Articles de revues sur le sujet « AFM cantilever »
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Dannberg, Oliver, et Thomas Fröhlich. « Steifigkeitsmessungen von AFM-Cantilevern ». tm - Technisches Messen 88, s1 (24 août 2021) : s3—s7. http://dx.doi.org/10.1515/teme-2021-0046.
Texte intégralSlattery, Ashley D., Adam J. Blanch, Cameron J. Shearer, Andrew J. Stapleton, Renee V. Goreham, Sarah L. Harmer, Jamie S. Quinton et Christopher T. Gibson. « Characterisation of the Material and Mechanical Properties of Atomic Force Microscope Cantilevers with a Plan-View Trapezoidal Geometry ». Applied Sciences 9, no 13 (27 juin 2019) : 2604. http://dx.doi.org/10.3390/app9132604.
Texte intégralZhao, Yu Wen, Yun Peng Song, Sen Wu et Xing Fu. « Accurate and Traceable Calibration of the Stiffness of Various AFM Cantilevers ». Key Engineering Materials 645-646 (mai 2015) : 817–23. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.645-646.817.
Texte intégralCho, Ki Ho, Hak Joo Lee, Jae Hyun Kim, Jong Man Kim, Yong Kweon Kim et Chang Wook Baek. « A Study of Nano-Indentation Test Using Rhombus-Shaped Cantilever in Atomic Force Microscope ». Key Engineering Materials 326-328 (décembre 2006) : 207–10. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.326-328.207.
Texte intégralDat, Le Tri, Ho Thanh Huy et Nguyen Duy Vy. « A Theoretical Study of Deflection of AFM Bimaterial Cantilevers Versus Irradiated Position ». Communications in Physics 28, no 3 (14 novembre 2018) : 255. http://dx.doi.org/10.15625/0868-3166/28/3/12673.
Texte intégralBoubekri, Rachida, Edmond Cambril, L. Couraud, Lorenzo Bernardi, Ali Madouri, David Martrou et Sébastien Gauthier. « High Frequency 3C-SiC AFM Cantilever Using Thermal Actuation and Metallic Piezoresistive Detection ». Materials Science Forum 711 (janvier 2012) : 80–83. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.711.80.
Texte intégralMordue, Christopher W., Jonathan M. R. Weaver et Phillip S. Dobson. « Thermal induced deflection in atomic force microscopy cantilevers : analysis & ; solution ». Measurement Science and Technology 34, no 12 (25 août 2023) : 125013. http://dx.doi.org/10.1088/1361-6501/acf061.
Texte intégralDamircheli, Mehrnoosh, et Babak Eslami. « Design of V-shaped cantilevers for enhanced multifrequency AFM measurements ». Beilstein Journal of Nanotechnology 11 (6 octobre 2020) : 1525–41. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.11.135.
Texte intégralLiu, Hao, Zuned Ahmed, Sasa Vranjkovic, Manfred Parschau, Andrada-Oana Mandru et Hans J. Hug. « A cantilever-based, ultrahigh-vacuum, low-temperature scanning probe instrument for multidimensional scanning force microscopy ». Beilstein Journal of Nanotechnology 13 (11 octobre 2022) : 1120–40. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.13.95.
Texte intégralYeh, Meng Kao, Bo Yi Chen, Nyan Hwa Tai et Chien Chao Chiu. « Force Measurement by AFM Cantilever with Different Coating Layers ». Key Engineering Materials 326-328 (décembre 2006) : 377–80. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.326-328.377.
Texte intégralKWEON, HYUNKYU, et KIHO NAM. « MEASUREMENT OF AFM CANTILEVER SPRING CONSTANT BY USING THE SURFACE PROFILE ». International Journal of Modern Physics B 24, no 18 (20 juillet 2010) : 3597–606. http://dx.doi.org/10.1142/s0217979210054865.
Texte intégralMoore, Steven Ian, Michael G. Ruppert et Yuen Kuan Yong. « Multimodal cantilevers with novel piezoelectric layer topology for sensitivity enhancement ». Beilstein Journal of Nanotechnology 8 (6 février 2017) : 358–71. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.8.38.
