ohio State University, 2018. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=osu1531309653616002.
Texte intégralKawasaki, T., K. Ueda, H. Tanaka, T. Tanji et M. Ichihashi. « In-situ Observation of Gold Nano-particle Catalysts by High-Resolution Closed-type Environmental-Cell Transmission Electron Microscope ». Cambridge University Press, 2007. http://hdl.handle.net/2237/10509.
Texte intégralTao, Shizhong. « High-resolution transmission electron microscopy of copper-oxide compounds / ». [S.l.] : [s.n.], 1994. http://e-collection.ethbib.ethz.ch/show?type=diss&nr=10775.
Texte intégralKong, Lisa (Lisa Fanzhen). « High-resolution transmission electron microscopy of III-V FinFETs ». Thesis, Massachusetts Institute of Technology, 2018. http://hdl.handle.net/1721.1/119065.
Texte intégralCataloged from PDF version of thesis.
Includes bibliographical references (pages 47-50).
III-V materials have great potential for integration into future complementary metal-oxide-semiconductor technology due to their outstanding electron transport properties. InGaAs n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors have already demonstrated promising characteristics, and the antimonide material system is emerging as a candidate for p-channel devices. As transistor technology scales down to the sub-10-nm regime, only devices with a 3D configuration can deliver the necessary performance. III-V fin field-effect transistors (finFETs) have displayed impressive characteristics but have shown degradation in performance as the fin width is scaled to the sub-10-nm regime. In this work, we use high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) in an effort to understand how interfacial properties between the channel and high-k dielectric affect device performance. At the interface between the channel material, such as InGaSb or InGaAs, and the high-k gate dielectric, properties of interest include defect density, interdiffusion between the semiconductor and dielectric, and roughness of the dielectric - semiconductor interface. Using HRTEM, we can directly study this interface and try to understand how it is affected by different processing conditions and its correlation with device characteristics. In this thesis, we have analyzed both InGaAs and InGaSb finFETs with state-of-the-art fin widths. Analysis of TEM images was combined with electrical data to correlate interfacial properties with device performance. We compared the materials properties of InGaAs and InGaSb and also explored the impact of processing steps on interfacial properties.
by Lisa Kong.
S.B.
Pierce, William Renton. « High-resolution transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy of doped nanocarbons ». Thesis, University of Manchester, 2014. https://www.research.manchester.ac.uk/portal/en/theses/highresolution-transmission-electron-microscopy-and-electron-energy-loss-spectroscopy-of-doped-nanocarbons(dd1340ba-4a31-49e5-a421-9dd47ea35256).html.
Texte intégralLandauer, Matthew Noah. « Indirect modes of coherent imaging in high-resolution transmission electron microscopy ». Thesis, University of Cambridge, 1996. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.627491.
Texte intégralHaibo, E. « Quantitative analysis of core-shell nanoparticle catalysts by scanning transmission electron microscopy ». Thesis, University of Oxford, 2013. http://ora.ox.ac.uk/objects/uuid:19c3b989-0ffb-487f-8cb3-f6e9dea83e63.
Texte intégralGilkes, Kai William Reginald. « Tetrahedral carbon : studies using high resolution transmission electron microscopy and neutron scattering ». Thesis, University of Cambridge, 1992. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.281952.
Texte intégralLivres sur le sujet "HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTON MICROSCOPE"
Peter, Buseck, Cowley J. M. 1923- et Eyring LeRoy, dir. High-resolution transmission electron microscopy and associated techniques. New York : Oxford University Press, 1988.
Trouver le texte intégralExperimental high-resolution electron microscopy. 2e éd. New York : Oxford University Press, 1988.
Trouver le texte intégralInc, ebrary, dir. High-resolution electron microscopy. New York : Oxford University Press, 2009.
Trouver le texte intégralHoriuchi, S. Fundamentals of high-resolution transmission electron microscopy. Amsterdam : North-Holland, 1994.
