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Eckstein, Martin, et Philipp Werner. « Dielectric breakdown of Mott insulators – doublon production and doublon heating ». Journal of Physics : Conference Series 427 (27 mars 2013) : 012005. http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/427/1/012005.
Texte intégralSchilirò, Emanuela, Raffaella Lo Nigro, Fabrizio Roccaforte et Filippo Giannazzo. « Recent Advances in Seeded and Seed-Layer-Free Atomic Layer Deposition of High-K Dielectrics on Graphene for Electronics ». C — Journal of Carbon Research 5, no 3 (2 septembre 2019) : 53. http://dx.doi.org/10.3390/c5030053.
Texte intégralJunge, Paul, Moritz Greinacher, Delf Kober, Patrick Stargardt et Christian Rupprecht. « Metastable Phase Formation, Microstructure, and Dielectric Properties in Plasma-Sprayed Alumina Ceramic Coatings ». Coatings 12, no 12 (29 novembre 2022) : 1847. http://dx.doi.org/10.3390/coatings12121847.
Texte intégralRosch, A. « Breakdown of Luttinger's theorem in two-orbital Mott insulators ». European Physical Journal B 59, no 4 (octobre 2007) : 495–502. http://dx.doi.org/10.1140/epjb/e2007-00312-3.
Texte intégralTaguchi, Y., T. Matsumoto et Y. Tokura. « Dielectric breakdown of one-dimensional Mott insulatorsSr2CuO3andSrCuO2 ». Physical Review B 62, no 11 (15 septembre 2000) : 7015–18. http://dx.doi.org/10.1103/physrevb.62.7015.
Texte intégralYamakawa, H., T. Miyamoto, T. Morimoto, T. Terashige, H. Yada, N. Kida, M. Suda et al. « Mott transition by an impulsive dielectric breakdown ». Nature Materials 16, no 11 (21 août 2017) : 1100–1105. http://dx.doi.org/10.1038/nmat4967.
Texte intégralKumagai, Shohei, Hiroaki Iguchi, Masahiro Yamashita et Shinya Takaishi. « Thermally induced electron–hole dissociation dynamics in quasi-one-dimensional bromo-bridged palladium(iii) Mott-insulator [Pd(en)2Br](Suc-Cn)2·H2O (Cn-Y = dialkylsulfosuccinate ; n = 5 and 6) ». Physical Chemistry Chemical Physics 24, no 13 (2022) : 7978–82. http://dx.doi.org/10.1039/d2cp00051b.
Texte intégralTerasaki, I., T. Takayanagi, M. Kogure et T. Mizuno. « Out-of-plane dielectric response of the two-dimensional Mott insulators ». Physica C : Superconductivity 357-360 (septembre 2001) : 96–98. http://dx.doi.org/10.1016/s0921-4534(01)00174-5.
Texte intégralAbou-Kandil, Ahmed I., Loai Nasrat et EmanL Fareed. « High temperature vulcanized ethylene propylene diene rubber nanocomposites as high voltage insulators : Dielectric breakdown measurements and evaluation ». Polymers and Polymer Composites 30 (janvier 2022) : 096739112211325. http://dx.doi.org/10.1177/09673911221132593.
Texte intégralFuertes, V., M. J. Cabrera, J. Seores, D. Muñoz, J. F. Fernández et E. Enríquez. « Microstructural study of dielectric breakdown in glass-ceramics insulators ». Journal of the European Ceramic Society 39, no 2-3 (février 2019) : 376–83. http://dx.doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2018.08.044.
Texte intégralKim, Taeyong, Simpy Sanyal, Seongho Jeon et Junsin Yi. « Prediction of Dielectric Breakdown of OHTL Insulators Using Contact Angle Measurements ». ECS Journal of Solid State Science and Technology 10, no 12 (1 décembre 2021) : 123010. http://dx.doi.org/10.1149/2162-8777/ac3ff6.
Texte intégralZulkifeli, M. A., S. N. Sabki, S. Taking, N. A. Azmi et S. S. Jamuar. « The Effect of Different Dielectric Materials in Designing High-Performance Metal-Insulator-Metal (MIM) Capacitors ». International Journal of Electrical and Computer Engineering (IJECE) 7, no 3 (1 juin 2017) : 1554. http://dx.doi.org/10.11591/ijece.v7i3.pp1554-1561.
Texte intégralKolodzey, J., E. A. Chowdhury, T. N. Adam, Guohua Qui, I. Rau, J. O. Olowolafe, J. S. Suehle et Yuan Chen. « Electrical conduction and dielectric breakdown in aluminum oxide insulators on silicon ». IEEE Transactions on Electron Devices 47, no 1 (2000) : 121–28. http://dx.doi.org/10.1109/16.817577.