Texte intégralKorayem, M. H., M. Taheri et S. D. Ghahnaviyeh. « Sobol method application in dimensional sensitivity analyses of different AFM cantilevers for biological particles ». Modern Physics Letters B 29, no 22 (20 août 2015) : 1550123. http://dx.doi.org/10.1142/s0217984915501237.
Texte intégralAgeev, Oleg A., Oleg I. Ilin, Alexei S. Kolomiytsev, Sergey A. Lisitsyn, Vladimir A. Smirnov et Evgeny G. Zamburg. « Formation of High Aspect Ratio Nanostructures Using Focused Ion Beam Induced Deposition of Carbon ». Applied Mechanics and Materials 752-753 (avril 2015) : 154–58. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.752-753.154.
Texte intégralMishra, Rohit, Wilfried Grange et Martin Hegner. « Rapid and Reliable Calibration of Laser Beam Deflection System for Microcantilever-Based Sensor Setups ». Journal of Sensors 2012 (2012) : 1–6. http://dx.doi.org/10.1155/2012/617386.
Texte intégralDzedzickis, Andrius, Justė Rožėnė, Vytautas Bučinskas, Darius Viržonis et Inga Morkvėnaitė-Vilkončienė. « Characteristics and Functionality of Cantilevers and Scanners in Atomic Force Microscopy ». Materials 16, no 19 (24 septembre 2023) : 6379. http://dx.doi.org/10.3390/ma16196379.
Texte intégralLiang, Li-Na, Liao-Liang Ke, Yue-Sheng Wang, Jie Yang et Sritawat Kitipornchai. « Flexural Vibration of an Atomic Force Microscope Cantilever Based on Modified Couple Stress Theory ». International Journal of Structural Stability and Dynamics 15, no 07 (31 août 2015) : 1540025. http://dx.doi.org/10.1142/s0219455415400258.
Texte intégralGhatkesar, Murali Krishna, Hector Hugo Perez Garza et Urs Staufer. « Hollow AFM cantilever pipette ». Microelectronic Engineering 124 (juillet 2014) : 22–25. http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2014.04.019.
Texte intégralHosseini, Nahid, Matthias Neuenschwander, Oliver Peric, Santiago H. Andany, Jonathan D. Adams et Georg E. Fantner. « Integration of sharp silicon nitride tips into high-speed SU8 cantilevers in a batch fabrication process ». Beilstein Journal of Nanotechnology 10 (29 novembre 2019) : 2357–63. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.10.226.
Texte intégralGanser, Christian, Gerhard Fritz-Popovski, Roland Morak, Parvin Sharifi, Benedetta Marmiroli, Barbara Sartori, Heinz Amenitsch, Thomas Griesser, Christian Teichert et Oskar Paris. « Cantilever bending based on humidity-actuated mesoporous silica/silicon bilayers ». Beilstein Journal of Nanotechnology 7 (28 avril 2016) : 637–44. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.7.56.
Texte intégralSone, Hayato, Shoichi Ichikawa, Yuji Matsubara, Mitsumasa Suzuki, Haruki Okano, Takashi Izumi et Sumio Hosaka. « Prototype of Frame-Type Cantilever for Biosensor and Femtogram Detection ». Key Engineering Materials 459 (décembre 2010) : 134–39. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.459.134.
Texte intégralLee, Hak Joo, Ki Ho Cho, Jae Hyun Kim, Seung Woo Han, Byung Ik Choi, Chang Wook Baek, Jong Man Kim et Sung Hoon Choa. « Force-Calibrated AFM for Mechanical Test of Freestanding Thin Films ». Key Engineering Materials 297-300 (novembre 2005) : 275–79. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.297-300.275.
Texte intégralMagonov, Sergei. « High-Resolution Imaging with Atomic Force Microscopy ». Microscopy Today 12, no 5 (septembre 2004) : 12–15. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500056248.
