Articles de revues sur le sujet « Defects - Polycrystalline Oxides »
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Afre, Rakesh A., Nallin Sharma, Maheshwar Sharon et Madhuri Sharon. « Transparent Conducting Oxide Films for Various Applications : A Review ». REVIEWS ON ADVANCED MATERIALS SCIENCE 53, no 1 (1 janvier 2018) : 79–89. http://dx.doi.org/10.1515/rams-2018-0006.
Texte intégralLiu, Jun, Jin Liang He, Jun Hu, Wang Chen Long et Feng Chao Luo. « Admittance Spectroscopy of Y2O3-Doped ZnO Varistors Sintered at Different Temperature ». Key Engineering Materials 434-435 (mars 2010) : 382–85. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.434-435.382.
Texte intégralShcherbakov I. P., Narykova M. V. et Chmel A. E. « Evolution of structural defects of SiO-=SUB=-2-=/SUB=--TiO-=SUB=-2-=/SUB=- glasses with a change in TiO-=SUB=-2-=/SUB=- concentration from zero to phase separation ». Physics of the Solid State 65, no 4 (2023) : 588. http://dx.doi.org/10.21883/pss.2023.04.55999.20.
Texte intégralSamb, Mamadou Lamine, Emmanuel Jacques, Amadou Seidou Maiga et Tayeb Mohammed-Brahim. « Benefits from Using Very Thin Channel Layer for TFTs ». Electronics 12, no 12 (16 juin 2023) : 2694. http://dx.doi.org/10.3390/electronics12122694.
Texte intégralLee, Ming-Kwei, et Chih-Feng Yen. « Comprehension of Postmetallization Annealed MOCVD-TiO2on(NH4)2STreated III-V Semiconductors ». Active and Passive Electronic Components 2012 (2012) : 1–10. http://dx.doi.org/10.1155/2012/148705.
Texte intégralAfonin, Nikolay N., et Vera A. Logachova. « Reactive Interdiffusion of Components in a Non-Stoichiometric Two‑Layer System of Polycrystalline Titanium and Cobalt Oxides ». Kondensirovannye sredy i mezhfaznye granitsy = Condensed Matter and Interphases 22, no 4 (26 novembre 2020) : 430–37. http://dx.doi.org/10.17308/kcmf.2020.22/3058.
Texte intégralЩербаков, И. П., М. В. Нарыкова et А. Е. Чмель. « Эволюция дефектов строения стекол SiO-=SUB=-2-=/SUB=--TiO-=SUB=-2-=/SUB=- при изменении концентрации TiO-=SUB=-2-=/SUB=- от нуля до разделения фаз ». Физика твердого тела 65, no 4 (2023) : 604. http://dx.doi.org/10.21883/ftt.2023.04.55297.20.
Texte intégralZhang, Yue Bin, Thirumany Sritharan et Sean Li. « Isolated and Grouped Co Spins in Polycrystalline Zn1-xCoxO Oxides ». Advances in Science and Technology 52 (octobre 2006) : 27–30. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ast.52.27.
Texte intégralQi, Yue, Christine James, Tridip Das, Jason D. Nicholas, Leah Nation et Brian W. Sheldon. « (Invited) Computing the Anisotropic Chemical Strain in Non-Stoichiometric Oxides for Solid Oxide Fuel Cell and Li-Ion Battery Applications ». ECS Meeting Abstracts MA2018-01, no 32 (13 avril 2018) : 1940. http://dx.doi.org/10.1149/ma2018-01/32/1940.
Texte intégralChen, Nan, S. J. Rothman, J. L. Routbort et K. C. Goretta. « Tracer diffusion of Ba and Y in YBa2Cu3Ox ». Journal of Materials Research 7, no 9 (septembre 1992) : 2308–16. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1992.2308.
Texte intégralYu, Shijin, Wenzhen Zhu, Ying Wei, Jiahao Tong, Quanya Wei, Tianrui Chen, Xuannan He, Dingwen Hu, Cuiyun Li et Hua Zhu. « Facile Synthesis of Multi-Channel Surface-Modified Amorphous Iron Oxide Nanospheres as High-Performance Anode Materials for Lithium-Ion Batteries ». Energies 15, no 16 (18 août 2022) : 5974. http://dx.doi.org/10.3390/en15165974.
Texte intégralAdamchuck, D. V., et V. K. Ksenevich. « Control of Electrical and Optical Parameters of Humidity Sensors Active Elements Based on Tin Oxides Films with Variable Composition ». Devices and Methods of Measurements 10, no 2 (24 juin 2019) : 138–50. http://dx.doi.org/10.21122/2220-9506-2019-10-2-138-150.
