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Littérature scientifique sur le sujet « Diffraction de surface des rayons X »

Auteur : Grafiati
Publié le 8 juin 2024

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Articles de revues sur le sujet "Diffraction de surface des rayons X"

1

Hlawka, F., G. Q. Song et A. Cornet. « Utilisation de la diffraction de rayons X pour l'étude de traitements de surface laser ». Le Journal de Physique IV 06, no C4 (juillet 1996) : C4–123—C4–126. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996412.

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2

Arnaud, Y., M. Brunel, A. M. De Becdelivre et P. Thevenard. « Étude par diffraction de rayons X en incidence rasante (GIXD) de surfaces métalliques implantées en azote ». Journal de Chimie Physique 84 (1987) : 341–45. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1987840341.

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3

Valot, Christophe, Vincent Vignal, Roland Oltra et Nicolas Mary. « Caractérisation des gradients locaux de contraintes à la surface des aciers inoxydables par diffraction des rayons X et simulation numérique ». Annales de Chimie Science des Matériaux 29, no 3 (31 mai 2004) : 19–31. http://dx.doi.org/10.3166/acsm.29.3.19-31.

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4

Andreazza, P., X. de Buchere et R. Erre. « Diffraction des rayons X en incidence rasante pour l'analyse des transformations structurales de surfaces d'aciers induites par implantation ionique multiple ». Le Journal de Physique IV 06, no C4 (juillet 1996) : C4–399—C4–408. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996436.

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5

Barbier, A., G. Renaud, O. Robach et P. Guénard. « La diffraction de rayons X en incidence rasante à l'ESRF : application à l'étude de surfaces et d'interfaces à base d'oxydes ». Le Journal de Physique IV 08, PR5 (octobre 1998) : Pr5–203—Pr5–213. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998526.

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6

Chevereau, Élodie, Lionel Limousy, Patrick Dutournié et Patrick Bourseau. « Réalisation et modification des propriétés de sélectivité d’une membrane minérale d’ultrafiltration : étude de la rétention de solutions salines ». Revue des sciences de l’eau 25, no 1 (28 mars 2012) : 21–30. http://dx.doi.org/10.7202/1008533ar.

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Résumé :
De par leurs caractéristiques structurales bien connues, les zéolithes sont fréquemment utilisées pour leur capacité à catalyser, à échanger des ions ou à adsorber certaines molécules. Ces matériaux sont également utilisés comme phase active pour réaliser des membranes. Dans ce travail, une membrane céramique d’ultrafiltration a été réalisée en imprégnant de la Mordenite (phase active) sur un support en alumine. La structure et les caractéristiques morphologiques de cette membrane ont été étudiées (diffraction de rayons X, BET / BJH (Brunauer-Emmett-Teller et Brunauer-Joyner-Hallenda), microscopie électronique à balayage). Des mesures de potentiels zêta et d’écoulement ont été réalisées sur la phase active en présence de différentes solutions salines, afin de caractériser qualitativement et quantitativement les charges de surface de la phase active de la membrane. La sélectivité de la membrane vis-à-vis de solutions salines pures a été étudiée sur un pilote d’ultrafiltration de laboratoire. Aucune rétention n’a été observée lors de la filtration d’une solution de chlorure de sodium. Compte tenu des propriétés électriques de la membrane (fortement chargée négativement), une expérience de filtration a été réalisée en présence d’un sel divalent (Na2CO3). Dans ces conditions, une rétention importante a été observée. Après rinçage à l’eau pure, un nouvel essai de filtration a été réalisé en présence de solution de sel monovalent (NaCl) et a conduit à un taux de rétention de l’ordre de 10 % . Ce phénomène semble être lié au traitement et à la présence d’ions carbonates. Après un lavage acide, la membrane finit par retrouver ses propriétés initiales. Pour conclure, une membrane Mordenite d’ultrafiltration a été réalisée avec des propriétés de filtration qui peuvent être réversiblement modifiées par un simple traitement chimique.
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7

Ravy, Sylvain. « La diffraction cohérente des rayons X ». Reflets de la physique, no 34-35 (juin 2013) : 60–64. http://dx.doi.org/10.1051/refdp/201334060.

