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Joy, David C. « Microanalysis with a 200keV FEG TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (août 1991) : 700–701. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100087811.
Texte intégralBrock, Judith M., Max T. Otten et Marc J. C. de Jong. « Performance and applications of a field-emission gun TEM/STEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, no 2 (août 1992) : 942–43. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100129346.
Texte intégralTomita, T., S. Katoh, H. Kitajima, Y. Kokubo et Y. Ishida. « Development of Field-Emission Gun for High-Voltage Electron Microscope ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 2 (12 août 1990) : 94–95. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100134065.
Texte intégralMul, P. M., B. J. M. Bormans et L. Schaap. « Design of a Field-Emission Gun for the Phillips CM20/STEM microscope ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 2 (12 août 1990) : 100–101. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100134090.
Texte intégralMurakoshi, H., M. Ichihashi, T. Komoda, S. Isakozawa et T. Kubo. « Field-emission gun and illuminating lens system for 200kV FE-TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6 août 1989) : 110–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100152525.
Texte intégralOlson, N. H., U. Lücken, S. B. Walker, M. T. Otten et T. S. Baker. « Cryoelectron microscopy and image reconstruction of spherical viruses with spot scan and FEG technologies ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13 août 1995) : 1086–87. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100141809.
Texte intégralOhi, M., K. Harasawa, T. Niikura, H. Okazaki, Y. Ishimori, T. Miyokawa et S. Nakagawa. « Development of a New Digital Fe SEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 1 (12 août 1990) : 432–33. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100180914.
Texte intégralTroyon, Michel, et He Ning Lei. « Electron Trajectories Calculations of an Energy - Filtering Field-Emission Gun ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 1 (12 août 1990) : 192–93. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100179713.
Texte intégralKaneyama, T., M. Kawasaki, T. Tomita, T. Honda et M. Kersker. « The information limit of a 200kv field emission TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13 août 1995) : 586–87. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100139305.
Texte intégralCoened, W. M. J., A. J. E. M. Janssend, M. Op de Beeck, D. Van Dyck, E. J. Van Zwet et H. W. Zandbergen. « Focus-variation image reconstruction in field-emission TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (1 août 1993) : 1070–71. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100151180.
Texte intégralNeves, F., A. Cunha, I. Martins, J. B. Correia, M. Oliveira et E. Gaffet. « Ni4Ti3 Precipitation during Ageing of MARES NiTi Shape Memory Alloys Studied by FEG-SEM ». Microscopy and Microanalysis 14, S3 (septembre 2008) : 13–16. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927608089241.
Texte intégralHombourger, C., et M. Outrequin. « Quantitative Analysis and High-Resolution X-ray Mapping with a Field Emission Electron Microprobe ». Microscopy Today 21, no 3 (mai 2013) : 10–15. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929513000515.
Texte intégralOtten, Max T., et Wim M. J. Coene. « Principle and practice of high-resolution imaging with a field-emission TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, no 1 (août 1992) : 138–39. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100121090.
Texte intégralGarratt-Reed, Anthony J., et Sebastian von Harrach. « Early experience with a 300kV FEG STEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (août 1991) : 348–49. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100086040.
Texte intégralCui, Wen, et Shao Jun Qi. « The Effect of Surface Finish on Zinc Whisker Growth ». Advanced Materials Research 472-475 (février 2012) : 2756–59. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.472-475.2756.
Texte intégralKrivanek, Ondrej L., James H. Paterson et Helmut R. Poppa. « Performance of the Gatan PEELS™ on the VG HB501 STEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6 août 1989) : 410–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100154020.
Texte intégralVeiss, J. K., et R. W. Carpenter. « A study of small probe formation in a field emission gun TEM/STEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 46 (1988) : 510–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100104613.
Texte intégralCoene, W., A. F. de Jong, H. Lichte, M. Op de Beeck, H. Tietz et D. Van Dyck. « FEG - TEM : The route to HREM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, no 1 (août 1992) : 100–101. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100120904.
Texte intégralIshikawa, I., K. Kaneyama, T. Tomita, T. Honda et M. Kersker. « Information limit of a 300kV field emission TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13 août 1995) : 588–89. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100139317.
Texte intégralHarada, Ken, Haruto Nagata, Ryuichi Shimizu, Takayoshi Tanji et Keiji Yada. « <310> ; Single-Crystal LaB6 as Thermal Field Emitter for Electron Microscope ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 1 (12 août 1990) : 196–97. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100179737.