Texte intégralCao, Qing. « (Invited) Two-Dimensional Amorphous Carbon Prepared from Solution Precursor As Novel Dielectrics for Nanoelectronics ». ECS Meeting Abstracts MA2022-01, no 9 (7 juillet 2022) : 755. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-019755mtgabs.
Texte intégralVahidi, Hasti, Komal Syed, Huiming Guo, Xin Wang, Jenna Laurice Wardini, Jenny Martinez et William John Bowman. « A Review of Grain Boundary and Heterointerface Characterization in Polycrystalline Oxides by (Scanning) Transmission Electron Microscopy ». Crystals 11, no 8 (28 juillet 2021) : 878. http://dx.doi.org/10.3390/cryst11080878.
Texte intégralKim, Sunjae, Minje Kim, Jihyun Kim et Wan Sik Hwang. « Plasma Nitridation Effect on β-Ga2O3 Semiconductors ». Nanomaterials 13, no 7 (28 mars 2023) : 1199. http://dx.doi.org/10.3390/nano13071199.
Texte intégralPACCHIONI, GIANFRANCO. « QUANTUM CHEMISTRY OF OXIDE SURFACES : FROM CO CHEMISORPTION TO THE IDENTIFICATION OF THE STRUCTURE AND NATURE OF POINT DEFECTS ON MgO ». Surface Review and Letters 07, no 03 (juin 2000) : 277–306. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x00000336.
Texte intégralMagari, Yusaku, Taiki Kataoka, Wenchang Yeh et Mamoru Furuta. « (Invited) Hydrogenated Polycrystalline In2O3 (In2O3:H) Thin-Film Transistor with High Mobility Exceeding 100 cm2V−1s−1 Via Solid-Phase Crystallization ». ECS Meeting Abstracts MA2022-02, no 35 (9 octobre 2022) : 1277. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-02351277mtgabs.
Texte intégralTsch�pe, Andreas. « Interface Defect Chemistry and Effective Conductivity in Polycrystalline Cerium Oxide ». Journal of Electroceramics 14, no 1 (janvier 2005) : 5–23. http://dx.doi.org/10.1007/s10832-005-6580-6.
Texte intégralChiesa, Mario, Maria Cristina Paganini, Elio Giamello et Damien M. Murphy. « Partial Ionization of Cesium Atoms at Point Defects over Polycrystalline Magnesium Oxide ». Journal of Physical Chemistry B 105, no 43 (novembre 2001) : 10457–60. http://dx.doi.org/10.1021/jp0118470.
Texte intégralFernandez, Erwin, Dennis Friedrich, Roel van De Krol et Fatwa Abdi. « Alternate-Target Layer-By-Layer Pulsed Laser Deposition of Epitaxial BiVO4 Thin Films ». ECS Meeting Abstracts MA2022-01, no 36 (7 juillet 2022) : 1559. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-01361559mtgabs.
Texte intégralXu, Gong Qin, Xiao Wei Chen et Xing Yu Mao. « Possible Ferromagnetism in YCuO System ». Solid State Phenomena 298 (octobre 2019) : 181–85. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.298.181.
Texte intégralChatterjee, Arindom, Alexandros El Sachat, Ananya Banik, Kanishka Biswas, Alejandro Castro-Alvarez, Clivia M. Sotomayor Torres, José Santiso et Emigdio Chávez-Ángel. « Improved High Temperature Thermoelectric Properties in Misfit Ca3Co4O9 by Thermal Annealing ». Energies 16, no 13 (4 juillet 2023) : 5162. http://dx.doi.org/10.3390/en16135162.
Texte intégralMaier, J., et W. Göpel. « Investigations of the bulk defect chemistry of polycrystalline Tin(IV) oxide ». Journal of Solid State Chemistry 72, no 2 (février 1988) : 293–302. http://dx.doi.org/10.1016/0022-4596(88)90032-1.
Texte intégralKosenko, Nadezhda F., et Natalya V. Filatova. « BINDING MATERIALS ACTIVITY REGULATING BY MECHANICAL CHEMICAL METHODS ». IZVESTIYA VYSSHIKH UCHEBNYKH ZAVEDENIY KHIMIYA KHIMICHESKAYA TEKHNOLOGIYA 61, no 1 (21 décembre 2017) : 66. http://dx.doi.org/10.6060/tcct.20186101.5664.
Texte intégralGuillén, Cecilia. « Polycrystalline WO3−x Thin Films Obtained by Reactive DC Sputtering at Room Temperature ». Materials 16, no 4 (6 février 2023) : 1359. http://dx.doi.org/10.3390/ma16041359.
