Littérature scientifique sur le sujet « DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION »
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Articles de revues sur le sujet "DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION"
Wei, Chi Pin, Zhao Lin Li, Hao Liu et Zhi Xiang Chen. « Design of a Random Test Platform for DSP Serials Used in Embedded Systems ». Advanced Materials Research 267 (juin 2011) : 98–103. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.267.98.
Texte intégralSandi, Anuradha. « VERIFICATION OF CARRY LOOK AHEAD ADDER USING CONSTRAINED RANDOMIZED LAYERED TEST BENCH ». International Journal of Engineering Technologies and Management Research 6, no 6 (25 mars 2020) : 40–50. http://dx.doi.org/10.29121/ijetmr.v6.i6.2019.392.
Texte intégralSharma, N., P. Kumar, N. Singh et U. Mehta. « Digital energy monitor : design, simulations and prototype ». South Pacific Journal of Natural and Applied Sciences 35, no 2 (2017) : 45. http://dx.doi.org/10.1071/sp17005.
Texte intégralChen, Fu Long, Zhao Xia Zhu et Xiao Ya Fan. « FPGA-Based In-Circuit Verification of Digital Systems ». Advanced Materials Research 187 (février 2011) : 362–67. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.187.362.
Texte intégralZhang, Xu, Zhiguang Deng, Jun Li, Youwei Yang, Quan Ma et Mingming Liu. « Design and Verification of Reactor Power Control Based on Stepped Dynamic Matrix Controller ». Science and Technology of Nuclear Installations 2019 (3 novembre 2019) : 1–11. http://dx.doi.org/10.1155/2019/4973120.
Texte intégralZhu, Pengcheng, et Haojie Li. « Design of Aeronautical Digital Video and Communication Bus Processing System ». Journal of Physics : Conference Series 2252, no 1 (1 avril 2022) : 012044. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/2252/1/012044.
Texte intégralZhu, Pengcheng, et Haojie Li. « Design of Aeronautical Digital Video and Communication Bus Processing System ». Journal of Physics : Conference Series 2252, no 1 (1 avril 2022) : 012044. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/2252/1/012044.
Texte intégralSun, Peng, Qi Shao, Ying Yu Liu et Wei Ping Chen. « A New Method of Design and Verification of Digital Silicon Gyroscopes Closed-Loop Driving System Based on MicroBlaze ». Key Engineering Materials 645-646 (mai 2015) : 771–76. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.645-646.771.
Texte intégralRakic, Aleksandar, Sasa Zivanovic, Zoran Dimic et Mladen Knezevic. « Digital twin control of multi-axis wood CNC machining center based on LinuxCNC ». BioResources 16, no 1 (18 décembre 2020) : 1115–30. http://dx.doi.org/10.15376/biores.16.1.1115-1130.
Texte intégralHudson, Jeffrey A., Aernout Oudenhuijzen et Gregory F. Zehner. « Digital Human Modelling Systems : A Procedure for Verification and Validation Using the F-16 Crew Station ». Proceedings of the Human Factors and Ergonomics Society Annual Meeting 44, no 38 (juillet 2000) : 723–26. http://dx.doi.org/10.1177/154193120004403810.
Texte intégralThèses sur le sujet "DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION"
VALLERO, ALESSANDRO. « Cross layer reliability estimation for digital systems ». Doctoral thesis, Politecnico di Torino, 2017. http://hdl.handle.net/11583/2673865.
Texte intégralZhou, Jing 1959. « LOVERD--a logic design verification and diagnosis system via test generation ». Thesis, The University of Arizona, 1989. http://hdl.handle.net/10150/291686.
Texte intégralKim, Seokjin. « High-speed analog-to-digital converters for modern satellite receivers design verification test and sensitivity analysis / ». College Park, Md. : University of Maryland, 2008. http://hdl.handle.net/1903/7864.
Texte intégralThesis research directed by: Dept. of Electrical and Computer Engineering. Title from t.p. of PDF. Includes bibliographical references. Published by UMI Dissertation Services, Ann Arbor, Mich. Also available in paper.