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8

Popescu, M., F. Sava, A. Lörinczi, I. N. Mihailescu, I. Cojocaru et G. Mihailova. « Diffraction de rayons X sur le silicium poreux ». Le Journal de Physique IV 08, PR5 (octobre 1998) : Pr5–31—Pr5–37. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998505.

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9

Bach, M., N. Broll, A. Cornet et L. Gaide. « Diffraction X en traitements thermiques : dosage de l'austénite résiduelle par diffraction des rayons X ». Le Journal de Physique IV 06, no C4 (juillet 1996) : C4–887—C4–895. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996485.

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10

Bourret, A. « Étude des interfaces enterrées par diffraction de rayons X ». Le Journal de Physique IV 07, no C6 (décembre 1997) : C6–19—C6–29. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1997602.

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Plus de sources

Thèses sur le sujet "Diffraction de surface des rayons X"

1

Rmili, Seddik. « Préparation de catalyseurs bimétalliques Pt-Cu [platine-cuivre] par réaction redox de surface ». Poitiers, 1995. http://www.theses.fr/1995POIT2300.

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Résumé :
L'objectif de ce travail est de proposer une methode de preparation de catalyseurs bimetalliques pour eviter tout traitement thermique et faciliter le contact metal-metal. Deux methodes ont ete proposees pour preparer pt-cu/sio#2 ; pt-cu/al#2o#3 et pt-cu/c: *par recharge (re) avec depot de cuivre par l'intermediaire de l'hydrogene adsorbe sur le platine supporte. *par reduction catalytique (rc) des ions cu#2#+ sous un flux continu d'hydrogene. Par re, sur pt/sio#2 et pt/al#2o#3, le rapport cu#d#e#p/pt#a#c#c est voisin de 0,5 et correspond a la stoechiometrie de la reaction: cu#2#q#q#++2pt-h#a#d#s2pt-cu + 2h#+#a#q. Pour pt/c, ce rapport est important par suite probable d'un phenomene de spillover d'hydrogene. Par rc, sur pt/sio#2 le rapport cu#d#e#p/pt#a#c#c est voisin de 130. Un depot tridimensionnel de cuivre sur platine favorise par un phenomene de spillover d'hydrogene ou d'un transfert d'electrons. Dans le cas de pt/al#2o#3, le depot de cuivre (faible) est en competition avec une adsorption des ions cu#2#+ sur l'alumine. Le depot important de cuivre sur pt/c (tridimensionnel) est certainement favorise par un spillover d'hydrogene. L'effet du chlore de catalyseur de base est observe dans le cas de pt/sio#2 sur la vitesse de depot, l'energie d'activation et les recharges successives. Par drx, les differentes phases susceptibles d'apparaitre ont ete mises en evidence ainsi que la confirmation d'un depot de cuivre tridimensionnel
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2

Meunier, Isabelle. « Des divers modes de relaxation des contraintes induites par le désaccord de maille dans les alliages de surface ». Aix-Marseille 2, 2001. http://www.theses.fr/2001AIX22038.

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3

Abrasonis, Gintautas. « Nitruration par faisceau d'ions des aciers austénitiques inoxydables : étude du transport atomique d'azote, des effets de flux et des effets structuraux ». Poitiers, 2003. http://www.theses.fr/2003POIT2291.

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4

VERON, MARIE-BENOITE. « Etude des reconstructions de surface de cdte par diffraction de rayons x et d'electrons en incidence rasante ». Paris 6, 1996. http://www.theses.fr/1996PA066428.

