Articles de revues sur le sujet « Caractérisation des films adhésifs »
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Halioui, M., A. Bonnard et H. P. Lieurade. « Caractérisation des adhésifs structuraux ». Matériaux & ; Techniques 79, no 11 (1991) : 29–38. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199179110029.
Texte intégralLurton, Y., F. Lesourd et C. Gay. « Résistance à la rupture des films adhésifs ». Revue Francophone de Cicatrisation 1, no 1 (janvier 2017) : 143. http://dx.doi.org/10.1016/s2468-9114(17)30333-x.
Texte intégralAngélélis, Céline, et Eric Felder. « Caractérisation mécanique des films minces ». Matériaux & ; Techniques 84, no 9-10 (1996) : 33–37. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684090033.
Texte intégralAngélélis, Céline, et Eric Felder. « Caractérisation mécanique des films minces ». Matériaux & ; Techniques 84, no 11-12 (1996) : 23–28. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684110023.
Texte intégralMbaye, K., M. Pham Tu, N. T. Viet, L. Wartski et J. C. Villegier. « Elaboration et caractérisation en hyperfréquences de films minces de NbN ». Revue de Physique Appliquée 20, no 7 (1985) : 457–63. http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:01985002007045700.
Texte intégralMeneau, C., Ph Goudeau, P. Andreazza, C. Andreazza-Vignolle et J. C. Pommier. « Caractérisation structurale et contraintes résiduelles de films d'AIN par diffraction des rayons X ». Le Journal de Physique IV 08, PR5 (octobre 1998) : Pr5–153—Pr5–161. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998520.
Texte intégralPetitjean, C., M. Grafouté, C. Rousselot, J. F. Pierson, O. Banakh et A. Cavaleiro. « Caractérisation de films colorés de Fe-O-N élaborés par pulvérisation magnétron réactive ». Matériaux & ; Techniques 94, no 1 (2006) : 23–29. http://dx.doi.org/10.1051/mattech:2006021.
Texte intégralEve, Sophie, Florent Moisy, Rosine Coq Germanicus, Clara Grygiel, Eric Hug et Isabelle Monnet. « Caractérisation par nanoindentation du GaN irradié par des ions uranium de grande énergie ». Matériaux & ; Techniques 105, no 1 (2017) : 108. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/2017008.
Texte intégralMimault, J., K. Bouslikhane, T. Girardeau et M. Jaouen. « Caractérisation structurale EXAFS et propriétés tribologiques de films minces nanocristallins à base Ni-Ti ». Revue de Métallurgie 90, no 9 (septembre 1993) : 1193. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199390091193.
Texte intégralFischer, H., S. Andrieu, A. Barbara, A. Traverse et M. Piécuch. « Spectroscopie d’absorption X pour la caractérisation structurale de films minces et de superréseaux métalliques ». Revue de Métallurgie 96, no 9 (septembre 1999) : 1057–66. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199996091057.
Texte intégralBendaoud, Abdelber, Amar Tilmatine, Karim Medles, Marius Blajan, Mustapha Rahli et Lucian Dascalescu. « Caractérisation expérimentale des électrodes couronne de type «dual» ». Journal of Electrostatics 64, no 7-9 (juillet 2006) : 431–36. http://dx.doi.org/10.1016/j.elstat.2005.10.024.
Texte intégralZimmer, A., N. Stein, C. Boulanger et L. Johann. « Caractérisation par ellipsométrie spectroscopique de films minces de tellurure de bismuth obtenus par voie électrochimique ». Journal de Physique IV (Proceedings) 122 (décembre 2004) : 87–92. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004122013.
Texte intégralAzzoug, Asma. « Elaboration et caractérisation des couches minces d'oxyde de cuivre : Application à la photo-dégradation de Méthyle Orange ». Journal of Physical & ; Chemical Research 1, no 1 (1 juin 2022) : 57–71. http://dx.doi.org/10.58452/jpcr.v1i1.32.
Texte intégralBaborowski, J., M. Charbonnier et M. Romand. « Caractérisation par émission X de films d'oxyde et d'oxynitrure de chrome déposés par pulvérisation magnétron réactive ». Le Journal de Physique IV 06, no C4 (juillet 1996) : C4–429—C4–439. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996439.
Texte intégralBaborowski, J., M. Charbonnier et M. Romand. « Caractérisation par émission X de films de carbone et de nitrure de carbone déposés par PVD ». Le Journal de Physique IV 08, PR5 (octobre 1998) : Pr5–279—Pr5–286. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998535.
Texte intégralSteinbrunn, A., et M. Bordignon. « Caractérisation de films minces de molybdène métallique déposé sur une face (100) de monoxyde de cobalt CoO ». Thin Solid Films 168, no 1 (janvier 1989) : 61–69. http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(89)90689-5.
Texte intégralNewton, Pascal, Frédéric Houzé, Sophie Noël, Lionel Boyer, Pascal Viel et Gérard Lécayon. « Élaboration et caractérisation chimique, topographique, tribologique et électrique de films de polyacrylonitrile post-traités en vue d'applications en connectique ». Journal de Physique III 5, no 6 (juin 1995) : 661–75. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1995153.