Texte intégralLEE, HAK-JOO, JAE-HYUN KIM, KIHO CHO, JAE-YOON KANG, CHANG-WOOK BAEK, JONG-MAN KIM et SUNG-HOON CHOA. « SYMMETRIC AFM CANTILEVER FOR MECHANICAL CHARACTERIZATION OF Mo THIN FILM ». International Journal of Modern Physics B 20, no 25n27 (30 octobre 2006) : 3781–86. http://dx.doi.org/10.1142/s0217979206040362.
Texte intégralCha, Wujoon, Matthew F. Campbell, Akshat Jain et Igor Bargatin. « Hollow AFM Cantilever with Holes ». Engineering Proceedings 4, no 1 (14 avril 2021) : 13. http://dx.doi.org/10.3390/micromachines2021-09544.
Texte intégralTang, Chen Zhi. « A Method to Fabricate Thin Micro Silicon Cantilever Based on Optical Lithography with AZ 1518 ». Key Engineering Materials 645-646 (mai 2015) : 1093–98. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.645-646.1093.
Texte intégralSchumacher, Zeno, Yoichi Miyahara, Laure Aeschimann et Peter Grütter. « Improved atomic force microscopy cantilever performance by partial reflective coating ». Beilstein Journal of Nanotechnology 6 (3 juillet 2015) : 1450–56. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.6.150.
Texte intégralGrigoriadis, Kyriakos, Alexandros Palaiologos, Anastasios Zavos et Pantelis G. Nikolakopoulos. « A Tribological Simulation for a Typical Carbon Coated AFM Cantilever Interacting with a Monolayer Graphene Sheet ». MATEC Web of Conferences 188 (2018) : 01029. http://dx.doi.org/10.1051/matecconf/201818801029.
Texte intégralGiessibl, Franz. « Probing the Nature of Chemical Bonds by Atomic Force Microscopy ». Molecules 26, no 13 (3 juillet 2021) : 4068. http://dx.doi.org/10.3390/molecules26134068.
Texte intégralZauscher, Stefan. « Putting a Sphere on an Atomic Force Microscope Cantilever Tip ». Microscopy Today 5, no 10 (décembre 1997) : 6. http://dx.doi.org/10.1017/s155192950006065x.
Texte intégralTortonese, M., et F. J. Giessibl. « Atomic-Force Microscopy with piezoresistive cantilevers ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 52 (1994) : 1064–65. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100173054.
Texte intégralCleveland, Jason. « Anomalous Changes in Tip Height in Tapping AFM ». Microscopy Today 8, no 4 (mai 2000) : 36–37. http://dx.doi.org/10.1017/s155192950006346x.
Texte intégralFicek, Mateusz, Maciej J. Głowacki, Krzysztof Gajewski, Piotr Kunicki, Ewelina Gacka, Krystian Sycz, Mariusz Mrózek et al. « Integration of Fluorescent, NV-Rich Nanodiamond Particles with AFM Cantilevers by Focused Ion Beam for Hybrid Optical and Micromechanical Devices ». Coatings 11, no 11 (29 octobre 2021) : 1332. http://dx.doi.org/10.3390/coatings11111332.
Texte intégralDillon, Eoghan, Kevin Kjoller et Craig Prater. « Lorentz Contact Resonance Imaging for Atomic Force Microscopes : Probing Mechanical and Thermal Properties on the Nanoscale ». Microscopy Today 21, no 6 (novembre 2013) : 18–24. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929513000989.
Texte intégralLopez-Ayon, G. Monserratt, David J. Oliver, Peter H. Grutter et Svetlana V. Komarova. « Deconvolution of Calcium Fluorescent Indicator Signal from AFM Cantilever Reflection ». Microscopy and Microanalysis 18, no 4 (30 juillet 2012) : 808–15. http://dx.doi.org/10.1017/s1431927612000402.
Texte intégralWu, Jianhua, Ying Fang, Dong Yang et Cheng Zhu. « Thermo-Mechanical Responses of a Surface-Coupled AFM Cantilever ». Journal of Biomechanical Engineering 127, no 7 (15 août 2005) : 1208–15. http://dx.doi.org/10.1115/1.2073647.