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Résumé :
Le travail de cette these porte sur l'etude des trois phases de surface de cdte (001) en fonction de la temperature par deux techniques: la diffraction de rayons x en incidence rasante (gixd) pour l'obtention des parametres structuraux et la diffraction d'electrons rapides (rheed) pour des etudes in-situ dans le bati d'epitaxie. L'etude par gixd de la phase mixte c(2x2)+(2x1) a mis en evidence une tres forte anisotropie de taille des domaines reconstruits, intrinseque a cette phase et due a la presence de parois d'antiphase, observees par de microscopie a effet tunnel. Les mesures de gixd ont confirme le modele de lacunes de cd (stoechiometrie 0. 5 monocouche) pour la reconstruction c(2x2) et quantifie le rapprochement des atomes de cd de surface avec la premiere couche de te, confirmant ainsi le modele theorique etabli pour le compose isomorphe znse. De plus, dans le cas de cdte la propagation de la deformation dans les couches profondes a pu etre determinees jusqu'a la sixieme couche. Le suivi quantitatif par rheed de l'intensite de la tache speculaire de la surface (2x1) de plus basse temperature a apporte la preuve d'une stoechiometrie continument variable entre 240c et 280c, liee a la desorption de tellure. Nos mesures de diffraction mettent en evidence un changement de structure et montrent que ces surfaces de diverses stoechiometries sont stables sous vide. Le suivi de l'intensite de la tache speculaire rheed sur la surface (2x1) de haute temperature a mis en evidence deux mecanismes paralleles pour les processus inverses de sublimation et de croissance par epitaxie de jets moleculaires alternes. Ces mecanismes mettent en uvre quatre etapes bien identifiees et dont la cinetique est controlee par la mobilite des atomes de cd. De plus, ces experiences montrent que la surface de sublimation serait une surface terminee cd
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5

Legagneux, Nicolas. « Chimie organométallique de surface sur hétéropolyacides supportés et non supportés : application à l'oxydation partielle du méthane en méthanol ». Lyon 1, 2009. http://www.theses.fr/2009LYO10033.

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Résumé :
L'objectif de ce travail de thèse était la synthèse et la caractérisation de complexes organométalliques greffés sur des hétéropolyanions déposés ou non sur silice. PtMe2(COD) réagit sur l'acide silicotungstique (H4SiW12O40) en homogène pour former [SiW12 O10 4-] [Pt+Me(COD)(DMSO]4. DMSO. Cette réaction permet de créer une interaction ionique entre le centre métallique et l'hétéropolyacide. De même, la réaction avec le tétraméthylétain forme une espèce [SiW10 O40 4-] [Sn+ Me3 (DMSO)2]4. 2 DMSO. Les hétéropolyacides supportés conservent leur structure de Keggin et, dans le cas de l'acide silicotungstique, un proton acide par polyanion est présent. Celui-ci réagit stoechiométriquement avec Pt Me2(COD) en libérant quantitativement du méthane. En revanche, l'acide silicotungstique supporté se comporte comme un catalyseur de greffage du tétraméthylétain sur les silanols de la silice. L'utilisation de [SiW12 O10 4-] [Pt+Me(COD)(DMSO]4. DMSO, couplée à celle d'oléum a permis d'augmenter le TON de la réaction d'oxydation du méthane en bisulfate de méthyle jusqu'à 69
The aim of this work was the synthesis and characterization of organometallic complexes grafted on silica supported ans unsupported heteropolyanions. PtMe2(COD) react on silicotungstic acid (H4SiW12O40) in an homogeneous way to form [SiW12 O10 4-] [Pt+Me(COD)(DMSO]4. DMSO. This reaction allow the formation of ionic interactions between the metallic center and the heteropolyacid which keeps his Keggin structure. The reaction with tetramethyltin gives this species : [SiW10 O40 4-] [Sn+ Me3 (DMSO)2]4. 2 DMSO. The supported heteropolyacids keep their Keggins structure and, for silicotungstic acid, an acidic proton remains on the polyanion. This acidic proton reacts stoichiometrically with PtMe2(COD) with quantitative release of methane. In an other hand, the silica supported silicotungstic acid behaves as a catalyst for the grafting reaction of tetramethyltin over the silanols of the silica surface. [SiW12 O10 4-] [Pt+Me(COD)(DMSO]4. DMSO. And oleum allow us to increase the TON of the oxidation of methane into methyl bisulfacte to 69
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6

Medeiros, Soares Marcio. « Croissance, structure et magnétisme dans les systèmes à décalage d'échange FM/AFM : approche fondamentale par la physique des surfaces ». Thesis, Grenoble, 2011. http://www.theses.fr/2011GRENY022/document.

