Articles de revues sur le sujet « Electrons – Diffraction »
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Texte intégralBarckhaus, R. H., I. Fromm, H. J. Höhling et L. Reimer. « Advantage of Electron Spectroscopic Diffraction on Calcified Tissue Sections ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 2 (12 août 1990) : 362–63. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100135411.
Texte intégralVALERI, SERGIO, et ALESSANDRO di BONA. « MODULATED ELECTRON EMISSION BY SCATTERING-INTERFERENCE OF PRIMARY ELECTRONS ». Surface Review and Letters 04, no 01 (février 1997) : 141–60. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x9700016x.
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Texte intégralYang, Jie, Markus Guehr, Theodore Vecchione, Matthew S. Robinson, Renkai Li, Nick Hartmann, Xiaozhe Shen et al. « Femtosecond gas phase electron diffraction with MeV electrons ». Faraday Discussions 194 (2016) : 563–81. http://dx.doi.org/10.1039/c6fd00071a.
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Texte intégralWang, Z. L. « Coupled thermal diffuse-atomic inner shell scattering in electron diffraction ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994) : 994–95. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010017270x.
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Texte intégralPeng, L. M., et J. M. Cowley. « Reflection monolayer scattering and RHEED diffraction conditions ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 46 (1988) : 962–63. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100106879.
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Texte intégralIssanova, M. K., S. K. Kodanova, T. S. Ramazanov, N. Kh Bastykova, Zh A. Moldabekov et C. V. Meister. « Classical scattering and stopping power in dense plasmas : the effect of diffraction and dynamic screening ». Laser and Particle Beams 34, no 3 (27 juin 2016) : 457–66. http://dx.doi.org/10.1017/s026303461600032x.
Texte intégralRen, S. X., E. A. Kenik, K. B. Alexander et A. Goyal. « Exploring Spatial Resolution in Electron Back-Scattered Diffraction Experiments via Monte Carlo Simulation ». Microscopy and Microanalysis 4, no 1 (février 1998) : 15–22. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927698980011.
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Texte intégralMayer, J. « Electron spectroscopic imaging and diffraction : applications II materials science ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, no 2 (août 1992) : 1198–99. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100130626.
Texte intégralLatychevskaia, Tatiana. « Holography and Coherent Diffraction Imaging with Low-(30–250 eV) and High-(80–300 keV) Energy Electrons : History, Principles, and Recent Trends ». Materials 13, no 14 (10 juillet 2020) : 3089. http://dx.doi.org/10.3390/ma13143089.
Texte intégralVölkl, E., L. F. Allard, B. Frost et T. A. Nolan. « Quanitative aspects of electron diffraction using electron holography ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13 août 1995) : 616–17. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100139457.
Texte intégralMarch, N. H., et M. P. Tosi. « Diffraction and transport in dense plasmas : Especially liquid metals ». Laser and Particle Beams 16, no 1 (mars 1998) : 71–81. http://dx.doi.org/10.1017/s0263034600011782.
Texte intégralSlouf, Miroslav, Radim Skoupy, Ewa Pavlova et Vladislav Krzyzanek. « Powder Nano-Beam Diffraction in Scanning Electron Microscope : Fast and Simple Method for Analysis of Nanoparticle Crystal Structure ». Nanomaterials 11, no 4 (9 avril 2021) : 962. http://dx.doi.org/10.3390/nano11040962.
Texte intégralMichael, J. R., M. E. Schlienger et R. P. Goehner. « Electron Backscatter Diffraction In The Sem : Is Electron Diffraction In The Tem Obsolete ? » Microscopy and Microanalysis 3, S2 (août 1997) : 879–80. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600011284.
Texte intégralBeeby, J. L. « Plasmon emission by electrons in reflection high energy electron diffraction ». Surface Science 565, no 2-3 (septembre 2004) : 129–43. http://dx.doi.org/10.1016/j.susc.2004.06.175.
Texte intégralWinkelmann, Aimo, Koceila Aizel et Maarten Vos. « Electron energy loss and diffraction of backscattered electrons from silicon ». New Journal of Physics 12, no 5 (5 mai 2010) : 053001. http://dx.doi.org/10.1088/1367-2630/12/5/053001.
Texte intégralKatsap, Victor. « A novel thermionic crystal electron emission effect similar to Kikuchi lines ». Journal of Vacuum Science & ; Technology B 41, no 1 (janvier 2023) : 010602. http://dx.doi.org/10.1116/6.0002375.
Texte intégralLi, Huawang. « Double-slit interference and single-slit diffraction experiments on electrons ». Physics Essays 35, no 3 (3 septembre 2022) : 313–19. http://dx.doi.org/10.4006/0836-1398-35.3.313.
