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Paul, Bipul C., Ryan Tu, Shinobu Fujita, Masaki Okajima, Thomas H. Lee et Yoshio Nishi. « An Analytical Compact Circuit Model for Nanowire FET ». IEEE Transactions on Electron Devices 54, no 7 (juillet 2007) : 1637–44. http://dx.doi.org/10.1109/ted.2007.899397.
Texte intégralBanerjee, Ayan, M. K. Jasim et Anirudh Pradhan. « Analytical model of dark energy stars ». Modern Physics Letters A 35, no 10 (8 janvier 2020) : 2050071. http://dx.doi.org/10.1142/s0217732320500716.
Texte intégralVerma, Yogesh Kumar, Varun Mishra et Santosh Kumar Gupta. « A Physics-Based Analytical Model for MgZnO/ZnO HEMT ». Journal of Circuits, Systems and Computers 29, no 01 (26 mars 2019) : 2050009. http://dx.doi.org/10.1142/s0218126620500097.
Texte intégralBaskey, Lipi, Shyam Das et Farook Rahaman. « An analytical anisotropic compact stellar model of embedding class I ». Modern Physics Letters A 36, no 05 (20 janvier 2021) : 2150028. http://dx.doi.org/10.1142/s0217732321500280.
Texte intégralPavanello, Marcelo Antonio, Renan Trevisoli, Rodrigo Trevisoli Doria et Michelly de Souza. « Static and dynamic compact analytical model for junctionless nanowire transistors ». Journal of Physics : Condensed Matter 30, no 33 (25 juillet 2018) : 334002. http://dx.doi.org/10.1088/1361-648x/aad34f.
Texte intégralNaeve, T., M. Hohenbild et P. Seegebrecht. « A new analytical compact model for two-dimensional finger photodiodes ». Solid-State Electronics 52, no 2 (février 2008) : 299–304. http://dx.doi.org/10.1016/j.sse.2007.09.008.
Texte intégralBalaguer, M., B. Iñiguez et J. B. Roldán. « An analytical compact model for Schottky-barrier double gate MOSFETs ». Solid-State Electronics 64, no 1 (octobre 2011) : 78–84. http://dx.doi.org/10.1016/j.sse.2011.06.045.
Texte intégralMantelli, M. B. H., et M. M. Yovanovich. « Compact analytical model for overall thermal resistance of bolted joints ». International Journal of Heat and Mass Transfer 41, no 10 (mai 1998) : 1255–66. http://dx.doi.org/10.1016/s0017-9310(97)00204-4.
Texte intégralInokawa, H., et Y. Takahashi. « A compact analytical model for asymmetric single-electron tunneling transistors ». IEEE Transactions on Electron Devices 50, no 2 (février 2003) : 455–61. http://dx.doi.org/10.1109/ted.2002.808554.
Texte intégralJia, Yonghao, Yuehang Xu, Zhang Wen, Yunqiu Wu et Yongxin Guo. « Analytical Gate Capacitance Models for Large-Signal Compact Model of AlGaN/GaN HEMTs ». IEEE Transactions on Electron Devices 66, no 1 (janvier 2019) : 357–63. http://dx.doi.org/10.1109/ted.2018.2881255.
Texte intégralLobontiu, Nicolae, Morgan Moses, Jozef Hunter, Daniel Min et Mircea Gh Munteanu. « A Compact Three-Dimensional Two-Layer Flexible Hinge ». Machines 11, no 8 (11 août 2023) : 825. http://dx.doi.org/10.3390/machines11080825.
Texte intégralRossello, J. L., et J. Segura. « An Analytical Charge-Based Compact Delay Model for Submicrometer CMOS Inverters ». IEEE Transactions on Circuits and Systems I : Regular Papers 51, no 7 (juillet 2004) : 1301–11. http://dx.doi.org/10.1109/tcsi.2004.830692.
Texte intégralZong, Zhiwei, Ling Li, Jin Jang, Nianduan Lu et Ming Liu. « Analytical surface-potential compact model for amorphous-IGZO thin-film transistors ». Journal of Applied Physics 117, no 21 (7 juin 2015) : 215705. http://dx.doi.org/10.1063/1.4922181.