Bougan, Timothy B. « Flexible Intercom System Design for Telemetry Sites and Other Test Environments ». International Foundation for Telemetering, 1996. http://hdl.handle.net/10150/611449.
Texte intégralTesting avionics and military equipment often requires extensive facilities and numerous operators working in concert. In many cases these facilities are mobile and can be set up at remote locations. In almost all situations the equipment is loud and makes communication between the operators difficult if not impossible. Furthermore, many sites must transmit, receive, relay, and record telemetry signals. To facilitate communication, most telemetry and test sites incorporate some form of intercom system. While intercom systems themselves are a not a new concept and are available in many forms, finding one that meets the requirements of the test community (at a reasonable cost) can be a significant challenge. Specifically, the test director must often communicate with several manned stations, aircraft, remote sites, and/or simultaneously record all or some of the audio traffic. Furthermore, it is often necessary to conference all or some of the channels (so that all those involved can fully follow the progress of the test). The needs can be so specialized that they often demand a very expensive "custom" solution. This paper describes the philosophy and design of a multi-channel intercom system specifically intended to support the needs of the telemetry and test community. It discusses in detail how to use state-of-the-art field programmable gate arrays, relatively inexpensive computers and digital signal processors, and some other new technologies to design a fully digital, completely non-blocking intercom system. The system described is radically different from conventional designs but is much more cost effective (thanks to recent developments in programmable logic, microprocessor performance, and serial/digital technologies). This paper presents, as an example, the conception and design of an actual system purchased by the US government.
Ruddy, Marcus A. « Pico-Satellite Integrated System Level Test Program ». DigitalCommons@CalPoly, 2012. https://digitalcommons.calpoly.edu/theses/688.
Texte intégralAalto, Alve, et Ali Jafari. « Automatic Probing System for PCB : Analysis of an automatic probing system for design verification of printed circuit boards ». Thesis, KTH, Skolan för informations- och kommunikationsteknik (ICT), 2015. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kth:diva-174865.
Texte intégralMålet med detta examensarbete är att göra en analys av huruvida Ericssons kretskort kan testas med hjälp av ett automatiskt probe system eller om det kräver stora förändringar i designdelen av kretskorten och om, vad för förändringar det i sådant fall kan vara. Till hjälp att analysera kretskorten har vi haft oscilloskop för att få ut rådata om skillnaderna mellan de teoretiska och verkliga signalerna. För att kunna tyda oscilloskopets samplade signaler har olika programmeringsspråk som Python, Matlab samt Excel använts. En extra via i signalens väg har även simulerats i HFSS och ADS med olika sorts probar för att se hur signalens beteende påverkas. Resultaten extraherades sedan in i olika Excel ark för att få en lätt överskådlig bild av resultaten. Resultatet vi fick visade att utformningen av ett kretskort med ändringarna skulle vara lättare att göra med en ny design istället för en redan existerande då större delar av kortet skulle behöva göras om. Vissa stora komponenter behöver antingen göras om, hitta mindre men likvärdiga eller sättas på ena sidan av kortet där de inte är i vägen för proben. Kretskorten som kommer använda flygande probesystem kommer antagligen bli lite större då viornas placering är mer begränsade än tidigare. Det mest tidskrävande arbetet var att simulera olika placeringar av en extra via i signalens väg. Detta visade att på en single ended signal under två gigahertz så gör det ingen större skillnad vart i signalens väg som den extra vian placeras. Då en högre frekvens används så är själva signalens karaktär det viktigaste än placeringen av en via, men om man inte vet den exakta karaktären så är fyra millimeter bort från mottagarens sida att rekommendera då närmare placering av viorna gör att signalerna börjar störa varandra.
Ioannides, Charalambos. « Investigating the potential of machine learning techniques for feedback-based coverage-directed test genreation in simulation-based digital design verification ». Thesis, University of Bristol, 2013. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.618315.