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Résumé :
Nous nous proposons d'étudier l'interaction au niveau de l'interface entre un matériau antiferromagnétique et un ferromagnétique par un ensemble de techniques expérimentales qui utilisent le rayonnement synchrotron. Nous sommes particulièrement intéressés par l'effet de couplage d'échange dans les couches minces magnétiques avec anisotropie hors du plan. Les systèmes que nous avons étudiés sont les couches ordonnées chimiquement, FePt et MnPt sur Pt(001), et Fe/Ag(001), éventuellement couplée à CoO. Notre approche consiste à trouver de surfaces adaptées et d'étudier, pour chaque bicouche, la croissance individuelle de chaque élément, alliage ou oxyde. A travers le contrôle d'un certain nombre des paramètres, comme la structure de la surface, la propreté, le taux et la température de déposition, nous avons obtenus une bonne connaissance du processus de croissance. Les systèmes obtenus ont été étudiés in situ par la diffraction de surfaces et ex situ par l'effet Kerr magnéto-optique, le dichroïsme circulaire magnétique de rayons X et la spectroscopie d'absorption de rayons X. La relation entre le couplage d'échange, qui se manifeste par l'augmentation de la coercivité et par un champ de décalage, et la structure des couches est discutée pour les interfaces MnPt/FePt and CoO/Fe
Our aim is to study the interaction of antiferromagnetic and ferromagnetic materials with well-defined interface by combining structural, electronic and magnetic techniques using synchrotron light. Our interest is guided by the exchange bias effect in thin ferromagnetic films with perpendicular magnetic anisotropy. The main systems studied in this work were ultra-thin layers of chemically-ordered alloys of FePt and MnPt on Pt(001) and of Fe/Ag(001), eventually coupled to CoO. Our strategy was to find an appropriate surface and, for each coupled bilayer, study the individual growth of each element, alloy or oxide. By controlling a variety of parameters, such as surface structure, cleanliness, deposition rate and temperature, we have got a good understanding of the growth process. The coupled systems obtained were studied in situ by grazing incidence X-ray diffraction and ex situ by magneto-optic Kerr effect, X-ray magnetic circular dichroism and X-ray absorption spectroscopy. The relation between the exchange coupling, which manifests itself by an increase in coercivity and a bias field, and the structural characteristics was discussed for the MnPt/FePt and CoO/Fe interfaces.Keywords: exchange bias, chemically ordered alloy, MnPt, FePt, Fe/Ag(001), surface X-ray diffraction, X-ray absorption, MOKE, synchrotron
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7

Dalmas, Julie. « Etude expérimentale et théorique de l'interface Pb/Ag(111) : alliage et "désalliage" de surface ». Aix-Marseille 2, 2005. http://www.theses.fr/2005AIX22017.

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Buttard, Denis. « Étude structurale du silicium poreux de type p par diffraction haute résolution des rayons X ». Université Joseph Fourier (Grenoble ; 1971-2015), 1997. http://www.theses.fr/1997GRE10141.

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Résumé :
La premiere partie de ce travail a ete consacree a l'etude, par diffraction des rayons x, des deformations engendrees par des effets de surface. Nous avons notamment mis en evidence, grace a des mesures in situ sous ultra vide, que la dilatation qui existe pour un echantillon fraichement prepare est due aux liaisons si-h#x presentes a la surface des cristallites de silicium. Nous avons d'autre part etudie la passivation du silicium poreux par oxydation des cristallites de silicium qui se traduit par une dilatation supplementaire a la dilatation originelle du parametre de maille cristallin. Le remplissage des pores par un depot de germanium a enfin ete etudie, montrant une epitaxie du germanium jusqu'au fond des pores. La deuxieme partie de ce travail de these presente les mesures de diffusion diffuse aux pieds des pics de bragg, et les informations structurales qui en resultent, pour des echantillons fraichement prepares. Pourles couches de type p#-, les cristallites sont isotropes avec un diametre de l'ordre de 3 nm. Les couches de type p#+ se presentent de maniere differente avec des cristallites anisotropes de 10 nm diametre. Une contribution isotrope peu intense analogue au p#- est aussi presente, ce qui suggere la presence de petits objets egalement dans le p#+. La derniere partie de ce travail regroupe l'etude des couches minces et des super-reseaux de silicium poreux, par diffraction et reflectivite des rayons x. Une analyse quantitative des donnees a ete realisee systematiquement par simulation numerique. Les couches minces sont de bonne qualite bien cristallines et la rugosite des interfaces reste faible. Un resultat important est l'existence d'une couche de transition de 10-20 nm a l'interface poreux/massif, ainsi que la presence d'un film de surface de faible porosite dans le cas du materiau de type p#+. L'analyse des super-reseaux demontre leur bonne qualite, qui se manifeste par la presence de pics satellites tres fins associe a la super-structure. Le changement de porosite entre les couches s'etale ici encore sur une zone de transition de l'ordre de 14 nm.
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9