Texte intégralCorraze, B., E. Janod, L. Cario, P. Moreau, L. Lajaunie, P. Stoliar, V. Guiot et al. « Electric field induced avalanche breakdown and non-volatile resistive switching in the Mott Insulators AM4Q8 ». European Physical Journal Special Topics 222, no 5 (juillet 2013) : 1046–56. http://dx.doi.org/10.1140/epjst/e2013-01905-1.
Texte intégralSohail, Muhammad, Salman Amin, Yasir Butt et Muhammad Bin Zubaid Ramay. « Aging Performance of Low-Density Polyethylene/Silicone Rubber Blends Insulators Under Contaminated Conditions ». Pakistan Journal of Engineering and Technology 5, no 1 (10 mars 2022) : 29–34. http://dx.doi.org/10.51846/vol5iss1pp29-34.
Texte intégralLockwitz, S., et H. Jostlein. « A study of dielectric breakdown along insulators surrounding conductors in liquid argon ». Journal of Instrumentation 11, no 03 (22 mars 2016) : P03026. http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/11/03/p03026.
Texte intégralTanaka, Yasuhiro, et Kenji Yonemitsu. « Current-voltage characteristics and breakdown mechanism in one-dimensional band and mott insulators attached to electrodes ». Journal of the Korean Physical Society 62, no 12 (juin 2013) : 2164–67. http://dx.doi.org/10.3938/jkps.62.2164.
Texte intégralUGAJIN, R., S. HIRATA et Y. MORI. « FERROMAGNETIC AND MOTT TRANSITIONS MODULATED BY VARYING FRACTAL DIMENSIONS IN FRACTAL–SHAPED NANOSTRUCTURES ». International Journal of Modern Physics B 15, no 14 (10 juin 2001) : 2025–44. http://dx.doi.org/10.1142/s0217979201006550.
Texte intégralMorita, Kenji, Hiroshi Nozaki et Kisato Tone. « The Dielectric Breakdown Mechanism of Suspension Insulators due to the Steep Impulse Voltage ». IEEJ Transactions on Power and Energy 116, no 11 (1996) : 1415–21. http://dx.doi.org/10.1541/ieejpes1990.116.11_1415.
Texte intégralNeusel, C., H. Jelitto et G. A. Schneider. « Electrical conduction mechanism in bulk ceramic insulators at high voltages until dielectric breakdown ». Journal of Applied Physics 117, no 15 (21 avril 2015) : 154902. http://dx.doi.org/10.1063/1.4917208.
Texte intégralLefort Borges, Cícero, et Manuel Luís Barreira Martinez. « Using radio frequency and ultrasonic antennas for inspecting pin-type insulators on medium-voltage overhead distribution lines ». Ingeniería e Investigación 33, no 2 (1 mai 2013) : 63–69. http://dx.doi.org/10.15446/ing.investig.v33n2.39519.
Texte intégralNeff, H., A. N. Lima, E. K. Melcher, C. Moreira, A. S. Barreto Neto et J. Precker. « An electro-thermal approach to dielectric breakdown in solids : application to crystalline polymer insulators ». IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 17, no 3 (juin 2010) : 872–80. http://dx.doi.org/10.1109/tdei.2010.5492261.
Texte intégralSUÑE, JORDI, DAVID JIMENEZ et ENRIQUE MIRANDA. « BREAKDOWN MODES AND BREAKDOWN STATISTICS OF ULTRATHIN SiO2 GATE OXIDES ». International Journal of High Speed Electronics and Systems 11, no 03 (septembre 2001) : 789–848. http://dx.doi.org/10.1142/s0129156401001003.
Texte intégralKhan, Saadat Ullah, Muhammad Rafiq et Kashif Imdad. « Temporal Effects of Thermal Stresses on Solid Dielectric Materials under Diverse Voltage Conditions ». Pakistan Journal of Engineering and Technology 5, no 2 (15 juin 2022) : 11–16. http://dx.doi.org/10.51846/vol5iss2pp11-15.
Texte intégralNesenyuk, T. A. « TESTING OF PROTOTYPE SIGNALING DEVICES FOR INSULATOR CONTROL ». World of Transport and Transportation 16, no 3 (28 juin 2018) : 36–49. http://dx.doi.org/10.30932/1992-3252-2018-16-3-4.
Texte intégralStark, S. « On the size dependence of the dielectric breakdown strength of solid insulators at room temperature ». Journal of the European Ceramic Society 42, no 2 (février 2022) : 462–71. http://dx.doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2021.10.023.
Texte intégralYoneda, Kenji, Yoshihiro Todokoro et Morio Inoue. « Thin silicon dioxide and nitrided oxide using rapid thermal processing for trench capacitors ». Journal of Materials Research 6, no 11 (novembre 1991) : 2362–70. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1991.2362.