Texte intégralGARCÍA-MÉNDEZ, MANUEL, SANTOS MORALES-RODRÍGUEZ, SADASIVAN SHAJI, BINDU KRISHNAN et PASCUAL BARTOLO-PÉREZ. « STRUCTURAL PROPERTIES OF AlN FILMS WITH OXYGEN CONTENT DEPOSITED BY REACTIVE MAGNETRON SPUTTERING : XRD AND XPS CHARACTERIZATION ». Surface Review and Letters 18, no 01n02 (février 2011) : 23–31. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x1101445x.
Texte intégralZaborac, J. A., J. P. Buban, H. O. Moltaji, S. Stemmer et N. D. Browning. « Cation Coordination At Σ Grain Boundaries in TiO2 and SrTiO3, and its Effect on the Local Electronic Properties ». Microscopy and Microanalysis 5, S2 (août 1999) : 792–93. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927600017281.
Texte intégralLombos, B. A. « Deep levels in semiconductors ». Canadian Journal of Chemistry 63, no 7 (1 juillet 1985) : 1666–71. http://dx.doi.org/10.1139/v85-279.
Texte intégralChopra, Nitin, Bing Hu et Bruce J. Hinds. « Selective growth and kinetic study of copper oxide nanowires from patterned thin-film multilayer structures ». Journal of Materials Research 22, no 10 (octobre 2007) : 2691–99. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2007.0377.
Texte intégralWalker, John F., J. C. Reiner et C. Solenthaler. « Preparation of TEM samples by focused ion beams ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13 août 1995) : 518–19. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100138968.
Texte intégralAnderson, Lawrence O., Adrian Xiao Bin Yong, Elif Ertekin et Nicola H. Perry. « Modifying Crystal Symmetry and B-O Charge Distribution to Tailor Chemical Expansion in Mixed Conducting Perovskites ». ECS Meeting Abstracts MA2022-01, no 37 (7 juillet 2022) : 1624. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-01371624mtgabs.
Texte intégralXu, Xu, Chaoqi Xiong, Shaoping Mao et Wenjuan Yao. « Established Model on Polycrystalline Graphene Oxide and Analysis of Mechanical Characteristic ». Crystals 12, no 3 (12 mars 2022) : 382. http://dx.doi.org/10.3390/cryst12030382.
Texte intégralSun, Dehui, Xueliang Kang, Qian Yu, Kun Cui, Xiaoyong Qin, Xuxia Shi, Huaqiang Cai, Tadashi Ohachi, Yuanhua Sang et Hong Liu. « Antisite defect elimination through Mg doping in stoichiometric lithium tantalate powder synthesizedviaa wet-chemical spray-drying method ». Journal of Applied Crystallography 48, no 2 (21 février 2015) : 377–85. http://dx.doi.org/10.1107/s1600576715002113.
Texte intégralKhomenkova, L., V. Kushnirenko, M. Osipenok, K. Avramenko, Y. Polishchuk, I. Markevich, V. Strelchuk, V. Kladko, L. Borkovska et T. Kryshtab. « Effect of Li-doping on Photoluminescence of Screen-printed Zinc Oxide Films ». MRS Proceedings 1766 (2015) : 167–77. http://dx.doi.org/10.1557/opl.2015.424.
Texte intégralFurubayashi, Yutaka, Makoto Maehara et Tetsuya Yamamoto. « Tailoring of Point Defects in Polycrystalline Indium Tin Oxide Films with Postirradiation of Electronegative Oxygen Ions ». ACS Applied Electronic Materials 1, no 8 (17 juillet 2019) : 1545–51. http://dx.doi.org/10.1021/acsaelm.9b00317.
Texte intégralGunawan, W., S. Stepanus, L. Lisapaly, F. Mustari et H. S. Sutomo. « Micro crack imaging of silicon solar cells with SEM (Scanning Electron Microscopy) ». IOP Conference Series : Earth and Environmental Science 878, no 1 (1 octobre 2021) : 012062. http://dx.doi.org/10.1088/1755-1315/878/1/012062.
Texte intégralHan, S. D., S. Y. Huang, G. Campet, S. H. Pulcinnelli et C. V. Santilli. « Reversible Electrochemical Insertion of Lithium in Fine Grained Polycrystalline Powders of SnO2 ». Active and Passive Electronic Components 18, no 1 (1995) : 61–68. http://dx.doi.org/10.1155/1995/83138.