Trouver le texte intégralManfred, Rühle, et Ernst F. 1938-, dir. High-resolution imaging and spectrometry of materials. Berlin : Springer, 2003.
Trouver le texte intégralManfred, Rühle, et Ernst F. 1938-, dir. High-resolution imaging and spectrometry of materials. Berlin : Springer, 2003.
Trouver le texte intégralStructure analysis of advanced nanomaterials : Nanoworld by high-resolution electron microscopy. Berlin : De Gruyter, 2014.
Trouver le texte intégralTitchmarsh, J. M., C. M. Shepherd et I. A. Vatter. The Measurement of Chemical Composition with High Spatial Resolution Using a Dedicated Scanning Transmission Electron Microscope. AEA Technology Plc, 1987.
Trouver le texte intégral(Editor), Peter Buseck, John Cowley (Editor) et LeRoy Eyring (Editor), dir. High-Resolution Transmission Electron Microscopy : And Associated Techniques. Oxford University Press, USA, 1989.
Trouver le texte intégralSpence, John C. H. High-Resolution Electron Microscopy. Oxford University Press, 2008.
Trouver le texte intégralChapitres de livres sur le sujet "HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTON MICROSCOPE"
Howe, J. M. « Characterization of Heterophase Transformation Interfaces by High-Resolution Transmission Electron Microscope Techniques ». Dans Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research, 63–108. Dordrecht : Springer Netherlands, 1999. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-011-4451-3_4.
Texte intégralAkatsu, Hiroyuki, Yasuyuki Sumi et Iwao Ohdomari. « High-Resolution Transmission Electron Microscope Image of the SiO2/(001)Si Interface ». Dans The Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface 2, 247–56. Boston, MA : Springer US, 1993. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4899-1588-7_26.
Texte intégralWilliams, David B., et C. Barry Carter. « High-Resolution TEM ». Dans Transmission Electron Microscopy, 483–509. Boston, MA : Springer US, 2009. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76501-3_28.
Texte intégralWilliams, David B., et C. Barry Carter. « High-Resolution TEM ». Dans Transmission Electron Microscopy, 457–82. Boston, MA : Springer US, 1996. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-2519-3_28.
Texte intégralDimitrijev, Sima, Jisheng Han et Jin Zou. « Investigation of SiO2-SiC Interface by High-Resolution Transmission Electron Microscope ». Dans Silicon Carbide and Related Materials 2005, 975–78. Stafa : Trans Tech Publications Ltd., 2006. http://dx.doi.org/10.4028/0-87849-425-1.975.
Texte intégralWilliams, David B., et C. Barry Carter. « Lenses, Apertures, and Resolution ». Dans Transmission Electron Microscopy, 91–114. Boston, MA : Springer US, 2009. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76501-3_6.
Texte intégralWilliams, David B., et C. Barry Carter. « Lenses, Apertures, and Resolution ». Dans Transmission Electron Microscopy, 85–104. Boston, MA : Springer US, 1996. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-2519-3_6.
Texte intégralKohler-Redlich, P., et J. Mayer. « Quantitative Analytical Transmission Electron Microscopy ». Dans High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials, 119–87. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2003. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-07766-5_4.
Texte intégralWilliams, David B., et C. Barry Carter. « Spatial Resolution and Minimum Detection ». Dans Transmission Electron Microscopy, 663–77. Boston, MA : Springer US, 2009. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76501-3_36.
Texte intégralWilliams, David B., et C. Barry Carter. « Spatial Resolution and Minimum Detectability ». Dans Transmission Electron Microscopy, 621–35. Boston, MA : Springer US, 1996. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-2519-3_36.
Texte intégralActes de conférences sur le sujet "HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTON MICROSCOPE"
Young, Richard J., Michael P. Bernas, Mary V. Moore, Young-Chung Wang, Jay P. Jordan, Ruud Schampers et Ian van Hees. « In-Situ Sample Preparation and High-Resolution SEM-STEM Analysis ». Dans ISTFA 2004. ASM International, 2004. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2004p0331.