Huet, Isabelle. « Elaboration et caractérisation de films minces de LiNbO3 et LiTaO3 en vue de la réalisation de filtres à ondes acoustiques de surface ». Montpellier 2, 2001. http://www.theses.fr/2001MON20112.

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10

Soares, Marcio. « Croissance, structure et magnétisme dans les systèmes à décalage d'échange FM/AFM : approche fondamentale par la physique des surfaces ». Phd thesis, Université de Grenoble, 2011. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00603754.

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Résumé :
Nous nous proposons d'étudier l'interaction au niveau de l'interface entre un matériau antiferromagnétique et un ferromagnétique par un ensemble de techniques expérimentales qui utilisent le rayonnement synchrotron. Nous sommes particulièrement intéressés par l'effet de couplage d'échange dans les couches minces magnétiques avec anisotropie hors du plan. Les systèmes que nous avons étudiés sont les couches ordonnées chimiquement, FePt et MnPt sur Pt(001), et Fe/Ag(001), éventuellement couplée à CoO. Notre approche consiste à trouver de surfaces adaptées et d'étudier, pour chaque bicouche, la croissance individuelle de chaque élément, alliage ou oxyde. A travers le contrôle d'un certain nombre des paramètres, comme la structure de la surface, la propreté, le taux et la température de déposition, nous avons obtenus une bonne connaissance du processus de croissance. Les systèmes obtenus ont été étudiés in situ par la diffraction de surfaces et ex situ par l'effet Kerr magnéto-optique, le dichroïsme circulaire magnétique de rayons X et la spectroscopie d'absorption de rayons X. La relation entre le couplage d'échange, qui se manifeste par l'augmentation de la coercivité et par un champ de décalage, et la structure des couches est discutée pour les interfaces MnPt/FePt and CoO/Fe.
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Plus de sources

Livres sur le sujet "Diffraction de surface des rayons X"

1

Symposium on X-Ray Methods in Corrosion and Interfacial Electrochemistry (1991 Phoenix, Ariz.). Proceedings of the Symposium on X-Ray Methods in Corrosion and Interfacial Electrochemistry. Pennington, NJ : Electrochemical Society, 1992.

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2

L, Bish David, et Post Jeffrey Edward, dir. Modern powder diffraction. Washington, D.C : Mineralogical Society of America, 1989.

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3

Feidenhans'l, Robert. Solving surface structures with X-Ray Diffraction. Roskilde, Denmark : Riso National Laboratory, 1986.

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4

RX, 2003 (2003 Strasbourg France). Rayons X et matière : RX 2003 : Strasbourg, France, 9-11 décembre 2003. Les Ulis codex A, France : EDP Sciences, 2004.

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5

Fultz, Brent. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. 4e éd. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2013.

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6

Maharaj, H. P. Appareils d'analyse aux rayons X - exigences et recommandations en matière de sécurité. Ottawa, Ont : Direction de l'hygiène du milieu, 1994.

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7

W, Wyckoff Harold, Hirs, C. H. W. 1923- et Timasheff Serge N. 1926-, dir. Diffraction methods for biological macromolecules. Orlando, Fla : Academic Press, 1985.

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8

N, Broll, Cornet A et Denier P, dir. Rayons X et matière : RX 99, ENSAIS, École National Supérieure des Arts et Industries, Strasbourg, France, 7-10 décembre 1999. Les Ulis, France : EDP Sciences, 2000.

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9

André, Authier, Lagomarsino Stefano, Tanner B. K, North Atlantic Treaty Organization. Scientific Affairs Division. et NATO Advanced Study Institute on X-ray and Neutron Dynamical Diffraction (1996 : Erice, Italy), dir. X-ray and neutron dynamical diffraction : Theory and applications. New York : Plenum Press, 1996.