Texte intégralÁvila-Herrera, F., B. C. Paz, A. Cerdeira, M. Estrada et M. A. Pavanello. « Charge-based compact analytical model for triple-gate junctionless nanowire transistors ». Solid-State Electronics 122 (août 2016) : 23–31. http://dx.doi.org/10.1016/j.sse.2016.04.013.
Texte intégralBazigos, Antonios, Christopher L. Ayala, Montserrat Fernandez-Bolanos, Yu Pu, Daniel Grogg, Christoph Hagleitner, Sunil Rana, Tyson Tian Qin, Dinesh Pamunuwa et Adrian M. Ionescu. « Analytical Compact Model in Verilog-A for Electrostatically Actuated Ohmic Switches ». IEEE Transactions on Electron Devices 61, no 6 (juin 2014) : 2186–94. http://dx.doi.org/10.1109/ted.2014.2318199.
Texte intégralHao, Yang, Jing Li, Federico Bianchi, Peisen Zhang, Gastone Ciuti, Paolo Dario et Qiang Huang. « Analytical Magnetic Model Towards Compact Design of Magnetically-Driven Capsule Robots ». IEEE Transactions on Medical Robotics and Bionics 2, no 2 (mai 2020) : 188–95. http://dx.doi.org/10.1109/tmrb.2020.2989335.
Texte intégralLázaro, A., B. Nae, C. Muthupandian et B. Iñíguez. « High-frequency compact analytical noise model of gate-all-around MOSFETs ». Semiconductor Science and Technology 25, no 3 (5 février 2010) : 035015. http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/25/3/035015.
Texte intégralLin, Kuan-Chou, Wei-Wen Ding et Meng-Hsueh Chiang. « An Analytical Gate-All-Around MOSFET Model for Circuit Simulation ». Advances in Materials Science and Engineering 2015 (2015) : 1–5. http://dx.doi.org/10.1155/2015/320320.
Texte intégralKumar, P. « A compact analytical material model for unconfined concrete under uni-axial compression ». Materials and Structures 37, no 273 (17 septembre 2004) : 585–90. http://dx.doi.org/10.1617/13974.
Texte intégralHyunsik Im, T. Inukai, H. Gomyo, T. Hiramoto et T. Sakurai. « VTCMOS characteristics and its optimum conditions predicted by a compact analytical model ». IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 11, no 5 (octobre 2003) : 755–61. http://dx.doi.org/10.1109/tvlsi.2003.814320.
Texte intégralKumar, B. N., A. K. Singh, C. M. R. Prabhu, C. Venkataseshaiah et G. C. Sheng. « Compact Analytical Model for One Dimensional Carbon Nanotube Field Effect Transistor (CNTFET) ». ECS Solid State Letters 4, no 6 (9 avril 2015) : M12—M14. http://dx.doi.org/10.1149/2.0031506ssl.
Texte intégralHao, Guangbo, Xiuyun He et Shorya Awtar. « Design and analytical model of a compact flexure mechanism for translational motion ». Mechanism and Machine Theory 142 (décembre 2019) : 103593. http://dx.doi.org/10.1016/j.mechmachtheory.2019.103593.
Texte intégralChandra, S. Theodore, N. B. Balamurugan, G. Subalakshmi, T. Shalini et G. Lakshmi Priya. « Compact analytical model for single gate AlInSb/InSb high electron mobility transistors ». Journal of Semiconductors 35, no 11 (novembre 2014) : 114003. http://dx.doi.org/10.1088/1674-4926/35/11/114003.
Texte intégralInokawa, H., et Y. Takahasi. « Correction to "A compact analytical model for asymmetric single-electron tunneling transistors" ». IEEE Transactions on Electron Devices 50, no 3 (mars 2003) : 862. http://dx.doi.org/10.1109/ted.2003.814307.
Texte intégralKumar, P. « A compact analytical material model for unconfined concrete under uni-axial compression ». Materials and Structures 37, no 9 (novembre 2004) : 585–90. http://dx.doi.org/10.1007/bf02483287.
