Littérature scientifique sur le sujet « AFM PROCESS »
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Articles de revues sur le sujet "AFM PROCESS"
Walia, R. S., H. S. Shan et P. Kumar. « Enhancing AFM process productivity through improved fixturing ». International Journal of Advanced Manufacturing Technology 44, no 7-8 (4 février 2009) : 700–709. http://dx.doi.org/10.1007/s00170-008-1893-7.
Texte intégralFite, Kelby, E. Thomas Smiley, John McIntyre et Christina Wells. « Evaluation of a Soil Decompaction and Amendment Process for Urban Trees ». Arboriculture & ; Urban Forestry 37, no 6 (1 novembre 2011) : 293–300. http://dx.doi.org/10.48044/jauf.2011.038.
Texte intégralBao, Tim. « Traceable Dimension Metrology by AFM for Nanoscale Process Control ». Key Engineering Materials 381-382 (juin 2008) : 549–52. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.381-382.549.
Texte intégralMangesh, Gharat Saurabh, et Aviral Misra. « Finite element analysis of viscoelastic media used in abrasive flow machining process ». IOP Conference Series : Materials Science and Engineering 1248, no 1 (1 juillet 2022) : 012005. http://dx.doi.org/10.1088/1757-899x/1248/1/012005.
Texte intégralMekid, Samir. « In-Process Atomic-Force Microscopy (AFM) Based Inspection ». Sensors 17, no 6 (31 mai 2017) : 1194. http://dx.doi.org/10.3390/s17061194.
Texte intégralBabicz, S., A. Zieliński, J. Smulko et K. Darowicki. « Corrosion process monitoring by AFM higher harmonic imaging ». Measurement Science and Technology 28, no 11 (18 octobre 2017) : 114001. http://dx.doi.org/10.1088/1361-6501/aa844a.
Texte intégralCambel, V., J. Martaus, J. Šoltýs, R. Kúdela et D. Gregušová. « AFM nanooxidation process – Technology perspective for mesoscopic structures ». Surface Science 601, no 13 (juillet 2007) : 2717–23. http://dx.doi.org/10.1016/j.susc.2006.12.058.
Texte intégralHu, Xiaodong, et Xiaotang Hu. « Analysis of the process of anodization with AFM ». Ultramicroscopy 105, no 1-4 (novembre 2005) : 57–61. http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2005.06.018.
Texte intégralSato, Takashi, Stephen Wan et Yu Jing Ang. « Study of Process Characteristics of Abrasive Flow Machining (AFM) for Ti-6Al-4V and Validation with Process Model ». Advanced Materials Research 797 (septembre 2013) : 411–16. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.797.411.
Texte intégralGupta, Ravi, Rahul O. Vaishya, Dr R. S. Walia Dr. R.S Walia et Dr P. K. Kalra Dr. P.K Kalra. « Experimental Study of Process Parameters On Material Removal Mechanism in Hybrid Abrasive Flow Machining Process (AFM) ». International Journal of Scientific Research 2, no 6 (1 juin 2012) : 234–37. http://dx.doi.org/10.15373/22778179/june2013/75.
Texte intégralThèses sur le sujet "AFM PROCESS"
Al-Musawi, Raheem. « Theoretical and experimental investigations about the AFM tip-based nanomachining process ». Thesis, Cardiff University, 2016. http://orca.cf.ac.uk/99795/.
Texte intégralCOSENTINO, MICHELA. « AFM-STED correlative nanoscopy provides a new view on the formation process of misfolded protein aggregates ». Doctoral thesis, Università degli studi di Genova, 2019. http://hdl.handle.net/11567/939919.
Texte intégralDHULL, SACHIN. « INVESTIGATION OF HYBRID ELECTROCHEMICAL AND MAGNETIC FIELD ASSISTED ABRASIVE FLOW FINISHING PROCESS ». Thesis, DELHI TECHNOLOGICAL UNIVERSITY, 2021. http://dspace.dtu.ac.in:8080/jspui/handle/repository/18780.
Texte intégralPIANIGIANI, MICHELE. « Nano Imprinting Lithography Ultrafast process and its chemical and physical effects on advanced plastic materials ». Doctoral thesis, Università degli Studi di Trieste, 2017. http://hdl.handle.net/11368/2908135.
Texte intégralHoward, Mitchell James. « Development of a machine-tooling-process integrated approach for abrasive flow machining (AFM) of difficult-to-machine materials with application to oil and gas exploration componenets ». Thesis, Brunel University, 2014. http://bura.brunel.ac.uk/handle/2438/9262.
Texte intégralSörensen, Malin Helena. « Mesostructured particulate silica materials with tunable pore size : Synthesis, characterization and applications ». Doctoral thesis, KTH, Ytkemi (stängd 20081231), 2009. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kth:diva-10089.