Texte intégralXavier, Camila Soares, Ana Paula de Moura, Elson Longo, José Arana Varela et Maria Aparecida Zaghete. « Synthesis and Optical Property of MgMoO4 Crystals ». Advanced Materials Research 975 (juillet 2014) : 243–47. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.975.243.
Texte intégralHowe, J. M., S. P. Ringer, B. C. Muddle et I. J. Polmear. « Analytical Electron Microscopy of nanometer-size precipitates in al alloys with a 200-kV field-emission TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 54 (11 août 1996) : 574–75. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100165331.
Texte intégralSun, H. P., H. Li, H. D. Li, G. T. Zou, Z. Zhang et X. Q. Pan. « Electron Beam Irradiation Induced Structural Modulation and Damage in GaN Nano Crystals ». Microscopy and Microanalysis 7, S2 (août 2001) : 492–93. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600028531.
Texte intégralStark, H., E. Beckmann, R. Henderson et F. Zemlin. « SOPHIE, a helium cooled superconducting Electron Microscope with a Schottky field emitter ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13 août 1995) : 72–73. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100136738.
Texte intégralNavarro da Rocha, Daniel, Leila Rosa de Oliveira Cruz, João Luiz do Prado Neto, Nadia Mohammed Elmassalami Ayad, Luciano de Andrade Gobbo et Marcelo Henrique Prado da Silva. « Production and Characterization of Hydroxyapatite/Niobo Phosphate Glass Scaffold ». Key Engineering Materials 587 (novembre 2013) : 128–31. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.587.128.
Texte intégralWatanabe, M., D. W. Ackland, A. Burrows, C. J. Kiely, D. B. Williams, O. L. Krivanek, N. Dellby, M. F. Murfitt et Z. Szilagyi. « Improvements in the X-Ray Analytical Capabilities of a Scanning Transmission Electron Microscope by Spherical-Aberration Correction ». Microscopy and Microanalysis 12, no 6 (11 octobre 2006) : 515–26. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927606060703.
Texte intégralOhye, Toshimi, Yoshiki Uchikawa, Chiaki Morita et Hiroshi Shimoyama. « Aberrations of Accelerating Tube for High-Voltage Electron Microscope ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 1 (12 août 1990) : 194–95. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100179725.
Texte intégralOikawa, T., M. Kawasaki, T. Kaneyama, Y. Ohkura et M. Naruse. « The New EF-TEM with OMEGA and FEG ». Microscopy and Microanalysis 7, S2 (août 2001) : 1128–29. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600031718.
Texte intégralNavarro da Rocha, Daniel, Leila Rosa de Oliveira Cruz, Luciano de Andrade Gobbo et Marcelo Henrique Prado da Silva. « Bioactivity Assessment of Niobate Apatite ». Key Engineering Materials 614 (juin 2014) : 3–6. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.614.3.
Texte intégralSandim, Hugo Ricardo Zschommler, et Dierk Raabe. « An EBSD Study on Orientation Effects during Recrystallization of Coarse-Grained Niobium ». Materials Science Forum 467-470 (octobre 2004) : 519–24. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.467-470.519.
Texte intégralVronka, Marek, et Miroslav Karlík. « Microstructure and Mechanical Properties of Al-Mn Sheets with Zr Addition ». Key Engineering Materials 606 (mars 2014) : 19–22. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.606.19.
Texte intégralToptan, F., Ayfer Kilicarslan et Isil Kerti. « The Effect of Ti Addition on the Properties of Al-B4C Interface : A Microstructural Study ». Materials Science Forum 636-637 (janvier 2010) : 192–97. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.636-637.192.
Texte intégralPezzotti, Giuseppe. « Interfacial Residual Stresses in Semiconductor Devices Measured on the Nano-Scale by Cathodoluminescence Piezospectroscopy ». Solid State Phenomena 127 (septembre 2007) : 123–28. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.127.123.
Texte intégralNavarro da Rocha, Daniel, Leila Rosa de Oliveira Cruz, Dindo Q. Mijares, Rubens Lincoln Santana Blazutti Marçal, José Brant de Campos, Paulo G. Coelho et Marcelo Henrique Prado da Silva. « Bioactivity Assessment of Calcium Phosphate Coatings ». Key Engineering Materials 720 (novembre 2016) : 193–96. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.720.193.