Texte intégralSimoen, Eddy, Bogdan Cretu, Wen Fang, Marc Aoulaiche, Jean Marc Routoure, Regis Carin, Jun Luo, Chao Zhao et Cor Claeys. « Low-Frequency Noise Spectroscopy of Bulk and Border Traps in Nanoscale Devices ». Solid State Phenomena 242 (octobre 2015) : 449–58. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.242.449.
Texte intégralWang, Qi, Zhi Jian Peng, Yang Wang et Xiu Li Fu. « Deposition and Electrical Resistivity of Oxygen-Deficient Tin Oxide Films Prepared by RF Magnetron Sputtering at Different Powers ». Solid State Phenomena 281 (août 2018) : 504–9. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.281.504.
Texte intégralFuruta, Mamoru, et Yusaku Magari. « (Invited, Digital Presentation) Nondegenerate Hydrogen-Doped Polycrystalline Indium Oxide (InOx:H) Thin Films for High-Mobility Thin Film Transistors ». ECS Meeting Abstracts MA2022-02, no 35 (9 octobre 2022) : 1266. http://dx.doi.org/10.1149/ma2022-02351266mtgabs.
Texte intégralR, Suresh, Thirumal Valavan K, Justin Paul M et Indira Priyadharshini T. « Implication of Mn concentration on the properties of cerium oxide thin films ». NanoNEXT 1, no 1 (30 décembre 2020) : 1–9. http://dx.doi.org/10.34256/nnxt2011.
Texte intégralNguyen, N. V., Albert V. Davydov, Deane Chandler-Horowitz et Martin M. Frank. « Sub-bandgap defect states in polycrystalline hafnium oxide and their suppression by admixture of silicon ». Applied Physics Letters 87, no 19 (7 novembre 2005) : 192903. http://dx.doi.org/10.1063/1.2126136.
Texte intégralLai, Chun‐Yen, Yu‐Ting Lin, Hung‐Kun Hsu, Ding‐Yeong Wang, Wen‐Wei Wu et Ping‐Hung Yeh. « Enhancement in the Detection Ability of Metal Oxide Sensors Using Defect‐Rich Polycrystalline Nanofiber Devices ». Global Challenges 4, no 11 (28 septembre 2020) : 2000041. http://dx.doi.org/10.1002/gch2.202000041.
Texte intégralHou, R. Z., P. Ferreira et P. M. Vilarinho. « Observation of Hierarchical Porous BaTiO3 Derived from Hard Template ». Microscopy and Microanalysis 15, S3 (juillet 2009) : 49–50. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927609990705.
Texte intégralHeidaryan, Narges, et Hosein Eshghi. « An Investigation on the Effect of the Catalyst on Physical Properties of Silicon Oxide Nanostructures Prepared by CVD Technique ». Advanced Materials Research 829 (novembre 2013) : 173–76. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.829.173.
Texte intégralMaaoui, B., Y. Aoun, S. Benramache, A. Nid, R. Far et A. Touati. « Synthesis and Characterization of Physical Properties of the NiO Thin Films by Various Concentrations ». Advances in Materials Science 20, no 3 (1 septembre 2020) : 79–87. http://dx.doi.org/10.2478/adms-2020-0017.
Texte intégralChaithanatkun, Natpasit, Korakot Onlaor, Thutiyaporn Thiwawong et Benchapol Tunhoo. « Modification of Structural and Vibrational Properties of ZnO Nanoparticles Prepared by Simple Chemical Precipitation Method ». Key Engineering Materials 675-676 (janvier 2016) : 138–41. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.675-676.138.
Texte intégralČeh, M., H. Gu, H. Müllejans et A. Rečnik. « Analytical electron microscopy of planar faults in SrO-doped CaTiO3 ». Journal of Materials Research 12, no 9 (septembre 1997) : 2438–46. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1997.0322.
Texte intégralAlireza, Heidari. « Effect of Photoconductivity Precursor Volume on Structural, Physical, Electrical and Optical Properties of Thin Layers of Cadmium Oxide (CdO) Nanostructures Produced Using Spray Pyrolysis Technique ». International Journal of Membrane Science and Technology 8, no 2 (9 décembre 2021) : 40–53. http://dx.doi.org/10.15379/2410-1869.2021.08.02.04.
Texte intégralJiang, J., O. O. Awadelkarim, J. Werking, G. Bersuker et Y. D. Chan. « Fowler–Nordheim stressing of polycrystalline Si oxide Si structures : Observation of stress induced defects in the oxide, oxide/Si interface, and in bulk silicon ». Journal of Vacuum Science & ; Technology A : Vacuum, Surfaces, and Films 15, no 3 (mai 1997) : 875–79. http://dx.doi.org/10.1116/1.580724.
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