Texte intégralMitrovic, Ivona Z., Harry Finch, Leanne A. H. Jones, Vinod R. Dhanak, Adrian N. Hannah, Reza Valizadeh, Arne Benjamin B. Renz, Vishal Ajit Shah, Peter Michael Gammon et P. A. Mawby. « (Invited) Rare Earth Oxides on Wide Band Gap Semiconductors ». ECS Meeting Abstracts MA2022-01, no 19 (7 juillet 2022) : 1072. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-01191072mtgabs.
Texte intégralCajetan, Okolo Chidiebere, Ezechukwu O.A., Olisakwe C.O., Ezendokwelu C.E. et Umunna Chike. « CHARACTERIZATION OF ELECTRICAL PORCELAIN INSULATORS FROM LOCAL CLAYS ». International Journal of Research -GRANTHAALAYAH 3, no 1 (31 janvier 2015) : 26–36. http://dx.doi.org/10.29121/granthaalayah.v3.i1.2015.3050.
Texte intégralMitra, Kalyan Yoti, Enrico Sowade, Christoph Sternkiker, Carme Martínez-Domingo, Eloi Ramon, Jordi Carrabina et Reinhard R. Baumann. « Investigation on Electrical Stress over Metal-Insulator-Metal (MIM) Structures Based on Compound Dielectrics for the Inkjet-Printed OTFT Stability ». Applied Mechanics and Materials 748 (avril 2015) : 129–33. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.748.129.
Texte intégralLima, A. M. N., A. G. S. Barreto Neto, E. U. K. Melcher et H. Neff. « Refined dielectric breakdown model for crystalline organic insulators : electro-thermal instability coupled to interband impact ionization ». IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 18, no 4 (août 2011) : 1038–45. http://dx.doi.org/10.1109/tdei.2011.5976093.
Texte intégralZhang, Jianwei, Hongguang Wang, Yongdong Li, Chunliang Liu, Wei Luo et Jiawei Zhang. « Evolution of vacuum surface flashover for angled dielectric insulators with particle-in-cell simulation ». Physics of Plasmas 29, no 4 (avril 2022) : 043506. http://dx.doi.org/10.1063/5.0082530.
Texte intégralKovalchuk, N. S., A. A. Omelchenko, V. A. Pilipenko, V. A. Solodukha, S. V. Demidovich, V. V. Kolos, V. A. Filipenia et D. V. Shestovski. « Research of Electrophysical Properties of Thin Gate Dielectrics Obtained by Rapid Thermal Processing Method ». Doklady BGUIR 20, no 4 (29 juin 2022) : 44–52. http://dx.doi.org/10.35596/1729-7648-2022-20-4-44-52.
Texte intégralMuangpratoom, Pichai, Issaraporn Khonchaiyaphum et Wanwilai Vittayakorn. « Improvement of the Electrical Performance of Outdoor Porcelain Insulators by Utilization of a Novel Nano-TiO2 Coating for Application in Railway Electrification Systems ». Energies 16, no 1 (3 janvier 2023) : 561. http://dx.doi.org/10.3390/en16010561.
Texte intégralWajanasoonthon, Kanin, et Amnart Suksri. « Long Term Thermal Performance of Palm Oil and Nano Graphene Filler in Nanofluids Application on Transformer Insulating Oil and Electrical Breakdown Voltage ». Key Engineering Materials 931 (9 septembre 2022) : 9–15. http://dx.doi.org/10.4028/p-bhz05b.
Texte intégralGolovko, Sergey Vladimirovich, et Julia Aleksandrovna Golovko. « Software and hardware complex based on technical vision for diagnosing electrical insulators ». Vestnik of Astrakhan State Technical University. Series : Management, computer science and informatics 2022, no 3 (29 juillet 2022) : 30–37. http://dx.doi.org/10.24143/2072-9502-2022-3-30-37.
Texte intégralSe-Ondoua, MuD Malec, N. Zebouchi et Hoang-The-Giam. « Study of space charge effect on dielectric DC breakdown of synthetic insulators with the pressure wave propagation method ». Journal of Electrostatics 40-41 (juin 1997) : 355–61. http://dx.doi.org/10.1016/s0304-3886(97)00070-3.
Texte intégralZheng, Jianjun, Shaojian He, Jiaqi Wang, Wenxuan Fang, Yang Xue, Liming Xie et Jun Lin. « Performance of Silicone Rubber Composites Filled with Aluminum Nitride and Alumina Tri-Hydrate ». Materials 13, no 11 (29 mai 2020) : 2489. http://dx.doi.org/10.3390/ma13112489.