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10

RX, 2001 (2001 Strasbourg France). Rayons X et matière : RX 2001 : colloque dédié à la mémoire d'André Guinier : ENSAIS, École nationale supérieure des arts et industries, Strasbourg, France, 4-7 décembre 2001. Les Ulis codex A, France : EDP Sciences, 2002.

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Plus de sources

Chapitres de livres sur le sujet "Diffraction de surface des rayons X"

1

Arakawa, Etsuo. « Surface X-Ray Diffraction ». Dans Compendium of Surface and Interface Analysis, 689–96. Singapore : Springer Singapore, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_112.

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2

Sakata, Osami, et Masashi Nakamura. « Grazing Incidence X-Ray Diffraction ». Dans Surface Science Techniques, 165–90. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-34243-1_6.

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3

Stierle, Andreas, et Elias Vlieg. « Surface-Sensitive X-Ray Diffraction Methods ». Dans Modern Diffraction Methods, 221–57. Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2013. http://dx.doi.org/10.1002/9783527649884.ch8.

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4

Sherwood, Peter M. A. « X-Ray Photoelectron Diffraction ». Dans The Handbook of Surface Imaging and Visualization, 875–87. Boca Raton : CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9780367811815-63.

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5

Idzerda, Yves U. « X-Ray Photoelectron Diffraction ». Dans The Handbook of Surface Imaging and Visualization, 863–74. Boca Raton : CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9780367811815-62.

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6

Robinson, I. K. « Surface Structure by X-Ray Diffraction ». Dans The Structure of Surfaces, 60–65. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1985. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-82493-7_11.

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7

Moritz, W., et H. L. Meyerheim. « 3-D Surface Structure Analysis by X-Ray Diffraction ». Dans Surface Science, 12–28. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1996. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-80281-2_2.

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8

Ocko, B. M. « X-Ray Reflectivity and Surface Roughness ». Dans Spectroscopic and Diffraction Techniques in Interfacial Electrochemistry, 343–59. Dordrecht : Springer Netherlands, 1990. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-011-3782-9_11.

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9

Macdonald, J. E., C. Norris, E. Vlieg, A. Denier van der Gon et J. F. van der Veen. « Epitaxial Growth Studied by Surface X-Ray Diffraction ». Dans Springer Series in Surface Sciences, 438–42. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1988. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-73343-7_72.

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10

Stierle, Andreas, Johan Gustafson et Edvin Lundgren. « Surface-Sensitive X-ray Diffraction Across the Pressure Gap ». Dans Springer Series in Chemical Physics, 59–87. Cham : Springer International Publishing, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-44439-0_3.

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Actes de conférences sur le sujet "Diffraction de surface des rayons X"

1

von Brenndorff, Alexander Irtel. « Manufacture and Characterization of Holographic Diffraction Gratings for Soft X-Rays ». Dans Soft X-Ray Projection Lithography. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 1993. http://dx.doi.org/10.1364/sxray.1993.tud.9.

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2

Berreman, D. W., et A. T. Macrander. « 8×8 Matrix dynamical theory for strained oblique Bragg planes ». Dans OSA Annual Meeting. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 1987. http://dx.doi.org/10.1364/oam.1987.tum1.

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Résumé :
We have extended the matrix representation of the dynamical theory of x-ray diffraction to include Bragg planes that are oblique with respect to the surface of a flat crystal wafer. In place of the two independent 2×2 matrices of the Abelés method for planes parallel to the surface, we use a single 8 × 8 matrix. With such a matrix, rays may be skew with respect to the oblique Bragg planes and the wafer surface. The new approach brings out the close analogy between the diffraction of visible light by blazed gratings and the diffraction of x rays by edges of oblique Bragg planes near the crystal surface. Matrix methods present no special problem in cases where the layers near the surface do not have the same spacing normal to the surface as those deeper down, resulting in curved oblique planes. Thus epitaxial layers of varying composition, and crystals strained by ion implantation, can be treated as easily as uniform wafers so long as distorted 3-D order remains. An additional set of diffracting Bragg planes parallel to the surfaces can be included with little complication, thus allowing investigation of double-diffraction effects at the intersection of two diffraction cones.
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3

Malek, C. Khan, J. H. Underwood et E. M. Gullikson. « Multilayer Coated Echelle Gratings for Soft X-rays ». Dans Physics of X-Ray Multilayer Structures. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 1994. http://dx.doi.org/10.1364/pxrayms.1994.wc.3.