Texte intégralNenadovic, Milos, Danilo Kisic, Miljana Mirkovic, Snezana Nenadovic et Ljiljana Kljajevic. « Structural and optical properties of HDPE implanted with medium fluences silver ions ». Science of Sintering 53, no 2 (2021) : 187–98. http://dx.doi.org/10.2298/sos2102187n.
Texte intégralTakeguchi, M., T. Honda, Y. Ishida, M. Kersker, M. Tanaka et K. Furuya. « Ultrahigh-Vacuum Field-Emission Electron Microscope as Applied to Observation and Analysis of Crystal Surface ». Microscopy and Microanalysis 3, S2 (août 1997) : 597–98. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600009879.
Texte intégralKrause, S. J., W. W. Adams, S. Kumar, T. Reilly et T. Suziki. « Low-voltage, high-resolution scanning electron microscopy of polymers ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (août 1987) : 466–67. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100127037.
Texte intégralBentley, J. « Interfacial Segregation Studied With Modern AEM Techniques ». Microscopy and Microanalysis 3, S2 (août 1997) : 533–34. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600009557.
Texte intégralLanteri, S., D. Gendt, P. Barges et G. Petitgand. « Comparison of Particle Size Analyses from FEG-SEM and TEM Images ». Microscopy and Microanalysis 6, S2 (août 2000) : 380–81. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600034395.
Texte intégralPezzotti, Giuseppe. « Nano-Scale Stress Microscopy of Ceramic Materials Using Their Cathodoluminescence Emission ». Materials Science Forum 502 (décembre 2005) : 263–68. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.502.263.
Texte intégralNavarro da Rocha, Daniel, Leila Rosa de Oliveira Cruz, Dindo Q. Mijares, Rubens Lincoln Santana Blazutti Marçal, José Brant de Campos, Paulo G. Coelho et Marcelo Henrique Prado da Silva. « Temperature Influence on the Calcium Phosphate Coatings by Chemical Method ». Key Engineering Materials 720 (novembre 2016) : 197–200. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.720.197.
Texte intégralPezzotti, Giuseppe, Andrea Leto, Kiyotaka Yamada et Alessandro Alan Porporati. « Electro-Stimulated Piezo-Spectroscopy for Measuring Nano-Scale Residual Stress Fields in Ceramics ». Advances in Science and Technology 45 (octobre 2006) : 1658–63. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ast.45.1658.
Texte intégralWang, Z. L., et J. Bentley. « In situ REM imaging of surface processes on ceramic bulk crystals from 300 to 1670 K in a conventional TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (août 1991) : 660–61. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100087616.
Texte intégralCliff, G., et P. B. Kenway. « The future of AEM : Toward atom analysis ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6 août 1989) : 200–201. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100152975.
Texte intégralCzernuszka, J. T., N. J. Long et P. B. Hirsch. « Electron channelling contrast imaging of dislocations ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 4 (août 1990) : 410–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100175181.
Texte intégralGoldstein, J. I., C. E. Lyman et J. Zhang. « Spatial Resolution and Detectability Limits in Thin-Film X-ay Microanalysis ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 2 (12 août 1990) : 450–51. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010013585x.
Texte intégralWang, Z. L., A. Goyal et D. M. Kroeger. « Interface microstructures in melt-textured YBa2Cu3O7-δ on Ag-Pd and flux pinning centers introduced by Y2BaCuO5 particles ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, no 1 (août 1992) : 72–73. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010012076x.
Texte intégralWatanabe, M., D. W. Ackland et D. B. Williams. « Practical Estimation of Analytical Sensitivity for EDS in an Intermediate Voltage FEG-STEM ». Microscopy and Microanalysis 3, S2 (août 1997) : 965–66. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600011715.
Texte intégralPezzotti, Giuseppe, Atsuo Matsutani, Maria Chiara Munisso et Wen Liang Zhu. « Advanced Nano-Scale Metrology for the Characterization of Ceramic Materials in the Scanning Electron Microscope ». Materials Science Forum 606 (octobre 2008) : 93–101. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.606.93.
Texte intégralYang, J. C., A. Singhal, S. Bradley et J. M. Gibson. « Nano-Sized Catalytic Materials Investigated by a STEM-Based Mass Spectroscopic Technique ». Microscopy and Microanalysis 3, S2 (août 1997) : 443–44. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600009107.
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