Texte intégralQC 20100811
Martin, Lucile. « Etude de l'oxyde de cuivre CuO, matériau de conversion en film mince pour microbatteries au lithium : caractérisation des processus électrochimiques et chimiques en cyclage ». Thesis, Pau, 2013. http://www.theses.fr/2013PAUU3027/document.
Texte intégralThe miniaturization of electronic components and the increasing number of their functionalities lead to the development of suitable energy microsources, among which lithium microbatteries appear. Despite the excellent performances of these all-solid-state electrochemical power sources, one main limitation that remains is their surface capacity. Its value being intrinsically connected to the nature of electrode materials, we chose to focus on CuO thin films which are characterized by a theoretical volumetric capacity (426 µAh .cm-2.µm-1) in far larger than the one of conventional intercalation materials used today. Indeed, this material reacts with lithium according to a particular mechanism, referred as conversion reaction, inducing the formation of a multiphase nanostructured system with a high complexity. In the framework of this study, understanding of electrochemical and chemical mechanisms which take place during the cycling of copper oxide thin films (CuO) was the main objective. This one has required a fine characterization of the electrode active material and the generated interfaces (solid/solid interfaces and solid/electrolyte interface). These studies have been mainly carried out with X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), Atomic Force Microscopy (AFM) and theoretical approaches based on quantum chemistry methods. The chemical and morphological properties of the cycled CuO thin films have been linked to their electrochemical behavior. An important influence of their initial structure and morphology was then evidenced
Combes, Julien. « Etude de l'adhésion d'ostéoblastes sur substituts apatitiques par microscopie à force atomique ». Phd thesis, Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, 2009. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00445705.
Texte intégralDoskočilová, Veronika. « Využití agentů v business procesech ». Master's thesis, Vysoká škola ekonomická v Praze, 2011. http://www.nusl.cz/ntk/nusl-124783.
Texte intégralDario, Alan de Genaro. « Processos de Cox com intensidade difusiva afim ». Universidade de São Paulo, 2011. http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/45/45133/tde-01052013-111713/.
Texte intégralThis Thesis deals with the Cox Process when its intensity belongs to a family of affine diffusions. The form of the probability density function of the Cox process is obtained when the density is described by an arbitrary d-dimensional affine diffusion. Coupling and convergence results are also addressed for a general Cox process with affine intensity. We adopted the Feller diffusion for driving the underlying intensity of the Cox Process to illustrate our results. Additionally the parameters of the underlying intensity processes are estimated by means of the Kalman Filter in conjunction with Quasi-Maximum Likelihood estimation.
Livres sur le sujet "AFM PROCESS"
editor, Malik Lokendra, et Arora Manish editor, dir. The chief justice speaks : Selected judicial and extra-judicial reflections of Justice A.M. Ahmadi. Gurgaon, Haryana, India : Universal Law Publishing, an imprint of LexisNexis, 2016.
Trouver le texte intégralMaryLynn, Jacobs, et Austin Noelle, dir. Splinting the hand and upper extremity : Principles and process. Baltimore, Md : Lippincott Williams & Wilkins, 2003.
Trouver le texte intégralUnited States. Department of Justice, dir. Address of the Honorable Edwin Meese III, Attorney General of the United States before the American Bar Association, 10 : 30 A.M., Tuesday, July 9, 1985, Sheraton Washington Hotel, Washington, D.C. [Washington, D.C.?] : Department of Justice, 1985.
Trouver le texte intégralMeese, Edwin. Address of the Honorable Edwin Meese III, Attorney General of the United States before the American Bar Association, 10:30 A.M., Tuesday, July 9, 1985, Sheraton Washington Hotel, Washington, D.C. [Washington, D.C.?] : Dept. of Justice, 1985.
Trouver le texte intégralSaral, Melek. Turkey's 'Self' and 'Other' Definitions in the Course of the EU Accession Process. NL Amsterdam : Amsterdam University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.5117/9789462981171.
Texte intégralBabalis, Dimitra, dir. Ecological design for an effective urban regeneration. Florence : Firenze University Press, 2004. http://dx.doi.org/10.36253/88-8453-146-2.
Texte intégralLangbein, Hermann. Auschwitz przed sądem : Proces w Frankfurcie nad Menem 1963-1965 : dokumentacja. Wrocław : Via Nova, 2011.
Trouver le texte intégralUnited States. National Aeronautics and Space Administration., dir. Final test report for the qualification of the gristblast assembly and process for the inside diameter of the RSRM forward and aft domes. Brigham City, UT : Thiokol Corporation Space Operations, 1992.
Trouver le texte intégralCompliance review process and missile defense : Hearing before the Subcommittee on International Security, Proliferation, and Federal Services of the Committee on Governmental Affairs, United States Senate, One Hundred Fifth Congress, first session, July 21, 1997. Washington : U.S. G.P.O., 1997.