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Résumé :
Recently there have been many experimental and theoretical studies of diffraction gratings coated with short-period multilayers to enhance their reflectivity in the extreme ultraviolet and x-ray regions. Much of this work has been focussed on lamellar gratings, but there is also considerable interest in multilayer coated blazed gratings. Until now, these blazed gratings have been made by traditional ruling. In an interferometrically controlled ruling engine this leads to very accurate groove placement, but the quality of the groove surfaces may be poor because the grooves are burnished into a soft material such as gold. This leads to low multilayer reflectivity because the substrate roughness (in this case the groove surface) is an important factor in determining its performance. In addition the gratings can be used only in low orders, since operation in higher orders requires excellent groove profile.
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Webster, P. J., Z. Chen, D. J. Hughes, A. Steuwer, B. Malard, N. Ratel, M. N. James et S. P. Ting. « Engineering Applications of Synchrotron X-Rays and Neutrons and the FaME38 Project ». Dans ASME 2004 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2004. http://dx.doi.org/10.1115/imece2004-62451.

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Résumé :
Large Central Scientific Facilities such as the ESRF (the European Synchrotron Radiation Facility) and ILL (the European centre for neutron research), were set up to provide scientists with the advanced facilities they need to exploit neutron and synchrotron X-ray beams for scientific research. Engineers also conduct research at these Facilities, but this is less common as most practicing engineers generally have little or no knowledge of neutron or X-ray scattering, or of their considerable potential for engineering research, model validation, material development and for fatigue and failure analysis. FaME38 is the new joint support Facility for Materials Engineering, located at ILL-ESRF, set up to encourage and to facilitate engineering research by engineers at these facilities. It provides a technical and knowledge centre, a materials support laboratory, and the additional equipment and resources that academic and industrial engineers need for materials engineering research to become practicable, efficient and routine. It enables engineers to add the most advanced scientific diffraction and imaging facilities to their portfolio of diagnostic tools. These include non-destructive internal and through-surface strain scanning, phase analysis, radiography and tomography of engineering components. Synchrotron X-ray and neutron diffraction strain mapping is particularly suited for the rigorous experimental, non-destructive, validation of Finite Element and other computer model codes used to predict residual stress fields that are critical to the performance and lifetimes of engineering components. This paper discusses the FaME38 facility and demonstrates its utility in gaining fundamental insight into mechanical engineering problems through examples, including studies of railway rails, welds and peened surfaces that demonstrate the potential of neutron of synchrotron X-ray strain scanning for the determination of residual stress fields in a variety of engineering materials and critical components.
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Wilkinson, Angus P., Andrew C. Jupe, Kimberly E. Kurtis, Nikhila N. Naik, Stuart R. Stock et Peter L. Lee. « Spatially Resolved Energy Dispersive X-Ray Diffraction (EDXRD) as a Tool for Nondestructively Providing Phase Composition Depth Profiles on Cement and Other Materials ». Dans ASME 2004 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2004. http://dx.doi.org/10.1115/imece2004-62449.

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Résumé :
The presence of sulfates in water or soils surrounding portland cement concrete structures leads to progressive degradation. Spatially resolved energy dispersive diffraction (EDXRD) in combination with computed microtomography (μCT) and mechanical measurements can provide the information needed to understand, in detail, the degradation mechanisms that are associated with sulfate attack and to validate accelerated test methods used to evaluate the sulfate resistance of cements. Highly penetrating, high-energy X-rays from synchrotron sources allow the use of EDXRD to nondestructively determine depth profiles for the crystalline phases in the cement paste specimens several millimeters below the sample surface. These depth profiles, and how they vary with sulfate exposure conditions and duration, can be correlated with mechanical changes and the crack patterns seen in the microtomographs. Spatially resolved EDXRD is in principle useful for phase composition mapping and depth profiling in a wide range of materials where the attenuation of high energy x-rays is not extreme. Suitable materials include many ceramic compositions.
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Schoenlein, R. W., A. H. Chin, T. E. Glover, C. V. Shank, W. P. Leemans, P. Volfbeyn, K. J. Kim et S. Chattopadhyay. « Femtosecond X-rays Generated via Thomson Scattering of Terawatt Laser Pulses with Relativistic Electrons ». Dans International Conference on Ultrafast Phenomena. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 1996. http://dx.doi.org/10.1364/up.1996.wa.4.