Texte intégralAluru, Gunasekhar. « Exploring Analog and Digital Design Using the Open-Source Electric VLSI Design System ». Thesis, University of North Texas, 2016. https://digital.library.unt.edu/ark:/67531/metadc849770/.
Texte intégralQiang, Qiang. « FORMAL a sequential ATPG-based bounded model checking system for VLSI circuits / ». online version, 2006. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc%5Fnum=case1144614543.
Texte intégralLarsson, Erik. « An Integrated System-Level Design for Testability Methodology ». Doctoral thesis, Linköpings universitet, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system, 2000. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-4932.
Texte intégralLivres sur le sujet "DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION"
Navabi, Zainalabedin. Digital System Test and Testable Design. Boston, MA : Springer US, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5.
Texte intégralVerilog digital system design : RT level synthesis, testbench, and verification. 2e éd. New York : McGraw-Hill, 2006.
Trouver le texte intégralRashinkar, Prakash. System-On-A-Chip verification : Methodology and techniques. New York : Kluwer Academic Publishers, 2002.
Trouver le texte intégral1959-, Lavagno Luciano, Scheffer Lou et Martin Grant, dir. EDA for IC system design, verification, and testing. Boca Raton, FL : Taylor & Francis, 2005.
Trouver le texte intégral1955-, Paterson Peter, et Singh Leena 1971-, dir. System-On-A-Chip verification : Methodology and techniques. Boston, MA : Kluwer Academic Publishers, 2001.
Trouver le texte intégralRashinkar, Prakash. System-On-A-Chip verification : Methodology and techniques. Boston, MA : Kluwer Academic Publishers, 2001.
Trouver le texte intégralJean-Michel, Bergé, Levia Oz et Rouillard Jacques, dir. Hardware/software co-design and co-verification. Boston : Kluwer Academic Publishers, 1997.
Trouver le texte intégralNavabi, Zainalabedin. Digital System Test and Testable Design : Using HDL Models and Architectures. Boston, MA : Springer Science+Business Media, LLC, 2011.
Trouver le texte intégralBergé, Jean-Michel. Hardware/Software Co-Design and Co-Verification. Boston, MA : Springer US, 1997.
Trouver le texte intégralIEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop (6th 2001 Monterey, Calif.). Sixth IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop : Proceedings : 7-9 November, 2001. Los Alamitos, Calif : IEEE Computer Society, 2001.
Trouver le texte intégralChapitres de livres sur le sujet "DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION"
Navabi, Zainalabedin. « Test Compression ». Dans Digital System Test and Testable Design, 345–73. Boston, MA : Springer US, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5_10.
Texte intégralNavabi, Zainalabedin. « Deterministic Test Generation Algorithms ». Dans Digital System Test and Testable Design, 175–212. Boston, MA : Springer US, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5_6.
Texte intégralSnider, Ross. « Chapter 8 : Introduction to Verification ». Dans Advanced Digital System Design using SoC FPGAs, 93–124. Cham : Springer International Publishing, 2022. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-15416-4_8.
Texte intégralNavabi, Zainalabedin. « Standard IEEE Test Access Methods ». Dans Digital System Test and Testable Design, 261–94. Boston, MA : Springer US, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5_8.
Texte intégralNavabi, Zainalabedin. « Logic Built-in Self-test ». Dans Digital System Test and Testable Design, 295–344. Boston, MA : Springer US, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5_9.
Texte intégralNavabi, Zainalabedin. « Verilog HDL for Design and Test ». Dans Digital System Test and Testable Design, 21–62. Boston, MA : Springer US, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5_2.
Texte intégralNavabi, Zainalabedin. « Test Pattern Generation Methods and Algorithms ». Dans Digital System Test and Testable Design, 143–74. Boston, MA : Springer US, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5_5.
Texte intégralNavabi, Zainalabedin. « Design for Test by Means of Scan ». Dans Digital System Test and Testable Design, 213–59. Boston, MA : Springer US, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5_7.
Texte intégralNavabi, Zainalabedin. « Basics of Test and Role of HDLs ». Dans Digital System Test and Testable Design, 1–20. Boston, MA : Springer US, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5_1.