Texte intégralHidalgo, M., J. Guillot, MF Llauro-Darricades, H. Waton et R. Pétiaud. « Caractérisation par la mesure des T1ρ(H) de films obtenus à partir de latex préparés par polymérisation en émulsion ». Journal de Chimie Physique 89 (1992) : 505–11. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1992890505.
Texte intégralHosseini-Sadrabadi, Hamid, Sebastien Volcy, Bruno Chareyre, Christophe Dano, Luc Sibille et Pierre Riegel. « Un pénétromètre à pointe contrôlé en force ou en déplacement pour une caractérisation étendue des sols ». Revue Française de Géotechnique, no 178 (2024) : 1. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024004.
Texte intégralTsikounas, Myriam, et Sébastien Lepajolec. « La jeunesse irrégulière sur grand écran : un demi-siècle d’images ». Revue d’histoire de l’enfance « irrégulière » N° 4, no 1 (1 janvier 2002) : 87–110. http://dx.doi.org/10.3917/rhei.004.0087.
Texte intégralBasile, Françoise, Jean Bergner, Claude Bombart, Pascale Nallet, Elisabeth Chassaing et Gérard Lorang. « Quantification de l'analyse en profondeur par spectrométrie d'électrons Auger et pulvérisation ionique : caractérisation des interfaces des films multicouches Cu–Co ». Microscopy Microanalysis Microstructures 8, no 4-5 (1997) : 301–14. http://dx.doi.org/10.1051/mmm:1997123.
Texte intégralDezert, Théo, Sérgio Palma-Lopes, Jean-Robert Courivaud, Yannick Fargier et Christophe Vergniault. « Fusion de données géophysiques (TRE et MASW) et géotechniques (granulométrie) pour la caractérisation de digues en terre ». Revue Française de Géotechnique, no 178 (2024) : 4. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024007.
Texte intégralAkani, M., C. E. Benouis et M. Benzohra. « Caractérisation électrique des interfaces P+-Si-poly/N-c-Si réalisées par dépôt LPCVD de films fortement dopés $in~situ$ au bore ». Journal de Physique III 3, no 8 (août 1993) : 1675–87. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993228.
Texte intégralAkani, M., C. E. Benouis et M. Benzohra. « Caractérisation électrique des interfaces P+ - Si - poly/N-c-Si réalisées par dépôt LPCVD de films fortement dopés in situ au bore ». Journal de Physique III 3, no 11 (novembre 1993) : 2163. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993278.
Texte intégralRossi, Jérôme. « Essai de caractérisation de l’évolution des musiques super-héroïques de Batman (1989) à The Dark Knight Rises (2012) ». Revue musicale OICRM 5, no 2 (30 novembre 2018) : 15–47. http://dx.doi.org/10.7202/1054146ar.
Texte intégralKoch, Delphine, et Philippe Molinié. « Une application de la cartographie de potentiel à la caractérisation des matériaux. Étalement de charge et effets anormaux sur des films de polyéthylène téréphtalate ». Revue internationale de génie électrique 9, no 4-5 (30 octobre 2006) : 449–63. http://dx.doi.org/10.3166/rige.9.449-463.
Texte intégralBonnotte, E., P. Delobelle, L. Bornier, B. Trolard et G. Tribillon. « Mise en œuvre de deux méthodes interférométriques pour la caractérisation mécanique des films minces par l'essai de gonflement. Applications au cas du silicium monocristallin ». Journal de Physique III 5, no 7 (juillet 1995) : 953–83. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1995169.
Texte intégralCharbonnier, M., D. Leonard, Y. Goepfert et M. Romand. « Caractérisation par spectrométrie photoélectronique (XPS) et spectrométrie d'émission X (XRFS et LEEIXS) de films minces de Ni ou Cu electroless déposés sur substrats polymères ». Journal de Physique IV (Proceedings) 118 (novembre 2004) : 193–202. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004118023.
Texte intégralGupta, Mridula, V. K. Sharma, A. Kapoor et K. N. Tripathi. « Fabrication and characterization of polycarbonate thin film optical waveguides ». Journal of Optics 28, no 1 (février 1997) : 37–40. http://dx.doi.org/10.1088/0150-536x/28/1/007.
Texte intégralCourivaud, Jean-Robert, Laurent del Gatto, Kamal El Kadi Abderrezzak, Christophe Picault, Mark Morris et Stéphane Bonelli. « Le projet Overcome : comprendre et modéliser les processus d’érosion par surverse des digues et barrages en remblai constitués de matériaux grossiers à granulométries étalées ». Revue Française de Géotechnique, no 178 (2024) : 6. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024009.
Texte intégralDARQUE-CERETTI, Evelyne, Eric FELDER et Bernard MONASSE. « Caractérisation physico-chimique de revêtements et films minces à applications tribologiques ». Frottement, usure et lubrification, mars 2012. http://dx.doi.org/10.51257/a-v1-tri5110.
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