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Résumé :
We have developed a unique source of femtosecond x-rays operating in the ~300 fs, ~0.5 Å regime, which will allow us to apply x-ray techniques with ultrafast time resolution to directly probe the structural dynamics of materials. The study of atomic motion on the fundamental time scale of a vibrational period, h/kT~100 fs, is important for understanding processes such as chemical reactions, vibrational energy transfer, phase transitions, and surface dynamics. Our understanding of these processes has been limited by lack of appropriate tools for probing the ultrafast motion of atoms. X-ray techniques such as diffraction and extended x-ray absorption fine structure (EXAFS) are powerful probes of atomic structure, and are widely used with synchrotron x-ray sources. However, the time resolution provided by high-brightness synchrotrons is nearly three orders of magnitude too slow to directly observe fundamental atomic motion. Conversely, femtosecond lasers can measure the optical properties of materials on a 10 fs time scale but optical properties are poor indicators of atomic motion. Femtosecond x-ray pulses will allow us to directly probe atomic motion in condensed matter on an ultrafast time scale.
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Tucoulou, Remi, Dmitry V. Roshchupkin, Olivier Mathon, Igor A. Schelokov et Michel Brunel. « High-frequency modulation of an x-ray beam by diffraction on surface acoustic waves : application to the design of a MHz-range chopper and to digital data transfer by x rays ». Dans SPIE's International Symposium on Optical Science, Engineering, and Instrumentation, sous la direction de Andreas K. Freund, Henry P. Freund et Malcolm R. Howells. SPIE, 1998. http://dx.doi.org/10.1117/12.331835.

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Saldin, D. K. « Direct methods for surface X-ray diffraction ». Dans Theory and computation for synchrotron radiation spectroscopy. AIP, 2000. http://dx.doi.org/10.1063/1.1303840.

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Jackson, M. J. « Tribological Design of Grinding Wheels Using X-Ray Diffraction Techniques ». Dans ASME 2004 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2004. http://dx.doi.org/10.1115/imece2004-60446.

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Résumé :
Grinding wheel wear is a significant problem when the wheel has to be continuously dressed in order to maintain high productivity and high quality ground surfaces, especially during the manufacture of camshafts and crankshafts for automotive applications. This paper describes the use of x-rays to specifically engineer bonding systems for conventional abrasive grinding wheels so the wheel wears less during continuous dressing operations. The paper explains how the use of x-rays can be used to develop the next generation of bonding systems that will allow the grinding wheel to be cleaned and dressed with a laser without damaging the structure of the grinding wheel.
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Taviot-Guého, C., F. Leroux, F. Goujon, P. Malfreyt et R. Mahiou. « Étude du mécanisme d'échange et de la structure des matériaux hydroxydes doubles lamellaires (HDL) par diffraction et diffusion des rayons X ». Dans UVX 2012 - 11e Colloque sur les Sources Cohérentes et Incohérentes UV, VUV et X ; Applications et Développements Récents, sous la direction de E. Constant, P. Martin et H. Bachau. Les Ulis, France : EDP Sciences, 2013. http://dx.doi.org/10.1051/uvx/201301016.

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Rapports d'organisations sur le sujet "Diffraction de surface des rayons X"

1

Lyman, Paul F., et Dilano K. Saldin. A Bayesian Approach to Surface X-ray Diffraction. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), novembre 2006. http://dx.doi.org/10.2172/895207.

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2

Yen, B. Origin of low-friction behavior in graphite investigated by surface x-ray diffraction. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), mai 2004. http://dx.doi.org/10.2172/826917.

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3

Chen, X., B. P. Tonner et J. Denlinger. Structural origin of Si-2p core-level shifts from Si(100)-c[4x2] surface : A spectral x-ray photoelectron diffraction study. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), avril 1997. http://dx.doi.org/10.2172/603550.

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