Texte intégralEckstein, J. N., I. Bozovic et G. F. Virshup. « Atomic Layer-by-Layer Engineering of High Tc Materials and Heterostructure Devices ». MRS Bulletin 19, no 9 (septembre 1994) : 44–50. http://dx.doi.org/10.1557/s0883769400047989.
Texte intégralMukherjee, Kalparupa, Carlo De Santi, Matteo Borga, Shuzhen You, Karen Geens, Benoit Bakeroot, Stefaan Decoutere, Gaudenzio Meneghesso, Enrico Zanoni et Matteo Meneghini. « Use of Bilayer Gate Insulator in GaN-on-Si Vertical Trench MOSFETs : Impact on Performance and Reliability ». Materials 13, no 21 (23 octobre 2020) : 4740. http://dx.doi.org/10.3390/ma13214740.
Texte intégralLiu, Chang, Yiwen Xu, Daoguang Bi, Bing Luo, Fuzeng Zhang, Tingting Wang, Yingbang Yao, Shengguo Lu et Wenrong Xu. « The Effects of Aluminum-Nitride Nano-Fillers on the Mechanical, Electrical, and Thermal Properties of High Temperature Vulcanized Silicon Rubber for High-Voltage Outdoor Insulator Applications ». Materials 12, no 21 (30 octobre 2019) : 3562. http://dx.doi.org/10.3390/ma12213562.
Texte intégralLucchini, Francesco, Nicolò Marconato et Paolo Bettini. « Automatic Optimization of Gas Insulated Components Based on the Streamer Inception Criterion ». Electronics 10, no 18 (17 septembre 2021) : 2280. http://dx.doi.org/10.3390/electronics10182280.
Texte intégralKannan, V. C. « Fresnel fringe contrast in the TEM : Application to study the microstructure of amorphous silicon ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (août 1991) : 1000–1001. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100089317.
Texte intégralXayyavong, Mingkhouan, Kittipong Tonmitr, Norrawit Tonmitr et Eiji Kaneko. « The Scrutiny of the Insulation Breakdown Strength for the Nanocomposite Oxide Doped Epoxy Resin Insulator with Different Electrodes by Using Positive Impulse Voltage ». Key Engineering Materials 705 (août 2016) : 63–67. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.705.63.
Texte intégralLiu, Yunpeng, Wanxian Wang, Hechen Liu, Mingjia Zhang, Jie Liu et Junwei Qi. « Blending Modification of Alicyclic Resin and Bisphenol A Epoxy Resin to Enhance Salt Aging Resistance for Composite Core Rods ». Polymers 14, no 12 (13 juin 2022) : 2394. http://dx.doi.org/10.3390/polym14122394.
Texte intégralPinterić, M., T. Ivek, M. Čulo, O. Milat, M. Basletić, B. Korin-Hamzić, E. Tafra, A. Hamzić, M. Dressel et S. Tomić. « What is the origin of anomalous dielectric response in 2D organic dimer Mott insulators κ-(BEDT-TTF)2Cu[N(CN)2]Cl and κ-(BEDT-TTF)2Cu2(CN)3 ». Physica B : Condensed Matter 460 (mars 2015) : 202–7. http://dx.doi.org/10.1016/j.physb.2014.11.071.
Texte intégralRenz, Arne Benjamin Benjamin, Oliver J. Vavasour, Peter Michael Gammon, Fan Li, Tianxiang Dai, Guy W. C. Baker, Nicholas E. Grant et al. « (Invited, Digital Presentation) Improved Reliability of 4H-SiC Metal-Oxide-Semiconductor Devices Utilising Atomic Layer Deposited Layers with Enhanced Interface Quality ». ECS Meeting Abstracts MA2022-01, no 19 (7 juillet 2022) : 1065. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-01191065mtgabs.
Texte intégralRashid, Arooj, Jawad Saleem, Muhammad Amin et Sahibzada Muhammad Ali. « Long-term aging characteristics of co-filled nano-silica and micro-ATH in HTV silicone rubber composite insulators ». Polymers and Polymer Composites 29, no 1 (26 janvier 2020) : 40–56. http://dx.doi.org/10.1177/0967391120901421.
Texte intégralRaicevic, Nebojsa B., et Nikola Raicevic. « Reducing the impact of ELF electromagnetic fields of HV power cables on the environment by modeling the cable accessories ». COMPEL : The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering 34, no 4 (6 juillet 2015) : 1016–28. http://dx.doi.org/10.1108/compel-10-2014-0251.
Texte intégralSchadler, Linda S., Wei Chen, L. Catherine Brinson, Ravishankar Sundararaman, Prajakta Prabhune et Akshay Iyer. « (Invited) Combining Machine Learning, DFT, EFM, and Modeling to Design Nanodielectric Behavior ». ECS Meeting Abstracts MA2022-01, no 19 (7 juillet 2022) : 1068. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-01191068mtgabs.
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