Texte intégralPoiroux, T., O. Rozeau, P. Scheer, S. Martinie, M. A. Jaud, M. Minondo, A. Juge, J. C. Barbe et M. Vinet. « Leti-UTSOI2.1 : A Compact Model for UTBB-FDSOI Technologies—Part I : Interface Potentials Analytical Model ». IEEE Transactions on Electron Devices 62, no 9 (septembre 2015) : 2751–59. http://dx.doi.org/10.1109/ted.2015.2458339.
Texte intégralLu, Zhao Hui, Yan Gang Zhao et Zhi Wu Yu. « A Strength Model for Square CFT Stub Columns with Compact Sections ». Applied Mechanics and Materials 94-96 (septembre 2011) : 425–30. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.94-96.425.
Texte intégralJones, Nicholas A., et Jason Clark. « Analytical Modeling and Simulation of S-Drive Piezoelectric Actuators ». Actuators 10, no 5 (25 avril 2021) : 87. http://dx.doi.org/10.3390/act10050087.
Texte intégralChoi, Jae Hyouk, et Kenichi Ohi. « Analytical Evaluation of Plastic Resistance of Column Base Connection Using Convex Set Theory ». Key Engineering Materials 321-323 (octobre 2006) : 386–89. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.321-323.386.
Texte intégralPalanichamy, Vimala, et N. B. Balamurugan. « Analytical modeling of quantization effects in surrounding-gate MOSFETs ». COMPEL : The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering 33, no 1/2 (20 décembre 2013) : 630–44. http://dx.doi.org/10.1108/compel-03-2013-0101.
Texte intégralAvery, Philip, et Mahen Mahendran. « Analytical Benchmark Solutions for Steel Frame Structures Subject to Local Buckling Effects ». Advances in Structural Engineering 3, no 3 (juillet 2000) : 215–29. http://dx.doi.org/10.1260/1369433001502157.
Texte intégralSeon, Kim, Kim et Jeon. « Analytical Current-Voltage Model for Gate-All-Around Transistor with Poly-Crystalline Silicon Channel ». Electronics 8, no 9 (4 septembre 2019) : 988. http://dx.doi.org/10.3390/electronics8090988.
Texte intégralGuo, Jingrui, Ying Zhao, Guanhua Yang, Xichen Chuai, Wenhao Lu, Dongyang Liu, Qian Chen et al. « Analytical Surface Potential-Based Compact Model for Independent Dual Gate a-IGZO TFT ». IEEE Transactions on Electron Devices 68, no 4 (avril 2021) : 2049–55. http://dx.doi.org/10.1109/ted.2021.3054359.
Texte intégralAshouri, Mahyar, et Majid Bahrami. « Heat and mass transfer in laminar falling film absorption : A compact analytical model ». International Journal of Heat and Mass Transfer 188 (juin 2022) : 122598. http://dx.doi.org/10.1016/j.ijheatmasstransfer.2022.122598.
Texte intégralDarbandy, Ghader, François Lime, Antonio Cerdeira, Magali Estrada, Salvador Ivan Garduño et Benjamin Iñiguez. « Gate leakage current partitioning in nanoscale double gate MOSFETs, using compact analytical model ». Solid-State Electronics 75 (septembre 2012) : 22–27. http://dx.doi.org/10.1016/j.sse.2012.05.006.
Texte intégralNumata, Tatsuhiro, Shigeyasu Uno, Kazuo Nakazato, Yoshinari Kamakura et Nobuya Mori. « Analytical Compact Model of Ballistic Cylindrical Nanowire Metal–Oxide–Semiconductor Field-Effect Transistor ». Japanese Journal of Applied Physics 49, no 4 (20 avril 2010) : 04DN05. http://dx.doi.org/10.1143/jjap.49.04dn05.
Texte intégralEstevez-Delgado, Joaquin, Gabino Estevez-Delgado, Noel Enrique Rodríguez Maya, José Martínez Peña et Modesto Pineda Duran. « An isotropic analytical model for charged stars ». Modern Physics Letters A 36, no 13 (29 mars 2021) : 2150089. http://dx.doi.org/10.1142/s0217732321500899.
Texte intégralSaqib, Muhammad, Shahid Hasnain, Abdul Khaliq, Uzair Ahmed, Nawal Odah Al-Atawi et Daoud Suleiman Mashat. « Novel 3D coupled convection–diffusion model algorithm ». AIP Advances 12, no 10 (1 octobre 2022) : 105324. http://dx.doi.org/10.1063/5.0112488.