Trouver le texte intégralConference on Thermal Analysis of Molten Aluminum (1984 Rosemont, Ill.). Thermal analysis of molten aluminum : A new in-process technique for quality control : proceedings of the AFS/CMI Conference, December 11-12, 1984, Sheraton International at O'Hare, Rosemont, Illinois. Des Plaines, IL : Cast Metals Institute, 1985.
Trouver le texte intégralChapitres de livres sur le sujet "AFM PROCESS"
Yan, Yong Da, Tao Sun et Shen Dong. « Study on Effects of the Feed on AFM-Based Nanomachining Process ». Dans Materials Science Forum, 257–60. Stafa : Trans Tech Publications Ltd., 2006. http://dx.doi.org/10.4028/0-87849-421-9.257.
Texte intégralMatsumoto, Kazuhiko. « Room-Temperature Single-Electron Devices formed by AFM Nano-Oxidation Process ». Dans Applied Scanning Probe Methods, 459–67. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2004. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-35792-3_16.
Texte intégralYan, Yong Da, Tao Sun, Shen Dong et Ying Chun Liang. « MD Analysis on Tip Geometry Effects in AFM-Based Lithography Process ». Dans Progress of Precision Engineering and Nano Technology, 228–33. Stafa : Trans Tech Publications Ltd., 2007. http://dx.doi.org/10.4028/0-87849-430-8.228.
Texte intégralKim, Y. S., S. O. Choi, S. R. Lee et J. Kim. « An Atomic Simulation of AFM-Based Nano Lithography Process for Nano Patterning ». Dans Solid Mechanics and its Applications, 331–41. Dordrecht : Springer Netherlands, 2004. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-2111-4_32.
Texte intégralChaturvedi, Rishabh, et Pankaj Kumar Singh. « Analysis of the Factors Affecting MRR in AFM and Centrifugal Process Using Taguchi Method ». Dans Lecture Notes in Mechanical Engineering, 393–99. Singapore : Springer Nature Singapore, 2023. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-99-1328-2_36.
Texte intégralKrüger, Daniel, Roger Rousseau, Dominik Marx, Harald Fuchs et Michele Parrinello. « Car-Parrinello Density Functional Calculations of the Bond Rupture Process of Thiolate on Gold in AFM Measurements : Progress and First Results ». Dans High Performance Computing in Science and Engineering 2000, 257–72. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2001. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-56548-9_20.
Texte intégralSem, Helle Frisak, Steinar Carlsen et Gunnar John Coll. « On Two Approaches to ACM ». Dans Business Process Management Workshops, 12–23. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-36285-9_3.
Texte intégralSwenson, Keith D. « Position : BPMN Is Incompatible with ACM ». Dans Business Process Management Workshops, 55–58. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-36285-9_7.
Texte intégralGroßmann, K., A. Hardtmann, H. Wiemer, L. Penter et S. Kriechenbauer. « Advanced Forming Process Model - AFPM ». Dans Lecture Notes in Production Engineering, 383–401. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-32448-2_17.
Texte intégralTran Thi Kim, Thanh, Erhard Weiss, Christoph Ruhsam, Christoph Czepa, Huy Tran et Uwe Zdun. « Embracing Process Compliance and Flexibility Through Behavioral Consistency Checking in ACM ». Dans Business Process Management Workshops, 43–54. Cham : Springer International Publishing, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-42887-1_4.
Texte intégralActes de conférences sur le sujet "AFM PROCESS"
Kizu, Ryosuke, Ichiko Misumi, Akiko Hirai et Satoshi Gonda. « Photoresist shrinkage observation by a metrological tilting-AFM ». Dans Metrology, Inspection, and Process Control XXXVII, sous la direction de John C. Robinson et Matthew J. Sendelbach. SPIE, 2023. http://dx.doi.org/10.1117/12.2655566.
Texte intégralvan Reijzen, Maarten E., Mehmet S. Tamer, Maarten H. van Es, Martijn M. C. J. M. van Riel, Sasan Keyvani, Hamed Sadeghian et Marco van der Lans. « Improved sub-surface AFM using photothermal actuation ». Dans Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXIII, sous la direction de Ofer Adan et Vladimir A. Ukraintsev. SPIE, 2019. http://dx.doi.org/10.1117/12.2515441.
Texte intégralHu, Z. J., Y. D. Yan, Y. H. Zhang, T. Sun et S. Dong. « Penetrating Process Analysis of AFM Diamond Tip ». Dans 2007 First International Conference on Integration and Commercialization of Micro and Nanosystems. ASMEDC, 2007. http://dx.doi.org/10.1115/mnc2007-21109.