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Texte intégralLehman, J. L., J. Mayer et W. Probst. « Application of the Omega spectrometer TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, no 2 (août 1992) : 1042–43. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010012984x.
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Texte intégralTivol, W. F., J. N. Turner et D. L. Dorset. « Ab initio structure analysis of copper perbromophthalocyanine ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, no 2 (août 1992) : 1446–47. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100131863.
Texte intégralMei, Kaili, Kejia Zhang, Jungu Xu et Zhengyang Zhou. « The Application of 3D-ED to Distinguish the Superstructure of Sr1.2Ca0.8Nb2O7 Ignored in SC-XRD ». Crystals 13, no 6 (8 juin 2023) : 924. http://dx.doi.org/10.3390/cryst13060924.
Texte intégralQin, L. C., et L. D. Marks. « Electron diffraction contrast of fluxons ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (août 1991) : 1102–3. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100089822.
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Texte intégralSakakura, Terutoshi, Takahiro Nakano, Hiroyuki Kimura, Yukio Noda, Yoshihisa Ishikawa, Yasuyuki Takenaka, Kiyoaki Tanaka, Shunji Kishimoto, Yoshinori Tokura et Shigeki Miyasaka. « Importance of multiple diffraction avoidance for charge density observation ». Acta Crystallographica Section A Foundations and Advances 70, a1 (5 août 2014) : C280. http://dx.doi.org/10.1107/s2053273314097198.
Texte intégralMancuso, James F., Leo A. Fama, William B. Maxwell, Jerry L. Lehman, Hasso Weiland et Ronald R. Biederman. « Effect of energy filtering on micro-diffraction in the SEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994) : 604–5. http://dx.doi.org/10.1017/s042482010017075x.
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Texte intégralZHANG, S. Y., Y. K. HO, Z. CHEN, Y. J. XIE, Z. YAN et J. J. XU. « DYNAMIC TRAJECTORIES OF RELATIVISTIC ELECTRONS INJECTED INTO TIGHTLY-FOCUSED INTENSE LASER FIELDS ». Journal of Nonlinear Optical Physics & ; Materials 13, no 01 (mars 2004) : 103–12. http://dx.doi.org/10.1142/s0218863504001785.
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Texte intégralTakubo, Kou, Samiran Banu, Sichen Jin, Misaki Kaneko, Wataru Yajima, Makoto Kuwahara, Yasuhiko Hayashi et al. « Generation of sub-100 fs electron pulses for time-resolved electron diffraction using a direct synchronization method ». Review of Scientific Instruments 93, no 5 (1 mai 2022) : 053005. http://dx.doi.org/10.1063/5.0086008.
Texte intégralBONDARCHUCK, O., S. GOYSA, I. KOVAL, P. MEL'NIK et M. NAKHODKIN. « SHORT-RANGE ORDER OF DISORDERED SOLID SURFACES FROM ELASTICALLY SCATTERED ELECTRON SPECTRA ». Surface Review and Letters 04, no 05 (octobre 1997) : 965–67. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x97001139.
Texte intégralLi, Pen-Xin, Ai-Yun Yang, Lang Xin, Biao Xue et Chun-Hao Yin. « Photocatalytic Activity and Mechanism of Cu2+ Doped ZnO Nanomaterials ». Science of Advanced Materials 14, no 10 (1 octobre 2022) : 1599–604. http://dx.doi.org/10.1166/sam.2022.4363.
Texte intégralYang, Jinfeng, Kazuki Gen, Nobuyasu Naruse, Shouichi Sakakihara et Yoichi Yoshida. « A Compact Ultrafast Electron Diffractometer with Relativistic Femtosecond Electron Pulses ». Quantum Beam Science 4, no 1 (20 janvier 2020) : 4. http://dx.doi.org/10.3390/qubs4010004.
Texte intégralGerchikov, Leonid G., Peotr V. Efimov, Valerii M. Mikoushkin et Andrey V. Solov'yov. « Diffraction of Fast Electrons on the FullereneC60Molecule ». Physical Review Letters 81, no 13 (28 septembre 1998) : 2707–10. http://dx.doi.org/10.1103/physrevlett.81.2707.
Texte intégralRan, Ke, Jian-Min Zuo, Qing Chen et Zujin Shi. « Electrons for single molecule diffraction and imaging ». Ultramicroscopy 119 (août 2012) : 72–77. http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2011.11.007.
Texte intégralPierce, Jordan, Cameron Johnson et Benjamin McMorran. « Corrected Off-axis Diffraction Holograms for Electrons ». Microscopy and Microanalysis 26, S2 (30 juillet 2020) : 426–27. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927620014634.
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