Texte intégralAhmad, Masniezam, Khairul Azwan Ismail, Fauziah Mat et William James Stronge. « Improved Model for Impact of Viscoplastic Bodies ». Key Engineering Materials 715 (septembre 2016) : 180–85. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.715.180.
Texte intégralA Hamid, Fatimah K., N. Ezaila Alias, R. Ismail et M. Anas Razali. « Compact modeling of strained GAA SiNW ». Indonesian Journal of Electrical Engineering and Computer Science 14, no 1 (1 avril 2019) : 241. http://dx.doi.org/10.11591/ijeecs.v14.i1.pp241-249.
Texte intégralChen, J. S., C. P. Liang, C. W. Liu et L. Y. Li. « A parsimonious analytical model for simulating multispecies plume migration ». Hydrology and Earth System Sciences Discussions 12, no 9 (1 septembre 2015) : 8675–726. http://dx.doi.org/10.5194/hessd-12-8675-2015.
Texte intégralBotas, J. D., et H. Águas. « The Stiffness of Syntactic Metal-Matrix Composites : A Statistical Model ». ISRN Ceramics 2011 (6 février 2011) : 1–9. http://dx.doi.org/10.5402/2011/510474.
Texte intégralMavredakis, Nikolaos, Ramon Garcia Cortadella, Xavi Illa, Nathan Schaefer, Andrea Bonaccini Calia, Anton-Guimerà-Brunet, Jose A. Garrido et David Jiménez. « Bias dependent variability of low-frequency noise in single-layer graphene FETs ». Nanoscale Advances 2, no 11 (2020) : 5450–60. http://dx.doi.org/10.1039/d0na00632g.
Texte intégralChen, Jui-Sheng, Ching-Ping Liang, Chen-Wuing Liu et Loretta Y. Li. « An analytical model for simulating two-dimensional multispecies plume migration ». Hydrology and Earth System Sciences 20, no 2 (18 février 2016) : 733–53. http://dx.doi.org/10.5194/hess-20-733-2016.
Texte intégralHuet, Maxime, et Alexis Giauque. « A nonlinear model for indirect combustion noise through a compact nozzle ». Journal of Fluid Mechanics 733 (23 septembre 2013) : 268–301. http://dx.doi.org/10.1017/jfm.2013.442.
Texte intégralChiang Te-Kuang. « A Compact Analytical Threshold-Voltage Model for Surrounding-Gate MOSFETs With Interface Trapped Charges ». IEEE Electron Device Letters 31, no 8 (août 2010) : 788–90. http://dx.doi.org/10.1109/led.2010.2051317.
Texte intégralBazigos, A., F. Krummenacher, J. M. Sallese, M. Bucher, E. Seebacher, W. Posch, K. Molnár et Mingchun Tang. « A Physics-Based Analytical Compact Model for the Drift Region of the HV-MOSFET ». IEEE Transactions on Electron Devices 58, no 6 (juin 2011) : 1710–21. http://dx.doi.org/10.1109/ted.2011.2119487.
Texte intégralWeidemann, Michaela, Alexander Kloes et Benjamin Iñiguez. « Compact model of output conductance in nanoscale bulk MOSFET based on 2D analytical calculations ». Solid-State Electronics 52, no 11 (novembre 2008) : 1722–29. http://dx.doi.org/10.1016/j.sse.2008.06.043.
Texte intégralJain, Amit, Basanta Singh Nameriakpam et Subir Kumar Sarkar. « A new compact analytical model of single electron transistor for hybrid SET–MOS circuits ». Solid-State Electronics 104 (février 2015) : 90–95. http://dx.doi.org/10.1016/j.sse.2014.11.019.
Texte intégralSmaani, Billel, Samir Labiod, Fares Nafa, Mohamed Salah Benlatreche et Saida Latreche. « Analytical Drain-Current Model and Surface-Potential Calculation for Junctionless Cylindrical Surrounding-Gate MOSFETs ». International Journal of Circuits, Systems and Signal Processing 15 (25 octobre 2021) : 1585–90. http://dx.doi.org/10.46300/9106.2021.15.170.
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