Texte intégralPromyoo, Rapeepan, Hazim El-Mounayri et Kody Varahramyan. « AFM-Based Nanoindentation Process : A Comparative Study ». Dans ASME 2012 International Manufacturing Science and Engineering Conference collocated with the 40th North American Manufacturing Research Conference and in participation with the International Conference on Tribology Materials and Processing. American Society of Mechanical Engineers, 2012. http://dx.doi.org/10.1115/msec2012-7356.
Texte intégralBreton, Mary A., Jennifer Fullam, Lan Yu, Dexin Kong, Daniel Schmidt, Andrew Greene, Liying Jiang, Sean Hand et Jason Osborne. « AFM characterization for Gate-All-Around (GAA) devices ». Dans Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXIV, sous la direction de Ofer Adan et John C. Robinson. SPIE, 2020. http://dx.doi.org/10.1117/12.2551931.
Texte intégralCao, Zhenle, Wyatt Sullivan, Benjamin D. Bunday et David Morris. « Parallel MEMS AFM for high-throughput semiconductor metrology and inspection ». Dans Metrology, Inspection, and Process Control XXXVII, sous la direction de John C. Robinson et Matthew J. Sendelbach. SPIE, 2023. http://dx.doi.org/10.1117/12.2658485.
Texte intégralCerbu, Dorin, Kristof Paredis, Alain Moussa, Anne-Laure Charley et Philippe Leray. « Deep learning-enabled vertical drift artefact correction for AFM images ». Dans Metrology, Inspection, and Process Control XXXVI, sous la direction de John C. Robinson et Matthew J. Sendelbach. SPIE, 2022. http://dx.doi.org/10.1117/12.2614029.
Texte intégralCao, Zhenle, Wyatt Sullivan, Benjamin D. Bunday et David Morris. « Parallel MEMS AFM for high-throughput semiconductor metrology and inspection (Erratum) ». Dans Metrology, Inspection, and Process Control XXXVII, sous la direction de John C. Robinson et Matthew J. Sendelbach. SPIE, 2023. http://dx.doi.org/10.1117/12.3005374.
Texte intégralLiu, Hao-Chih, David Fong, Gregory A. Dahlen, Marc Osborn, Sean Hand et Jason R. Osborne. « Carbon nanotube AFM probes for microlithography process control ». Dans SPIE 31st International Symposium on Advanced Lithography, sous la direction de Chas N. Archie. SPIE, 2006. http://dx.doi.org/10.1117/12.656807.
Texte intégralKizu, Ryosuke, Ichiko Misumi, Akiko Hirai et Satoshi Gonda. « Comparison of SEM and AFM performances for LER reference metrology ». Dans Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXIV, sous la direction de Ofer Adan et John C. Robinson. SPIE, 2020. http://dx.doi.org/10.1117/12.2551468.
Texte intégralRapports d'organisations sur le sujet "AFM PROCESS"
Hedgecock, Nancy S. Hexavalent Chromium Reduction Pretreatment Process Evaluation, Randolph AFB, Texas. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, septembre 1990. http://dx.doi.org/10.21236/ada228805.
Texte intégralSisterson, Douglas. ARM Lead Mentor Selection Process and Key Roles and Responsibilities. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), janvier 2018. http://dx.doi.org/10.2172/1418462.
Texte intégralBaca, Ana. Assessment of AFM - KPFM and SSRM for Measuring and Characterizing Materials Aging Processes. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), novembre 2020. http://dx.doi.org/10.2172/1733233.
Texte intégralSmith, F. G. Am/Cm Vitrification Process : Vitrification Material Balance Calculations. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), février 2001. http://dx.doi.org/10.2172/775070.
Texte intégralSmith, F. G. Am/Cm Vitrification Process : Pretreatment Material Balance Calculations. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), février 2001. http://dx.doi.org/10.2172/775071.
Texte intégralSmith, F. G. Am/Cm Vitrification Process : Vitrification Material Balance Calculations. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), août 2000. http://dx.doi.org/10.2172/760271.
Texte intégralSmith, F. G. Am/Cm Vitrification Process : Pretreatment Material Balance Calculations. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), août 2000. http://dx.doi.org/10.2172/760272.
Texte intégralMcHale, James, Timothy A. Chick et Eugene Miluk. Implementation Guidance for the Accelerated Improvement Method (AIM). Software Engineering Process Management : Special Report. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, décembre 2010. http://dx.doi.org/10.21236/ada536176.
Texte intégralKroll, Joshua A. ACM TechBrief : Facial Recognition Technology. ACM, février 2022. http://dx.doi.org/10.1145/3520137.
Texte intégralDooraghi, Michael R., Afshin M. Andreas, Mark C. Kutchenreiter, Ibrahim M. Reda, Marta Stoddard, Manajit Sengupta et Aron M. Habte. Broadband Outdoor Radiometer Calibration (BORCAL) Process for the Atmospheric Radiation Measurement (ARM) Program : Second Edition. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), février 2019. http://dx.doi.org/10.2172/1494284.
Texte intégral