Texte intégralZhang, Gai Mei, Li Ping Yang, Chen Qiang, Yuan Wei, Jian Dong Lu et Dong Sheng Jiang. « Analysis on the Contact Mechanics between Tip and Sample in Atomic Force Acoustic Microscope Method ». Advanced Materials Research 800 (septembre 2013) : 325–29. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.800.325.
Texte intégralRabe, U., S. Hirsekorn, M. Reinstädtler, T. Sulzbach, Ch Lehrer et W. Arnold. « Influence of the cantilever holder on the vibrations of AFM cantilevers ». Nanotechnology 18, no 4 (12 décembre 2006) : 044008. http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/18/4/044008.
Texte intégralLiu, Shujie, Shuichi Nagasawa, Satoru Takahashi et Kiyoshi Takamasu. « Development of a Multi-Ball-Cantilever AFM for Measuring Resist Surface ». Journal of Robotics and Mechatronics 18, no 6 (20 décembre 2006) : 698–704. http://dx.doi.org/10.20965/jrm.2006.p0698.
Texte intégralDai, Gao Liang, F. Pohlenz, H. U. Danzebrink et L. Koenders. « Dimensional Measurements for Micro- and Nanotechnology ». Key Engineering Materials 381-382 (juin 2008) : 7–10. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.381-382.7.
Texte intégralDannberg, Oliver, Michael Kühnel et Thomas Fröhlich. « Entwicklung einer Cantileverkalibriereinrichtung ». tm - Technisches Messen 87, no 10 (25 octobre 2020) : 622–29. http://dx.doi.org/10.1515/teme-2020-0064.
Texte intégralLindsay, S. M. « Direct Magnetic Excitation of Cantilevers for Dynamic Force Microscocopy in Liquids ». Microscopy and Microanalysis 5, S2 (août 1999) : 1002–3. http://dx.doi.org/10.1017/s143192760001833x.
Texte intégralStappers, Linda, et Jan Fransaer. « Colloidal Probe AFM Measurements of the Electrophoretic Force ». Key Engineering Materials 314 (juillet 2006) : 1–6. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.314.1.
Texte intégralGibson, Christopher T., Brandon L. Weeks, Chris Abell, Trevor Rayment et Sverre Myhra. « Calibration of AFM cantilever spring constants ». Ultramicroscopy 97, no 1-4 (octobre 2003) : 113–18. http://dx.doi.org/10.1016/s0304-3991(03)00035-4.
Texte intégralRichter, C., P. Weinzierl, W. Engl, C. Penzkofer, B. Irmer et T. Sulzbach. « Cantilever probes for high speed AFM ». Microsystem Technologies 18, no 7-8 (29 février 2012) : 1119–26. http://dx.doi.org/10.1007/s00542-012-1454-8.
Texte intégralGuerre, Roland, Ute Drechsler et Daniel Jubin et Michel Despont. « Low-cost AFM cantilever manufacturing technology ». Journal of Micromechanics and Microengineering 18, no 11 (26 septembre 2008) : 115013. http://dx.doi.org/10.1088/0960-1317/18/11/115013.
Texte intégralXie, H. Y. « Frequency shifts of cantilever in AFM ». Applied Surface Science 252, no 2 (octobre 2005) : 372–78. http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.01.014.
Texte intégralLübbe, Jannis, Matthias Temmen, Philipp Rahe, Angelika Kühnle et Michael Reichling. « Determining cantilever stiffness from thermal noise ». Beilstein Journal of Nanotechnology 4 (28 mars 2013) : 227–33. http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.4.23.
Texte intégralBeltrán, F. J. Espinoza, J. Muñoz-Saldaña, D. Torres-Torres, R. Torres-Martínez et G. A. Schneider. « Atomic force microscopy cantilever simulation by finite element methods for quantitative atomic force acoustic microscopy measurements ». Journal of Materials Research 21, no 12 (décembre 2006) : 3072–79. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2006.0379.
Texte intégralXie, Ping, Lei Zhang et Qing Ze Zou. « Resonance Suppression on Nanoscale Viscoelasticity Measurement ». Advanced Materials Research 528 (juin 2012) : 75–79. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.528.75.
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