Texte intégralEyring, LeRoy. « High-Resolution Transmission Electron Microscopy of Thin Films ». Dans Optical Interference Coatings. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 1988. http://dx.doi.org/10.1364/oic.1988.tua1.
Texte intégralVanderlinde, William E. « STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) in a SEM (Scanning Electron Microscope) for Failure Analysis and Metrology ». Dans ISTFA 2002. ASM International, 2002. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2002p0077.
Texte intégralThompson, William B., John Notte, Larry Scipioni, Mohan Ananth, Lewis Stern, Colin Sanford et Shinichi Ogawa. « The Helium Ion Microscope for High Resolution Imaging, Materials Analysis, Circuit Edit and FA Applications ». Dans ISTFA 2009. ASM International, 2009. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2009p0339.
Texte intégralCoyne, Edward. « A Working Method for Adapting the (SEM) Scanning Electron Microscope to Produce (STEM) Scanning Transmission Electron Microscope Images ». Dans ISTFA 2002. ASM International, 2002. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2002p0093.
Texte intégralWang, Wen-Sheng, Chia Ho et Tien-Ming Chuang. « Formation of high-performance PtSi/p-Si Schottky barrier detector using high-resolution transmission electron microscope ». Dans Asia Pacific Symposium on Optoelectronics '98, sous la direction de Marek Osinski et Yan-Kuin Su. SPIE, 1998. http://dx.doi.org/10.1117/12.311006.
Texte intégralJi, Hongjun, Mingyu Li, Younggak Kweon, Woongseong Chang et Chunqing Wang. « Observation of Ultrasonic Al-Si Wire Wedge Bond Interface Using High Resolution Transmission Electron Microscope ». Dans 2007 8th International Conference on Electronic Packaging Technology. IEEE, 2007. http://dx.doi.org/10.1109/icept.2007.4441433.
Texte intégralWang, Yafei, Songyan Hu, Guangxu Cheng, Zaoxiao Zhang et Jianxiao Zhang. « Influence of Quenching-Tempering on the Carbide Precipitation of 2.25Cr-1Mo-0.25V Steel Used in Reactor Pressure Vessels ». Dans ASME 2019 Pressure Vessels & Piping Conference. American Society of Mechanical Engineers, 2019. http://dx.doi.org/10.1115/pvp2019-93054.
Texte intégralHubbard, William A., Ho Leung Chan et B. C. Regan. « High-Resolution Conductivity Mapping with STEM EBIC ». Dans ISTFA 2022. ASM International, 2022. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2022p0251.
Texte intégralRarback, Harvey, Christopher Jacobsen, John Kenney, Janos Kirz et Roy Rosser. « X-ray microscopy with synchrotron radiation ». Dans OSA Annual Meeting. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 1985. http://dx.doi.org/10.1364/oam.1985.wl1.
Texte intégralRapports d'organisations sur le sujet "HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTON MICROSCOPE"
Aksay, Ilhan A., et Mehmet Sarikaya. Acquisition of a High Voltage/High resolution Transmission Electron Microscope. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, août 1988. http://dx.doi.org/10.21236/ada200794.
Texte intégralPennycook, S. J., et A. R. Lupini. Image Resolution in Scanning Transmission Electron Microscopy. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), juin 2008. http://dx.doi.org/10.2172/939888.
Texte intégralRuben, G. C. High resolution transmission electron microscopy of melamine-formaldehyde aerogels and silica aerogels. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), septembre 1991. http://dx.doi.org/10.2172/6186167.
Texte intégralMarra, J. C., N. E. Bibler, J. R. Harbour et M. H. Tosten. Transmission electron microscopy of simulated DWPF high level nuclear waste glasses following gamma irradiation. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), avril 1994. http://dx.doi.org/10.2172/10142979.
Texte intégral