Texte intégralNavabi, Zainalabedin. « Memory Testing by Means of Memory BIST ». Dans Digital System Test and Testable Design, 375–91. Boston, MA : Springer US, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5_11.
Texte intégralActes de conférences sur le sujet "DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION"
Xiong, Huasheng, Duo Li et Liangju Zhang. « Test Facility Design for Integrated Digital Nuclear Reactor Protection System ». Dans 18th International Conference on Nuclear Engineering. ASMEDC, 2010. http://dx.doi.org/10.1115/icone18-29286.
Texte intégralReza Kakoee, Mohammad, M. H. Neishaburi et Siamak Mohammadi. « Functional Test-Case Generation by a Control Transaction Graph for TLM Verification ». Dans 10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools (DSD 2007). IEEE, 2007. http://dx.doi.org/10.1109/dsd.2007.4341464.
Texte intégralHanada, Satoshi, Koji Ito et Kenji Mashio. « US-APWR Human System Interface System Verification and Validation Program for Digital I&C Design ». Dans 18th International Conference on Nuclear Engineering. ASMEDC, 2010. http://dx.doi.org/10.1115/icone18-29928.
Texte intégralKadlubowski, Lukasz A., et Piotr Kmon. « Test and Verification Environment and Methodology for Vernier Time-to-Digital Converter Pixel Array ». Dans 2021 24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS). IEEE, 2021. http://dx.doi.org/10.1109/ddecs52668.2021.9417054.
Texte intégralZak, P., et V. Dynybyl. « Design and Testing of Gears With Non-Standard Profile ». Dans ASME 2007 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2007. http://dx.doi.org/10.1115/imece2007-41027.
Texte intégralSheng, Xin, Xiaojin Huang, Zhencai An et Yin Guo. « Study on an Optimization Algorithm of Generating Test Vectors for Digital Reactor Protection System Testing ». Dans 16th International Conference on Nuclear Engineering. ASMEDC, 2008. http://dx.doi.org/10.1115/icone16-48098.
Texte intégralEndo, Yui, Satoshi Kanai, Takeshi Kishinami, Miyata Natsuki, Makiko Kouchi et Masaaki Mochimaru. « An Ergonomic Assessment System Using a Digital Hand for Designing Handheld Information Appliances ». Dans ASME 2006 International Design Engineering Technical Conferences and Computers and Information in Engineering Conference. ASMEDC, 2006. http://dx.doi.org/10.1115/detc2006-99114.
Texte intégralGuzas, Emily L., Stephen E. Turner, Matthew Babina, Brandon Casper, Thomas N. Fetherston et Joseph M. Ambrico. « Validation of a Surrogate Model for Marine Mammal Lung Dynamics Under Underwater Explosive Impulse ». Dans ASME 2019 Verification and Validation Symposium. American Society of Mechanical Engineers, 2019. http://dx.doi.org/10.1115/vvs2019-5143.
Texte intégralDavies, William J., Charlie L. Jones et Robert A. Noonan. « Real Time Simulators for Use in Design of Integrated Flight and Propulsion Control Systems ». Dans ASME 1988 International Gas Turbine and Aeroengine Congress and Exposition. American Society of Mechanical Engineers, 1988. http://dx.doi.org/10.1115/88-gt-24.
Texte intégralEl-Shafei, A., et M. El-Hakim. « Development of a Test Rig and Experimental Verification of the Performance of HSFDs for Active Control of Rotors ». Dans ASME 1995 International Gas Turbine and Aeroengine Congress and Exposition. American Society of Mechanical Engineers, 1995. http://dx.doi.org/10.1115/95-gt-256.
Texte intégralRapports d'organisations sur le sujet "DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION"
Korsah, K., G. W. Turner et J. A. Mullens. Environmental testing of a prototypic digital safety channel, Phase I : System design and test methodology. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), avril 1995. http://dx.doi.org/10.2172/90921.
Texte intégral